中文名 | 暗電流 | 外文名 | Dark current |
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也????稱 | 無(wú)照電流 | 條????件 | 無(wú)光照 |
領(lǐng)????域 | 光電技術(shù)、傳感器測(cè)試技術(shù)、生物 | 不良影響 | 傳感器中產(chǎn)生噪聲干擾 |
dark cerrent 也稱無(wú)照電流
光電耦合器的輸出特性是指在一定的發(fā)光電流IF下,光敏管所加偏置電壓VCE與輸出電流IC之間的關(guān)系,當(dāng)IF=0時(shí),發(fā)光二極管不發(fā)光,此時(shí)的光敏晶體管集電極輸出電流稱為暗電流,一般很小。
暗電流(dark current), 也稱無(wú)照電流,指在沒(méi)有光照射的狀態(tài)下,在太陽(yáng)電池、光敏二極管、光導(dǎo)電元件、光電管等的受光元件中流動(dòng)的電流。 在光電技術(shù)、太陽(yáng)能、傳感器、生物物理學(xué)等領(lǐng)域都有相關(guān)定義。
相當(dāng)于待機(jī)電流,決定待機(jī)時(shí)間
暗電流是指P-N結(jié)在反偏壓條件下,沒(méi)有入射光時(shí)產(chǎn)生的反向直流電流.一般由于載流子的擴(kuò)散產(chǎn)生或者器件表面和內(nèi)部的缺陷以及有害的雜質(zhì)引起。擴(kuò)散產(chǎn)生的原理是在PN結(jié)內(nèi)部,N區(qū)電子多,P區(qū)空穴多,因?yàn)闈舛炔睿?..
光電器件加載額定電壓,但是不提供光照射,依然有微弱的電流通過(guò)器件,這個(gè)電流稱為暗電流。與三極管的穿透電流 Ice0 定義相同,就是沒(méi)有驅(qū)動(dòng)電流注入時(shí)的漏電流。把實(shí)測(cè)值與廠家提供的參數(shù)對(duì)照即可知道是否合...
生理學(xué)方面的暗電流,是指在無(wú)光照時(shí)視網(wǎng)膜視桿細(xì)胞的外段膜上有相當(dāng)數(shù)量的Na離子通道處于開(kāi)放狀態(tài),故Na離子進(jìn)入細(xì)胞內(nèi),而內(nèi)段上的Na泵又將Na離子泵出細(xì)胞外,從而形成一個(gè)從內(nèi)段流向外段的電流,稱為暗電流(dark current)。視桿細(xì)胞在靜息(非光照)狀態(tài)時(shí),由于胞質(zhì)內(nèi)CGMP濃度很高,所以感受器細(xì)胞外段膜上的鈉通道處于開(kāi)放狀態(tài),鈉離子流入胞內(nèi),形成從視桿細(xì)胞外段流向內(nèi)段的電流,稱為暗電流(dark current),這時(shí)感受器細(xì)胞處于去極化狀態(tài),其突觸終末釋放興奮性遞質(zhì)谷氨酸。
暗電流是指器件在反偏壓條件下,沒(méi)有入射光時(shí)產(chǎn)生的反向直流電流。(它包括晶體材料表面缺陷形成的泄漏電流和載流子熱擴(kuò)散形成的本征暗電流。)
暗電流起因于熱激勵(lì)產(chǎn)生的電子空穴對(duì),其中耗盡區(qū)內(nèi)產(chǎn)生的熱激勵(lì)是主要的,其次是耗盡區(qū)邊緣的少數(shù)電荷的熱擴(kuò)散,還有界面上產(chǎn)生的熱激勵(lì)。暗電流的產(chǎn)生需要一定的時(shí)間,勢(shì)阱存在時(shí)間越長(zhǎng),暗電流也越大。為了減小暗電流,應(yīng)盡量縮短信號(hào)電荷的存儲(chǔ)與轉(zhuǎn)移時(shí)間,暗電流限制了成象器件的靈敏度與動(dòng)態(tài)范圍。
