驗(yàn)金儀

熒光光譜測金儀亦稱XRF,設(shè)備其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射線探測器同時探測樣品所發(fā)出的各種能量特征X射線，探測器輸出信號幅度與接收到的X射線能量成正比，利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強(qiáng)度，對樣品進(jìn)行定量，定性分析。

XRF設(shè)備主要優(yōu)勢:

1 ) 3秒鐘內(nèi)可對金銀飾品進(jìn)行定性識別,30秒~60秒自動計算出首飾的精確含量

2 ) 對樣品無需任何物理和化學(xué)處理，即無損檢測金銀飾品

3 ) 分析范圍:能夠分析金，鉑，銀，鈀等含量0.3%~99.99%

4 ) 安全性能指針符合國家標(biāo)準(zhǔn)要求(光線激發(fā)源為MO靶X光管)

5) 具有溫濕度自動補(bǔ)償功能

6) 符合最嚴(yán)格的輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式(采用滑蓋設(shè)計)

7 ) 探頭指針高，性能好，壽命長;

8) 全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作可靠，效率高

9) 全球率先將先進(jìn)的攝像定位技術(shù)引入珠寶檢測領(lǐng)域。該攝像定位系統(tǒng)除讓首飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標(biāo)位置外，還可以將首飾被檢測到的精確位置的照片對應(yīng)于檢測結(jié)果，連同計算報告一起打印出來。

10)集成工業(yè)計算機(jī)在設(shè)備機(jī)箱內(nèi)，無需外接計算機(jī);帶門鎖電鎖，使日常管理更便捷

影響XRF測金儀的檢測結(jié)果的因素有很多。由于首飾產(chǎn)品的特殊情況，受方法原理的限制，在使用本方法時檢測人員應(yīng)了解和熟悉以下影響結(jié)果的因素(這些影響因素在不同情況下將對特征譜線強(qiáng)度的采集產(chǎn)生很大的影響，甚至造成誤判):

a)被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)所含元素組成和含量有較大的差異;

b)被測樣品的表面有鍍層或經(jīng)化學(xué)處理;

c)測量時間;

d)樣品的形狀;

e)樣品測量的面積;

f)貴金屬的含量多少;

XRF測金儀檢測出來的結(jié)果通常需要全面理解，由于被測的首飾產(chǎn)品不同，使用的儀器不同，檢測人員的素質(zhì)水平不同，對檢測結(jié)果的接收范圍建議在以下范圍內(nèi)選取。隨貴金屬含量的減少，可接收的范圍將增大。測量結(jié)果的誤差范圍為0.1%-3%，也可以根據(jù)委托方的協(xié)議確定，對結(jié)果如有爭議，應(yīng)以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656的分析結(jié)果為準(zhǔn)。