中文名 | 探測(cè)效率 | 外文名 | detection efficiency |
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所屬學(xué)科 | 電力系統(tǒng) |
指監(jiān)測(cè)的地閃數(shù)與實(shí)際總地閃數(shù)的百分比。實(shí)際測(cè)量中,由于實(shí)際總地閃數(shù)不可測(cè),故一般以可證雷擊的探測(cè)效率代替該值。
——引自DL/T1283—2013《電力系統(tǒng)雷電定位監(jiān)測(cè)系統(tǒng)技術(shù)規(guī)程》
量效率就是整個(gè)的篩上篩下比,質(zhì)效率就是篩下合格產(chǎn)品與給礦中合格產(chǎn)品的比值
現(xiàn)代鍋爐的熱效率在80%-90%,一般鍋爐的效率,熱效率在70%左右。
審計(jì)一般先看大項(xiàng),鋼筋含量、砼含量,土方定額等建議不要面面俱到。
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評(píng)分: 4.4
為研究由中子-可見(jiàn)光圖像轉(zhuǎn)換屏、光學(xué)系統(tǒng)以及CCD相機(jī)組成的中子圖像探測(cè)器的成像性能,根據(jù)探測(cè)效率、量子增益和調(diào)制傳遞函數(shù)等性能評(píng)價(jià)參數(shù),分析了中子探測(cè)效率與閃爍體厚度的關(guān)系以及薄板型和陣列型閃爍體與CCD相機(jī)之間采用不同耦合方式下的量子增益,并給出了透鏡耦合條件下的調(diào)制傳遞函數(shù)及相應(yīng)的量子探測(cè)效率,最后全面分析了中子圖像探測(cè)器的等效噪聲量子數(shù)。
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評(píng)分: 4.3
基于虛擬點(diǎn)探測(cè)器(VPD)模型應(yīng)用平方反比定律,介紹了一種通過(guò)點(diǎn)源模擬實(shí)驗(yàn)進(jìn)行HPGe探測(cè)器對(duì)圓柱體源樣品的峰效率刻度方法。實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證表明:在一定范圍內(nèi)利用該方法對(duì)圓柱體源進(jìn)行效率刻度是合理可行的,并能獲得較好的刻度結(jié)果,該方法可操作性強(qiáng),可應(yīng)用于工程實(shí)踐。
探測(cè)器探測(cè)到的粒子數(shù)與在同一時(shí)間間隔內(nèi)入射到探測(cè)器中的該種粒子數(shù)的比值。它與探測(cè)器的靈敏體積、幾何形狀和對(duì)入射粒子的靈敏度有關(guān)。一般要求探測(cè)器具有高探測(cè)效率。但在一些特殊場(chǎng)合,如在極強(qiáng)輻射場(chǎng)下,則要求探測(cè)器具有較低的靈敏度。指光子和探測(cè)器在作用的初始過(guò)程中,產(chǎn)生的光子事件數(shù)和入射光子數(shù)之比。它描述探測(cè)器接收和記錄信息的能力。入射光子有可能穿透介質(zhì)或被介質(zhì)反射。有時(shí)介質(zhì)要吸收幾個(gè)光子引起一次光子事件,有時(shí)產(chǎn)生的光子事件未被檢測(cè),所以一般探測(cè)器的量子效率小于1。
效率與所取截面有關(guān)。取壓縮機(jī)進(jìn)口截面和出口截面來(lái)計(jì)算效率,則為壓縮機(jī)的效率。如果不包括進(jìn)出氣管在內(nèi),取壓縮機(jī)中第一級(jí)進(jìn)口截面和末級(jí)出口截面計(jì)算效率,則為壓縮機(jī)級(jí)組的效率。如果取壓縮機(jī)的一個(gè)級(jí)的進(jìn)口截面和出口截面計(jì)算效率,則為級(jí)的效率。 2100433B
對(duì)于同一種平板探測(cè)器 , 在不同的空間分辨率時(shí) , 其 DQ E是變化的 ; 極限的 DQE 高 , 不等于在任何空間分辨率時(shí) DQ E都高 。DQ E 的計(jì)算公式如下 :
DQE =S 2 ×M F T 2 /N SP ×X ×C
S : 信號(hào)平均強(qiáng)度 ; M T F : 調(diào)制傳遞函數(shù) ; X : X 線曝光強(qiáng)度 ; NPS : 系統(tǒng)噪聲功率譜 ; C : X 線量子系數(shù)
從計(jì)算公式中我們可以看到 , 在不同的 M TF 值中對(duì)應(yīng)不同的 DQE , 也就是說(shuō)在不同的空間分辨率時(shí)有不同的 DQE 。間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的極限 DQ E 比較高 , 但是隨著空間分辨率的提高 , 其 DQE 下降得較多 ;而直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的極限 DQE 不如間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的極限 DQ E 高 , 但是隨著空間分辨率的提高 , 其 DQ E 下降比較平緩 , 在高空間分辨率時(shí) , DQE 反而超過(guò)了間接轉(zhuǎn)換的平板探測(cè)器 。這種特性說(shuō)明間接平板探測(cè)器在區(qū)分組織密度差異的能力較強(qiáng) ; 而直接轉(zhuǎn)換的平板探測(cè)器在區(qū)分細(xì)微結(jié)構(gòu)差異的能力較高 。