表面粗糙度測量方法簡介
將表面粗糙度比較樣塊(簡稱樣塊,圖1)根據(jù)視覺和觸覺與被測表面比較,判斷被測表面粗糙度相當于那一數(shù)值,或測量其反射光強變化來評定表面粗糙度(見激光測長技術(shù))。樣塊是一套具有平面或圓柱表面的金屬塊,表面經(jīng)磨、車、鏜、銑、刨等切削加工,電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時可直接從工件中選出樣品經(jīng)過測量并評定合格后作為樣塊。利用樣塊根據(jù)視覺和觸覺評定表面粗糙度的方法雖然簡便,但會受到主觀因素影響,常不能得出正確的表面粗糙度數(shù)值。
利用針尖曲率半徑為 2微米左右的金剛石觸針沿被測表面緩慢滑行,金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)放大、濾波、計算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值,也可用記錄器記錄被測截面輪廓曲線。一般將僅能顯示表面粗糙度數(shù)值的測量工具稱為表面粗糙度測量儀(見彩圖),同時能記錄表面輪廓曲線的稱為表面粗糙度輪廓儀(簡稱輪廓儀,圖2。這兩種測量工具都有電子計算電路或電子計算機,它能自動計算出輪廓算術(shù)平均偏差Rα,微觀不平度十點高度RZ,輪廓最大高度Ry和其他多種評定參數(shù),測量效率高,適用于測量Rα為0.025~6.3微米的表面粗糙度。
光線通過狹縫后形成的光帶投射到被測表面上,以它與被測表面的交線所形成的輪廓曲線來測量表面粗糙度(圖3)。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、物鏡1后,以45°的傾斜角將狹縫投影到被測表面,形成被測表面的截面輪廓圖形,然后通過物鏡 2將此圖形放大后投射到分劃板上。利用測微目鏡和讀數(shù)鼓輪(圖中未示)先讀出h值,計算后得到H 值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為光切顯微鏡。它適用于測量RZ和Ry為0.8~100微米的表面粗糙度,需要人工取點,測量效率低。
利用光波干涉原理 (見平晶、激光測長技術(shù))將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來,并利用放大倍數(shù)高 (可達500倍)的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進行測量,以得出被測表面粗糙度。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為干涉顯微鏡。這種方法適用于測量Rz和Ry為 0.025~0.8微米的表面粗糙度。
在實際測量中,常會遇到深孔,盲孔.凹槽,內(nèi)螺紋等既不能使用儀器直接測量,也不能使用樣板比較的表面.這是常用印模法.印摸法是利用一些無流動性和彈性的塑性材料(如石蠟等)貼合在 被測表面上.將被測表面的輪廓復(fù)制成模.然后測量印模,從而來評定被測表面的粗糙度.
將表面粗糙度比較樣塊(簡稱樣塊)根據(jù)視覺和觸覺與被測表面比較,判斷被測表面粗糙度相當于那一數(shù)值,或測量其反射光強變化來評定表面粗糙度(見激光測長技術(shù))。樣塊是一套具有平面或圓柱表面的金屬塊,表面經(jīng)磨、車、鏜、銑、刨等切削加工,電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時可直接從工件中選出樣品經(jīng)過測量并評定合格后作為樣塊。利用樣塊根據(jù)視覺和觸覺評定表面粗糙度的方法雖然簡便,但會受到主觀因素影響,常不能得出正確的表面粗糙度數(shù)值。
利用針尖曲率半徑為 2微米左右的金剛石觸針沿被測表面緩慢滑行,金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)放大、濾波、計算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值,也可用記錄器記錄被測截面輪廓曲線...
壓電式表面粗糙度儀產(chǎn)品特點:1、可選擇4種測量參數(shù)Ra、Rz、Rt、Rq;2、采用雙屏設(shè)計,便于在測量時從頂部視窗讀數(shù);3、具有校準功能,操作簡單;4、采用ARM處理器進行數(shù)據(jù)處理和計算,速度快,功耗...