暗電流的大小與溫度的關(guān)系極為密切,溫度每降低10℃,暗電流約減小一半。
所謂暗電流指的是光伏電池在無(wú)光照時(shí),由外電壓作用下P-N結(jié)內(nèi)流過(guò)的單向電流。
測(cè)量暗電流的意義在于表征太陽(yáng)能電池的整流效應(yīng)。好的太陽(yáng)能電池應(yīng)該有比較高的整流比,也就是正向暗電流比反向暗電流高越多越好。對(duì)于太陽(yáng)能電池而言,暗電流不僅僅包括反向飽和電流,還包括薄層漏電流和體漏電流。
反向飽和電流是指給肖特基勢(shì)壘加一反偏電壓時(shí),外加的電壓使它的耗盡層變寬,內(nèi)建電場(chǎng)變大,電子的電勢(shì)能增加,P區(qū)和N區(qū)的多數(shù)載流子(P區(qū)多為空穴,N區(qū)多為電子)就很難越過(guò)勢(shì)壘,因此擴(kuò)散電流趨近于零,但是由于結(jié)電場(chǎng)的增加,使得N區(qū)和P區(qū)中少數(shù)載流子更容易產(chǎn)生漂移運(yùn)動(dòng)。在這種情況下,肖特基勢(shì)壘內(nèi)的電流由起支配作用的漂移電流決定。漂移電流的方向與擴(kuò)散電流的方向相反,表現(xiàn)在外電路上有一個(gè)流入N區(qū)的反向電流,它是由少數(shù)載流子的漂移運(yùn)動(dòng)形成的。由于少數(shù)載流子是由本征激發(fā)而產(chǎn)生的,在溫度一定的情況下,熱激發(fā)產(chǎn)生的數(shù)量是一定的,電流趨于恒定。太陽(yáng)能電池片可以分為3層,即薄層(即N區(qū))、耗盡層(即肖特基)、體區(qū)(即P區(qū))。對(duì)電池片而言,始終是有一些有害的雜質(zhì)和缺陷的,有些是材料本身就有,也有的是在工藝中形成的,這些有害的雜質(zhì)和缺陷可以起到復(fù)合中心的作用,可以俘獲空穴和電子,使它們復(fù)合,復(fù)合過(guò)程始終伴隨著載流子的定向移動(dòng),必然會(huì)有微小的電流產(chǎn)生,這些電流對(duì)測(cè)試所得的暗電流的值是有貢獻(xiàn)的,由薄層貢獻(xiàn)的部分稱之為薄層漏電流,由體區(qū)貢獻(xiàn)的部分稱之為體漏電流。
測(cè)試漏電流主要有兩個(gè)目的。首先,防止擊穿。如果電池片做成組件時(shí),電池片的正負(fù)極被接反,或者組件被加上反偏電壓時(shí),由于電池片的暗電流過(guò)大,電流疊加后會(huì)迅速地將電池片擊穿,不過(guò)這樣的情況很少發(fā)生,所以測(cè)試暗電流在這方面作用不是很大。其次,監(jiān)控工藝。當(dāng)電池片工藝流程結(jié)束后,可以通過(guò)測(cè)試暗電流來(lái)觀察可能出現(xiàn)的工藝問(wèn)題。
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在紅外集成光電系統(tǒng)中,暗電流及其噪聲作為衡量探測(cè)器性能的關(guān)鍵指標(biāo),在工程上對(duì)其進(jìn)行實(shí)際測(cè)試具有重要的意義。從工程角度提出了紅外探測(cè)器暗電流的測(cè)試及分析方法。其主要思想是在紅外成像系統(tǒng)中,通過(guò)改變黑體溫度及積分時(shí)間,得到不同的擬和曲線,進(jìn)而通過(guò)本文提出的方法計(jì)算出探測(cè)器的暗電流。
