中文名 | 圍巖收斂儀 | 外文名 | surrounding rock convergence gauge |
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簡????稱 | 收斂計 | 學(xué)????科 | 坑探工程 |
量測范圍:0.5m~30m
分 辯 率:0.01mm
測量精度:0.06mm
數(shù)顯穩(wěn)定度:24h內(nèi)不大于0.01mm
電源:1.55V氧化銀鈕扣電池SR44w 1節(jié)。
外型尺寸:410mm×100mm×35mm
重量:0.9kg
學(xué)科:坑探工程
詞目:圍巖收斂儀
英文:surrounding rock convergence gauge
釋文:圍巖收斂儀一般由粗測裝置、精測裝置、張拉力裝置和支架組成。粗測裝置是讀取毫米級以上的數(shù)據(jù),有三種形式:帶刻度的剛性金屬桿式收斂計(又稱桿式收斂計或測桿),其測量長度在3米以內(nèi);銦鋼絲收斂計和帶孔鋼尺式收斂計(又稱弦式收斂計),測量距離可達20米以上。精測裝置用于讀取毫米級以下的位移,主要有機械百分表、螺旋測微尺和電子數(shù)顯容柵尺三種形式。張力裝置是為保證每次測量時施加在鋼尺上的拉力恒定,盡量減少測量誤差。有重錘和測力彈簧兩種,以測力彈簧應(yīng)用最為普遍。
隧道圍巖等級與分類的關(guān)系。比如說 V級圍巖=V類圍巖 還是V級圍巖=二類圍巖
老規(guī)范將隧道圍巖分成六類,分別是Ⅵ、Ⅴ、Ⅳ、Ⅲ、Ⅱ、Ⅰ,數(shù)字越大的圍巖性質(zhì)越好。新規(guī)范將隧道圍巖分成六級,分別是Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ、Ⅵ,數(shù)字越小的圍巖性質(zhì)越好。所以老規(guī)范中的海類圍巖就是新規(guī)范中的Ⅱ級...
隧道圍巖等級與分類的關(guān)系。比如說 V級圍巖=V類圍巖 還是V級圍巖=二類圍巖
老規(guī)范將隧道圍巖分成六類,分別是Ⅵ、Ⅴ、Ⅳ、Ⅲ、Ⅱ、Ⅰ,數(shù)字越大的圍巖性質(zhì)越好。新規(guī)范將隧道圍巖分成六級,分別是Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ、Ⅵ,數(shù)字越小的圍巖性質(zhì)越好。這樣我們就知道,老規(guī)范中的Ⅴ類圍巖就是新...
可參考巖溶或采空區(qū)頂板穩(wěn)定性分析方法進行評價,頂板巖層厚度只有2-4m,而跨度是7米,只要巖層有裂隙開挖后就會不穩(wěn)定? 隧道圍巖分級中隱含了頂板穩(wěn)定性問題,如:IV級圍巖拱部無支護時可產(chǎn)生較大的坍塌;...
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頁數(shù): 3頁
評分: 4.6
介紹了利用測桿配合全站儀自由設(shè)站法進行隧道圍巖絕對位移值的觀測方法和原理,指出該監(jiān)測系統(tǒng)具有成本低廉、操作簡便、數(shù)據(jù)處理簡單等優(yōu)點并能提供直觀詳細的數(shù)據(jù)。
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頁數(shù): 4頁
評分: 4.7
采用大型數(shù)學(xué)軟件Matlab對監(jiān)控量測數(shù)據(jù)進行回歸分析等數(shù)學(xué)處理,找出監(jiān)控量測數(shù)據(jù)之間的相關(guān)性并模式化為量測曲線和數(shù)學(xué)方程,使經(jīng)過數(shù)學(xué)處理后的數(shù)據(jù)能有效反映圍巖發(fā)展趨勢及最終位移量。根據(jù)得到的巖性參數(shù)進行水平劃分,得到各水平參數(shù)并進行正交組合進而得到試驗方案。通過采用數(shù)值模擬軟件Midas/GTS模擬各試驗方案下圍巖的最終位移量,由此得到神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)庫。然后通過Matlab編制的巖性參數(shù)反演程序進行反分析,得出該段巖體的等效巖性參數(shù)。最后利用Midas/GTS正演計算,得到隧道在開挖支護后圍巖的應(yīng)力-應(yīng)變分布和最終位移值,以此來評價圍巖穩(wěn)定性。
分為便攜式測斜儀和固定式測斜儀,便攜式測斜儀分為便攜式垂直測斜儀和便攜式水平測斜儀,固定式分為單軸和雙軸測斜儀,應(yīng)用最廣的是便攜式測斜儀。測斜儀是一種通過測定鉆孔傾斜角從而求得水平向位移的原位監(jiān)測儀器 。
測斜儀的基本配置包括測斜儀套管、測斜儀探頭、控制電纜及測斜讀數(shù)儀 。
晶體測角儀(goniometer)是測量晶體面角以研究晶體幾何形狀的儀器。常用的有接觸測角儀和反射測角儀。最普通的接觸測角儀(contact goniometer)相當(dāng)于量角器加一小尺,適用于較大晶體的測量,精度較低,只達12°。反射測角儀有單圈反射測角儀和雙圈反射測角儀兩種。
單圈反射測角儀(one circle reflection goniometer)主要由水平圈、光管、視物管(望遠鏡)和掣晶臺四部分組成。根據(jù)晶面對光線反射的性質(zhì),利用光學(xué)系統(tǒng)進行測量,精度較高,可達1′,適用于測量粒徑約數(shù)毫米而且晶面平整光滑的小晶體。
雙圈反射測角儀(two circle reflection goniometer)比單圈反射測角儀多一個直立圈,使晶體可繞互相垂直的兩個軸任意轉(zhuǎn)動,大大簡化了測量手續(xù),是晶體測量的主要儀器。用接觸測角儀或單圈反射測角儀測得的是每兩個晶面法線間的夾角值,即面角值。而由雙圈反射測角儀測得的則是每一個晶面的一組球面坐標(biāo)值——方位角和極距角值,前者相當(dāng)于地球上的經(jīng)度,而后者則相當(dāng)于緯度 。[1]2100433B
科技名詞定義
中文名稱:激光測徑儀
英文名稱:diameter measuring gauge
定義:用激光測量工件或材料直徑的儀器。
應(yīng)用學(xué)科:機械工程(一級學(xué)科);光學(xué)儀器(二級學(xué)科);激光器件和激光設(shè)備-激光應(yīng)用(二級學(xué)科)
測徑儀大至可分為激光掃描測徑儀,CCD投影測徑儀,激光衍射測徑儀,其中前兩者都屬光學(xué)的幾何原理,后者為利用激光衍射原理。測徑儀廣泛運用于電線電纜,漆包線,金屬絲,PVC管,以及醫(yī)療器械等各種行業(yè)。在線檢測和離線檢測均可,并能實現(xiàn)自動反饋控制以及與電腦的聯(lián)機通訊。測徑儀行業(yè)經(jīng)過發(fā)展已經(jīng)衍生出了可旋轉(zhuǎn)測徑儀和手持式測徑儀。