書????名 | 光伏組件制造工藝 | 作????者 | 張學彩 |
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出版社 | 電子工業(yè)出版社 | 出版時間 | 2015年01月 |
頁????數 | 140 頁 | 開????本 | 16(185*260) |
ISBN | 9787121252921 |
概論 (1)
項目一 光伏電池基礎 (3)
1.1 硅材料基礎 (3)
1.2 晶體硅電池片的制造工藝 (8)
1.2.1 單晶硅電池片的制造工藝 (8)
1.2.2 多晶硅電池片的制造工藝 (11)
1.3 其他類型光伏電池制造工藝介紹 (12)
項目二 光伏電池的切割與分類 (14)
2.1 電池片的切割工藝 (14)
2.1.1 激光切割設備介紹 (14)
2.1.2 激光切割設備的操作 (19)
2.1.3 激光切割設備的維護 (32)
2.2 電池片分選測試儀 (33)
2.2.1 單體電池分選測試儀設備介紹 (33)
2.2.2 單體電池分選測試儀的操作 (34)
2.2.3 單體電池分選測試儀的維護 (43)
項目三 電池片的焊接與層疊 (45)
3.1 焊接前的準備工作 (45)
3.2 電池片的單焊工藝 (53)
3.3 電池片的串焊工藝 (54)
3.4 組件層疊 (55)
3.4.1 層疊設備與材料介紹 (56)
3.4.2 層疊流程 (59)
項目四 電池組件的層壓 (62)
4.1 層壓設備介紹 (62)
4.2 組件層壓工藝 (63)
4.3 層壓設備維護 (66)
4.4 層壓后的檢查與應對措施 (68)
項目五 層壓后組件內部缺陷檢測 (70)
5.1 EL缺陷檢測儀介紹 (70)
5.2 電池內部缺陷檢測流程 (73)
5.3 檢測結果的種類與分析 (79)
5.4 EL缺陷檢測儀的維護 (84)
項目六 組件的裝框與接線盒的安裝 (85)
6.1 組件裝框工具與設備介紹 (85)
6.2 組件安裝鋁合金框的流程 (88)
6.3 組件接線盒的安裝 (92)
6.4 組件清潔 (93)
項目七 組件成品性能測試 (97)
7.1 組件光電性能檢測設備介紹 (97)
7.2 組件光電性能檢測步驟 (102)
7.3 組件光電性能檢測軟件操作說明 (104)
7.3.1 軟件主界面功能描述 (104)
7.3.2 測試數據處理 (114)
7.3.3 軟件校標 (118)
7.4 組件光電性能檢測設備的故障與分析處理 (122)
7.5 組件耐壓絕緣性能測試 (124)
項目八 太陽能電動小車制作 (126)
8.1 教學目標 (126)
8.2 工作原理 (126)
8.3 制作準備與設計 (127)
8.4 制作工藝與流程 (128)
8.5 調試與評價 (129)
本書以光伏組件的制造工藝流程為主要內容,對現(xiàn)有的組件制造工藝流程進行了全面的介紹和講解。重點介紹了組件生產環(huán)節(jié)中:電池片電學性能測試,電池片的激光切割,電池片的組裝與焊接,電池片的層疊,組件的層壓工藝,組件的缺陷測試,組件的裝框,組件的成品測試等內容。 全書分為八個項目實施,分別是:光伏電池基礎,光伏電池的切割與分類,電池片的焊接與層疊等,電池組件的層壓,層壓后組件內部缺陷檢測,組件的裝框與接線盒的安裝,組件成品性能檢測,太陽能電動小車制作等內容。
簡單的說就是一些PN結,太陽光照射后,里面的電子會移動,然后形成電流,將這些電通過一些裝置輸出來就可以用了。組件制作流程:石英砂-硅錠-硅片-電池片-光伏組件
您好,易恩孚剛上線了組件產品目錄,收集了制造商的每個組件型號的參數,認證和價格,而且這些信息來自制造商本身,比較真實可靠,希望能幫到
1、A級組件:主要用于地面電站、分布式電站、戶用系統(tǒng)等,25年以上壽命。2、B級組件:主要用于路燈、離網系統(tǒng)、電瓶車等,5年壽命。此類組件是A類降級組件或用B級材料生產的。3、C類組件:主要用于用電不...
