電容災(zāi)難簡介

電容災(zāi)難，俗稱電容爆漿，是指在一些電子產(chǎn)品使用壽命提早結(jié)束的電容器所產(chǎn)生電器損毀的現(xiàn)象，通常較會發(fā)生在主板、顯卡、日光燈穩(wěn)定器與個人電腦的電源供應(yīng)器。第一個有瑕疵的電容器發(fā)現(xiàn)于1999年，但此種電容器最常制造于2000年中，而當多數(shù)制造商得知此消息(通常使用產(chǎn)品一年多后會出現(xiàn)問題)進而修正缺失，但有些瑕疵電容還是在2007年初被使用。 由于瑕疵電容內(nèi)錯誤的電解液成分會產(chǎn)生氫氣，進而導(dǎo)致電容器膨脹變形，而且最終會使電解液釋出。而有少部份的案例出現(xiàn)瑕疵電容會出現(xiàn)爆炸的狀況發(fā)生。

最早發(fā)現(xiàn)在主板的瑕疵電容可追溯至Socket 7主板，而且影響時間所及最近制造出來的主板。主板廠商制造含瑕疵電容板的電容是來自于其他制造廠。這也不單單只出現(xiàn)在PC零組件上，第一代的iMac G5與部份eMac也受影響。

電容器已損壞的電源供應(yīng)器當電容災(zāi)難大范圍地影響桌上型電腦硬件時，此狀況并沒只限于該領(lǐng)域。在部份相機、網(wǎng)絡(luò)交換器、音響配件、DVD播放機等也都發(fā)現(xiàn)瑕疵電容。甚至有些汽車的ECU也發(fā)現(xiàn)使用這些電容。不過，電腦零件是最常發(fā)現(xiàn)這些電容的蹤跡。

這些使用了瑕疵電容的組件還是使很多人發(fā)怒，特別像是主板主要配置的高品質(zhì)電容中有一兩顆瑕疵電容，導(dǎo)致指控部份主板廠商此舉為"有計劃的損毀"。有個例子是這些瑕疵電容(通常會在半年內(nèi)損毀)還是制造出來，且還是被制造廠選用進去。

在2005年5月，有些跡象顯示出在iMac、英特爾、戴爾主板內(nèi)有瑕疵的Nichicon電容是由于其他問題(填充過量電解液的電容)而導(dǎo)致，而并不是因為錯誤的電解液成分所造成。然而，正常的電容在系統(tǒng)的作用效果與自身的物理性質(zhì)與瑕疵電容是一樣的，不過還是要辨識出來，而且要修復(fù)它。(只有Nichicon HM與HN系列電容受影響)

無論多細微的頂端膨脹，意味著該電容失效。檢驗電容最常用的方法就是用眼觀察。瑕疵電容會表現(xiàn)以下幾種征兆:

電容頂端凸起。(只會在頂端有T字、Y字、十字壓力線表現(xiàn)。而壓力線的設(shè)計是為了使爆炸的壓力轉(zhuǎn)為凸起裂開)

戴爾Optiplex GX270s系列個人電腦在重啟時經(jīng)常出現(xiàn)"Thermal Event"訊息。

底端橡膠塞突出，因而導(dǎo)致電容底座彎曲

電容內(nèi)的電解液(棕色黏性物質(zhì))漏出到主板上。

電容頂端變形，看得到棕色物質(zhì)，或是變形端有看得到的洞。

有瑕疵的 Choyo 電容內(nèi)的電解液漏出主板上。當電容使用時間變久，電容量會逐漸降低而ESR(等效串聯(lián)電阻值)會逐漸增加。這種情形發(fā)生后，電容就無法充分的提供內(nèi)部的直流電至主板，造成系統(tǒng)不穩(wěn)。而系統(tǒng)部份共同的征兆如下:

