書(shū)????名 | 超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計(jì)原理 | 作????者 | 高德遠(yuǎn)、樊曉椏、張盛兵、王黨輝、羅旻 |
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出版社 | 高等教育出版社 | 出版時(shí)間 | 2003年7月6日 |
頁(yè)????數(shù) | 389 頁(yè) | ISBN | 7-04-011872-6 |
字????數(shù) | 470千字 |
《超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計(jì)原理》系統(tǒng)地介紹了超大規(guī)模集成電路專(zhuān)用芯片的設(shè)計(jì)原理。主要內(nèi)容包括:VLSI基礎(chǔ),包括器件原理、工藝過(guò)程、電路抽象、版圖設(shè)計(jì)等內(nèi)容;微系統(tǒng)設(shè)計(jì),包括IP與SOC、測(cè)試與可測(cè)試性設(shè)計(jì)、微處理器設(shè)計(jì)等內(nèi)容。 2100433B
《超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計(jì)原理》是由西北工業(yè)大學(xué)計(jì)算機(jī)學(xué)院教授高德遠(yuǎn)、樊曉椏、張盛兵等編著的面向計(jì)算機(jī)專(zhuān)業(yè)和微電子專(zhuān)業(yè)本科生和研究生的大學(xué)VSIL課程教材。該書(shū)系統(tǒng)地介紹了超大規(guī)模集成電路專(zhuān)用芯片的設(shè)計(jì)原理。
微型計(jì)算機(jī)的發(fā)展經(jīng)歷了從集成電路到超大規(guī)模集成電路等幾代的變革,各代變革主要是基于什么?
微型計(jì)算機(jī)的發(fā)展經(jīng)歷了從集成電路到超大規(guī)模集成電路等三代變革,各代變革主要是基于器件集成度的提高,從而帶動(dòng)整機(jī)性能的提高。
集成電路取代了晶體管,為開(kāi)發(fā)電子產(chǎn)品的各種功能鋪平了道路,并且大幅度降低了成本,第三代電子器件從此登上舞臺(tái)。它的誕生,使微處理器的出現(xiàn)成為了可能,也使計(jì)算機(jī)變成普通人可以親近的日常工具。集成技術(shù)的應(yīng)用...
集成電路的種類(lèi)與用途 作者:陳建新 在電子行業(yè),集成電路的應(yīng)用非常廣泛,每年都有許許多多通用或?qū)S玫募呻娐繁谎邪l(fā)與生產(chǎn)出來(lái),本文將對(duì)集成電路的知識(shí)作一全面的闡述。 一、 集成...
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評(píng)分: 4.5
以Synopsys推出的TCAD軟件TSUPREM-Ⅳ和Medici為藍(lán)本,結(jié)合100nm柵長(zhǎng)PMOSFET的可制造性聯(lián)機(jī)仿真與優(yōu)化實(shí)例,闡述了超大規(guī)模集成電路DFM階段所進(jìn)行的工藝級(jí)、器件物理特性級(jí)優(yōu)化及工藝參數(shù)的提取。
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頁(yè)數(shù): 3頁(yè)
評(píng)分: 4.6
隨著芯片制造工藝的不斷發(fā)展,超大規(guī)模集成電路集成度不斷提高,體積不斷縮小.納米工藝一方面帶來(lái)產(chǎn)品規(guī)模、產(chǎn)品性能的提升,另一方面帶來(lái)了產(chǎn)品可靠性,不可信制造和測(cè)試效率、測(cè)試覆蓋率等諸多問(wèn)題.為應(yīng)對(duì)這些問(wèn)題,設(shè)計(jì)工程師和測(cè)試工程師研發(fā)了很多新的方法,分析了超大規(guī)模集成電路在可靠性設(shè)計(jì)和測(cè)試技術(shù)發(fā)展的最新進(jìn)展,最后指出了VLSI可靠性設(shè)計(jì)和測(cè)試技術(shù)的發(fā)展方向.
