第一章緒論
1.1模擬電路與芯片級集成系統(tǒng)
1.1.1 CMOS模擬電路緣起
mos管是金屬(metal)—氧化物(oxid)—半導(dǎo)體(semiconductor)場效應(yīng)晶體管,或者稱是金屬—絕緣體(insulator)—半導(dǎo)體。MOS管的source和drain是可以對調(diào)的,他們都是在P型backgate中形成的N型區(qū)。在多數(shù)情況下,這個兩個區(qū)是一樣的,即使兩端對調(diào)也不會影響器件的性能。這樣的器件被認(rèn)為是對稱的。
1.1.2 模擬電路在芯片級集成系統(tǒng)中的作用
1.1.3模擬集成電路與生物學(xué)
1.1.4芯片學(xué)的未來
1.2模擬集成電路設(shè)計旨要
1.2.1模擬電路設(shè)計的科學(xué)性與工匠性
1.2.2 電學(xué)設(shè)計
1.2.3物理設(shè)計
1.3有關(guān)問題說明
1.3.1 熱點問題與本書著重點
1.3.2 內(nèi)容安排
1.3.3字符、符號使用說明
第二章CMOS集成電路基本器件
2.1 CMOS集成電路物理結(jié)構(gòu)及制作過程
2.1.1 物理結(jié)構(gòu)和基本制作過程
2.1.2 制造工藝分類
2.2 PN結(jié)二極管
二極管又稱晶體二極管,簡稱二極管(diode),另外,還有早期的真空電子二極管;它是一種具有單向傳導(dǎo)電流的電子器件。在半導(dǎo)體二極管內(nèi)部有一個PN結(jié)兩個引線端子,這種電子器件按照外加電壓的方向,具備單向電流的轉(zhuǎn)導(dǎo)性。一般來講,晶體二極管是一個由p型半導(dǎo)體和n型半導(dǎo)體燒結(jié)形成的p-n結(jié)界面。在其界面的兩側(cè)形成空間電荷層,構(gòu)成自建電場。當(dāng)外加電壓等于零時,由于p-n 結(jié)兩邊載流子的濃度差引起擴(kuò)散電流和由自建電場引起的漂移電流相等而處于電平衡狀態(tài),這也是常態(tài)下的二極管特性。
2.2.1基本電流電壓特性
2.2.2 擊穿特性
2.2.3 PN結(jié)二極管電容
2.2.4 PN結(jié)二極管噪聲
2.2.5 PN結(jié)二極管溫度特性
2.3 MOS晶體管電流一電壓特性
2.3.1 MOS晶體管基本結(jié)構(gòu)和工作原理
2.3.2 MOS晶體管特性的數(shù)學(xué)描述
2.3.3 溝道強反型模型
2.3.4 溝道弱反型模型
2.3.5 深亞微米MOS管特性
……
第三章 基本單元電路
第四章 運算放大器
第五章 連續(xù)時間濾波器
第六章 天關(guān)電容電路
第七章 過采樣數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器
本書主要參考書目
本書較系統(tǒng)、詳細(xì)地講解了CMOS模擬集成電路的有關(guān)基本概念、原理及設(shè)計方法。全書內(nèi)容共七章,主要介紹CMOS電路的基本問題。具體包括:基本器件,基本模塊電路,放大器,連續(xù)時間濾波器,開關(guān)電容電路,過采樣數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器。本書可作為高等院校相關(guān)專業(yè)師生的教學(xué)用書,也可供相關(guān)科研、設(shè)計人員參閱。
這書有的是。
模擬集成電路與數(shù)字集成電路設(shè)計差別很大,主要為以下方面:1 用到的背景知識不同,數(shù)字目前主要是CMOS邏輯設(shè)計,模擬的則偏向于實現(xiàn)某個功能的器件。2 設(shè)計流程不同,數(shù)字集成電路設(shè)計輸入為RTL,模擬設(shè)...
還是買正常版的吧,教材一般都買正常版的,亞馬遜買買也差不了多少錢
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評分: 4.4
電路集成度的迅速增加使電路的測試越來越困難且代價昂貴,對此一種有效方法是對電路進(jìn)行可測性設(shè)計。本文結(jié)合該方面的發(fā)展?fàn)顩r,對大規(guī)模集成電路的可測性、邊界掃描測試、數(shù)?;旌想娐放c專用集成電路的邊界掃描測試、系統(tǒng)芯片的可測性設(shè)計等進(jìn)行了討論。
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評分: 4.3
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期待多年之后,備受尊敬的兩位作者Phillip E. Allen和Douglas R.Holberg又為讀者奉上了經(jīng)典教材《CMOS模擬集成電路設(shè)》的第二版。作者從CMOS技術(shù)的前沿出發(fā),將他們豐富的實踐經(jīng)驗與教學(xué)經(jīng)驗相結(jié)合,對CMOS模似電路設(shè)計的原理和技術(shù)給出了深入和詳盡的論述,本書有兩個主要目標(biāo):
將理論和實踐完美結(jié)事,在內(nèi)容處理上既不膚淺也不拘泥于細(xì)節(jié);
使讀者能夠應(yīng)用層次化設(shè)計的方法進(jìn)行模擬集成電路設(shè)計;
第二版中講到的多數(shù)技術(shù)和原理在過去的十年中已經(jīng)介紹給了工業(yè)界的讀者,他們提出的問題和需求對本書的修訂起了很大的作用,從而使新版教材成為更有價值的工程技術(shù)人員的參考書。
本書的特點是獨特的設(shè)計方法,該方法可使讀者一步一步地經(jīng)歷創(chuàng)建實際電路的過程,并能夠分析復(fù)雜的設(shè)計問題。本書詳細(xì)計論了容易被忽略的問題,同時有意識地談化了雙極型模擬電路,因為CMOS是模擬集成電路設(shè)計的主流工藝。本書適用于具有一定基礎(chǔ)電子學(xué)背景知識的高年級本科生和研究生,這些知識主要包括:偏置、建模、電路分析和頻率響應(yīng)。本書提供了一個完整的設(shè)計流程圖,使讀者能夠用CMOS技術(shù)完成模擬電路設(shè)計。
本書分析了CMOS模擬集成電路設(shè)計理論與技術(shù),全書由18章組成。從CMOS集成電路的工藝著手,介紹了CMOS模擬集成電路的基礎(chǔ),即MOS器件物理以及高階效應(yīng),然后分別介紹了模擬集成電路中的各種電路模塊:基本放大器、恒流源電路、差分放大器、運算放大器、基準(zhǔn)電壓源、開關(guān)電容電路、集成電壓比較器、數(shù)/模轉(zhuǎn)換與模/數(shù)轉(zhuǎn)換以及振蕩器與鎖相環(huán)等。另外,在第6章、第7章與第10章中還特別介紹了CMOS模擬集成電路的頻率響應(yīng)、穩(wěn)定性、運算放大器的頻率補償及其反饋電路特性,在第8章與第12章中還分析了噪聲與非線性。
本書作為CMOS模擬集成電路的教材,可供本科生高年級與研究生使用,也可供從事相關(guān)專業(yè)的技術(shù)人員參考。