三極管擊穿三極管的軟擊穿

擊穿時PN結(jié)的溫度上升，如果還沒有破壞PN結(jié)的結(jié)構(gòu)，則造成擊穿的條件去除后，PN結(jié)的功能能夠得到恢復(fù)或部分恢復(fù)，就可認為不是硬擊穿或稱為軟擊穿。

軟擊穿則可使器件的性能劣化，并使其指標(biāo)參數(shù)降低而造成故障隱患。由于軟擊穿可使電路時好時壞(指標(biāo)參數(shù)降低所致)，且不易被發(fā)現(xiàn)，給整機運行和查找故障造成很大麻煩。軟擊穿時裝備仍能帶"病"工作，性能未發(fā)生根本變化，但隨時可能造成再次失效。多次軟擊穿就能造成硬擊穿，使電子裝備運行不正常。不僅IC、二極管、三極管會發(fā)生軟擊穿，電容器也會發(fā)生軟擊穿:電容兩端的電荷，隨著通電時間的增長，積累到一定程度之后，如果電容的質(zhì)量不好，內(nèi)部的電解質(zhì)發(fā)生變化而產(chǎn)生的一種"電容擊穿短路"現(xiàn)象，它與溫度的高低并無直接的關(guān)系。關(guān)機后電容失去外加電壓，自然放電完畢后電解質(zhì)可暫時復(fù)原，容量也可恢復(fù)正常。

在一些特定的情況下三極管的特性變壞，比如電壓比較高時(還沒到真正的擊穿電壓)，或溫度較高等等。用萬用表測量不出來性能已經(jīng)變壞，但是裝在電路上卻不能正常工作。另外一種就是輕微擊穿。比如二極管，用萬用表測試，其反向電阻變小，有漏電現(xiàn)象。又比如電視機的行輸出高壓整流二極管發(fā)生軟擊穿時，將導(dǎo)致陽極高壓上不去，產(chǎn)生圖象暗淡、散焦等現(xiàn)象。

軟擊穿主要是由于器件的使用時間過長或是長期工作在惡劣條件下老化而產(chǎn)生的。出現(xiàn)軟擊穿的三極管，性能也已經(jīng)下降很多，一般也應(yīng)該進行更換，但應(yīng)急情況下還可暫時堅持工作，只是隨時都可能變成硬擊穿而完全不能工作。

若溫度上升太高，PN結(jié)的結(jié)構(gòu)完全破壞，擊穿的條件去除后，PN結(jié)的功能就不能得到恢復(fù)，這種擊穿稱為硬擊穿。

硬擊穿是一次性造成器件的永久性失效，如器件的輸出與輸入開路或短路。硬擊穿的三極管不能正常工作，通常說燒壞了，需要更換。

輕則影響電器使用，重則導(dǎo)致電器損毀，現(xiàn)實生活中這樣的例子很多。

高頻三極管的結(jié)構(gòu)多為擴散型管，它的PN結(jié)反向擊穿電壓較低。低頻三極管多采用合金型結(jié)構(gòu)，它的PN結(jié)反向擊穿電壓較高?？梢岳眠@兩種三極管在結(jié)構(gòu)上的不同，用萬用表不同歐姆擋量程表內(nèi)電壓的不同，通過檢測PN結(jié)是否擊穿來對高、低頻三極管進行判斷測量。具體方法如下:

將萬用表置Rx1k檔，測量發(fā)射結(jié)的反向電阻(對于NPN型三極管，負表筆接發(fā)射極，正表筆接基極;對于PNP型三極管，則正表筆接發(fā)射極，負表筆接基極)。然后，將萬用表改至Rx10k再次測量反向電阻。若此時萬用表指針偏轉(zhuǎn)一個較大的角度，則可判斷被測三極管是高頻管;若萬用表指針偏轉(zhuǎn)很小的角度，則可判斷被測三極管是低頻管。

需要說明的是，由于三極管PN結(jié)反向擊穿電壓大小不同，"再加上不同萬用表內(nèi)的電池電壓也不相同，這種判斷方法不是很準(zhǔn)確的。