集成電路按集成度高低的不同可分為小規(guī)模集成電路、中規(guī)模集成電路、大規(guī)模集成電路、超大規(guī)模集成電路、特大規(guī)模集成電路和巨大規(guī)模集成電路等。
小規(guī)模集成電路于1960年出現(xiàn),在一塊硅片上包含10-100個(gè)元件或1-10個(gè)邏輯門(mén)。如 邏輯門(mén)和觸發(fā)器等。如果用小規(guī)模數(shù)字集成電路(SSI)進(jìn)行設(shè)計(jì)組合邏輯電路時(shí),是以門(mén)電路作為電路的基本單元,所以邏輯函數(shù)的化簡(jiǎn)應(yīng)使使用的門(mén)電路的數(shù)目最少,而且門(mén)的輸入端數(shù)目也最少。
中規(guī)模集成電路(Medium Scale Integration:MSI)
1966年出現(xiàn),在一塊硅片上包含100-1000個(gè)元件或10-100個(gè)邏輯門(mén)。如 :集成計(jì)時(shí)器,寄存器,譯碼器等。
如果選用中規(guī)模集成電路(MSI)設(shè)計(jì)組合邏輯電路時(shí),則以所用集成電路個(gè)數(shù)最少,品種最少,同時(shí)集成電路間的連線也最少。這往往需將邏輯函數(shù)表達(dá)式變換成選用電路所要求的表達(dá)形式,有時(shí)可直接用標(biāo)準(zhǔn)范式。
MSI中規(guī)模組合邏輯器件功能雖然比小規(guī)模集成電路SSI強(qiáng),但也不像大規(guī)模集成電路LSI那樣功能專(zhuān)一化,這些器件產(chǎn)品的品種雖然不少,但也不可能完全符合使用者的要求,這就需要將多片級(jí)聯(lián)以擴(kuò)展其功能,而且還可以用一些標(biāo)準(zhǔn)的中規(guī)模繼承組件來(lái)實(shí)現(xiàn)其它一些組合邏輯電路的設(shè)計(jì)。用中規(guī)模集成組件來(lái)進(jìn)行組合邏輯電路設(shè)計(jì)時(shí),其方法是選擇合適的MSI后,將實(shí)際問(wèn)題轉(zhuǎn)化后的邏輯表達(dá)式變換為響應(yīng)的MSI的表達(dá)形式。用MSI設(shè)計(jì)的組合邏輯電路與用門(mén)電路設(shè)計(jì)的組合邏輯電路相比,不僅體積小,重量較輕,而且提高了工作的可靠性。
中規(guī)模數(shù)據(jù)選擇起的級(jí)聯(lián)可擴(kuò)展其選擇數(shù)據(jù)的路數(shù),其功能擴(kuò)展不僅可用于組合邏輯電路,而且還可用于時(shí)序邏輯電路。在組合邏輯電路中主要有以下應(yīng)用:
(1)級(jí)聯(lián)擴(kuò)展,以增加選擇的路數(shù)、位數(shù),可實(shí)現(xiàn)由多位到多位的數(shù)據(jù)傳送;
(2)作邏輯函數(shù)發(fā)生器,用以實(shí)現(xiàn)任意組合邏輯電路的設(shè)計(jì)。
大規(guī)模集成電路(Large Scale Integrated circuits:LSI)
1970年出現(xiàn),在一塊硅片上包含103-105個(gè)元件或100-10000個(gè)邏輯門(mén)。如 :半導(dǎo)體存儲(chǔ)器,某些計(jì)算機(jī)外設(shè)。628512,628128(128K)最大容量1G。
超大規(guī)模集成電路(Very Large Scale Integrated circuits:VLSI)
在一塊芯片上集成的元件數(shù)超過(guò)10萬(wàn)個(gè),或門(mén)電路數(shù)超過(guò)萬(wàn)門(mén)的集成電路,稱(chēng)為超大規(guī)模集成電路。超大規(guī)模集成電路是20世紀(jì)70年代后期研制成功的,主要用于制造存儲(chǔ)器和微處理機(jī)。64k位隨機(jī)存取存儲(chǔ)器是第一代超大規(guī)模集成電路,大約包含15萬(wàn)個(gè)元件,線寬為3微米。
