超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計原理基本信息

書????名 超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計原理 作????者 高德遠(yuǎn)、樊曉椏、張盛兵、王黨輝、羅旻
出版社 高等教育出版社 出版時間 2003年7月6日
頁????數(shù) 389 頁 ISBN 7-04-011872-6
字????數(shù) 470千字

《超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計原理》系統(tǒng)地介紹了超大規(guī)模集成電路專用芯片的設(shè)計原理。主要內(nèi)容包括:VLSI基礎(chǔ),包括器件原理、工藝過程、電路抽象、版圖設(shè)計等內(nèi)容;微系統(tǒng)設(shè)計,包括IP與SOC、測試與可測試性設(shè)計、微處理器設(shè)計等內(nèi)容。 2100433B

超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計原理造價信息

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《超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計原理》是由西北工業(yè)大學(xué)計算機(jī)學(xué)院教授高德遠(yuǎn)、樊曉椏、張盛兵等編著的面向計算機(jī)專業(yè)和微電子專業(yè)本科生和研究生的大學(xué)VSIL課程教材。該書系統(tǒng)地介紹了超大規(guī)模集成電路專用芯片的設(shè)計原理。

超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計原理常見問題

超大規(guī)模集成電路:系統(tǒng)和電路的設(shè)計原理文獻(xiàn)

超大規(guī)模集成電路的可制造性設(shè)計 超大規(guī)模集成電路的可制造性設(shè)計

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以Synopsys推出的TCAD軟件TSUPREM-Ⅳ和Medici為藍(lán)本,結(jié)合100nm柵長PMOSFET的可制造性聯(lián)機(jī)仿真與優(yōu)化實例,闡述了超大規(guī)模集成電路DFM階段所進(jìn)行的工藝級、器件物理特性級優(yōu)化及工藝參數(shù)的提取。

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超大規(guī)模集成電路可靠性設(shè)計與測試技術(shù)的新進(jìn)展 超大規(guī)模集成電路可靠性設(shè)計與測試技術(shù)的新進(jìn)展

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隨著芯片制造工藝的不斷發(fā)展,超大規(guī)模集成電路集成度不斷提高,體積不斷縮小.納米工藝一方面帶來產(chǎn)品規(guī)模、產(chǎn)品性能的提升,另一方面帶來了產(chǎn)品可靠性,不可信制造和測試效率、測試覆蓋率等諸多問題.為應(yīng)對這些問題,設(shè)計工程師和測試工程師研發(fā)了很多新的方法,分析了超大規(guī)模集成電路在可靠性設(shè)計和測試技術(shù)發(fā)展的最新進(jìn)展,最后指出了VLSI可靠性設(shè)計和測試技術(shù)的發(fā)展方向.

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集成電路按集成度高低的不同可分為小規(guī)模集成電路、中規(guī)模集成電路、大規(guī)模集成電路、超大規(guī)模集成電路、特大規(guī)模集成電路和巨大規(guī)模集成電路等。

小規(guī)模集成電路于1960年出現(xiàn),在一塊硅片上包含10-100個元件或1-10個邏輯門。如 邏輯門和觸發(fā)器等。如果用小規(guī)模數(shù)字集成電路(SSI)進(jìn)行設(shè)計組合邏輯電路時,是以門電路作為電路的基本單元,所以邏輯函數(shù)的化簡應(yīng)使使用的門電路的數(shù)目最少,而且門的輸入端數(shù)目也最少。

中規(guī)模集成電路(Medium Scale Integration:MSI)

1966年出現(xiàn),在一塊硅片上包含100-1000個元件或10-100個邏輯門。如 :集成計時器,寄存器,譯碼器等。

如果選用中規(guī)模集成電路(MSI)設(shè)計組合邏輯電路時,則以所用集成電路個數(shù)最少,品種最少,同時集成電路間的連線也最少。這往往需將邏輯函數(shù)表達(dá)式變換成選用電路所要求的表達(dá)形式,有時可直接用標(biāo)準(zhǔn)范式。