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PMT參數(shù)優(yōu)劣對(duì)閃爍體探測(cè)器性能至關(guān)重要。依據(jù)PMT的工作原理,建立PMT單光電子響應(yīng)(SER)函數(shù),搭建實(shí)驗(yàn)裝置,完成PMT響應(yīng)實(shí)驗(yàn)測(cè)試,在常溫環(huán)境下測(cè)試了濱松CR194 PMT暗電流和單光電子信號(hào)。數(shù)字信號(hào)利用Roofit、Origin軟件進(jìn)行處理,得到暗電流和單光電子幅度值隨高壓變化的曲線圖。分析圖表,可得結(jié)論:在600~1 200 V之間,CR194 PMT暗電流響應(yīng)幅度值或SER幅度值隨工作電壓的增加而增加。電壓為1 000 V時(shí),PMT的穩(wěn)定性最好,1 000 V為實(shí)驗(yàn)的最佳工作電壓。
要金屬發(fā)射電子的條件是:入射光的頻率必須大于金屬的極限頻率。
當(dāng)有光電子發(fā)出后,光電流的強(qiáng)度跟入射光強(qiáng)度成正比。
光敏電阻的光電流:亮電流與暗電流之差。
暗電阻、暗電流:光敏電阻在室溫條件下,光照消失之后,經(jīng)過(guò)一段時(shí)間所測(cè)得電阻值稱為暗電阻。此時(shí)在給定的電壓下流過(guò)的電流就是暗電流。
亮電阻、亮電流:光敏電阻在某一光照下的阻值稱為亮電阻。此時(shí)流過(guò)的電流稱為亮電流。
半導(dǎo)體無(wú)光照時(shí)為暗態(tài),此時(shí)材料具有暗電導(dǎo);有光照時(shí)為亮態(tài),此時(shí)具有亮電導(dǎo)。如果給半導(dǎo)體材料外加電壓,通過(guò)的電流有暗電流與亮電流之分。亮電導(dǎo)與暗電導(dǎo)之差稱為光電導(dǎo),亮電流與暗電流之差稱為光電流。
暗態(tài)下
Gd=σd·A/L, Id=GdU=σd·AU/L
亮態(tài)下
Gl=σl·A/L, Il=GlU=σl·AU/L
亮態(tài)與暗態(tài)之差
Gp=Gl - Gd=(σl-σd)·A/L=Δσ·A/L
Ip=Il - Id=(Gl-Gd)·U=Δσ·AU/L
A:半導(dǎo)體材料橫截面面積
L:半導(dǎo)體材料長(zhǎng)度
I:電流
U:外加電壓
G:電導(dǎo)
σ:電導(dǎo)率
Δσ:光致電導(dǎo)率的變化量
下標(biāo)d代表暗,l代表亮,p代表光。
半導(dǎo)體無(wú)光照時(shí)為暗態(tài),此時(shí)材料具有暗電導(dǎo);有光照時(shí)為亮態(tài),此時(shí)具有亮電導(dǎo)。如果給半導(dǎo)體材料外加電壓,通過(guò)的電流有暗電流與亮電流之分。亮電導(dǎo)與暗電導(dǎo)之差稱為光電導(dǎo),亮電流與暗電流之差稱為光電流。
暗態(tài)下
Gd=σd·A/L, Id=GdU=σd·AU/L
亮態(tài)下
Gl=σl·A/L, Il=GlU=σl·AU/L
亮態(tài)與暗態(tài)之差
Gp=Gl - Gd=(σl-σd)·A/L=Δσ·A/L
Ip=Il - Id=(Gl-Gd)·U=Δσ·AU/L
A:半導(dǎo)體材料橫截面面積
L:半導(dǎo)體材料長(zhǎng)度
I:電流
U:外加電壓
G:電導(dǎo)
σ:電導(dǎo)率
Δσ:光致電導(dǎo)率的變化量
下標(biāo)d代表暗,l代表亮,p代表光。