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頁數: 15頁
評分: 4.4
2012. A/2 1 / 15 晶澳太陽能光伏組件安裝手冊 晶澳太陽能光伏組件安裝手冊 本手冊適用于如下產品型號: 單晶 JAM5(L)-72-***/SI JAM6-60-***/SI JAM6-72-***/SI JAM5(BK)(L)-72-***/SI JAM6(BK)-60-***/SI JAM6(BK)-72-***/SI 多晶 JAP6-60-*** JAP6-60-***/3BB JAP6-72-*** JAP6-72-***/3BB JAP6(BK)-60-*** JAP6(BK)-60-***/3BB JAP6(BK)-72-*** JAP6(BK)-72-***/3BB 晶楓 JAP6-60-***/MP JAP6-72-***/MP JAP6(BK)-60-***/MP JAP6(BK)-72-***/MP 注:“*** ”表示組件具體功率檔位
【學員問題】光伏組件功率如何計算?
【解答】光伏組件功率計算
太陽能交流發(fā)電系統(tǒng)是由太陽電池板、充電控制器、逆變器和蓄電池共同組成;太陽能直流發(fā)電系統(tǒng)則不包括逆變器。為了使太陽能發(fā)電系統(tǒng)能為負載提供足夠的電源,就要根據用電器的功率,合理選擇各部件。下面以100W輸出功率,每天使用6個小時為例,介紹一下計算方法:
1.首先應計算出每天消耗的瓦時數(包括逆變器的損耗):若逆變器的轉換效率為90%,則當輸出功率為100W時,則實際需要輸出功率應為100W/90%=111W;若按每天使用5小時,則耗電量為111W*5小時=555Wh.
2.計算太陽能電池板:按每日有效日照時間為6小時計算,再考慮到充電效率和充電過程中的損耗,太陽能電池板的輸出功率應為555Wh/6h/70%=130W.其中70%是充電過程中,太陽能電池板的實際使用功率。
以上內容均根據學員實際工作中遇到的問題整理而成,供參考,如有問題請及時溝通、指正。
隨著光伏產業(yè)的迅速發(fā)展,有關光伏產品的知識也迅速得到普及,而什么是光伏組件隱裂? 隱裂對光伏組件的影響有哪些呢?具體情況怎么樣?下面跟小編一起來了解一下吧。
什么是光伏組件隱裂? 隱裂對光伏組件的影響
什么是光伏組件隱裂?
隱裂是指電池片(組件)受到較大的機械或熱應力時,可能在電池單元產生肉眼不易察覺的隱性裂紋。
根據電池片隱裂的形狀,可分為5類:樹狀裂紋、綜合型裂紋、斜裂紋、平行于主柵線、垂直于柵線和貫穿整個電池片的裂紋。
隱裂對光伏組件的影響
電池片產生的電流要依靠“表面的主柵線及垂直于主柵線的細柵線”搜集和導出。當隱裂導致細柵線斷裂時,細柵線無法將收集的電流輸送到主柵線,將會導致電池片部分甚至全部失效。
基于上述原因,我們可以看出對電池片功能影響最大的,是平行于主柵線的隱裂。根據研究結果,50%的失效片來自于平行于主柵線的隱裂。
45°傾斜裂紋的效率損失是平行于主柵線損失的1/4。
垂直于主柵線的裂紋幾乎不影響細柵線,因此造成電池片失效的面積幾乎為零。
相比于晶硅電池表面的柵線,薄膜電池表面整體覆蓋了一層透明導電膜,所以這也是薄膜組件無隱裂的一個原因。
有研究顯示,組件隱裂嚴重時,會導致組件功率的損失,但是損失的大小并不一定。裂紋對組件電性能的影響小,而裂片對組件功率損失非常大;老化試驗,即組件在工作或非工作的情況下,溫、濕度變化可能會引起電池片隱裂的加劇;組件中沒有隱裂的電池片比隱裂的電池片抗老化能力強。
光伏組件隱裂如何檢測
EL(Electroluminescence,電致發(fā)光)是簡單有效的檢測隱裂的方法。其檢測原理如下。