超大規(guī)模集成電路的集成度已達(dá)到600萬(wàn)個(gè)晶體管,線寬達(dá)到0.3微米。用超大規(guī)模集成電路制造的電子設(shè)備,體積小、重量輕、功耗低、可靠性高。利用超大規(guī)模集成電路技術(shù)可以將一個(gè)電子分系統(tǒng)乃至整個(gè)電子系統(tǒng)“集成”在一塊芯片上,完成信息采集、處理、存儲(chǔ)等多種功能。例如,可以將整個(gè)386微處理機(jī)電路集成在一塊芯片上,集成度達(dá)250萬(wàn)個(gè)晶體管。超大規(guī)模集成電路研制成功,是微電子技術(shù)的一次飛躍,大大推動(dòng)了電子技術(shù)的進(jìn)步,從而帶動(dòng)了軍事技術(shù)和民用技術(shù)的發(fā)展。超大規(guī)模集成電路已成為衡量一個(gè)國(guó)家科學(xué)技術(shù)和工業(yè)發(fā)展水平的重要標(biāo)志,也是世界主要工業(yè)國(guó)家,特別是美國(guó)和日本競(jìng)爭(zhēng)最激烈的一個(gè)領(lǐng)域。
特大規(guī)模集成電路(Ultra Large-Scale Integration:ULSI)
1993年隨著集成了1000萬(wàn)個(gè)晶體管的16M FLASH和256M DRAM的研制成功,進(jìn)入了特大規(guī)模集成電路ULSI (Ultra Large-Scale Integration)時(shí)代。特大規(guī)模集成電路的集成組件數(shù)在107~109個(gè)之間。
ULSI電路集成度的迅速增長(zhǎng)主要取決于以下兩個(gè)因素:一是晶體生長(zhǎng)技術(shù)已達(dá)到極高的水平;二是制造設(shè)備不斷完善,加工精度、自動(dòng)化程度和可靠性的提高已使器件尺寸進(jìn)入深亞微米級(jí)領(lǐng)域。硅單晶制備技術(shù)可使晶體徑向參數(shù)均勻,體內(nèi)微缺陷減少,0.1~0.3um大小的缺陷平均可以少于0.05個(gè)/平方厘米。對(duì)電路加工過(guò)程中誘生的缺陷理論模型也有了較為完整的認(rèn)識(shí),由此發(fā)展了一整套晶體的加工工藝。生產(chǎn)電路用的硅片直徑的不斷增大,導(dǎo)致生產(chǎn)效率大幅度提高,硅片的直徑尺寸已達(dá)到12英寸。微缺陷的減少使芯片成品率增加,0.02個(gè)/平方厘米缺陷的硅片可使256MB DRAM的成品率達(dá)到80~90%。
巨大規(guī)模集成電路(Giga Scale Integration:GSI)
1994年由于集成1億個(gè)元件的1G DRAM的研制成功,進(jìn)入巨大規(guī)模集成電路GSI(Giga Scale Integration)時(shí)代。巨大規(guī)模集成電路的集成組件數(shù)在109以上。
引言
傳統(tǒng)的電路性能檢測(cè)采用人工檢測(cè)來(lái)檢定電路是否合格,主要存在以下弊端:第一,在測(cè)試過(guò)程中頻繁地更換儀器和被測(cè)對(duì)象的連線,操作儀器不斷地完成整個(gè)測(cè)試過(guò)程,后續(xù)還需要人工進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析和編寫(xiě)檢測(cè)報(bào)告等工作,耗費(fèi)大量的時(shí)間,不能適應(yīng)部隊(duì)武器裝備的快速化保障需求;第二,這種傳統(tǒng)檢測(cè)方法不具備自動(dòng)化操作,在測(cè)試過(guò)程中對(duì)測(cè)試人員的依賴(lài)性較強(qiáng),要求測(cè)試人員熟練掌握測(cè)試流程,而且在測(cè)試和后續(xù)數(shù)據(jù)處理過(guò)程中難免引入人為誤差;第三,由于電路通常都需要完成多個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試,測(cè)試過(guò)程極其繁瑣和枯燥,勞動(dòng)強(qiáng)度大,而且頻繁操作和誤操作容易損壞貴重儀器。
自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)(automatic test system,ATS)是指:測(cè)試儀器在計(jì)算機(jī)的控制下,向被測(cè)對(duì)象按照一定的時(shí)序和順序提供激勵(lì),同時(shí)對(duì)被測(cè)對(duì)象在該激勵(lì)下的響應(yīng)進(jìn)行測(cè)量的系統(tǒng)。 GPIB,VXI,是目前自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)較常用標(biāo)準(zhǔn)總線,這幾種總線構(gòu)建的測(cè)試平臺(tái)比較如表1所示。1980年代VXI的出現(xiàn),將高階量測(cè)與測(cè)試應(yīng)用的設(shè)備帶進(jìn)了模塊化的階段。