中文名 | 激光干涉測試系統(tǒng) | 產(chǎn)????地 | 美國 |
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學(xué)科領(lǐng)域 | 材料科學(xué) | 啟用日期 | 2016年12月28日 |
所屬類別 | 分析儀器 |
激光干涉測試。 2100433B
工作溫度:0℃到40℃ ; 真空波長:632.991354nm ; 波長穩(wěn)定性:短時間(1h)±0.002ppm;長時間(壽命期)±0.02ppm ;壽命期:平均無故障時間≥50000h ;最大輸出功率1mW ;≥7MHz ;光束直徑9mm。
干涉原理上來說,白光和激光沒有本質(zhì)區(qū)別,就是頻率有差別而已 。但目前使用的大部分邁克爾遜干涉儀是 白光式的。
汞燈可用譜線:365.0nm(紫外光)、404.7nm(蘭紫光)、435.8nm(蘭光)、546.1nm(綠光)、577.0nm(黃光)。
白光干涉儀是用于對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,它是以白光干涉技術(shù)為原理,光源發(fā)出的光經(jīng)過擴束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡后分成兩束,一束經(jīng)被測表面反射回來,另外一束光經(jīng)參考鏡反射,兩束反射光最終匯聚并發(fā)...
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光電測試技術(shù)讀書報告-激光外差干涉技術(shù)在振動測量
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介紹了一種基于顯微干涉的光纖連接器端面的測試系統(tǒng),干涉儀由Mirau干涉物鏡和鏡筒透鏡組成,CCD相機采集干涉圖樣,經(jīng)處理后得到相位分布圖.采用Carre相位提取算法,無需進行特定步長的相移.對光纖連接器端面的表面形貌、曲率半徑、頂點偏移進行測量,測量系統(tǒng)的橫向分辨率可達到0.9μm,重復(fù)性測量精度為9.5 nm.
激光具有高強度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點。目前常用來測量長度的干涉儀,主要是以邁克爾遜干涉儀為主,并以穩(wěn)頻氦氖激光為光源,構(gòu)成一個具有干涉作用的測量系統(tǒng)。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作,并可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。
英文名稱:laser interferometer(激光干涉儀)
隨著20世紀(jì)60年代初激光的出現(xiàn),幾何量計量技術(shù)的發(fā)展步入了嶄新的時期。雙頻激光干涉儀正是利用激光具有頻率穩(wěn)定、單色性好等優(yōu)點,在幾何量計量領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用。雙頻激光干涉儀具有精度高、應(yīng)用范圍廣、環(huán)境適應(yīng)能力強、實時動態(tài)測速高等一系列無可比擬的優(yōu)勢,成為幾何量計量活動的生力軍。相比于激光干涉儀,現(xiàn)代雙頻激光干涉儀擺脫了計量室的束縛,在越來越廣闊的工程測量領(lǐng)域大顯身手。因此,雙頻激光干涉的發(fā)明對計量事業(yè)的發(fā)展乃至整個科學(xué)事業(yè)的發(fā)展有著舉足輕重的作用。本文根據(jù)雙頻激光干涉儀應(yīng)用領(lǐng)域的最新發(fā)展,對雙頻激光干涉儀的應(yīng)用進行了簡要的總結(jié)。
