書????名 | 澆注式巖改瀝青混凝土的組配與微觀結(jié)構(gòu)分析 | 作????者 | 王彥敏 |
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出版社 | 山東大學(xué)出版社 | 出版時(shí)間 | 2021年 |
頁????數(shù) | 151 頁 |
內(nèi)容簡介
本書依托于交通部主要學(xué)科應(yīng)用基礎(chǔ)研究項(xiàng)目(高性能澆筑式巖改瀝青混凝土的組配與機(jī)理研究)的研究成果,針對(duì)鋼橋面鋪裝技術(shù),提出一種高性能澆注式巖改瀝青混凝土新材料;主要對(duì)高稠度復(fù)合巖改瀝青結(jié)合料進(jìn)行設(shè)計(jì)與研發(fā),并進(jìn)一步探索研究澆注式瀝青混凝土的組配設(shè)計(jì)和性能、巖改瀝青與瀝青膠漿微觀改性機(jī)理等,為其相關(guān)施工技術(shù)規(guī)范提供理論依據(jù)。
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頁數(shù): 3頁
評(píng)分: 4.8
參照俄羅斯的相關(guān)技術(shù)規(guī)范,為綜合平衡瀝青的高溫與低溫性能進(jìn)行試驗(yàn)研究。通過不同瀝青種類的比選,并結(jié)合瀝青混合料低溫抗裂性能的試驗(yàn)驗(yàn)證,提出了寒冷地區(qū)澆注式瀝青混凝土宜采用聚合物改性瀝青或摻加降粘劑的改性瀝青作為結(jié)合料。
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頁數(shù): 5頁
評(píng)分: 4.4
針對(duì)澆注式瀝青混凝土級(jí)配的設(shè)計(jì)問題,提出了兩階段設(shè)計(jì)方法.根據(jù)該方法設(shè)計(jì)了新的澆注式瀝青混凝土級(jí)配,采用該級(jí)配制作的澆注式瀝青混凝土,流動(dòng)性能夠滿足施工要求,空隙率小于1%.對(duì)試件進(jìn)行車轍試驗(yàn)、小梁彎曲試驗(yàn)、水穩(wěn)定性試驗(yàn)和疲勞試驗(yàn),結(jié)果表明根據(jù)兩階段設(shè)計(jì)方法設(shè)計(jì)的級(jí)配制作的澆注式瀝青混凝土試件與傳統(tǒng)級(jí)配澆注式瀝青混凝土試件相比大大提高了高溫穩(wěn)定性,同時(shí)具有良好的低溫抗裂性能、水穩(wěn)定性和抗疲勞性能.因此,該設(shè)計(jì)方法是較好的澆注式瀝青混凝土級(jí)配設(shè)計(jì)方法.
分析介紹
對(duì)材料的微觀形貌、物相組成,相變,微區(qū)、相界面、表面化學(xué)成分分布,結(jié)晶偏析,晶體、玻璃體結(jié)構(gòu),分子結(jié)構(gòu),元素在材料中的化學(xué)狀態(tài)(價(jià)態(tài)、配位數(shù))、空間分布,電子能態(tài)及離子周圍的化學(xué)環(huán)境和鍵合情況等等的觀測、分析。各種建筑材料具有不同的微觀結(jié)構(gòu),從而決定了他們的物理、化學(xué)及機(jī)械性能。建筑材料微觀結(jié)構(gòu)分析的方法有以下各種(見表)。
主要用電子光學(xué)顯微鏡觀察。
電子顯微術(shù) 也稱電子顯微鏡(簡稱電鏡)分析方法,是一種應(yīng)用電鏡對(duì)物體的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀測的技術(shù),所采用的電鏡主要有以下幾種:
① 電子顯微鏡。一種以高速運(yùn)動(dòng)的電子束作為“光源”或激發(fā)源,對(duì)物體的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行放大分析觀測的電子光學(xué)儀器,可分為透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡 (STEM)、反射電鏡(REM)、點(diǎn)投影電鏡(PPEM)及場發(fā)射電鏡(FEEM)等,其中以透射電鏡和掃描電鏡應(yīng)用為最廣泛。近十幾年來,還發(fā)展了分析透射電鏡、 分析掃描電鏡以及附有俄歇電子能譜儀(AES)、掃描俄歇電鏡(SAM)、X射線光電子譜 (XPS)及紫外光電子譜(UPS)等功能的表面微觀分析電鏡,廣泛用于材料的微區(qū)形貌、化學(xué)組成、化學(xué)價(jià)態(tài)和電子能態(tài)的研究。
② 透射電鏡。由電子槍發(fā)射的高速電子束透過試樣,經(jīng)電磁透鏡成像放大,在終端熒光屏、電視熒光屏或電子攝影底片上獲得試樣的顯微圖像。
透射電鏡的電子放大率可從數(shù)百倍連續(xù)改變到 100萬倍以上,其點(diǎn)分辨率已近1埃,晶格分辨率可達(dá)1埃以內(nèi),能直接觀察到一些特殊樣品中單個(gè)重原子和薄晶體中的原子排列圖像。
一般透射電鏡的電子槍加速電壓為50~150千伏。超高壓電鏡的加速電壓可達(dá)500千伏至3兆伏,其電子束穿透力強(qiáng),對(duì)試樣輻照損失小,可配備環(huán)境試樣室,用以直接觀察材料在自然環(huán)境中的化學(xué)反應(yīng)及相變過程。
透射電鏡已向多功能方向發(fā)展,兼有透射掃描、選區(qū)電子衍射、高分辨率電子衍射、 X射線能量色散譜儀、電子能量損失譜儀等功能,可在觀察試樣微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行微區(qū)化學(xué)成分、物相、晶體結(jié)構(gòu)、元素化學(xué)價(jià)態(tài)、電子能態(tài)的綜合分析。
③ 掃描電鏡。 由電子束在試樣表面逐行逐點(diǎn)掃描,與試樣相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線、吸收電子和透射電子等信息,由探測器接收并放大后在電視熒光屏上獲得試樣表面顯微結(jié)構(gòu)圖像。通過接收不同的被激發(fā)出的信息,可分別獲得試樣的二次電子圖像、背散射電子圖像和吸收電子圖像等。
掃描電鏡的二次電子圖像分辨率已達(dá)30埃左右,電子放大率可以從20倍連續(xù)改變到30萬倍以上。配備X射線晶體譜儀(wdx)及X射線能量色散譜儀(EDX)附件后,可在試件中0.5×0.5微米、深度約1微米區(qū)域內(nèi),只用1~2分鐘同時(shí)對(duì)多個(gè)化學(xué)元素作定量分析。從Be到U 均可分析,靈敏度達(dá)10%,并可作元素微區(qū)線、面掃描分析,確定試樣中元素的分布狀況。配備二次離子質(zhì)譜儀(SIMS)附件,可分析試樣微區(qū)范圍內(nèi)各種元素。配備高溫、低溫、拉伸、彎曲、疲勞及壓痕等試驗(yàn)裝置后,可觀察試樣在不同溫度和受力狀態(tài)下的微觀結(jié)構(gòu)變化,為材料的強(qiáng)度與斷裂理論研究和應(yīng)用研究提供大量新的信息。儀器采用1.33×(10~10)帕超高真空技術(shù),減少試樣的污染,配備微型電子計(jì)算機(jī)控制操作及處理數(shù)據(jù),提高了儀器的自動(dòng)化程度和圖像質(zhì)量。配備電影攝影機(jī)或電視錄像機(jī),可連續(xù)記錄試樣微觀結(jié)構(gòu)的變化情況。