VXI的價(jià)格較高,隨著技術(shù)發(fā)展,PXI延續(xù)模塊化的精神,以較緊實(shí)的架構(gòu)設(shè)計(jì)、較快的總線速度,以及較低的價(jià)格,提供量測(cè)與測(cè)試設(shè)備一個(gè)新的選擇。GPIB是控制器和可編程儀器之間通信的一種總線協(xié)議,也稱(chēng)為IEEE2488標(biāo)準(zhǔn),因其使用簡(jiǎn)單、傳輸速率高而被廣泛應(yīng)用,隨著 IEEE488標(biāo)準(zhǔn)的完善,傳輸速率的提高以及帶GPIB接口的儀器成本不斷下降。PXI和GPIB為目前工業(yè)上普遍采用的測(cè)試總線,其性能穩(wěn)定、操作方便、組建靈活、設(shè)備利用率高、價(jià)格低廉,適合于組建性?xún)r(jià)比高的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。另外,虛擬儀器技術(shù)的飛速發(fā)展和不斷完善,LabVIEW軟件平臺(tái)的圖形化操作界面,都非常有利于工程師們迅速的掌握設(shè)計(jì)編程方法,又好又快地完成項(xiàng)目任務(wù),因此虛擬儀器技術(shù)在工業(yè)測(cè)量領(lǐng)域也得到了廣泛的應(yīng)用。
因此本文提出了基于LabVIEW平臺(tái)的PXI加GPIB總線的測(cè)試系統(tǒng)。
GPIB總線的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)思想,即借助LabVIEW開(kāi)發(fā)平臺(tái),采用虛擬儀器的軟件設(shè)計(jì)方法,通過(guò)GPIB總線接口和相應(yīng)的控制電路,實(shí)現(xiàn)工控機(jī)對(duì)各種測(cè)試儀器的實(shí)時(shí)控制,完成對(duì)被測(cè)電路各項(xiàng)性能指標(biāo)的自動(dòng)化測(cè)試,并充分發(fā)揮工控機(jī)自動(dòng)分析和處理數(shù)據(jù)的能力,最后將數(shù)據(jù)以電子文檔形式保存后生成測(cè)試報(bào)表打印出來(lái)。
1 測(cè)試系統(tǒng)方案設(shè)計(jì)
1.1 總體框架設(shè)計(jì)
該測(cè)試系統(tǒng)在硬件設(shè)計(jì)上采用PXI和GPIB總線接口、數(shù)據(jù)采集卡和相應(yīng)的繼電器控制電路,實(shí)現(xiàn)工控機(jī)對(duì)各種測(cè)試儀器的實(shí)時(shí)控制。在軟件設(shè)計(jì)上通過(guò) LabVIEW開(kāi)發(fā)平臺(tái),采用虛擬儀器的軟件設(shè)計(jì)方法,將工控機(jī)硬件資源與儀器硬件有機(jī)地融合為一體,并通過(guò)軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)據(jù)的分析、顯示以及存儲(chǔ),解決了在LabVIEW中實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)庫(kù)管理的技術(shù)問(wèn)題。
測(cè)試過(guò)程要以自動(dòng)測(cè)試的方式完成。
自動(dòng)測(cè)試主要采用NI公司的相關(guān)PXI板卡在默認(rèn)設(shè)置狀態(tài)下完成檢測(cè)工作,設(shè)計(jì)思路是通過(guò)數(shù)字I/O口控制繼電器的打開(kāi)和閉合來(lái)控制測(cè)試設(shè)備的連接。等所需的測(cè)試項(xiàng)目連接好后,再通過(guò)LabVIEW的編寫(xiě)的數(shù)據(jù)采集處理程序獲得測(cè)量數(shù)據(jù),在顯示界面顯示測(cè)量結(jié)果,便于用戶(hù)分析處理,得出相應(yīng)的結(jié)論,最后把測(cè)量結(jié)果保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中,便于以后調(diào)出來(lái)進(jìn)行分析和寫(xiě)測(cè)試報(bào)告。
1.2 信號(hào)調(diào)理單元設(shè)計(jì)
被測(cè)電路中有多路差分輸入信號(hào),使用信號(hào)源產(chǎn)生模擬信號(hào)時(shí),需要進(jìn)行差分轉(zhuǎn)換,差分轉(zhuǎn)換電路如圖1所示。