MSI中規(guī)模組合邏輯器件功能雖然比小規(guī)模集成電路SSI強(qiáng),但也不像大規(guī)模集成電路LSI那樣功能專一化,這些器件產(chǎn)品的品種雖然不少,但也不可能完全符合使用者的要求,這就需要將多片級聯(lián)以擴(kuò)展其功能,而且還可以用一些標(biāo)準(zhǔn)的中規(guī)模繼承組件來實現(xiàn)其它一些組合邏輯電路的設(shè)計。用中規(guī)模集成組件來進(jìn)行組合邏輯電路設(shè)計時,其方法是選擇合適的MSI后,將實際問題轉(zhuǎn)化后的邏輯表達(dá)式變換為響應(yīng)的MSI的表達(dá)形式。用MSI設(shè)計的組合邏輯電路與用門電路設(shè)計的組合邏輯電路相比,不僅體積小,重量較輕,而且提高了工作的可靠性。

中規(guī)模數(shù)據(jù)選擇起的級聯(lián)可擴(kuò)展其選擇數(shù)據(jù)的路數(shù),其功能擴(kuò)展不僅可用于組合邏輯電路,而且還可用于時序邏輯電路。在組合邏輯電路中主要有以下應(yīng)用:

(1)級聯(lián)擴(kuò)展,以增加選擇的路數(shù)、位數(shù),可實現(xiàn)由多位到多位的數(shù)據(jù)傳送;

(2)作邏輯函數(shù)發(fā)生器,用以實現(xiàn)任意組合邏輯電路的設(shè)計。

大規(guī)模集成電路(Large Scale Integrated circuits:LSI)

1970年出現(xiàn),在一塊硅片上包含103-105個元件或100-10000個邏輯門。如 :半導(dǎo)體存儲器,某些計算機(jī)外設(shè)。628512,628128(128K)最大容量1G。

超大規(guī)模集成電路(Very Large Scale Integrated circuits:VLSI)

在一塊芯片上集成的元件數(shù)超過10萬個,或門電路數(shù)超過萬門的集成電路,稱為超大規(guī)模集成電路。超大規(guī)模集成電路是20世紀(jì)70年代后期研制成功的,主要用于制造存儲器和微處理機(jī)。64k位隨機(jī)存取存儲器是第一代超大規(guī)模集成電路,大約包含15萬個元件,線寬為3微米。

超大規(guī)模集成電路的集成度已達(dá)到600萬個晶體管,線寬達(dá)到0.3微米。用超大規(guī)模集成電路制造的電子設(shè)備,體積小、重量輕、功耗低、可靠性高。利用超大規(guī)模集成電路技術(shù)可以將一個電子分系統(tǒng)乃至整個電子系統(tǒng)“集成”在一塊芯片上,完成信息采集、處理、存儲等多種功能。例如,可以將整個386微處理機(jī)電路集成在一塊芯片上,集成度達(dá)250萬個晶體管。超大規(guī)模集成電路研制成功,是微電子技術(shù)的一次飛躍,大大推動了電子技術(shù)的進(jìn)步,從而帶動了軍事技術(shù)和民用技術(shù)的發(fā)展。超大規(guī)模集成電路已成為衡量一個國家科學(xué)技術(shù)和工業(yè)發(fā)展水平的重要標(biāo)志,也是世界主要工業(yè)國家,特別是美國和日本競爭最激烈的一個領(lǐng)域。

特大規(guī)模集成電路(Ultra Large-Scale Integration:ULSI)

1993年隨著集成了1000萬個晶體管的16M FLASH和256M DRAM的研制成功,進(jìn)入了特大規(guī)模集成電路ULSI (Ultra Large-Scale Integration)時代。特大規(guī)模集成電路的集成組件數(shù)在107~109個之間。

ULSI電路集成度的迅速增長主要取決于以下兩個因素:一是晶體生長技術(shù)已達(dá)到極高的水平;二是制造設(shè)備不斷完善,加工精度、自動化程度和可靠性的提高已使器件尺寸進(jìn)入深亞微米級領(lǐng)域。硅單晶制備技術(shù)可使晶體徑向參數(shù)均勻,體內(nèi)微缺陷減少,0.1~0.3um大小的缺陷平均可以少于0.05個/平方厘米。對電路加工過程中誘生的缺陷理論模型也有了較為完整的認(rèn)識,由此發(fā)展了一整套晶體的加工工藝。生產(chǎn)電路用的硅片直徑的不斷增大,導(dǎo)致生產(chǎn)效率大幅度提高,硅片的直徑尺寸已達(dá)到12英寸。微缺陷的減少使芯片成品率增加,0.02個/平方厘米缺陷的硅片可使256MB DRAM的成品率達(dá)到80~90%。

