本書是美國加州大學(xué)伯克利分校經(jīng)典教材。本書分三部分:基本單元、電路設(shè)計和系統(tǒng)設(shè)計。在對MOS器件和連線的特性做了簡要介紹之后,深入分析了反相器,并逐步將這些知識延伸到組合邏輯電路、時序邏輯電路、控制器、運算電路及存儲器這些復(fù)雜數(shù)字電路與系統(tǒng)的設(shè)計中。本書以0.25微米CMOS工藝的實際電路為例,討論了深亞微米器件效應(yīng)、電路最優(yōu)化、互連線建模和優(yōu)化、信號完整性、時序分析、時鐘分配、高性能和低功耗設(shè)計、設(shè)計驗證、芯片測試和可測性設(shè)計等主題,著重探討了深亞微米數(shù)字集成電路設(shè)計面臨的挑戰(zhàn)和啟示。
本書可作為高等院校電子科學(xué)與技術(shù)、電子與信息工程、計算機科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)高年級本科生和研究生有關(guān)數(shù)字集成電路設(shè)計方面課程的教科書,也可作為從事這一領(lǐng)域的工程技術(shù)人員的參考書。
作 者:(美)拉貝爾 等,周潤德 等譯
出 版 社:電子工業(yè)出版社
出版時間:2010-11-1
版 次:1頁 數(shù):553字 數(shù):928000印刷時間:2010-11-1開 本:16開紙 張:膠版紙印 次:1I S B N:9787121119828包 裝:平裝
第一部分 基 本 單 元
第1章 引論
1.1 歷史回顧
1.2 數(shù)字集成電路設(shè)計中的問題
1.3 數(shù)字設(shè)計的質(zhì)量評價
1.4 小結(jié)
1.5 進一步探討
第2章 制造工藝
2.1 引言
2.2 CMOS集成電路的制造
2.3 設(shè)計規(guī)則——設(shè)計者和工藝工程師之間的橋梁
2.4 集成電路封裝
2.5 綜述:工藝技術(shù)的發(fā)展趨勢
2.6 小結(jié)
2.7 進一步探討2100433B
模擬集成電路與數(shù)字集成電路設(shè)計差別很大,主要為以下方面:1 用到的背景知識不同,數(shù)字目前主要是CMOS邏輯設(shè)計,模擬的則偏向于實現(xiàn)某個功能的器件。2 設(shè)計流程不同,數(shù)字集成電路設(shè)計輸入為RTL,模擬設(shè)...
如何一步步的自學(xué)數(shù)字集成電路設(shè)計
要一步步的自學(xué)數(shù)字集成電路設(shè)計需要:要學(xué)會半導(dǎo)體物理,拉扎維或者艾倫,然后看對應(yīng)數(shù)字ic設(shè)計或者模擬ic設(shè)計的書,最后是版圖。下載學(xué)習(xí)的軟件maxplus或者quartus。畫版圖的tan...