雙頻激光干涉儀的發(fā)明把幾何量計量發(fā)展推向了又一個高峰,雙頻激光干涉儀是目前精度最高、量程最大的長度計量儀器,以其良好的性能、在很多場合,特別是在大長度與大位移的精密測量中得到廣泛應(yīng)用。就長度計量而言,通常將200m以上的測量稱為距離測量(Distance Measurement),3m以下的稱為一般長度測量,3~200m之間的測量稱為大尺寸測量(Large Dimension Measurement)[1]。雙頻激光干涉儀在一般長度精密測量中多有使用。雙頻激光干涉儀可以在恒溫,恒濕,防震的計量室內(nèi)檢定量塊,量桿,刻尺和坐標(biāo)測量機等,也可以在普通車間內(nèi)為大型機床的刻度進行標(biāo)定,既可以對幾十米的大量程進行精密測量,也可以對手表零件等微小運動進行精密測量,既可以對幾何量如長度、角度.直線度、平行度、平面度、垂直度等進行測量,也可以用于特殊場合,諸如半導(dǎo)體光刻技術(shù)的微定位和計算機存儲器上記錄槽間距的測量等等。不僅在單純的長度計量領(lǐng)域,在其他工程技術(shù)領(lǐng)域,雙頻激光干涉儀的應(yīng)用也越來越廣泛,不乏一些很有創(chuàng)見的應(yīng)用。關(guān)于雙頻激光干涉儀在解決某個工程測量問題的研究已經(jīng)有非常多的成功案例,以雙頻激光干涉儀為關(guān)鍵詞的學(xué)術(shù)論文不勝枚舉,對雙頻激光干涉儀的應(yīng)用,國內(nèi)外很多學(xué)者常常有很獨到的理解。雙頻激光干涉儀的應(yīng)用也不斷發(fā)展更新,所以,有必要對它的應(yīng)用做一些有益的總結(jié),使人們更好的理解雙頻激光干涉儀的應(yīng)用,為推動生產(chǎn)發(fā)展提供一些理論依據(jù)。
1、 雙頻激光干涉儀原理
雙頻激光干涉儀的原理是建立在塞曼效應(yīng)、牽引效應(yīng)和多普勒效應(yīng)的基礎(chǔ)之上的。其原理如圖2所示,在全內(nèi)腔He-Ne激光器上加約0.03T的軸向磁場,由于塞曼效應(yīng)和牽引效應(yīng),發(fā)出一束含有兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光,它們的頻率差大約是1.5MHz左右。這束光經(jīng)1/4波片之后成為兩個互相垂直的線偏振光,再經(jīng)平行光管準(zhǔn)直和擴束。從平行光管出來的這束光經(jīng)過析光鏡反射出一小部分作為參考光束通過45°放置的檢偏器。并由馬呂斯定律可知,兩個垂直方向的線偏振光在45°方向上投影,形成新的線偏振光并產(chǎn)生拍頻。這個拍頻頻率恰好等于激光器所發(fā)出的兩個光頻的差值即(f1-f2),約為1.5MHz。經(jīng)光電元件接受進入前置放大器和計算機。另一部分透過析光鏡沿院方向射向偏振分光棱鏡?;ハ啻怪钡木€偏振光f1和f2被分開。f2射向參考立體直角錐棱鏡后返回,f1透過偏振分光棱鏡到立體直角錐棱鏡——測量棱鏡,這時如果它以速度v運動,那么f1的返回光便有了變化成為(f1±Δf)。這束光返回后重新通過偏振分光棱鏡并與f2的返回光會合,然后到45°放置的檢偏器上產(chǎn)生拍頻被光電元件接收,進入前置放大器和計算機。計算機對兩路信號進行比較,計算它們之間的差值±Δf(即多普勒頻差)。進而可以根據(jù)立體直角棱鏡移動度數(shù)和時間求得被測長度。
雙頻激光干涉儀中,雙頻起到了調(diào)頻的作用,被測信號只是疊加在這一調(diào)頻副載波上,這副載波與被測信號一起均被接收并轉(zhuǎn)換成電信號。
2、雙頻激光干涉儀在大尺寸測量中的應(yīng)用
雙頻激光干涉儀是精度最高、可靠性非常好的儀器,是高精度大尺寸測量中優(yōu)先考慮的測量手段。
(1)雙頻激光干涉儀測量大尺寸軸徑
雙頻激光干涉儀是一種增量式測長儀。在時間t內(nèi),被測長度對應(yīng)的多普勒頻差為計數(shù)器記得的脈沖數(shù)K。計數(shù)器計脈沖數(shù)時,需要有信號控制計數(shù)器開始計數(shù)和停止計數(shù),此信號由準(zhǔn)直系統(tǒng)提供。當(dāng)準(zhǔn)直系統(tǒng)對準(zhǔn)被測軸徑的測量起點時,發(fā)出一個開始計數(shù)信號;當(dāng)準(zhǔn)直系統(tǒng)對準(zhǔn)被測的測量終點時,發(fā)出一個停止計數(shù)信號,計數(shù)器停止計數(shù)。所以準(zhǔn)直系統(tǒng)對準(zhǔn)的精度直接影響測量系統(tǒng)準(zhǔn)確度。激光準(zhǔn)直的工作原理為,由氦氖激光器發(fā)射出激光,經(jīng)過前端望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)后,發(fā)射是出一束激光束作為系統(tǒng)準(zhǔn)直的基準(zhǔn),光電目標(biāo)靶為準(zhǔn)直系統(tǒng)的接收裝置,常用的是硅光電探測器。