巨大規(guī)模集成電路(Giga Scale Integration:GSI)

1994年由于集成1億個元件的1G DRAM的研制成功,進(jìn)入巨大規(guī)模集成電路GSI(Giga Scale Integration)時代。巨大規(guī)模集成電路的集成組件數(shù)在109以上。

引言

傳統(tǒng)的電路性能檢測采用人工檢測來檢定電路是否合格,主要存在以下弊端:第一,在測試過程中頻繁地更換儀器和被測對象的連線,操作儀器不斷地完成整個測試過程,后續(xù)還需要人工進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析和編寫檢測報告等工作,耗費大量的時間,不能適應(yīng)部隊武器裝備的快速化保障需求;第二,這種傳統(tǒng)檢測方法不具備自動化操作,在測試過程中對測試人員的依賴性較強(qiáng),要求測試人員熟練掌握測試流程,而且在測試和后續(xù)數(shù)據(jù)處理過程中難免引入人為誤差;第三,由于電路通常都需要完成多個項目的測試,測試過程極其繁瑣和枯燥,勞動強(qiáng)度大,而且頻繁操作和誤操作容易損壞貴重儀器。

自動化測試系統(tǒng)(automatic test system,ATS)是指:測試儀器在計算機(jī)的控制下,向被測對象按照一定的時序和順序提供激勵,同時對被測對象在該激勵下的響應(yīng)進(jìn)行測量的系統(tǒng)。 GPIB,VXI,是目前自動測試系統(tǒng)較常用標(biāo)準(zhǔn)總線,這幾種總線構(gòu)建的測試平臺比較如表1所示。1980年代VXI的出現(xiàn),將高階量測與測試應(yīng)用的設(shè)備帶進(jìn)了模塊化的階段。VXI的價格較高,隨著技術(shù)發(fā)展,PXI延續(xù)模塊化的精神,以較緊實的架構(gòu)設(shè)計、較快的總線速度,以及較低的價格,提供量測與測試設(shè)備一個新的選擇。GPIB是控制器和可編程儀器之間通信的一種總線協(xié)議,也稱為IEEE2488標(biāo)準(zhǔn),因其使用簡單、傳輸速率高而被廣泛應(yīng)用,隨著 IEEE488標(biāo)準(zhǔn)的完善,傳輸速率的提高以及帶GPIB接口的儀器成本不斷下降。PXI和GPIB為目前工業(yè)上普遍采用的測試總線,其性能穩(wěn)定、操作方便、組建靈活、設(shè)備利用率高、價格低廉,適合于組建性價比高的自動測試系統(tǒng)。另外,虛擬儀器技術(shù)的飛速發(fā)展和不斷完善,LabVIEW軟件平臺的圖形化操作界面,都非常有利于工程師們迅速的掌握設(shè)計編程方法,又好又快地完成項目任務(wù),因此虛擬儀器技術(shù)在工業(yè)測量領(lǐng)域也得到了廣泛的應(yīng)用。

因此本文提出了基于LabVIEW平臺的PXI加GPIB總線的測試系統(tǒng)。

GPIB總線的自動測試系統(tǒng)的設(shè)計思想,即借助LabVIEW開發(fā)平臺,采用虛擬儀器的軟件設(shè)計方法,通過GPIB總線接口和相應(yīng)的控制電路,實現(xiàn)工控機(jī)對各種測試儀器的實時控制,完成對被測電路各項性能指標(biāo)的自動化測試,并充分發(fā)揮工控機(jī)自動分析和處理數(shù)據(jù)的能力,最后將數(shù)據(jù)以電子文檔形式保存后生成測試報表打印出來。

