《最新集成電路測(cè)試技術(shù)》系統(tǒng)介紹了常用集成電路測(cè)試的原理、方法和技術(shù),范圍涵蓋了數(shù)字集成電路、模擬集成電路、SOC器件、數(shù)字/模擬混合集成電路、電源模塊、集成電路測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)試接口板設(shè)計(jì)等方面。主要為從事IC測(cè)試相關(guān)人員全面掌握各類集成電路的測(cè)試技術(shù)打下良好基礎(chǔ)。
《最新集成電路測(cè)試技術(shù)》首先介紹了集成電路測(cè)試的基本概念和理論,包括集成電路測(cè)試的基本原理、測(cè)試的分類、測(cè)試的作用等,然后分別對(duì)數(shù)字集成電路、存儲(chǔ)器、各類模擬集成電路、數(shù)字/模擬混合電路、SOC、DC-DC模塊的測(cè)試方法和技術(shù)進(jìn)行了深入細(xì)致的介紹,在此基礎(chǔ)上對(duì)IDDQ測(cè)試技術(shù)以及IC設(shè)計(jì)到測(cè)試的瓶頸和融合問(wèn)題進(jìn)行了詳細(xì)闡述,并以當(dāng)前主流大規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)Sapphire為例,詳細(xì)介紹了現(xiàn)代集成電路測(cè)試系統(tǒng)(ATE)的軟、硬件架構(gòu)和特點(diǎn),最后在DIB測(cè)試接口板設(shè)計(jì)技術(shù)中深入論述了ATE測(cè)試的重要環(huán)節(jié)負(fù)載板(DIB)的設(shè)計(jì)技術(shù)問(wèn)題。
《最新集成電路測(cè)試技術(shù)》可作為從事集成電路設(shè)計(jì)、測(cè)試、應(yīng)用和集成電路測(cè)試設(shè)備開(kāi)發(fā)的研究人員、技術(shù)人員以及計(jì)劃進(jìn)入集成電路測(cè)試領(lǐng)域的相關(guān)人員的學(xué)習(xí)或培訓(xùn)教材,也可作為高等院校相關(guān)專業(yè)本科或研究生的教學(xué)參考書(shū)。
第1章 集成電路測(cè)試概述
第2章 數(shù)字集成電路測(cè)試技術(shù)
第3章 半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試技術(shù)
第4章 模擬集成電路測(cè)試技術(shù)
第5章 數(shù)模混合集成電路測(cè)試技術(shù)
第6章 DSP在混合電路測(cè)試中的應(yīng)用
第7章 SOC測(cè)試技術(shù)
第8章 IVDQ測(cè)試
第9章 DC-DC參數(shù)測(cè)試方法
第10章 集成電路測(cè)試系統(tǒng)
第11章 設(shè)計(jì)到測(cè)試的鏈接
第12章 測(cè)試接口板DIB設(shè)計(jì)技術(shù)
參考文獻(xiàn)
……
①、關(guān)于以上如何查找集成電路芯片的技術(shù)參數(shù),向這問(wèn)題,首先用指針萬(wàn)表的Rx1K檔黑表筆接地,紅表筆分別接集成電路芯片1腳以此類推測(cè)量,測(cè)量完后記下對(duì)地電阻值(這是第一次測(cè)量結(jié)果)。②、然后在用紅表筆接...
光電檢測(cè)技術(shù)的內(nèi)容簡(jiǎn)介
該書(shū)共分11章,主要描述了光電檢測(cè)技術(shù)的基本概念,基礎(chǔ)知識(shí),各種檢測(cè)器件的結(jié)構(gòu)、原理、特性參數(shù)、應(yīng)用,光電檢測(cè)電路的設(shè)計(jì),光電信號(hào)的數(shù)據(jù)與計(jì)算機(jī)接口,光電信號(hào)的變換和檢測(cè)技術(shù),光電信號(hào)變換形式和檢測(cè)方...
MC3361是美國(guó)MOTOROLA公司生產(chǎn)的單片窄帶調(diào)頻接收電路,主要應(yīng)用于語(yǔ)音通訊的無(wú)線接收機(jī)。片內(nèi)包含振蕩電路、混頻電路、限幅放大器、積分鑒頻器、濾波器、抑制器、掃描控制器及靜噪開(kāi)關(guān)電路。主要應(yīng)用...