應(yīng)該選擇A、B、D答案吧。因為微處理器、內(nèi)存、微控制器都是數(shù)字集成電路組成的。
格式:pdf
大小:213KB
頁數(shù): 3頁
評分: 4.3
本文探討了將專用集成電路設(shè)計技術(shù)納入微電子專業(yè)數(shù)字集成電路本科教學(xué)的重要性和可行性。分析了數(shù)字集成電路教學(xué)的現(xiàn)狀,比較了不同數(shù)字集成電路課程的教學(xué)內(nèi)容,提出一個以三門課為核心的數(shù)字集成電路教學(xué)體系。本文重點介紹了新的專用集成電路設(shè)計技術(shù)課,詳細(xì)描述了理論部分和實驗部分的教學(xué)內(nèi)容及其參考資料,最后給出了課程的實施情況。
格式:pdf
大小:213KB
頁數(shù): 4頁
評分: 4.7
在納米工藝的數(shù)字集成電路電源版圖設(shè)計中,根據(jù)芯片布局合理進行電源布局、電源個數(shù)以及電源布線等方面設(shè)計,確保每一個電壓域都有完整的電源網(wǎng)絡(luò)。在電源分析時從電壓降、功耗及電遷移評估分析,使設(shè)計好的電源網(wǎng)絡(luò)符合電源預(yù)算規(guī)劃。在可靠性設(shè)計時采取布線優(yōu)化、添加去耦電容、優(yōu)化封裝設(shè)計等方法,提高電源抗干擾能力,從而降低電壓降、提高電源的完整性和可靠性。
《數(shù)字集成電路:電路、系統(tǒng)與設(shè)計》:自《數(shù)字集成電路:電路、系統(tǒng)與設(shè)計(第2版)》第一版于1996年出版以來,CMOS制造工藝?yán)^續(xù)以驚人的速度向前推進,工藝特征尺寸越來越小,而電路也變得越來越復(fù)雜,這對設(shè)計者的設(shè)計技術(shù)提出了新的挑戰(zhàn)。器件在進入深亞微米范圍后有了很大的不同,從而帶來了許多影響數(shù)字集成電路的成本、性能、功耗和可靠性的新問題。《數(shù)字集成電路:電路、系統(tǒng)與設(shè)計(第2版)》第二版反映了進入深亞微米范圍后所引起的數(shù)字集成電路領(lǐng)域的深刻變化和新進展,特別是深亞微米晶體管效應(yīng)、互連、信號完整性、高性能與低功耗設(shè)計、時序及時鐘分布等,起著越來越重要的作用。與第一版相比,這個版本更全面集中地介紹了CMOS集成電路。
《數(shù)字集成電路:電路、系統(tǒng)與設(shè)計》是美國加州大學(xué)伯克利分校經(jīng)典教材。《數(shù)字集成電路:電路、系統(tǒng)與設(shè)計(第2版)》分三部分:基本單元、電路設(shè)計和系統(tǒng)設(shè)計。在對MOS器件和連線的特性做了簡要介紹之后,深入分析了反相器,并逐步將這些知識延伸到組合邏輯電路、時序邏輯電路、控制器、運算電路及存儲器這些復(fù)雜數(shù)字電路與系統(tǒng)的設(shè)計中?!稊?shù)字集成電路:電路、系統(tǒng)與設(shè)計(第2版)》以0.25微米CMOS工藝的實際電路為例,討論了深亞微米器件效應(yīng)、電路最優(yōu)化、互連線建模和優(yōu)化、信號完整性、時序分析、時鐘分配、高性能和低功耗設(shè)計、設(shè)計驗證、芯片測試和可測性設(shè)計等主題,著重探討了深亞微米數(shù)字集成電路設(shè)計面臨的挑戰(zhàn)和啟示。
《數(shù)字集成電路:電路、系統(tǒng)與設(shè)計》可作為高等院校電子科學(xué)與技術(shù)、電子與信息工程、計算機科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)高年級本科生和研究生有關(guān)數(shù)字集成電路設(shè)計方面課程的教科書,也可作為從事這一領(lǐng)域的工程技術(shù)人員的參考書。