1 測試系統(tǒng)方案設(shè)計

1.1 總體框架設(shè)計

該測試系統(tǒng)在硬件設(shè)計上采用PXI和GPIB總線接口、數(shù)據(jù)采集卡和相應(yīng)的繼電器控制電路,實現(xiàn)工控機(jī)對各種測試儀器的實時控制。在軟件設(shè)計上通過 LabVIEW開發(fā)平臺,采用虛擬儀器的軟件設(shè)計方法,將工控機(jī)硬件資源與儀器硬件有機(jī)地融合為一體,并通過軟件實現(xiàn)對數(shù)據(jù)的分析、顯示以及存儲,解決了在LabVIEW中實現(xiàn)數(shù)據(jù)庫管理的技術(shù)問題。

測試過程要以自動測試的方式完成。

自動測試主要采用NI公司的相關(guān)PXI板卡在默認(rèn)設(shè)置狀態(tài)下完成檢測工作,設(shè)計思路是通過數(shù)字I/O口控制繼電器的打開和閉合來控制測試設(shè)備的連接。等所需的測試項目連接好后,再通過LabVIEW的編寫的數(shù)據(jù)采集處理程序獲得測量數(shù)據(jù),在顯示界面顯示測量結(jié)果,便于用戶分析處理,得出相應(yīng)的結(jié)論,最后把測量結(jié)果保存在數(shù)據(jù)庫中,便于以后調(diào)出來進(jìn)行分析和寫測試報告。

1.2 信號調(diào)理單元設(shè)計

被測電路中有多路差分輸入信號,使用信號源產(chǎn)生模擬信號時,需要進(jìn)行差分轉(zhuǎn)換,差分轉(zhuǎn)換電路如圖1所示。

分析如下:

經(jīng)過實踐驗證該電路方案是可行的。

1.3 測控設(shè)備硬件

自動測試主要使用的設(shè)備是NI公司的PXI設(shè)備,采用PXI-1042機(jī)箱和PXI-8196控制器實現(xiàn)測量控制。PXI-8196控制器為2.O GHz Intel Pentium M760處理器的控制器,具備雙信道DDR2內(nèi)存,最大內(nèi)存容量為2 GB,集成4個USB 2.0連接端口、一個GPIB接口,以及串行端口和并行端口,預(yù)裝Microsoft WindowsXP Professional操作系統(tǒng),用于需要大量分析工作或系統(tǒng)開發(fā)的應(yīng)用環(huán)境,例如ATE、軍事/航天、通信、工業(yè)及消費電器應(yīng)用。數(shù)據(jù)采集卡選用NI 公司的PXI-6259數(shù)據(jù)采集模塊,該數(shù)據(jù)采集卡有16位1 MS/s(多通道),1.25 MS/s(單通道),32 SE/16 DI,48路數(shù)字I/O定時硬件(≥10 MHz),TTL電平,4路16位模擬輸出(2.8 MS/s),輸出范圍-10~+10 V。任意波形發(fā)生器選用NI公司的PXI-5412,能提供-6~+6 V信號,給被測試的各個信號通道提供正弦、方波等信號。PXI-5152有2個單端輸入的通道,每個通道具有1 GS/s實時采樣率。動態(tài)信號分析儀選用NI公司的PXI-4461,具有2個差分輸通道,2個模擬輸入通道;通道的實時采樣率是204. 8 KS/s,應(yīng)用該卡制作一個通用的動態(tài)信號分析儀界面,用以實現(xiàn)手動測量。

2 測試系統(tǒng)軟件設(shè)計

2.1 測控軟件設(shè)計工具

該系統(tǒng)的測控軟件系統(tǒng)是在Visual Basic和LabVIEW軟件開發(fā)平臺開發(fā)的,測量的結(jié)果數(shù)據(jù)保存在SQL數(shù)據(jù)庫中。其軟件體系構(gòu)如圖2所示。