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第一章 集成電路的測(cè)試 1.集成電路測(cè)試的定義 集成電路測(cè)試是對(duì)集成電路或模塊進(jìn)行檢測(cè), 通過(guò)測(cè)量對(duì)于集成電路的輸出回應(yīng)和預(yù)期 輸出比較, 以確定或評(píng)估集成電路元器件功能和性能的過(guò)程, 是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、 監(jiān)控生產(chǎn)、 保證 質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用的重要手段。 .2.集成電路測(cè)試的基本原理 輸入 X 輸出回應(yīng) Y 被測(cè)電路 DUT(Device Under Test)可作為一個(gè)已知功能的實(shí)體,測(cè)試依據(jù)原始輸入 x 和網(wǎng)絡(luò)功能集 F(x),確定原始輸出回應(yīng) y,并分析 y是否表達(dá)了電路網(wǎng)絡(luò)的實(shí)際輸出。因 此,測(cè)試的基本任務(wù)是生成測(cè)試輸入, 而測(cè)試系統(tǒng)的基本任務(wù)則是將測(cè)試輸人應(yīng)用于被測(cè)器 件,并分析其輸出的正確性。 測(cè)試過(guò)程中, 測(cè)試系統(tǒng)首先生成輸入定時(shí)波形信號(hào)施加到被測(cè) 器件的原始輸入管腳, 第二步是從被測(cè)器件的原始輸出管腳采樣輸出回應(yīng), 最后經(jīng)過(guò)分析處 理得到測(cè)試結(jié)果。 3.集成電路故障與測(cè)
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集成電路卡標(biāo)準(zhǔn)精選(最新) G14916《GB/T 14916-2006 識(shí)別卡 物理特性》 G15694.2《GB/T15694.2-2002 識(shí)別卡發(fā)卡者標(biāo)識(shí) :申請(qǐng)和注冊(cè)規(guī)程》 G16649.1《GB/T 16649.1-2006 識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 :物理特性》 G16649.2《GB/T 16649.2-2006 識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 :觸點(diǎn)的尺寸和位 置》 G16649.3《GB/T 16649.3-2006 識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡 第 3 部分 :電信號(hào) 和傳輸協(xié)議》 G16649.4《GB/T 16649.4-2010 識(shí)別卡 集成電路卡 第 4部分 :用于交換的結(jié)構(gòu)、 安全和命令》 90.00 G16649.5《GB/T16649.5-2002 識(shí)別卡帶觸點(diǎn)的集成電路卡:應(yīng)用標(biāo)識(shí)符的編號(hào) 體系》 G16649.6《GB/T16649.6-2001 識(shí)別
本書(shū)收集國(guó)外刊物以及編者多年來(lái)實(shí)踐的集成電路21類300余例,涉及面廣,從常用的基本電路到新近推出的專用電路,另有20多種最新集成芯片的典型應(yīng)用。這些電路設(shè)計(jì)新穎,性能優(yōu)良,實(shí)用性強(qiáng)。讀者可根據(jù)需要稍加修改,應(yīng)用到自己的電子電路設(shè)計(jì)中,能使設(shè)計(jì)性能達(dá)到最優(yōu)。
本書(shū)可供電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)人員、工程技術(shù)人員、大專院校師生以及業(yè)余愛(ài)好者參考使用。
據(jù)2020年8月6日中國(guó)知網(wǎng)顯示,《計(jì)量與測(cè)試技術(shù)》共出版文獻(xiàn)10725篇 。
據(jù)2020年8月6日萬(wàn)方數(shù)據(jù)知識(shí)服務(wù)平臺(tái)顯示,《計(jì)量與測(cè)試技術(shù)》共載文 9348篇、基金論文量為392篇 。
《計(jì)量與測(cè)試技術(shù)》是中國(guó)學(xué)術(shù)期刊(光盤版)入選期刊、中國(guó)學(xué)術(shù)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù)全文收錄期刊、中國(guó)學(xué)術(shù)期刊綜合評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)庫(kù)統(tǒng)計(jì)源期刊、萬(wàn)方數(shù)據(jù)—數(shù)字化期刊源期刊、中國(guó)科技核心期刊數(shù)據(jù)庫(kù)源期刊、中國(guó)核心期刊(遴選)數(shù)據(jù)庫(kù)源期刊 。
據(jù)2020年8月6日中國(guó)知網(wǎng)顯示,《計(jì)量與測(cè)試技術(shù)》總被下載802602次、總被引18516次,(2019版)復(fù)合影響因子為0.130、(2019版)綜合影響因子為0.082 。
據(jù)2020年8月6日萬(wàn)方數(shù)據(jù)知識(shí)服務(wù)平臺(tái)顯示,《計(jì)量與測(cè)試技術(shù)》被引量為17378次、下載量為198737次;據(jù)2018年中國(guó)期刊引證報(bào)告(擴(kuò)刊版)數(shù)據(jù)顯示,該刊影響因子為0.31(工程與技術(shù)科學(xué)基礎(chǔ)學(xué)科刊均影響因子為0.54),在全部統(tǒng)計(jì)源期刊(6719種)中排第5187名 。
《測(cè)試技術(shù)(第2版)》是普通高等教育“十一五”國(guó)家級(jí)規(guī)劃教材,是教育部新世紀(jì)網(wǎng)絡(luò)課程“機(jī)械工程測(cè)試技術(shù)”的主要參考書(shū)之一。《測(cè)試技術(shù)(第2版)》系統(tǒng)地闡述了測(cè)試技術(shù)的研究對(duì)象、理論基礎(chǔ)以及典型物理量的測(cè)試方法?!稖y(cè)試技術(shù)(第2版)》以加強(qiáng)學(xué)科基礎(chǔ)、培養(yǎng)讀者動(dòng)手能力為宗旨,著重?cái)⑹龌镜臏y(cè)試原理、信號(hào)的分析與處理方法、測(cè)試系統(tǒng)的特性以及測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì),并在此基礎(chǔ)上,對(duì)位移、振動(dòng)、噪聲、力、扭矩、壓力、溫度、流量等的測(cè)試分別進(jìn)行了闡述。為了幫助讀者掌握各章內(nèi)容,每章后設(shè)有一定量的習(xí)題。
本次修訂增加了測(cè)量誤差理論、數(shù)據(jù)處理和實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)原則等章節(jié),以使學(xué)生能夠更加全面地了解和掌握測(cè)試技術(shù)的內(nèi)容。
《測(cè)試技術(shù)(第2版)》可作為高等學(xué)校本科機(jī)械類各專業(yè)“測(cè)試技術(shù)”課程的教材,也可作為自動(dòng)控制、儀器儀表類有關(guān)專業(yè)“測(cè)試技術(shù)”課程的教材。同時(shí),對(duì)工廠、科研單位以及其他從事機(jī)械工程性能試驗(yàn)和機(jī)電一體化產(chǎn)品設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的工程技術(shù)人員亦有參考價(jià)值。