書(shū)????名 | 光伏組件制造工藝 | 作????者 | 張學(xué)彩 |
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出版社 | 電子工業(yè)出版社 | 出版時(shí)間 | 2015年01月 |
頁(yè)????數(shù) | 140 頁(yè) | 開(kāi)????本 | 16(185*260) |
ISBN | 9787121252921 |
概論 (1)
項(xiàng)目一 光伏電池基礎(chǔ) (3)
1.1 硅材料基礎(chǔ) (3)
1.2 晶體硅電池片的制造工藝 (8)
1.2.1 單晶硅電池片的制造工藝 (8)
1.2.2 多晶硅電池片的制造工藝 (11)
1.3 其他類型光伏電池制造工藝介紹 (12)
項(xiàng)目二 光伏電池的切割與分類 (14)
2.1 電池片的切割工藝 (14)
2.1.1 激光切割設(shè)備介紹 (14)
2.1.2 激光切割設(shè)備的操作 (19)
2.1.3 激光切割設(shè)備的維護(hù) (32)
2.2 電池片分選測(cè)試儀 (33)
2.2.1 單體電池分選測(cè)試儀設(shè)備介紹 (33)
2.2.2 單體電池分選測(cè)試儀的操作 (34)
2.2.3 單體電池分選測(cè)試儀的維護(hù) (43)
項(xiàng)目三 電池片的焊接與層疊 (45)
3.1 焊接前的準(zhǔn)備工作 (45)
3.2 電池片的單焊工藝 (53)
3.3 電池片的串焊工藝 (54)
3.4 組件層疊 (55)
3.4.1 層疊設(shè)備與材料介紹 (56)
3.4.2 層疊流程 (59)
項(xiàng)目四 電池組件的層壓 (62)
4.1 層壓設(shè)備介紹 (62)
4.2 組件層壓工藝 (63)
4.3 層壓設(shè)備維護(hù) (66)
4.4 層壓后的檢查與應(yīng)對(duì)措施 (68)
項(xiàng)目五 層壓后組件內(nèi)部缺陷檢測(cè) (70)
5.1 EL缺陷檢測(cè)儀介紹 (70)
5.2 電池內(nèi)部缺陷檢測(cè)流程 (73)
5.3 檢測(cè)結(jié)果的種類與分析 (79)
5.4 EL缺陷檢測(cè)儀的維護(hù) (84)
項(xiàng)目六 組件的裝框與接線盒的安裝 (85)
6.1 組件裝框工具與設(shè)備介紹 (85)
6.2 組件安裝鋁合金框的流程 (88)
6.3 組件接線盒的安裝 (92)
6.4 組件清潔 (93)
項(xiàng)目七 組件成品性能測(cè)試 (97)
7.1 組件光電性能檢測(cè)設(shè)備介紹 (97)
7.2 組件光電性能檢測(cè)步驟 (102)
7.3 組件光電性能檢測(cè)軟件操作說(shuō)明 (104)
7.3.1 軟件主界面功能描述 (104)
7.3.2 測(cè)試數(shù)據(jù)處理 (114)
7.3.3 軟件校標(biāo) (118)
7.4 組件光電性能檢測(cè)設(shè)備的故障與分析處理 (122)
7.5 組件耐壓絕緣性能測(cè)試 (124)
項(xiàng)目八 太陽(yáng)能電動(dòng)小車制作 (126)
8.1 教學(xué)目標(biāo) (126)
8.2 工作原理 (126)
8.3 制作準(zhǔn)備與設(shè)計(jì) (127)
8.4 制作工藝與流程 (128)
8.5 調(diào)試與評(píng)價(jià) (129)