3、雙頻激光干涉儀在數(shù)控車床檢定中的應(yīng)用
雙頻激光干涉儀與不同光學(xué)附件結(jié)合,可以測量距離、直線度、垂直度、平行度、平面度。由于儀器為模塊化結(jié)構(gòu),安裝位置靈活,便于分析機床誤差來源;而且測量時可以在工作部件運動過程中自動采集數(shù)據(jù),更接近機床的實際使用狀態(tài)。與傳統(tǒng)的檢定方法相比,激光干涉儀具有較高的精度和效率,并能及時處理數(shù)據(jù),為機床誤差修正提供依據(jù)。因此,用雙頻激光干涉儀檢測機床各項誤差是一種用傳統(tǒng)測量手段難以實現(xiàn)的的技術(shù)。位置精度是機床的重要指標(biāo),目前世界各國機床檢定標(biāo)準(zhǔn)中都推薦使用激光干涉儀進行該項精度的檢定。用雙頻激光干涉儀檢定位置精度使用長度干涉儀和測量反射鏡,測量時將長度干涉儀置于不動位置,反射器安裝在運動部件上(也可相反) 。雙頻激光干涉儀在數(shù)控機床檢定上的應(yīng)用,即是對其各項形位誤差的檢定,在此不予贅述。
激光干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。
從激光器發(fā)出的光束,經(jīng)擴束準(zhǔn)直后由分光鏡分為兩路,并分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產(chǎn)生干涉條紋。當(dāng)可動反射鏡移動時,干涉條紋的光強變化由接受器中的光電轉(zhuǎn)換元件和電子線路等轉(zhuǎn)換為電脈沖信號,經(jīng)整形、放大后輸入可逆計數(shù)器計算出總脈沖數(shù),再由電子計算機按計算式[356-11]式中λ為 激光波長(N 為電脈沖總數(shù)),算出可動反射鏡的位移量L。使用單頻激光干涉儀時,要求周圍大氣處于穩(wěn)定狀態(tài),各種空氣湍流都會引起直流電平變化而影響測量結(jié)果。
在氦氖激光器上,加上一個約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應(yīng)和頻率牽引效應(yīng), 激光器產(chǎn)生1和2兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經(jīng)1/4波片后成為兩個互相垂直的線偏振光,再經(jīng)分光鏡分為兩路。一路經(jīng)偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。另一路經(jīng)偏振分光鏡后又分為兩路:一路成為僅含有f1的光束,另一路成為僅含有f2的光束。當(dāng)可動反射鏡移動時,含有f2的光束經(jīng)可動反射鏡反射后成為含有f2 ±Δf的光束,Δf是可動反射鏡移動時因多普勒效應(yīng)產(chǎn)生的附加頻率,正負(fù)號表示移動方向(多普勒效應(yīng)是奧地利人C.J.多普勒提出的,即波的頻率在波源或接受器運動時會產(chǎn)生變化)。這路光束和由固定反射鏡反射回來僅含有f1的光的光束經(jīng)偏振片2后會合成為f1-(f2±Δf)的測量光束。測量光束和上述參考光束經(jīng)各自的光電轉(zhuǎn)換元件、放大器、整形器后進入減法器相減,輸出成為僅含有±Δf的電脈沖信號。經(jīng)可逆計數(shù)器計數(shù)后,由電子計算機進行當(dāng)量換算(乘 1/2激光波長)后即可得出可動反射鏡的位移量。雙頻激光干涉儀是應(yīng)用頻率變化來測量位移的,這種位移信息載于f1和f2的頻差上,對由光強變化引起的直流電平變化不敏感,所以抗干擾能力強。它常用于檢定測長機、三坐標(biāo)測量機、光刻機和加工中心等的坐標(biāo)精度,也可用作測長機、高精度三坐標(biāo)測量機等的測量系統(tǒng)。利用相應(yīng)附件,還可進行高精度直線度測量、平面度測量和小角度測量。