IOH

1. 數(shù)字邏輯器件性能(直流參數(shù))測試:

維修實踐發(fā)現(xiàn)，有些器件原有作用尚能實現(xiàn)，但參數(shù)卻發(fā)生了變化，元件性能表現(xiàn)的很不穩(wěn)定，設(shè)備或電路板仍然不能正常工作，為此天惠公司開發(fā)了針對集成電路直流參數(shù)的測試作用，支持對數(shù)字集成電路的輸入漏電流和輸出驅(qū)動電流等直流參數(shù)測試。如輸入漏電流(Iih,IiL,Vih,ViL);輸出驅(qū)動電流(IOL，IOh，VOL，VOh)。

2. 數(shù)字邏輯器件在/離線作用測試:

能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線作用測試;測試器件庫龐大，僅邏輯數(shù)字器件就1 萬多種;

測試范圍廣:TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、俄羅斯器件、西門子器件庫。

3.ASA(VI)模擬特征分析測試:

ASA測試通過比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測故障，可把故障定位到電路結(jié)點。ASA測試不涉及器件作用，無論何種元器件，模擬的、數(shù)字的、作用已知的、作用未知的都能檢測;ASA測試是逐管腳進(jìn)行的，基本上不受器件封裝限制，任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測試。 ASA測試無需給電路板加電，

使用較為安全。

4.單/多端口VI曲線分析比較測試:

對器件采取單端口或多端口的VI曲線測試方式;單端口測試方式是指每個管腳對地提取一遍阻抗特性曲線，而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。

5.ASA 曲線雙棒動態(tài)比較測試:

使用雙路探棒對兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點時時的進(jìn)行動態(tài)比較測試;當(dāng)被測板上的器件不能使用測試夾測試時，此種方法最有效。

6.ASA 曲線測試智能提醒作用:

當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測試時，如果超差，儀器會出現(xiàn)報警聲音，引起使用者注意，該測試方法利用微機喇叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果，提高了檢測效率，也大大降低了勞動強度。

7.ASA 測試曲線靈敏度可調(diào):

當(dāng)ASA曲線走勢趨向于45度時，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度和測試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線;該測試方法能夠自動搜索出對故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率。

8.可按管腳設(shè)置ASA 曲線測試參數(shù):

可根據(jù)具體器件的測試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;大大提高了測試的靈活性。

9.ASA 曲線故障快速定位/查找作用:

當(dāng)VI測試出現(xiàn)故障曲線時，測試儀提供快速的曲線定位/查找作用選項，使用戶觀察曲線更方便、直觀。

10. 對不穩(wěn)定疑難曲線有效識別:

增強了對不穩(wěn)定疑難曲線有效識別的判斷水平，降低了誤判率，進(jìn)一步提高了測試準(zhǔn)確度。

11. VI曲線參數(shù)值量化作用:

即從被測電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測試值并保存,且能夠用寫字板或OFFICE工具軟件直接進(jìn)行編輯或瀏覽。

12. 求取平均曲線的測試作用:

用戶可以先測試多個器件,得到多個曲線文件,然后利用該作用把多個曲線文件平均成一個曲線文件,作為以后的測試比較標(biāo)準(zhǔn)。

13.VI曲線雙板直接對比測試:

使用雙路測試夾對兩塊相同電路板(一塊好板和一塊壞板)上的相應(yīng)IC同時進(jìn)行VI曲線提取、存儲和比較測試，測試效率極高。

14.三端器件測試:

完成對三端分立元件的動態(tài)測試作用，如三極管、可控硅、場效應(yīng)管、繼電器等元件測試。

15.ASA 曲線多種排列/顯示方式:

可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點或“畫線”來顯示曲線，單個管腳的曲線可以單獨放大或縮小。

16.電容、電感定量測試:

可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測試電容的容量及漏電阻，并展現(xiàn)出電容在充放電過程中不同的阻值的過程;能夠測試出電感的電感量及串聯(lián)電阻;

17. 電路板圖象建庫測試:

通過數(shù)碼相機或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計算機內(nèi),在屏幕上就可以對該板上各個集成電路芯片進(jìn)行編號,以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對每一個器件同時進(jìn)行邏輯作用在線測試及VI曲線掃描測試,從而建立起整板的測試庫,當(dāng)需要維修時,只需將該板從計算機軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對其進(jìn)行故障診斷,適用于批量電路板的維修。