本書(shū)以光伏組件的制造工藝流程為主要內(nèi)容,對(duì)現(xiàn)有的組件制造工藝流程進(jìn)行了全面的介紹和講解。重點(diǎn)介紹了組件生產(chǎn)環(huán)節(jié)中:電池片電學(xué)性能測(cè)試,電池片的激光切割,電池片的組裝與焊接,電池片的層疊,組件的層壓工藝,組件的缺陷測(cè)試,組件的裝框,組件的成品測(cè)試等內(nèi)容。 全書(shū)分為八個(gè)項(xiàng)目實(shí)施,分別是:光伏電池基礎(chǔ),光伏電池的切割與分類,電池片的焊接與層疊等,電池組件的層壓,層壓后組件內(nèi)部缺陷檢測(cè),組件的裝框與接線盒的安裝,組件成品性能檢測(cè),太陽(yáng)能電動(dòng)小車制作等內(nèi)容。
簡(jiǎn)單的說(shuō)就是一些PN結(jié),太陽(yáng)光照射后,里面的電子會(huì)移動(dòng),然后形成電流,將這些電通過(guò)一些裝置輸出來(lái)就可以用了。組件制作流程:石英砂-硅錠-硅片-電池片-光伏組件
您好,易恩孚剛上線了組件產(chǎn)品目錄,收集了制造商的每個(gè)組件型號(hào)的參數(shù),認(rèn)證和價(jià)格,而且這些信息來(lái)自制造商本身,比較真實(shí)可靠,希望能幫到
1、A級(jí)組件:主要用于地面電站、分布式電站、戶用系統(tǒng)等,25年以上壽命。2、B級(jí)組件:主要用于路燈、離網(wǎng)系統(tǒng)、電瓶車等,5年壽命。此類組件是A類降級(jí)組件或用B級(jí)材料生產(chǎn)的。3、C類組件:主要用于用電不...
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2012. A/2 1 / 15 晶澳太陽(yáng)能光伏組件安裝手冊(cè) 晶澳太陽(yáng)能光伏組件安裝手冊(cè) 本手冊(cè)適用于如下產(chǎn)品型號(hào): 單晶 JAM5(L)-72-***/SI JAM6-60-***/SI JAM6-72-***/SI JAM5(BK)(L)-72-***/SI JAM6(BK)-60-***/SI JAM6(BK)-72-***/SI 多晶 JAP6-60-*** JAP6-60-***/3BB JAP6-72-*** JAP6-72-***/3BB JAP6(BK)-60-*** JAP6(BK)-60-***/3BB JAP6(BK)-72-*** JAP6(BK)-72-***/3BB 晶楓 JAP6-60-***/MP JAP6-72-***/MP JAP6(BK)-60-***/MP JAP6(BK)-72-***/MP 注:“*** ”表示組件具體功率檔位
【學(xué)員問(wèn)題】光伏組件功率如何計(jì)算?
【解答】光伏組件功率計(jì)算
太陽(yáng)能交流發(fā)電系統(tǒng)是由太陽(yáng)電池板、充電控制器、逆變器和蓄電池共同組成;太陽(yáng)能直流發(fā)電系統(tǒng)則不包括逆變器。為了使太陽(yáng)能發(fā)電系統(tǒng)能為負(fù)載提供足夠的電源,就要根據(jù)用電器的功率,合理選擇各部件。下面以100W輸出功率,每天使用6個(gè)小時(shí)為例,介紹一下計(jì)算方法:
1.首先應(yīng)計(jì)算出每天消耗的瓦時(shí)數(shù)(包括逆變器的損耗):若逆變器的轉(zhuǎn)換效率為90%,則當(dāng)輸出功率為100W時(shí),則實(shí)際需要輸出功率應(yīng)為100W/90%=111W;若按每天使用5小時(shí),則耗電量為111W*5小時(shí)=555Wh.
