《封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測試方法(GB/T 16526-1996)》于1997年5月第一版、第一次印刷。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用半導(dǎo)體設(shè)備與材料國際組織(SEMI)的國際標(biāo)準(zhǔn)SEMIG24-89《測量封裝引線的引線間電容和負(fù)載電容》。由中華人民共和國電子工業(yè)部提出、全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會歸口。并由中華人民共和國國家技術(shù)監(jiān)督局于1996年9月發(fā)布,并于1997年5月實(shí)施。
外文名稱 | Test Method Measuring the Lead-to-Lead and Loading Capacitance of Package Leads | 書名 | 封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測試方法 |
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作者 | 國家技術(shù)監(jiān)督局 | 出版日期 | 1997年5月1日 |
語種 | 簡體中文 | ISBN | 155066113683 |
出版社 | 中國標(biāo)準(zhǔn)出版社 | 頁數(shù) | 2頁 |
開本 | 16 | 品牌 | 北京勁松建達(dá)科技圖書有限公司 |
《封裝引線間電容和引線負(fù)載電容測試方法(GB/T 16526-1996)》由中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版。
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分析了傳統(tǒng)的通信電纜線對電容不平衡測試方法的不足,提出簡便和新穎的多線對電容耦合測試方法,并給予了證明。同時(shí)介紹了線對電容不平衡測試方法的實(shí)現(xiàn)過程。
在用電容抑制電磁打擾時(shí),最簡單忽視的疑問即是電容引線對濾波作用的影響。電容器的容抗與頻率成反比,正是使用這一特性,將電容并聯(lián)在信號線與地線之間起到對高頻噪聲的旁路作用。但是,在實(shí)踐工程中,很多人發(fā)現(xiàn)這種辦法并不能起到預(yù)期濾除噪聲的作用,面對頑固的電磁噪聲束手無策。出現(xiàn)這種狀況的一個(gè)原因是疏忽了電容引線對旁路作用的影響。
理想電容的阻抗是跟著頻率的升高降低,在頻率較低的時(shí)分,出現(xiàn)電容特性,即阻抗隨頻率的添加而下降,在某一點(diǎn)發(fā)作諧振,在這點(diǎn)電容的阻抗等于等效串聯(lián)電阻ESR。在諧振點(diǎn)以上,因?yàn)镋SL的作用,電容阻抗跟著頻率的增加而增加,這是電容出現(xiàn)電感的阻抗特性。在諧振點(diǎn)以上,因?yàn)殡娙莸淖杩乖黾?,因而對高頻噪聲的旁路作用削弱,甚至不見。
電容的諧振頻率由ESL和C一起決議,電容值或電感值越大,則諧振頻率越低,也即是電容的高頻濾波作用越差。ESL除了與電容器的品種有關(guān)外,電容的引線長度是一個(gè)十分重要的參數(shù),引線越長,則電感越大,電容的諧振頻率越低。因而在實(shí)踐工程中,要使電容器的引線盡量短,電容器的準(zhǔn)確裝置辦法和不準(zhǔn)確裝置辦法。
2003年7月2日,《封裝引線電阻測試方法》發(fā)布。
2003年10月1日,《封裝引線電阻測試方法》實(shí)施。
從表面組裝元器件封裝體向外伸出并向下伸展,然后向內(nèi)彎曲形似英文字母 "J"的引線。