顯微鏡系統(tǒng):1、氣動(dòng)移動(dòng)支架 2、移動(dòng)范圍:50mm*50nm2、探針臺(tái):1、可加載真空/磁性吸附探針座 2、卡盤平整度:<5μm。
真空吸附;X-Y分辨率優(yōu)于 /-1um 載物臺(tái)平整度5um 可控制樣品室氣氛及屏蔽光磁 機(jī)臺(tái)配有真空模塊,具有氣體環(huán)境操作功能,支持升級(jí)高低溫模塊。
1、鋼筋55-60kg/m2左右,混凝土0.4m3/m2左右;2、50kg/m2左右,混凝土0.6m3/m2左右3、鋼筋55-60kg/m2左右,混凝土0.55m3/m2左右4、鋼筋120kg/m2左...
套完價(jià),在工程設(shè)置中輸入相應(yīng)的建筑面積,這樣才會(huì)相應(yīng)的指標(biāo)。
這種情況只有看實(shí)際工程圖紙后,實(shí)際計(jì)算后才能有說(shuō)服力的,常規(guī)地下室應(yīng)該多些,又不是絕對(duì),只有自己算嘍,要不就是提供的技術(shù)指標(biāo)有誤
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頁(yè)數(shù): 3頁(yè)
評(píng)分: 4.4
含 量 指 標(biāo) (一)、普通住宅建筑混凝土用量和用鋼量: 1、多層砌體住宅: 鋼筋 30kg/m2 、砼 0.3 —0.33m3/m2 2、多層框架 鋼筋 38—42kg/m2 、砼 0.33 — 0.35m3/m2 3、小高層 11—12 層 鋼筋 50—52kg/m2、 砼 0.35m3/m2 4、高層 17— 18 層 鋼筋 54—60kg/m2、 砼 0.36m3/m2 5、高層 30 層 H=94米 鋼筋 65—75kg/m2 、砼 0.42 —0.47m3/m2 6、高層酒店式公寓 28 層 H=90米 鋼筋 65—70kg/m2 、砼 0.38 —0.42m3/m2 7、別墅混凝土用量和用鋼量介于多層砌體住宅和高層 11—12 層之間 以上數(shù)據(jù)按抗震 7 度區(qū)規(guī)則結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) (二)、普通多層住宅樓施工預(yù)算經(jīng)濟(jì)指標(biāo) 1、室外門窗(不包括單元門、防盜門)面積占建筑面積
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評(píng)分: 4.4
工程技術(shù)指標(biāo) 一、關(guān)于土建磚的計(jì)算: 以平米計(jì)算: 12墻:紅磚用 64塊,多孔磚為 32 塊 18墻一個(gè)平方需要 96塊標(biāo)準(zhǔn)磚 24墻:紅磚用 128 塊,多孔磚為 64塊 37墻:紅磚用 192 塊,多孔磚為 96塊 49墻:紅磚用 256 塊,多孔磚為 128 塊 以立方米計(jì)算:在計(jì)算時(shí)不需要分墻厚 砌筑 1 立方米標(biāo)準(zhǔn)磚墻 ,砌筑厚度 1 磚以上,要磚 512 塊、砂漿 0.26m3、水泥 32.5級(jí) 砂漿強(qiáng)度 M5=59.5kg ,砂漿強(qiáng)度 M7.5=67.9kg 空心 24墻一個(gè)平方需要 80多塊標(biāo)準(zhǔn)磚 二、施工功效 1、一個(gè)抹灰工一天抹灰在 35平米 2、一個(gè)磚工一天砌紅磚 1000—1800 塊 3、一個(gè)磚工一天砌空心磚 800— 1000 塊 4、瓷磚 15平米 5、刮大白第一遍 300平米 /天,第二遍 180平米 /天,第三遍壓光 90平米 /天 三、基礎(chǔ)數(shù)據(jù) 1、
探針臺(tái)分類
探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)
從功能上來(lái)區(qū)分有:溫控探針臺(tái),真空探針臺(tái)(超低溫探針臺(tái)),RF探針臺(tái),LCD平板探針臺(tái),霍爾效應(yīng)探針臺(tái),表面電阻率探針臺(tái)
經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型
根據(jù)客戶需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)
X-Y移動(dòng)行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)
chuck Z軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離
顯微鏡:金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)
顯微鏡移動(dòng)方式:立柱環(huán)繞型、移動(dòng)平臺(tái)型、龍門結(jié)構(gòu)型(可選)
探針座:有0.7um、2um、10um精度可選,磁性吸附帶磁力開關(guān)
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:晶圓廠、研究所、高校等
半自動(dòng)型
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm
可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:8寸/6寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
電動(dòng)型
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不銹鋼或鍍金)
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程300mm x 300mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm,微調(diào)精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)8~12顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2“x2”x2“
材質(zhì):花崗巖臺(tái)面 不銹鋼
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:12寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
LCD半自動(dòng)探針臺(tái)
機(jī)械手臂取放片
電動(dòng)、鍵入坐標(biāo)尋位置
量測(cè)尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
LCD手動(dòng)探針臺(tái)
白熾燈或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量測(cè)分析
機(jī)臺(tái)尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
PCB量測(cè)探針臺(tái)(TDR)
高頻測(cè)試探頭GSG / GS / SG
頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
機(jī)臺(tái)尺寸同LCD 探針臺(tái)
太陽(yáng)能產(chǎn)業(yè)探針臺(tái)(Solar Cell 量測(cè)系統(tǒng))
量測(cè)軟體:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太陽(yáng)光模擬器
探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)
從功能上來(lái)區(qū)分有:溫控探針臺(tái),真空探針臺(tái)(超低溫探針臺(tái)),RF探針臺(tái),LCD平板探針臺(tái),霍爾效應(yīng)探針臺(tái),表面電阻率探針臺(tái)
根據(jù)客戶需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)
X-Y移動(dòng)行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)
chuck Z軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離
顯微鏡:金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)
顯微鏡移動(dòng)方式:立柱環(huán)繞型、移動(dòng)平臺(tái)型、龍門結(jié)構(gòu)型(可選)
探針座:有0.7um、2um、10um精度可選,磁性吸附帶磁力開關(guān)
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:晶圓廠、研究所、高校等
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm
可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:8寸/6寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不銹鋼或鍍金)
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程300mm x 300mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm,微調(diào)精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)8~12顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"
材質(zhì):花崗巖臺(tái)面+不銹鋼
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:12寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
機(jī)械手臂取放片
電動(dòng)、鍵入坐標(biāo)尋位置
量測(cè)尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
白熾燈或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量測(cè)分析
機(jī)臺(tái)尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
高頻測(cè)試探頭GSG / GS / SG
頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
機(jī)臺(tái)尺寸同LCD 探針臺(tái)
量測(cè)軟體:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太陽(yáng)光模擬器
主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)?(IC和MEMS)以及光電行業(yè)的測(cè)試。主要使用在電子,機(jī)電,化工,材料特性研究所,及光電系所,納米機(jī)械,航空電子等,其目的在于保證質(zhì)量及器件的可造性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
雙面探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)
雙面探針臺(tái) 從功能上來(lái)區(qū)分有:高溫探針臺(tái),低溫探針臺(tái),RF探針臺(tái),LCD平板探針臺(tái),霍爾效應(yīng)探針臺(tái),表面電阻率探針臺(tái)