18.數(shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測試:

能夠提取11種復(fù)雜的電路在線狀態(tài)，如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號、非法電平、總線競爭等等狀態(tài)，對測試器件外電路的識別能力強。

19.總線競爭信號隔離作用:

用于解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373、74LS245、等)，可提供8路總線競爭隔離信號。

20.IC型號識別:

針對標(biāo)識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號識別測試。

21. LSI大規(guī)模集成電路在線作用及狀態(tài)分析測試:

可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進(jìn)行作用及狀態(tài)分析測試。

22.讀寫存儲器作用測試:

直接檢測存儲器SRAM / DRAM芯片的好壞，該測試無需事先學(xué)習(xí)，有獨立的測試器件庫，可采用在線、離線測試方式。

23.只讀存儲器作用測試:

可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測試;測試結(jié)果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯誤的代碼。

24.元器件循環(huán)測試作用:

該作用可對數(shù)字邏輯器件、集成運放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測試，直到出現(xiàn)錯誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。

25.數(shù)字邏輯器件測試閾值可調(diào)作用:

閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。通過調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動能力下降導(dǎo)致的電路故障。

26.加電延遲可選作用:

當(dāng)遇到被測電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時可用到此作用。該選項是確定在測試儀接通外供電源以后，需要等待多長時間后才開始進(jìn)行測試。

27.測試夾接觸檢查作用:

主要解決當(dāng)測試夾和被測器件接觸不良(如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等)時，造成的測試誤判。

28.運算放大器在線作用測試:

使用模擬信號測試運放在線性放大區(qū)的工作特性，測試技術(shù)或國家發(fā)明專利，有獨立的測試器件庫，包含LM324、LM348等共計3000多種。

29. 電壓比較器測試:

模擬電壓比較器用于判斷兩個信號的微小差異，通過本測試儀可以很容易測試。

30.光電耦合器在線作用測試:

由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵信號測試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高;有獨立的光耦測試器件庫，

達(dá)500多種。

31.光電耦合器離線直流參數(shù)測試:

可在離線情況下對光耦的主要直流參數(shù)(如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等)進(jìn)行測試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率;

32.UDT自定義測試平臺:

把測試儀的測試通道開放給用戶，由用戶對被測元件或電路的輸入施加激勵信號，然后從輸出采集響應(yīng)信號，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測試方法。

33. UDT下AD、DA類器件作用測試:

用戶通過UDT控制聰能測試儀，向被測試器件(AD/DA)或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵信號，從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號，通過比較相同激勵信號下，器件/電路的實測響應(yīng)信號和預(yù)期(標(biāo)準(zhǔn))響應(yīng)信號的符合程度，實現(xiàn)故障檢測。

34. AFT電路故障追蹤:

AFT可以看成“信號發(fā)生器+示波器”測試方式的直接擴充。本測試儀上能夠設(shè)置多種測試信號，并且能把測試信號以及好板電路對測試信號的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計算機中――建立用戶自己的電路板測試庫，用于對故障板的測試;也可以把同樣的測試信號同時加在好、壞板的電路上，直接對照兩者的輸出結(jié)果。

35.電路板網(wǎng)絡(luò)測試:

使用模擬信號提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測試時無須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開路、短路測試變的更加方便和快捷。

36. 晶體管輸出特性曲線測試:

可以測出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個區(qū):截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況?？捎糜诰w管的篩選，尤其在晶體管配對時特別有用。

37.填表方式擴充模擬器件庫:

以填表的方式定義模擬器件的各管腳狀態(tài):如:正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。

38.以編程方式擴充數(shù)字器件庫:

采用HNDDL語言，自適應(yīng)技術(shù)完善;把擴充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測試器件庫。

39.元器件速查手冊(電子詞典):

元件庫容量近四萬種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。

40.維修日記:

供記錄日常維修的經(jīng)驗體會，發(fā)生的重要事情等，長期保存這些資料并積累經(jīng)驗，會大大提高維修水平和技能。

41.后臺操作記錄:

測試儀會自動記錄測試過程及測試結(jié)果等信息。