靜電放電發(fā)生器產(chǎn)品簡介

人體對物體或兩個物體之間產(chǎn)生的靜電，可能引起電氣，電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至被損壞。所以，模擬靜電放電的測試在全世界范圍內(nèi)廣泛地應用。靜電放電發(fā)生器 (ESD Generator) 或叫靜電放電模擬器(ESD Simulator)，俗稱靜電放電槍(ESD gun)是電磁兼容測量與試驗中靜電放電抗擾度(ESD immunity)試驗中的重要設(shè)備。目的是為了檢驗電子設(shè)備受到外來靜電放電時能否正常工作，是國際電工委員會標準IEC61000-4-2　Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measurement techniques - Section 2: Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publication，已同名等效轉(zhuǎn)化為我國標準GB/T 17626.2-2006《電磁兼容試驗和測試技術(shù)靜電放電抗擾度試驗》的唯一試驗設(shè)備。

靜電放電發(fā)生器主要是應用于對系統(tǒng)級電子設(shè)備如手機、電腦的抗人體金屬模型靜電放電試驗。包括靜電發(fā)生器和靜電放電槍。靜電放電發(fā)生器中的靜電發(fā)生器的輸出即有正也有負，有的是正負可以轉(zhuǎn)換，它們的電壓雙極性高精度輸出連續(xù)可調(diào)。同時適用于更多的應用領(lǐng)域以及未來新標準的要求。所以靜電放電發(fā)生器可用于絕大多數(shù)電氣與電子設(shè)備的靜電放電試驗。

靜電放電發(fā)生器完全符合 IEC61000-4-2 和 GB/T17626.2最新標準的要求，在為評定電氣和電子設(shè)備經(jīng)受靜電放電時的性能制定一個共同的準則。具有性能穩(wěn)定、使用方便等優(yōu)點，根據(jù)試驗要求靈活設(shè)定電壓等級，方便客戶選擇。

靜電放電發(fā)生器根據(jù)自身放電電壓不同可分類為：

一類放電電壓為20KV，另一類放電電壓為30KV

另外，按照不同行業(yè)EUT要求可對最高放電電壓進行定制。

IEC/EN61000 -4-2 GB/T17626.2 IEC/EN61000-6-1/ -2 IEC/EN61326 IEC61340 ANSI C63.16 ITU -T K20GR1089 -CORE ENV 50141

人體模型(HBM)

人體靜電是引起火炸藥和電火工品發(fā)生意外爆炸的最主要和最經(jīng)常的因素，因此國內(nèi)外對電火工品的防靜電危害要求都是以防人體靜電為主，并建立了人體模型(Human Body Model - HBM)，HMB是ESD模型中建立最早和最主要的模型之一。人體能貯存一定的電荷，所以人體明顯地存在電容。人體也有電阻，這電阻依賴于人體肌肉的彈性、水份、接觸電阻等因素。大部分研究人員認為電容器串一電阻是較為合理的電氣模型,過去有許多研究試圖確定典型人體的這些參數(shù)的適當取值。通常把電容器串聯(lián)一電阻作為人體模型。早在1962年，美國國家礦務局測得22人次人體電容范圍為95～398PF，平均電容值為240，100次試驗測得手與手之間的平均電阻為4000Ω。

這些數(shù)據(jù)為建立了人體模型起了一個好的開端，做過一些修改之后，用在電子工業(yè)中建立早期的模擬電路。Kirk等人測得人體電容值的范圍為132-190PF。人體電阻值為87-190Ω。為了求得一致，美國海軍1980年提出了一個電容值為100PF，電阻為1.5kΩ的所謂“標準人體模型”。這一標準得到廣泛采用，但在后來也遇到一些問題。

機器模型(MM)

因在日本得到廣泛應用，也叫日本模型。與家具模型不同的是它主要由200pf電容串非常低的電阻(<10Ω)代替通常串聯(lián)的電阻構(gòu)成。機器模型的典型代表如帶電絕緣的機器人手臂、車輛、絕緣導體等。機器模型放電的波形與預料的家具模型波形相似，不同的是帶電電容較大。典型的機器模型對小電阻(<10Ω)放電的波形, 峰值電流可達幾百安培，持續(xù)時間(決定于放電通路的電感)為幾百納秒。

電場感應帶電器件放電模型（F-CDM）

隨著器件生產(chǎn)和裝配的現(xiàn)代化，對器件的大部分操作都是由自動生產(chǎn)線完成，人體接觸器件的機會相對減少。電子器件本身在加工、處理、運輸?shù)冗^程中可能會因與工作面及包裝材料等接觸、摩擦而帶電，當帶電的電子器件接近或接觸接地導體（人體）時，便會產(chǎn)生靜電放電。

研究表明靜電敏感器件器件帶電后對接地導體發(fā)生靜電放電后對元件造成危害相當突出。因為帶電器件模型描述的放電過程是器件本身帶電而引起的，所以帶電器件模型失效是造成電子器件損壞、失效的主要原因之一。

儲能電容 (Cs Cd)： 150 pF ±10%

放電電阻(Rd)： 330 歐姆 ±10%

充電電阻(Rc)： 50M與100M歐姆之間

輸出電壓：接觸放電8kV(標稱值)，　空氣放電15kV(標稱值)

輸出電壓示值的容許偏差：±5%

輸出電壓極性：正和負極性(可切換)

保持時間：至少5s

放電操作方式：單次放電(連續(xù)放電之間的時間至少1s)，為了探測的目的，發(fā)生器能至少20次/秒的重復頻率產(chǎn)生放電。

針對電磁兼容試驗-靜電放電抗擾度試驗對試驗配置的要求而專門設(shè)計的配套裝置。該裝置完全符合IEC以及國家標準，以提供規(guī)范化的試驗配置，從而提高靜電放電試驗的重復性與可比性。

ESD-60G靜電放電發(fā)生器專門為IC、LED等半導體器件的抗靜電測試而設(shè)計，ESD-60G靜電放電發(fā)生器集成人體放電模式(HBM)和機械放電模式(MM)通過更換阻容模塊來實現(xiàn)兩種測試功能。