EMI傳導噪聲分析儀參數(shù)

1. 最小化EMI調(diào)試周期

2.具有通過噪聲的來源和路徑對噪聲驚醒測量和分析的能力提供解決噪聲的方法

3.具有設計在于有效的EMI濾波器及其元件選擇的能力

4.通過使用最適合的元件對已經(jīng)完成的產(chǎn)品進行重新設計以便最優(yōu)化其性能指標

5.EMI調(diào)試與EMI元件的選擇:差模(X電容，差模線圈);共模(共模線圈，Y電容)

6.在生產(chǎn)線上分析電源西的噪聲，以便避免由噪聲引起的任何功能實效

CISPR17

EMI-NA2000

傳導噪聲分析儀主要是測量通過電源線傳導對外發(fā)出的電磁干擾進行分離和分析，并建立起一整套的EMI噪聲智能分析系統(tǒng)。傳導噪聲分析儀對于解決產(chǎn)品設計中的電磁兼容性問題，對于保護設備安全和縮短產(chǎn)品開發(fā)周期、增強產(chǎn)品競爭力和節(jié)省研發(fā)經(jīng)費及幫助企業(yè)通過3C認證方面具有重要意義。

輻射 EMI 干擾可以來自某個不定向發(fā)射源以及某個無意形成的天線。傳導性 EMI 干擾也可以來自某個輻射 EMI 干擾源，或者由一些電路板組件引起。一旦您的電路板接收到傳導性干擾，它便駐入應用電路的PCB線跡。常見的一些輻射 EMI 干擾源包括以前文章中談及的組件，以及PCB板上開關式電源、連接線和開關或者時鐘網(wǎng)絡。

傳導性 EMI 干擾是開關電路正常工作與寄生電容和電感共同作用產(chǎn)生的結(jié)果。圖 1 顯示了一些會進入到您的PCB線跡中的 EMI 干擾源情況。Vemi1 源自開關網(wǎng)絡，例如：時鐘信號或者數(shù)字信號線跡等。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電容。這些信號將電流尖脈沖帶入鄰近PCB線跡。同樣，Vemi2 源自開關網(wǎng)絡，或者來自PCB上的某個天線。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電感。該信號將電壓擾動帶入鄰近PCB線跡。每三個 EMI 源來自于線纜內(nèi)相鄰的導線。沿這些導線傳播的信號可產(chǎn)生串擾效應。

開關式電源產(chǎn)生 Vemi4。開關式電源產(chǎn)生的干擾駐存在電源線跡上，并以 Vemi4 信號的形式出現(xiàn)。

在正常運行期間，開關式電源 (SMPS) 電路為傳導性 EMI 的形成帶來機會。這些電源內(nèi)的“開”和“關”切換操作，會產(chǎn)生較強的非連續(xù)性電流。這些非連續(xù)性電流存在于降壓轉(zhuǎn)換器的輸入端、升壓轉(zhuǎn)換器的輸出端，以及反激和降升壓拓撲結(jié)構的輸入和輸出端。開關動作引起的非連續(xù)性電流會產(chǎn)生電壓紋波，其通過PCB線跡傳播至系統(tǒng)的其它部分。SMPS 引起的輸入和/或輸出電壓紋波，會危害負載電路的運行。圖 2 顯示了工作在 2 MHz 下的一個 DC/DC 降壓 SMPS 輸入的頻率組成例子。SMPS 傳導干擾的基本頻率組成范圍為 90 – 100 MHz。

輸入和輸出針腳使用10 ?F濾波器時的傳導性EMI測量。

共有兩類傳導性干擾：差模干擾和共模干擾。差模干擾信號出現(xiàn)在電路輸入端之間，例如：信號和接地等。電流流經(jīng)同相的兩個輸入端。但是，1號電流輸入大小與2號相等，但方向相反（差動參考）。這兩個輸入端的負載，形成一個隨電流強弱變化的電壓。線跡1和差分基準之間的這種電壓變化，在系統(tǒng)中形成干擾或者通信誤差。

在您向電路添加一個接地環(huán)路或者不良電流通路時，便出現(xiàn)共模干擾。如果存在某個干擾源，則線跡 1 和線跡 2 上形成共模電流和共模電壓，而接地環(huán)路充當一個共模干擾源。差模干擾和共模干擾都要求使用特殊的濾波器，來應對 EMI 干擾的不利影響。