2.計(jì)算太陽(yáng)能電池板:按每日有效日照時(shí)間為6小時(shí)計(jì)算,再考慮到充電效率和充電過(guò)程中的損耗,太陽(yáng)能電池板的輸出功率應(yīng)為555Wh/6h/70%=130W.其中70%是充電過(guò)程中,太陽(yáng)能電池板的實(shí)際使用功率。
以上內(nèi)容均根據(jù)學(xué)員實(shí)際工作中遇到的問(wèn)題整理而成,供參考,如有問(wèn)題請(qǐng)及時(shí)溝通、指正。
隨著光伏產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展,有關(guān)光伏產(chǎn)品的知識(shí)也迅速得到普及,而什么是光伏組件隱裂? 隱裂對(duì)光伏組件的影響有哪些呢?具體情況怎么樣?下面跟小編一起來(lái)了解一下吧。
什么是光伏組件隱裂? 隱裂對(duì)光伏組件的影響
什么是光伏組件隱裂?
隱裂是指電池片(組件)受到較大的機(jī)械或熱應(yīng)力時(shí),可能在電池單元產(chǎn)生肉眼不易察覺(jué)的隱性裂紋。
根據(jù)電池片隱裂的形狀,可分為5類:樹(shù)狀裂紋、綜合型裂紋、斜裂紋、平行于主柵線、垂直于柵線和貫穿整個(gè)電池片的裂紋。
隱裂對(duì)光伏組件的影響
電池片產(chǎn)生的電流要依靠“表面的主柵線及垂直于主柵線的細(xì)柵線”搜集和導(dǎo)出。當(dāng)隱裂導(dǎo)致細(xì)柵線斷裂時(shí),細(xì)柵線無(wú)法將收集的電流輸送到主柵線,將會(huì)導(dǎo)致電池片部分甚至全部失效。
基于上述原因,我們可以看出對(duì)電池片功能影響最大的,是平行于主柵線的隱裂。根據(jù)研究結(jié)果,50%的失效片來(lái)自于平行于主柵線的隱裂。
45°傾斜裂紋的效率損失是平行于主柵線損失的1/4。
垂直于主柵線的裂紋幾乎不影響細(xì)柵線,因此造成電池片失效的面積幾乎為零。
相比于晶硅電池表面的柵線,薄膜電池表面整體覆蓋了一層透明導(dǎo)電膜,所以這也是薄膜組件無(wú)隱裂的一個(gè)原因。
有研究顯示,組件隱裂嚴(yán)重時(shí),會(huì)導(dǎo)致組件功率的損失,但是損失的大小并不一定。裂紋對(duì)組件電性能的影響小,而裂片對(duì)組件功率損失非常大;老化試驗(yàn),即組件在工作或非工作的情況下,溫、濕度變化可能會(huì)引起電池片隱裂的加劇;組件中沒(méi)有隱裂的電池片比隱裂的電池片抗老化能力強(qiáng)。
光伏組件隱裂如何檢測(cè)
EL(Electroluminescence,電致發(fā)光)是簡(jiǎn)單有效的檢測(cè)隱裂的方法。其檢測(cè)原理如下。
電池片的核心部分是半導(dǎo)體PN結(jié),在沒(méi)有其它激勵(lì)(例如光照、電壓、溫度)的條件下,其內(nèi)部處于一個(gè)動(dòng)態(tài)平衡狀態(tài),電子和空穴的數(shù)量相對(duì)保持穩(wěn)定。
如果施加電壓,半導(dǎo)體中的內(nèi)部電場(chǎng)將被削弱,N區(qū)的電子將會(huì)被推向P區(qū),與P區(qū)的空穴復(fù)合(也可理解為P區(qū)的空穴被推向N區(qū),與N區(qū)的電子復(fù)合),復(fù)合之后以光的形式輔射出去,即電致發(fā)光。
當(dāng)被施加正向偏壓之后,晶體硅電池就會(huì)發(fā)光,波長(zhǎng)1100nm左右,屬于紅外波段,肉眼觀測(cè)不到。因此,在進(jìn)行EL測(cè)試時(shí),需利用CCD相機(jī)輔助捕捉這些光子,然后通過(guò)計(jì)算機(jī)處理后以圖像的形式顯示出來(lái)。