軸承表面粗糙度一般0.8um,1.6um,對應(yīng)的安裝孔也是這個值就可以安裝了
利用針尖曲率半徑為 2微米左右的金剛石觸針沿被測表面緩慢滑行,金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)放大、濾波、計算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值,也可用記錄器記錄被測截面輪廓曲線。一般將僅能顯示表面粗糙度數(shù)值的測量工具稱為表面粗糙度測量儀,同時能記錄表面輪廓曲線的稱為表面粗糙度輪廓儀(簡稱輪廓儀。這兩種測量工具都有電子計算電路或電子計算機,它能自動計算出輪廓算術(shù)平均偏差Rα,微觀不平度十點高度RZ,輪廓最大高度Ry和其他多種評定參數(shù),測量效率高,適用于測量Rα為0.025~6.3微米的表面粗糙度。
利用光波干涉原理 (見平晶、激光測長技術(shù))將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來,并利用放大倍數(shù)高 (可達500倍)的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進行測量,以得出被測表面粗糙度。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為干涉顯微鏡。這種方法適用于測量Rz和Ry為 0.025~0.8微米的表面粗糙度。
光線通過狹縫后形成的光帶投射到被測表面上,以它與被測表面的交線所形成的輪廓曲線來測量表面粗糙度(圖1)。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、物鏡1后,以45°的傾斜角將狹縫投影到被測表面,形成被測表面的截面輪廓圖形,然后通過物鏡 2將此圖形放大后投射到分劃板上。利用測微目鏡和讀數(shù)鼓輪(圖1中未示)先讀出h值,計算后得到H 值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為光切顯微鏡。它適用于測量RZ和Ry為0.8~100微米的表面粗糙度,需要人工取點,測量效率低。2100433B
01_表面粗糙度的標注方法
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頁數(shù): 7頁
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一、表面結(jié)構(gòu)的表示法 1.表面結(jié)構(gòu)的基本概念 (1)概述 為了保證零件的使用性能,在機械圖樣中需要對零件的表面結(jié)構(gòu) 給出要求。表面結(jié)構(gòu)就是由粗糙度輪廓、波紋度輪廓和原始輪廓構(gòu)成的零 件表面特征。 (2)表面結(jié)構(gòu)的評定 評定零件表面結(jié)構(gòu)的參數(shù)有輪廓參數(shù)、圖形參數(shù)和支承率曲線參 數(shù)。其中輪廓參數(shù)分為三種: R 輪廓參數(shù)(粗糙度參數(shù))、 W 輪廓參數(shù) (波紋度參數(shù))和 P輪廓參數(shù)(原始輪廓參數(shù))。機械圖樣中,常用表面 粗糙度參數(shù) Ra 和 Rz 作為評定表面結(jié)構(gòu)的參數(shù)。 ① 輪廓算術(shù)平均偏差 Ra 它是在取樣長度 lr 內(nèi),縱坐標 Z(x)( 被測輪 廓上的各點至基準線 x 的距離 )絕對值的算術(shù)平均值,如圖 1 所示??捎孟?式表示: ② 輪廓最大高度 Rz 它是在一個取樣長度內(nèi),最大輪廓峰高與最大輪 廓谷深之和,如圖 1 所示。 圖 1 Ra、 Rz 參數(shù)示意圖 國家標準 GB/T1031
傳統(tǒng)的表面粗糙度測量儀由傳感器、驅(qū)動器、指零表、記錄器和工作臺等主要部件組成,從輸入到輸出全過程均為模擬信號。而在傳統(tǒng)的表面粗糙度測量儀的基礎(chǔ)上,采用計算機系統(tǒng)對其進行改進后,通過 模- 數(shù)轉(zhuǎn)換將模擬量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量送入計算機進行處理,使得儀器在測量參數(shù)的數(shù)量、測量精度、測量方式 的靈活性、測量結(jié)果輸出的直觀性等方面有了極大的提高。
軟件的結(jié)構(gòu)如下:(1) 測量條件設(shè)置模塊:完成測量條件的設(shè)置,如垂直放大倍數(shù)的選取、取樣長度及行程長度的選取 等。(2) 測量控制模塊:該模塊實時監(jiān)測傳感器與工件的相對位置,控制傳感器橫向和縱向的運動。(3) 參數(shù)處理模塊:對采集的數(shù)據(jù)進行數(shù)字濾波(高斯濾波,2RCL 濾波等)求中線后進行參數(shù) 的計算。 (4) 結(jié)果顯示:將計算得到的粗糙度參數(shù)顯示出來,并繪制波形曲線。(5) 文件操作模塊:實現(xiàn)將數(shù)據(jù)寫入用戶指定的磁盤位置,以及將歷史數(shù)據(jù)調(diào)出并可重新進行數(shù) 據(jù)處理的功能。(6) 打印輸出模塊:可設(shè)置工件名稱、操作者姓名、日期,選擇需要打印的參數(shù)及波形名稱,即 可生產(chǎn)檢定報告單,并可以打印輸出 。
表面粗糙度的測量方法基本上可分為接觸式測量 和非接觸式測量兩類。在接觸式測量中主要有比較法、印模法、觸針法等;非接觸測量方式中常用的有光切法、實時全息法、散斑法、像散測定法、光外差法、 AFM、光學(xué)傳感器法等。
觸針式表面粗糙度測量儀是最常用、最方便、 最可靠的表面粗糙度測量儀,并且一直是各國國家標準及國際標準制定的依據(jù)。根據(jù)傳感器的不同原理,觸針式粗糙度儀可分為電感式、壓電式、光電式、 激光式和光柵式等,還可以分為有導(dǎo)頭式和無導(dǎo)頭式。導(dǎo)頭式粗糙度儀僅限用于測量表面粗糙度,而無導(dǎo)頭式粗糙度儀除可用于測量表面粗糙度外,還可用于 測量表面波紋度和表面幾何形狀。