在PXI測控計算機(jī)中,利用LabVIEW和NI公司的各種數(shù)據(jù)采集處理模塊對被測電路的進(jìn)行測量;利用GPIB接口與各臺式儀表通信,可以獲得自動或手動的測量結(jié)果;利用ADO接口訪問網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)庫,把各種用戶需要的數(shù)據(jù)在測量過程中不斷地提交給數(shù)據(jù)庫,便于后續(xù)的測試信息管理工作。值得一提的是,各測量儀器操作能否實現(xiàn)同步,儀器收發(fā)命令、讀/寫數(shù)據(jù)和執(zhí)行指令的先后順序和時間能否協(xié)調(diào),將直接影響到系統(tǒng)的可靠性、測試數(shù)據(jù)的實時性和測試系統(tǒng)的效率。系統(tǒng)同步該系統(tǒng)中主要由軟件實現(xiàn),根據(jù)用戶的服務(wù)要求和儀器特性設(shè)計適當(dāng)?shù)某绦蛄鞒獭?/p>

為了實現(xiàn)程序的通用性,選用Visual Basic/SQL作為測試程序與數(shù)據(jù)庫之間進(jìn)行數(shù)據(jù)交換的工具把測量數(shù)據(jù)和測試流程分開,測試流程的任務(wù)就是根據(jù)測試需求讀取配置數(shù)據(jù)庫的數(shù)據(jù),配置測試儀器,進(jìn)行相應(yīng)地數(shù)據(jù)采集、分析計算,并把結(jié)果寫回到測試結(jié)果數(shù)據(jù)庫中。在計算機(jī)中,安裝了數(shù)據(jù)庫,另外還附加了數(shù)據(jù)管理查詢軟件,以及提供給用戶安裝其他軟件的選擇。這樣,PXI測控計算機(jī)不會因為需要數(shù)據(jù)庫管理而占用資源;另外當(dāng)沒有啟用PXI測控計算機(jī)時,只啟用了通用計算機(jī),也可以對已經(jīng)測量板卡的數(shù)據(jù)進(jìn)行整理分析,Visual Basic可以更好地與SQL數(shù)據(jù)庫進(jìn)行對接,對用戶的數(shù)據(jù)庫進(jìn)行查詢,管理等操作,在計算機(jī)中應(yīng)用Visual Basic編寫了方便用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行訪問的數(shù)據(jù)管理查詢軟件。

2.2 測控軟件結(jié)構(gòu)設(shè)計

系統(tǒng)的測控軟件是運行在PXI測控計算機(jī)上的軟件,其主要軟件層次框圖如圖3所示。軟件采用層次結(jié)構(gòu),在實現(xiàn)功能測試的同時,還具有數(shù)據(jù)存儲、查詢回放功能,具有良好的實用性和操作性。

3 結(jié)語

該課題的研究和開發(fā),對電路的檢測具有重要意義。首先,采用自動化測試系統(tǒng)大大提高了測試效率,節(jié)省了寶貴的時間,能夠適應(yīng)信息化條件下裝備快速化保障的需要;其次,把測試人員從繁瑣的檢測任務(wù)中解放出來,減輕了勞動強(qiáng)度,大大節(jié)省了人力消耗;最后,整個測試系統(tǒng)一次性連接好后不需要人為干預(yù),只需在電腦上選擇測試的項目和填寫一些基本數(shù)據(jù)即可開始檢測,非專業(yè)人員也可完成測試過程,基本上排除了人為誤操作產(chǎn)生的差錯,提高測試結(jié)果的可信度,保證了系統(tǒng)的安全使用。

原文鏈接:

本書系統(tǒng)地介紹了射頻集成電路與系統(tǒng)的基本設(shè)計原理、設(shè)計思路和實際應(yīng)用。全書分為射頻微波的基礎(chǔ)知識、射頻電路系統(tǒng)中常用模塊的設(shè)計和實際應(yīng)用中需要考慮的問題三個部分。主要包括RF分布參數(shù)與集總參數(shù)模型、品質(zhì)因數(shù)、4種濾波器的設(shè)計、傳輸線理論、S參數(shù)、阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)、Smith圓圖、信號流圖、梅森公式、轉(zhuǎn)換功率增益、小信號放大器的設(shè)計、功率分配器和功率合成器以及功率耦合器的相關(guān)理論、PIN二極管和開關(guān)基本原理、功率放大器的應(yīng)用、電磁兼容理論和應(yīng)用等內(nèi)容。

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