電池片的核心部分是半導體PN結,在沒有其它激勵(例如光照、電壓、溫度)的條件下,其內部處于一個動態(tài)平衡狀態(tài),電子和空穴的數量相對保持穩(wěn)定。
如果施加電壓,半導體中的內部電場將被削弱,N區(qū)的電子將會被推向P區(qū),與P區(qū)的空穴復合(也可理解為P區(qū)的空穴被推向N區(qū),與N區(qū)的電子復合),復合之后以光的形式輔射出去,即電致發(fā)光。
當被施加正向偏壓之后,晶體硅電池就會發(fā)光,波長1100nm左右,屬于紅外波段,肉眼觀測不到。因此,在進行EL測試時,需利用CCD相機輔助捕捉這些光子,然后通過計算機處理后以圖像的形式顯示出來。
給晶硅組件施加電壓后,所激發(fā)出的電子和空穴復合的數量越多,其發(fā)射出的光子也就越多,所測得的EL圖像也就越亮;如果有的區(qū)域EL圖像比較暗,說明該處產生的電子和空穴數量較少,代表該處存在缺陷;如果有的區(qū)域完全是暗的,代表該處沒有發(fā)生電子和空穴的復合,也或者是所發(fā)光被其它障礙所遮擋,無法檢測到信號。
隱裂種類雖然眾多,但不是所有的隱裂都會對電池片有影響。在組件生產、運輸、安裝和維護過程中,考慮到晶硅組件的易裂特征,需要在安裝電站的各個過程注意并改進作業(yè)流程,盡量減少組件隱裂的產生。對于檢測隱裂,目前EL是最有效的方法。而導致組件隱裂的原因眾多,要弄清楚原因后再追究責任,不能盲目聽信他人之言。
以上是關于什么是光伏組件隱裂的相關內容,在看完后你都了解沒有呢?為了幫助更多的朋友,我們整理了海量最新的光伏資訊。
CPU制作工藝指的是在生產CPU過程中,要加工各種電路和電子元件,制造導線連接各個元器件等?,F(xiàn)在其生產的精度以納米(以前用微米)來表示,精度越高,生產工藝越先進。在同樣的材料中可以容納更多的電子元件,連接線也越細,有利于提高CPU的集成度。制造工藝的納米數是指IC內電路與電路之間的距離。制造工藝的趨勢是向密集度愈高的方向發(fā)展,密度愈高的IC電路設計,意味著在同樣大小面積的IC中,可以擁有密度更高、功能更復雜的電路設計。微電子技術的發(fā)展與進步,主要是靠工藝技術的不斷改進。芯片制造工藝從1971年開始,經歷了10微米、6微米、3微米、1.5微米、1微米、800納米、600納米、350納米、250納米、180納米、130納米、90納米、65納米、45納米、32納米、22納米、14納米、10納米,一直發(fā)展到(2019年)最新的7納米,而5納米將是下一代CPU的發(fā)展目標。
2017年1月3日,美國高通公司在CES2017正式推出其最新的頂級移動平臺——集成X16 LTE的Qualcomm驍龍835處理器。驍龍835處理器是首款采用10納米FinFET工藝節(jié)點實現(xiàn)商用制造的移動平臺。
顯卡的制造工藝實際上就是指顯示核心的制程,它指的是晶體管門電路的尺寸,現(xiàn)階段主要以納米(nm)為單位。顯示芯片的制造工藝與CPU一樣,也是用微米來衡量其加工精度的。制造工藝的提高,意味著顯示芯片的體積將更小、集成度更高,可以容納更多的晶體管。和中央處理器一樣,顯示卡的核心芯片,也是在硅晶片上制成的。微電子技術的發(fā)展與進步,主要是靠工藝技術的不斷改進,顯示芯片制造工藝在1995年以后,從0.5微米、0.35微米、0.25微米、0.18微米、0.15微米、0.13微米、0.11微米、90納米、80納米、65納米、55納米、40納米、28納米、16納米、12納米一直發(fā)展到現(xiàn)在的7納米制程。顯卡廠商AMD(超威半導體)已經有三款7nnm工藝顯卡在售。