GUNNAR PPK

PP（Performance Index of Process）：定義為不考慮過(guò)程有無(wú)偏移時(shí)，容差范圍除以過(guò)程性能，一般表達(dá) 式為： Pp性能指數(shù)公式

ppk：是指考慮過(guò)程有特殊原因引起的偏差時(shí)，樣本數(shù)據(jù)的過(guò)程性能。 　ppk是spc第二版中提到的新內(nèi)容。（該指數(shù)僅用來(lái)與Cp及Cpk對(duì)比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認(rèn)一段時(shí)間內(nèi)改進(jìn)的優(yōu)先次序） 　CPU：穩(wěn)定過(guò)程的上限能力指數(shù)，定義為容差范圍上限除以實(shí)際過(guò)程分布寬度上限： 　CPL：穩(wěn)定過(guò)程的下限能力指數(shù)，定義為容差范圍下限除以實(shí)際過(guò)程分布寬度下限。其實(shí)，公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=| M-μ| 　關(guān)于Cpk與Ppk的關(guān)系，這里引用TS16949中PPAP手冊(cè)中的一句話：“當(dāng)可能得到歷史的數(shù)據(jù)或有足夠的初始數(shù)據(jù)來(lái)繪制控制圖時(shí)（至少100個(gè)個(gè)體樣本），可以在過(guò)程穩(wěn)定時(shí)計(jì)算Cpk。對(duì)于輸出滿足規(guī)格要求且呈可預(yù)測(cè)圖形的長(zhǎng)期不穩(wěn)定過(guò)程，應(yīng)該使用Ppk?！?

Ppk、Cpk區(qū)別及計(jì)算

Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|)，

PPK是過(guò)程性能指數(shù),也可表示初始能力指數(shù),它和CPK的計(jì)算方式是一樣的,只是利用的標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)值不同,通常相對(duì)而言CPK會(huì)比PPK的值大.

1、首先我們先說(shuō)明Pp、Cp兩者的定義及公式

Cp（Capability Index of Process）：穩(wěn)定過(guò)程的能力指數(shù)，定義為容差寬度除以過(guò)程能力，不考慮過(guò)程有無(wú)偏移，一般表達(dá)式為：

Pp（Performance Index of Process）：過(guò)程性能指數(shù)，定義為不考慮過(guò)程有無(wú)偏移時(shí)，容差范圍除以過(guò)程性能，一般表達(dá)式為：

（該指數(shù)僅用來(lái)與Cp及Cpk對(duì)比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認(rèn)一段時(shí)間內(nèi)改進(jìn)的優(yōu)先次序）

CPU：穩(wěn)定過(guò)程的上限能力指數(shù)，定義為容差范圍上限除以實(shí)際過(guò)程分布寬度上限，一般表達(dá)式為：

CPL：穩(wěn)定過(guò)程的下限能力指數(shù)，定義為容差范圍下限除以實(shí)際過(guò)程分布寬度下限，一般表達(dá)式為：

2、現(xiàn)在我們來(lái)闡述Cpk、Ppk的含義

Cpk：這是考慮到過(guò)程中心的能力（修正）指數(shù)，定義為CPU與CPL的最小值。它等于過(guò)程均值與最近的規(guī)范界限之間的差除以過(guò)程總分布寬度的一半。即：

Ppk：這是考慮到過(guò)程中心的性能（修正）指數(shù)，定義為： 或 的最小值。即：

其實(shí)，公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=| M-μ| ，則：

于是， ，

3、公式中標(biāo)準(zhǔn)差的不同含義

①在Cp、Cpk中，計(jì)算的是穩(wěn)定過(guò)程的能力，穩(wěn)定過(guò)程中過(guò)程變差僅由普通原因引起，公式中的標(biāo)準(zhǔn)差可以通過(guò)控制圖的樣本平均極差 估計(jì)得出：

因此，Cp、Cpk一般與控制圖一起使用，首先利用控制圖判斷過(guò)程是否受控，如果過(guò)程不受控，要采取措施改善過(guò)程，使過(guò)程處于受控狀態(tài)。確保過(guò)程受控后，再計(jì)算Cp、Cpk。

②由于普通和特殊兩種原因所造成的變差，可以用樣本標(biāo)準(zhǔn)差S來(lái)估計(jì)，過(guò)程性能指數(shù)的計(jì)算使用該標(biāo)準(zhǔn)差。即：

4、幾個(gè)指數(shù)的比較與說(shuō)明

① 無(wú)偏離的Cp表示過(guò)程加工的均勻性（穩(wěn)定性），即“質(zhì)量能力”，Cp越大，這質(zhì)量特性的分布越“苗條”，質(zhì)量能力越強(qiáng)；而有偏離的Cpk表示過(guò)程中心μ與公差中心M的偏離情況，Cpk越大，二者的偏離越小，也即過(guò)程中心對(duì)公差中心越“瞄準(zhǔn)”。使過(guò)程的“質(zhì)量能力”與“管理能力”二者綜合的結(jié)果。Cp與Cpk的著重點(diǎn)不同，需要同時(shí)加以考慮。

② Pp和Ppk的關(guān)系參照上面。

③ 關(guān)于Cpk與Ppk的關(guān)系，這里引用QS9000中PPAP手冊(cè)中的一句話：“當(dāng)可能得到歷史的數(shù)據(jù)或有足夠的初始數(shù)據(jù)來(lái)繪制控制圖時(shí)（至少100個(gè)個(gè)體樣本），可以在過(guò)程穩(wěn)定時(shí)計(jì)算Cpk。對(duì)于輸出滿足規(guī)格要求且呈可預(yù)測(cè)圖形的長(zhǎng)期不穩(wěn)定過(guò)程，應(yīng)該使用Ppk?！?/p>