分析如下:
經(jīng)過(guò)實(shí)踐驗(yàn)證該電路方案是可行的。
1.3 測(cè)控設(shè)備硬件
自動(dòng)測(cè)試主要使用的設(shè)備是NI公司的PXI設(shè)備,采用PXI-1042機(jī)箱和PXI-8196控制器實(shí)現(xiàn)測(cè)量控制。PXI-8196控制器為2.O GHz Intel Pentium M760處理器的控制器,具備雙信道DDR2內(nèi)存,最大內(nèi)存容量為2 GB,集成4個(gè)USB 2.0連接端口、一個(gè)GPIB接口,以及串行端口和并行端口,預(yù)裝Microsoft WindowsXP Professional操作系統(tǒng),用于需要大量分析工作或系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的應(yīng)用環(huán)境,例如ATE、軍事/航天、通信、工業(yè)及消費(fèi)電器應(yīng)用。數(shù)據(jù)采集卡選用NI 公司的PXI-6259數(shù)據(jù)采集模塊,該數(shù)據(jù)采集卡有16位1 MS/s(多通道),1.25 MS/s(單通道),32 SE/16 DI,48路數(shù)字I/O定時(shí)硬件(≥10 MHz),TTL電平,4路16位模擬輸出(2.8 MS/s),輸出范圍-10~+10 V。任意波形發(fā)生器選用NI公司的PXI-5412,能提供-6~+6 V信號(hào),給被測(cè)試的各個(gè)信號(hào)通道提供正弦、方波等信號(hào)。PXI-5152有2個(gè)單端輸入的通道,每個(gè)通道具有1 GS/s實(shí)時(shí)采樣率。動(dòng)態(tài)信號(hào)分析儀選用NI公司的PXI-4461,具有2個(gè)差分輸通道,2個(gè)模擬輸入通道;通道的實(shí)時(shí)采樣率是204. 8 KS/s,應(yīng)用該卡制作一個(gè)通用的動(dòng)態(tài)信號(hào)分析儀界面,用以實(shí)現(xiàn)手動(dòng)測(cè)量。
2 測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
2.1 測(cè)控軟件設(shè)計(jì)工具
該系統(tǒng)的測(cè)控軟件系統(tǒng)是在Visual Basic和LabVIEW軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)開(kāi)發(fā)的,測(cè)量的結(jié)果數(shù)據(jù)保存在SQL數(shù)據(jù)庫(kù)中。其軟件體系構(gòu)如圖2所示。
在PXI測(cè)控計(jì)算機(jī)中,利用LabVIEW和NI公司的各種數(shù)據(jù)采集處理模塊對(duì)被測(cè)電路的進(jìn)行測(cè)量;利用GPIB接口與各臺(tái)式儀表通信,可以獲得自動(dòng)或手動(dòng)的測(cè)量結(jié)果;利用ADO接口訪問(wèn)網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)庫(kù),把各種用戶(hù)需要的數(shù)據(jù)在測(cè)量過(guò)程中不斷地提交給數(shù)據(jù)庫(kù),便于后續(xù)的測(cè)試信息管理工作。值得一提的是,各測(cè)量?jī)x器操作能否實(shí)現(xiàn)同步,儀器收發(fā)命令、讀/寫(xiě)數(shù)據(jù)和執(zhí)行指令的先后順序和時(shí)間能否協(xié)調(diào),將直接影響到系統(tǒng)的可靠性、測(cè)試數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)性和測(cè)試系統(tǒng)的效率。系統(tǒng)同步該系統(tǒng)中主要由軟件實(shí)現(xiàn),根據(jù)用戶(hù)的服務(wù)要求和儀器特性設(shè)計(jì)適當(dāng)?shù)某绦蛄鞒獭?/p>
