微結(jié)構(gòu)材料中若干物理問題的研究

本項目將對微結(jié)構(gòu)金屬薄膜表面、光學(xué)超晶格及層狀鈣鈦礦微結(jié)構(gòu)材料中若干前沿物理問題進行系統(tǒng)研究。.第一部分包括微結(jié)構(gòu)材料中光學(xué)物理特性的研究。研究電磁波與微結(jié)構(gòu)金屬薄膜表面等離激元的耦合及其透射光波增強效應(yīng)；研究光學(xué)超晶格中非經(jīng)典光的產(chǎn)生及其非線性光學(xué)過程；研究亞波長微結(jié)構(gòu)材料中局域位相補償及其在非線性光學(xué)領(lǐng)域中的應(yīng)用。以上研究內(nèi)容對于揭示金屬表面等離激元的物理內(nèi)涵，拓寬傳統(tǒng)準位相匹配理論的應(yīng)用范

雙材料中夾雜問題的研究，論文，俞家歡著，匡震邦教授指導(dǎo)。

副題名

外文題名

Research on the problem of inclusions in bimaterial

論文作者

俞家歡著

導(dǎo)師

匡震邦教授指導(dǎo)

學(xué)科專業(yè)

固體力學(xué)

學(xué)位級別

d 2001n

學(xué)位授予單位

上海交通大學(xué)

學(xué)位授予時間

2001

關(guān)鍵詞

材料缺陷 材料力學(xué) 金屬基復(fù)合材料 雙材料

館藏號

TB303

唯一標識符

108.ndlc.2.1100009031010001/T3F24.012002678634

館藏目錄

2002\TB303\37

“電法勘探若干方法理論問題的研究”包括兩本專著：《論電法勘探若干方法、《磁電勘探法原理》。 《論電法勘探若干方法理論的研究》包括論電法勘探深度；②論垂直聚焦法；③論補償法：在以上三個問題的研單純通過增大次極參數(shù)值（ρs、ηs等）不能提高勘探深度和地質(zhì)效能以地質(zhì)探測目標產(chǎn)生的純異常信息值大小為基礎(chǔ)以提高找礦效能。原理》主要包括：磁電勘探法的物理化學(xué)基礎(chǔ)；對常見產(chǎn)狀的礦體；系磁電異常場空間分布規(guī)律的理論曲線；闡明了異常場的正演特征和反演評審意見 1．對電法勘探深度的研究，澄清了自法國學(xué)者umberger等半個世紀以來國際間存在的混亂概念，正確解決了關(guān)于電法勘探深算方法問題，提出了關(guān)于電法勘探深度較全面、合理的新定義，指出了的三大要素，并給出了具體算例。 2．對垂直聚焦法的研究，以充依據(jù)，否定了四十年代蘇聯(lián)學(xué)者提出的所謂“Эаборовский效能，澄清了近半個世紀以來國內(nèi)外許多研究者的錯誤理論（即認為垂提高電法勘探深度和克服低阻覆蓋層影響），正確指出了各種垂直聚焦立找礦方法時所存在的理論問題和實際問題。運用電動力學(xué)理論（疊加理），提出了用二極（AM）法取代聚焦電位（AMA′）法及用三極聯(lián)合、MNB）法取代聚焦梯度（AMNA′）法的新理論，并用實驗結(jié)果予以佐證。種取代法具有異常信息大、觀測精度高、生產(chǎn)效率和經(jīng)濟效益高等優(yōu)點依此提高找礦效能的理論依據(jù)。3．對補償法的研究，通過理論分析，三十年代蘇聯(lián)學(xué)者M·K·Овничинков提出的用補償法在電阻化法中提高勘探深度的錯誤理論，否定了同向和反向變流測深法的理論反向分流法作為一種獨立找礦方法時存在的嚴重理論問題和實際問題，對稱四極法取代反向分流法或類補償法的新理論和新方案。同時還指出提高ρs、ηs等次級參數(shù)值的各類純異常法和資料整理方法，難以在較高電法勘探深度和地質(zhì)效能的理論依據(jù)和實際問題。 4、對磁電勘探專著中除系統(tǒng)論述了這類方法的原理外，還以嚴謹?shù)睦碚撗芯拷Y(jié)果為基國學(xué)者S.J．Pirson等在六十年代中期發(fā)明的所謂直接找油氣的新方法積分法”（U.S．Patent，3943436,March9.1976），提出了觀測磁場和方案。