給晶硅組件施加電壓后,所激發(fā)出的電子和空穴復(fù)合的數(shù)量越多,其發(fā)射出的光子也就越多,所測(cè)得的EL圖像也就越亮;如果有的區(qū)域EL圖像比較暗,說(shuō)明該處產(chǎn)生的電子和空穴數(shù)量較少,代表該處存在缺陷;如果有的區(qū)域完全是暗的,代表該處沒(méi)有發(fā)生電子和空穴的復(fù)合,也或者是所發(fā)光被其它障礙所遮擋,無(wú)法檢測(cè)到信號(hào)。
隱裂種類雖然眾多,但不是所有的隱裂都會(huì)對(duì)電池片有影響。在組件生產(chǎn)、運(yùn)輸、安裝和維護(hù)過(guò)程中,考慮到晶硅組件的易裂特征,需要在安裝電站的各個(gè)過(guò)程注意并改進(jìn)作業(yè)流程,盡量減少組件隱裂的產(chǎn)生。對(duì)于檢測(cè)隱裂,目前EL是最有效的方法。而導(dǎo)致組件隱裂的原因眾多,要弄清楚原因后再追究責(zé)任,不能盲目聽(tīng)信他人之言。
以上是關(guān)于什么是光伏組件隱裂的相關(guān)內(nèi)容,在看完后你都了解沒(méi)有呢?為了幫助更多的朋友,我們整理了海量最新的光伏資訊。
CPU制作工藝指的是在生產(chǎn)CPU過(guò)程中,要加工各種電路和電子元件,制造導(dǎo)線連接各個(gè)元器件等?,F(xiàn)在其生產(chǎn)的精度以納米(以前用微米)來(lái)表示,精度越高,生產(chǎn)工藝越先進(jìn)。在同樣的材料中可以容納更多的電子元件,連接線也越細(xì),有利于提高CPU的集成度。制造工藝的納米數(shù)是指IC內(nèi)電路與電路之間的距離。制造工藝的趨勢(shì)是向密集度愈高的方向發(fā)展,密度愈高的IC電路設(shè)計(jì),意味著在同樣大小面積的IC中,可以擁有密度更高、功能更復(fù)雜的電路設(shè)計(jì)。微電子技術(shù)的發(fā)展與進(jìn)步,主要是靠工藝技術(shù)的不斷改進(jìn)。芯片制造工藝從1971年開(kāi)始,經(jīng)歷了10微米、6微米、3微米、1.5微米、1微米、800納米、600納米、350納米、250納米、180納米、130納米、90納米、65納米、45納米、32納米、22納米、14納米、10納米,一直發(fā)展到(2019年)最新的7納米,而5納米將是下一代CPU的發(fā)展目標(biāo)。
2017年1月3日,美國(guó)高通公司在CES2017正式推出其最新的頂級(jí)移動(dòng)平臺(tái)——集成X16 LTE的Qualcomm驍龍835處理器。驍龍835處理器是首款采用10納米FinFET工藝節(jié)點(diǎn)實(shí)現(xiàn)商用制造的移動(dòng)平臺(tái)。
顯卡的制造工藝實(shí)際上就是指顯示核心的制程,它指的是晶體管門(mén)電路的尺寸,現(xiàn)階段主要以納米(nm)為單位。顯示芯片的制造工藝與CPU一樣,也是用微米來(lái)衡量其加工精度的。制造工藝的提高,意味著顯示芯片的體積將更小、集成度更高,可以容納更多的晶體管。和中央處理器一樣,顯示卡的核心芯片,也是在硅晶片上制成的。微電子技術(shù)的發(fā)展與進(jìn)步,主要是靠工藝技術(shù)的不斷改進(jìn),顯示芯片制造工藝在1995年以后,從0.5微米、0.35微米、0.25微米、0.18微米、0.15微米、0.13微米、0.11微米、90納米、80納米、65納米、55納米、40納米、28納米、16納米、12納米一直發(fā)展到現(xiàn)在的7納米制程。顯卡廠商AMD(超威半導(dǎo)體)已經(jīng)有三款7nnm工藝顯卡在售。