為了實(shí)現(xiàn)程序的通用性,選用Visual Basic/SQL作為測(cè)試程序與數(shù)據(jù)庫(kù)之間進(jìn)行數(shù)據(jù)交換的工具把測(cè)量數(shù)據(jù)和測(cè)試流程分開(kāi),測(cè)試流程的任務(wù)就是根據(jù)測(cè)試需求讀取配置數(shù)據(jù)庫(kù)的數(shù)據(jù),配置測(cè)試儀器,進(jìn)行相應(yīng)地?cái)?shù)據(jù)采集、分析計(jì)算,并把結(jié)果寫(xiě)回到測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)庫(kù)中。在計(jì)算機(jī)中,安裝了數(shù)據(jù)庫(kù),另外還附加了數(shù)據(jù)管理查詢(xún)軟件,以及提供給用戶(hù)安裝其他軟件的選擇。這樣,PXI測(cè)控計(jì)算機(jī)不會(huì)因?yàn)樾枰獢?shù)據(jù)庫(kù)管理而占用資源;另外當(dāng)沒(méi)有啟用PXI測(cè)控計(jì)算機(jī)時(shí),只啟用了通用計(jì)算機(jī),也可以對(duì)已經(jīng)測(cè)量板卡的數(shù)據(jù)進(jìn)行整理分析,Visual Basic可以更好地與SQL數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行對(duì)接,對(duì)用戶(hù)的數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行查詢(xún),管理等操作,在計(jì)算機(jī)中應(yīng)用Visual Basic編寫(xiě)了方便用戶(hù)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行訪問(wèn)的數(shù)據(jù)管理查詢(xún)軟件。
2.2 測(cè)控軟件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
系統(tǒng)的測(cè)控軟件是運(yùn)行在PXI測(cè)控計(jì)算機(jī)上的軟件,其主要軟件層次框圖如圖3所示。軟件采用層次結(jié)構(gòu),在實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試的同時(shí),還具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、查詢(xún)回放功能,具有良好的實(shí)用性和操作性。
3 結(jié)語(yǔ)
該課題的研究和開(kāi)發(fā),對(duì)電路的檢測(cè)具有重要意義。首先,采用自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)大大提高了測(cè)試效率,節(jié)省了寶貴的時(shí)間,能夠適應(yīng)信息化條件下裝備快速化保障的需要;其次,把測(cè)試人員從繁瑣的檢測(cè)任務(wù)中解放出來(lái),減輕了勞動(dòng)強(qiáng)度,大大節(jié)省了人力消耗;最后,整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)一次性連接好后不需要人為干預(yù),只需在電腦上選擇測(cè)試的項(xiàng)目和填寫(xiě)一些基本數(shù)據(jù)即可開(kāi)始檢測(cè),非專(zhuān)業(yè)人員也可完成測(cè)試過(guò)程,基本上排除了人為誤操作產(chǎn)生的差錯(cuò),提高測(cè)試結(jié)果的可信度,保證了系統(tǒng)的安全使用。
原文鏈接:
本書(shū)系統(tǒng)地介紹了射頻集成電路與系統(tǒng)的基本設(shè)計(jì)原理、設(shè)計(jì)思路和實(shí)際應(yīng)用。全書(shū)分為射頻微波的基礎(chǔ)知識(shí)、射頻電路系統(tǒng)中常用模塊的設(shè)計(jì)和實(shí)際應(yīng)用中需要考慮的問(wèn)題三個(gè)部分。主要包括RF分布參數(shù)與集總參數(shù)模型、品質(zhì)因數(shù)、4種濾波器的設(shè)計(jì)、傳輸線理論、S參數(shù)、阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)、Smith圓圖、信號(hào)流圖、梅森公式、轉(zhuǎn)換功率增益、小信號(hào)放大器的設(shè)計(jì)、功率分配器和功率合成器以及功率耦合器的相關(guān)理論、PIN二極管和開(kāi)關(guān)基本原理、功率放大器的應(yīng)用、電磁兼容理論和應(yīng)用等內(nèi)容。