掃描俄歇電子顯微術(shù)(SAM) 由掃描電鏡分析技術(shù)和俄歇電子能譜分析技術(shù)結(jié)合而成的微觀結(jié)構(gòu)分析技術(shù)。俄歇電子的能量和試樣表面激發(fā)原子的原子序數(shù)及化學(xué)價(jià)態(tài)等有關(guān)。當(dāng)直徑為幾十至幾百埃的電子束在試樣表面掃描時(shí),通過筒鏡型能量分析器接收從試樣原子發(fā)射出來的俄歇電子,可得到試樣表面形貌及表面結(jié)構(gòu)圖像。新型掃描俄歇電子顯微鏡,可觀察試樣表面深度為10埃以內(nèi)的元素分布圖像,分辨率達(dá)500埃。適用于除氫、氮以外的各種元素,用于原子序數(shù)為3~10的輕元素。在鋼鐵、有色金屬、玻璃、陶瓷等材料的表面物理、表面化學(xué)研究工作中得到應(yīng)用。
光學(xué)顯微術(shù) 應(yīng)用光學(xué)顯微鏡觀測材料微觀形貌、物相的技術(shù)。新型光學(xué)顯微鏡由光源系統(tǒng)、載物臺(tái)、物鏡系統(tǒng)、目鏡或投影屏幕及攝影系統(tǒng)等組成。通過變換物鏡和目鏡可使儀器放大率由幾十倍調(diào)到2000倍,點(diǎn)分辨率可達(dá)0.3微米左右。
按光線和試樣的作用方式,光學(xué)顯微鏡可分為透射式和反射式兩種。透射式顯微鏡常用于觀察粉狀材料顆粒形狀、尺寸及透明材料的缺陷,如玻璃中的結(jié)石、析晶等。反射式顯微鏡常用于不透明固體材料,如金屬、陶瓷、水泥石等的物相定性、定量分析及微觀形貌、缺陷觀察。帶起偏鏡、檢偏鏡的偏光顯微鏡,常用于建筑材料中透明礦物的物相定性、定量分析。配有攝影機(jī)或錄像機(jī)的光學(xué)顯微鏡能連續(xù)記錄試樣微觀結(jié)構(gòu)的變化情況。配有高、低溫裝置(2200~80開)及拉伸、壓縮裝置的光學(xué)顯微鏡,可觀察試樣在不同溫度和不同受力狀態(tài)下微觀結(jié)構(gòu)的變化情況。
由光學(xué)顯微鏡與掃描技術(shù)及電子計(jì)算機(jī)技術(shù)結(jié)合而成的圖像分析儀,利用試樣各相透光、返光性能的差別(即成像灰度)可進(jìn)行物相定量分析及粒度分析等。
對(duì)構(gòu)成材料的各種物相的種類和含量進(jìn)行分析測定的技術(shù)。
巖相分析法 利用材料中各相光學(xué)性質(zhì)(折射率、透光率、顏色、晶軸對(duì)稱性、消光角度等)及形狀的特點(diǎn),通過光學(xué)顯微鏡觀察,確定各相種類、數(shù)量、尺寸及分布狀態(tài)的技術(shù)。按試樣處理方式可分為粉末油浸法、拋光薄片法、光薄片法、顯微化學(xué)法等。試樣中礦物的定量分析方法常使用直線法、計(jì)點(diǎn)法、面積法和目測法等。發(fā)展起來的超薄光薄片法,是將試樣磨拋成幾個(gè)微米厚的光薄片,提高了試樣顯微圖像的質(zhì)量和分析的準(zhǔn)確度。巖相分析法在水泥、玻璃、陶瓷等硅酸鹽材料的原料和制品物相組成的分析研究中得到廣泛應(yīng)用。
X射線物相分析法 利用單色X射線和多晶體物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的特征衍射譜進(jìn)行試樣物相定性、定量分析的方法。當(dāng)單色X射線照射到多晶體物質(zhì)上,其特征衍射譜與組成晶體的元素、晶胞內(nèi)各原子的排列及各種晶體的含量有關(guān)。通過測量特征衍射譜的分布位置和強(qiáng)度,可定性或定量分析試樣中晶體的種類和含量。常用于分析水泥、玻璃、陶瓷原料及制品,金屬材料、礦石原料的物相組成及研究水泥水化、陶瓷燒結(jié)、玻璃晶化、金屬熱處理等過程的結(jié)晶相變規(guī)律。