自從美國加州大學(xué)伯克利分校的Jan M. Rabaey教授所著的《數(shù)字集成電路——電路、系統(tǒng)與設(shè)計》一書的第一版于1996年出版以來,一直深受國內(nèi)外廣大讀者(包括本科生、研究生、教師和工程技術(shù)人員)的歡迎。然而自那時侯起,CMOS的制造工藝?yán)^續(xù)以驚人的步伐前進,目前已經(jīng)達(dá)到了前所未有的深亞微米的精度。進入到深亞微米范圍后,器件特性的變化引起了一系列的問題,它影響到數(shù)字集成電路的可靠性、成本、性能以及功耗。對這些問題的深入討論是本書第二版(以0.25微米的CMOS工藝作為討論的基礎(chǔ))與第一版(以1.2微米工藝作為討論的基礎(chǔ))之間的主要區(qū)別??紤]到MOS電路現(xiàn)已占有99%的數(shù)字集成電路市場份額,第二版刪去了第一版中有關(guān)雙極型和GaAs的內(nèi)容,從而完全集中在CMOS集成電路上。
第二版保留了第一版的寫作基本精神和編寫目的——在數(shù)字設(shè)計中建立起電路和系統(tǒng)之間的橋梁。不同于其他有關(guān)數(shù)字集成電路設(shè)計的教科書,本書不是孤立地介紹“數(shù)字電路”、“數(shù)字系統(tǒng)”和“設(shè)計方法”,而是把這三者有機地結(jié)合起來。全書共12章,分為三部分:基本單元、電路設(shè)計、系統(tǒng)設(shè)計。在對MOS器件和連線的特性做了簡要的介紹之后,深入分析了數(shù)字設(shè)計的核心——反相器,并逐步將這些知識延伸到組合邏輯電路、時序邏輯電路(鎖存器與寄存器)、控制器、運算電路(加法器、乘法器)以及存儲器這些復(fù)雜數(shù)字電路單元的設(shè)計。為了反映數(shù)字集成電路設(shè)計進入深亞微米領(lǐng)域后正在發(fā)生的深刻變化,第二版增加了許多新的內(nèi)容,包括深亞微米器件效應(yīng)、電路最優(yōu)化、互連線建模和優(yōu)化、信號完整性、時序分析、時鐘分配、高性能和低功耗設(shè)計、設(shè)計驗證、對實際制造芯片的確認(rèn)和測試。在闡述所有這些內(nèi)容時都列舉了現(xiàn)今最先進的設(shè)計例子,以著重說明深亞微米數(shù)字集成電路設(shè)計面臨的挑戰(zhàn)和啟示。本書特別把設(shè)計方法學(xué)單獨列出并分插在有關(guān)的各章之后,以強調(diào)復(fù)雜電路設(shè)計者共同面臨的感興趣的問題,即起決定作用的設(shè)計參數(shù)是什么,設(shè)計的哪些部分需要著重考慮而哪些部分又可以忽略,此外還強調(diào)了在進行數(shù)字電路設(shè)計時一定要同時注意電路和系統(tǒng)兩方面的問題。每章后面都對未來的發(fā)展趨勢給出了綜述和展望。通過這一獨特的介紹分析技術(shù)和綜合技術(shù)的方法,第二版最有效地為讀者帶來了處理復(fù)雜問題所需要的基本知識和設(shè)計技能。
本書可作為高等院校電子科學(xué)與技術(shù)(包括微電子與光電子)、電子與信息工程、計算機科學(xué)與技術(shù)、自動化等專業(yè)高年級本科生和研究生有關(guān)數(shù)字集成電路設(shè)計方面課程的教科書。由于涉及面廣并且增加了當(dāng)前最先進的內(nèi)容,也使這本教材成為對這一領(lǐng)域的工程技術(shù)人員非常有用的參考書。
本書在翻譯過程中得到了電子工業(yè)出版社的大力支持,得到了清華大學(xué)微電子學(xué)研究所領(lǐng)導(dǎo)和多位教師的關(guān)心,特別是得到了朱鈞教授、賀祥慶教授、吳行軍副教授、李樹國副教授以及海燕、韋瑩、錢欣、郝效孟、陸自強、郭磊等多位老師的幫助與指正。我的博士研究生戴宏宇、張盛、王乃龍、楊騫、肖勇、張建良以及博士研究生董良等在完成譯稿過程中給予了我很大的支持。我的妻子金申美和女兒周曄不僅幫助翻譯修改了部分章節(jié),而且完成了全部的文字輸入和文稿整理。在此一并深表謝意。
最后,本書雖經(jīng)仔細(xì)校對,但由于譯者水平有限,文中定會有不當(dāng)或欠妥之處,望讀者批評指正。2100433B