電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)室同老化房\高溫老化房一樣,也同叫燒機(jī)房或煲機(jī)房,是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),顯示器,終端機(jī),車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。
老化試驗(yàn)機(jī)是環(huán)試行業(yè)中的一種產(chǎn)品總稱,老化試驗(yàn)機(jī)包含:臭氧老化、紫外老化、氙燈老化、高溫老化、鹽霧腐蝕老化等眾多老化試驗(yàn)方式。工作原理如下:1、紫外老化試驗(yàn)機(jī)采用熒光紫外燈為光源,通過模擬自然陽光中的...
汞燈老化試驗(yàn)機(jī)跟氙燈老化試驗(yàn)機(jī)的適用標(biāo)準(zhǔn)相同嗎?
不相同,汞燈老化試驗(yàn)機(jī)適用標(biāo)準(zhǔn):BS 1006 UK/TN氙燈老化試驗(yàn)機(jī)適用標(biāo)準(zhǔn):AATCC TM16,AATCC TM16E,AATCC TM169,ASTM C1442,ASTM C1501,AS...
氙燈老化試驗(yàn)箱和UV老化試驗(yàn)箱有什么區(qū)別?
氙燈老化試驗(yàn)箱是模擬全陽光光譜的。 紫外老化試驗(yàn)箱是模擬紫外光的。氙燈老化試驗(yàn)箱采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波,可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模...
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熱老化試驗(yàn)操作規(guī)程 沈陽艾克電纜科技有限公司 1. 預(yù)處理:擠出(或硫化或交聯(lián))后 存放至少 16h 方可進(jìn)行試驗(yàn)。 2. 試樣的制備及老化試驗(yàn)步驟: 2.1 不帶導(dǎo)體的絕緣或護(hù)套材料的老化: 提前制備老化前試件至少 5個(gè)、進(jìn)行老化的試件至少 5 個(gè)。試件 分為啞鈴片試件和管狀試件兩種。 將試件垂直懸掛在烘箱的中部, 每一試件與其他任何試件之間的 距離至少為 20mm。試件所占烘箱的容積應(yīng)不大于 0.5% 。 試件在烘箱中的溫度和時(shí)間按不同電纜標(biāo)準(zhǔn)而定 。 組分明顯不同的材料不應(yīng)同時(shí)在同一烘箱中進(jìn)行試驗(yàn)。 老化試驗(yàn)結(jié)束后取出試件,并在環(huán)境溫度下放置至少 16h,避免 陽光照射,然后對(duì)其試件進(jìn)行老化后的拉力試驗(yàn)。 2.2 帶導(dǎo)體絕緣線芯試件的老化: 如果老化后導(dǎo)體和隔離層(若有)能從絕緣線芯上取下而不損傷 絕緣,則盡可能從靠近老化前的試樣取樣處取樣。老化試驗(yàn)步驟 同 2.1。 如果老化后在絕
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評(píng)分: 4.6
橡膠密封圈老化試驗(yàn)報(bào)告 試驗(yàn)名稱 橡膠老化試驗(yàn)報(bào)告 零件編號(hào) 1#-4# 試驗(yàn)?zāi)康?型式試驗(yàn) 試驗(yàn)零件 橡膠板( Φ24mm×21mm) 適合產(chǎn)品 密封圈 試驗(yàn)方法 / 規(guī)格 /條件 /標(biāo)準(zhǔn) /要求描述 GB3836.1-2000 高溫 100±5℃ 168h 室溫 24h 低溫 -20±2℃ 48h 室溫 24h 老化試驗(yàn)后,硬度變化不超過 20% 申請(qǐng)人簽字: 結(jié)果描述(不合適,變化,和其他現(xiàn)象) 試驗(yàn)員簽字: 試樣 硬度(邵氏) 變化率 老化前 老化后 1# 46 53 15.22% 2# 45 51 13.33% 3# 46 54 17.39% 4# 45 53 17.78% 分析與結(jié)論 主管簽字: 備注: 試驗(yàn)日期 2010年 5