儀器主要由X射線管、旋轉(zhuǎn)試樣臺(tái)、衍射譜探測系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。 常用X射線管的陽極(也稱靶)有旋轉(zhuǎn)式和固定式兩種,系由銅、鈷、鎢、鉬、鐵等制成,能發(fā)出不同波長的特征X射線,用于分析不同的晶體。衍射譜探測系統(tǒng)有照相式和測角計(jì)式等。 新型X射線衍射儀附有高、低溫試樣臺(tái)或帶有高、低溫照相機(jī),能研究1800~80開溫度下試樣的結(jié)晶相變規(guī)律。配備電子計(jì)算機(jī)自動(dòng)檢索系統(tǒng)的儀器,能快速準(zhǔn)確分析試樣中各種晶體的種類及含量。細(xì)聚焦X射線結(jié)構(gòu)分析儀的X射線束,直徑細(xì)達(dá)15~20微米,可用于分析試樣微小區(qū)域中的結(jié)晶物相,如玻璃中的微小結(jié)石和陶瓷晶粒間界微小相。
電子衍射分析法 利用電子射束照射晶體試樣產(chǎn)生衍射現(xiàn)象,通過探測衍射譜的分布位置和強(qiáng)度,對(duì)試樣的原子排列、晶相、微觀缺陷等進(jìn)行分析的技術(shù),分為低能電子衍射和高能電子衍射。前者常用于試樣表層幾十埃厚度范圍的結(jié)構(gòu)分析,后者常用于多晶、單晶薄膜的結(jié)構(gòu)分析和粉末試樣的物相分析。與電鏡結(jié)合的選區(qū)電子衍射,可分析尺寸為1微米以下單晶體的結(jié)構(gòu)。
中子衍射分析法 利用中子和構(gòu)成晶體的元素的原子核相互作用產(chǎn)生衍射現(xiàn)象,通過探測衍射譜的分布位置和強(qiáng)度,對(duì)試樣中晶體物相及其結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析的技術(shù)。適用于研究輕元素晶體特別是含氫晶體的結(jié)構(gòu),確定其中氫原子位置。
X射線晶體結(jié)構(gòu)分析法是利用X射線與晶體相互作用產(chǎn)生衍射現(xiàn)象,探測衍射譜的分布位置和強(qiáng)度,進(jìn)行晶體微觀結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。主要有用于測定晶體結(jié)構(gòu)、點(diǎn)陣常數(shù)、晶粒大小,研究晶體內(nèi)應(yīng)力和點(diǎn)陣畸變的多晶體分析方法。
主要有以下幾種:
俄歇電子能譜法(AES) 可根據(jù)測量試樣受激后發(fā)射出來的俄歇電子的固有能譜,對(duì)試樣表面原子的價(jià)態(tài)、結(jié)合狀態(tài)進(jìn)行研究,并通過測量因化學(xué)結(jié)合狀態(tài),即價(jià)電子變化引起原子內(nèi)殼層能級(jí)變化而出現(xiàn)的俄歇電子能譜的能量和峰的形狀發(fā)生的化學(xué)位移(也稱化學(xué)效應(yīng)),進(jìn)行表面原子的狀態(tài)分析。
電子探針法(EPMA) 當(dāng)直徑約為0.1~1微米的電子束轟擊試樣表面時(shí),原子受激而產(chǎn)生特征X射線譜。通過探測X射線譜的精細(xì)結(jié)構(gòu),如譜的波長、形狀、相對(duì)強(qiáng)度比的變化及產(chǎn)生的體線等,從而確定試樣中元素的化學(xué)狀態(tài)和結(jié)構(gòu)狀態(tài)。
光電子能譜法 用一定能量的 X射線或光激發(fā)固體表面或氣體分子,通過探測激發(fā)出的光電子的能量,確定試樣表層原子的種類、內(nèi)部電子的各種能級(jí),獲得電子束縛能、原子的結(jié)合狀態(tài)和電荷分布等電子狀態(tài)的信息。試樣的分析深度一般為5~20埃。