有時候無法開機，必須按"重啟"按鈕或者重新啟動

不穩(wěn)的系統(tǒng)(經(jīng)常當機、BSOD、內(nèi)核錯誤(kernel panics)等)，特別是該征兆發(fā)生頻率隨時間增長。

CPU核心電壓或其他系統(tǒng)電壓嚴重波動或超出范圍，可能連帶提升CPU溫度。

內(nèi)存錯誤，而發(fā)生頻率隨時間增長。

非人為自動重啟。

在主板內(nèi)建顯示，部份顯示模式出現(xiàn)不穩(wěn)畫面。

無法完成POST，或剛完成即重啟。

Never starting the POST fans spin but the system appears dead

瑕疵的 Tayeh 電容在頂端的鋁殼有變形現(xiàn)象。不像物理特征是顯而易見的，很多系統(tǒng)狀態(tài)可能會由于其他因素造成，像是使用壞的電源供應(yīng)器、灰塵妨礙風(fēng)扇運作、損壞的內(nèi)存等其他硬件問題。通常不穩(wěn)定的狀況是當操作系統(tǒng)運作中，可能遇到的軟件問題(像是部份的惡意軟件、糟糕的驅(qū)動程式或軟件)，而且不是起因于硬件問題。如果這些征狀發(fā)生，將主機殼開啟，檢查電容，特別注意CPU周圍的電容，可立即檢查電容狀態(tài)。如果沒有物理現(xiàn)象，示波器能夠檢驗電容的電壓，如果出現(xiàn)極端的電壓波折表示著這顆電容并沒有正常運作。

制造瑕疵電容根本的原因是產(chǎn)業(yè)間諜的情報錯誤。部份臺灣電解液廠竊取未完成的電解液成分，而且缺乏制造穩(wěn)定電容所需成分。(非腐蝕性成分由于工業(yè)沖擊并未公開)，當瑕疵電容充電的時候，水性的電解液將會變的不穩(wěn)定，進而產(chǎn)生氫氣。由于這些電容是用鋁殼將它封存，這些壓力使得電容頂端開始變形，或封閉接頭的橡膠被擠下來。直到當壓力超過金屬殼的伸展性以后，將會從橡膠底爆出來，或是從電容頂端爆出來。當一個電解電容器爆裂的時候，會出現(xiàn)爆炸聲與一個嘶嘶聲雜音，甚至是小爆炸。這個現(xiàn)象通常會使內(nèi)部變得雜亂，而為了避免酸性的電解液進一步的侵蝕主板，一定要清除干凈。

電容檢驗失效的電容器一般都會造成像上述的系統(tǒng)不穩(wěn)定的狀況，有時候，失效的電容器將在主板上導(dǎo)致電壓調(diào)節(jié)器失效。主要有二個理論可以解釋為何發(fā)生此狀況。

第一種較易懂的情況是這類失效的電容會有非常高的漏電流，過高負載的電壓調(diào)節(jié)器會造成過熱而失效。 第二種情況是當電容值減少且ESR值增加，電壓調(diào)整器內(nèi)的降壓調(diào)節(jié)器為了補償負載而增加交換頻率。因為 MOSFET 在交換過渡期間會產(chǎn)生熱量，頻率增加而導(dǎo)致過熱而失效。

從電腦電源供應(yīng)器取出的電容，發(fā)現(xiàn)測試數(shù)值是異常的低。一顆失效的電容標示著 2200 µF，但是可能只能儲存 75 µF 的電量。長時間的使用，50%的衰退是可以被預(yù)期的，但是不可能衰退到只剩 5%。降壓交換調(diào)節(jié)器卻會被如此低的電量使得穩(wěn)定性大打折扣，而且調(diào)節(jié)器的電壓波動可能會大于連結(jié)至IC的建議最大波動值。

最普遍的情況是，當電壓調(diào)節(jié)器壞掉時將會從電源供應(yīng)直接傳導(dǎo)至裝置，導(dǎo)致從電源供應(yīng)器輸出的12V或5V電源直接輸入至CPU、北橋、內(nèi)存及其他組件，而這些組件將燒毀。當主板發(fā)現(xiàn)使用有瑕疵的電容器就應(yīng)該被拿出處理，直到修理完畢，避免進一步的損害。