以特征X射線為激發(fā)源的X射線光電子能譜法 (XPS)也稱化學(xué)分析電子能譜法(ESCA),可通過測定內(nèi)殼層電子能級(jí)譜的化學(xué)位移,確定原子結(jié)合狀態(tài)和電子分布狀態(tài)。能分析試樣表面氫以外元素的化學(xué)組成及價(jià)態(tài),研究所有電子能級(jí)的能量。
以真空紫外線為激發(fā)源的紫外光電子能譜法 (UPS),能研究試樣表面價(jià)電子能帶的精細(xì)結(jié)構(gòu)及其隨反應(yīng)、配位和吸附而產(chǎn)生的變化。
包括以下幾種:
核磁共振波譜法 利用在磁場作用下定向排列的磁性原子核在量子化能態(tài)之間的射頻誘生躍遷獲得的核磁共振波譜,確定出特定的原子核的種類、數(shù)量、位置、排列狀態(tài),進(jìn)而描繪出分子內(nèi)原子團(tuán)或原子排列順序的分析方法,是通過觀測核子共振頻率偏移,即化學(xué)位移和自旋-自旋耦合常數(shù)與結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系進(jìn)行試樣結(jié)構(gòu)分析。
電子自旋共振波譜法 也稱電子順磁共振波譜法,是利用微波輻射對(duì)具有不成對(duì)自旋的電子誘生磁能之間的躍遷,通過靜電場使磁能分裂,以獲得原子分子中的未耦電子及電荷分布、化學(xué)鍵等信息。已成功地應(yīng)用于具有未耦電子的順磁性物質(zhì)的結(jié)構(gòu)研究,如具有奇數(shù)個(gè)電子的原子,內(nèi)電子殼層未被充滿的過渡族元素的離子、具有奇數(shù)個(gè)電子的分子以及固體缺陷中的F中心、V中心等。
紅外光譜法 利用試樣分子和紅外輻射作用吸收其特定波長形成的光譜,確定分子內(nèi)官能團(tuán)和原子的總體結(jié)構(gòu)的分析方法。
熱分析方法 利用試樣在加熱或冷卻過程中產(chǎn)生的吸熱、放熱、增重、減重、膨脹、收縮、軟化、變形以及電導(dǎo)率隨溫度變化的規(guī)律,研究物質(zhì)的物理化學(xué)變化規(guī)律的方法。 常將各種熱分析法獲得的信息與X射線物相分析、電鏡形貌分析和成分分析的結(jié)果綜合對(duì)比,以確定材料的微觀結(jié)構(gòu)變化規(guī)律。
差熱分析法(DTA) 將待測試樣和一種熱惰性參比物質(zhì)放在同一個(gè)加熱器中,按一定程序改變溫度,當(dāng)達(dá)到某一溫度試樣結(jié)構(gòu)發(fā)生變化引起釋放或吸收能量,從而使其自身溫度與參比物質(zhì)之間產(chǎn)生相應(yīng)的差別,達(dá)到了解試樣結(jié)構(gòu)發(fā)生變化的溫度范圍、對(duì)應(yīng)該結(jié)構(gòu)變化的吸熱或放熱過程以及結(jié)構(gòu)變化的定量關(guān)系。通過測量整個(gè)溫度區(qū)間熱譜的各種吸熱、放熱特征的數(shù)目、形狀和位置,即可對(duì)試樣的結(jié)構(gòu)變化進(jìn)行描述。
差示掃描量熱法(DSC) 將待測試樣和熱惰性參比物質(zhì)放在嚴(yán)格控制程序的溫度中,當(dāng)試樣結(jié)構(gòu)發(fā)生變化時(shí),向試樣容器或參比物質(zhì)容器加熱或減熱而使其兩者保持相同溫度,通過測量輸入、取出的熱量及轉(zhuǎn)變時(shí)的溫度范圍,可以獲得試樣結(jié)構(gòu)變化的定量關(guān)系。
熱重分析法(TGA) 試樣在溫度改變過程中產(chǎn)生結(jié)構(gòu)變化而引起重量改變,通過溫度-重量關(guān)系曲線獲得材料的化學(xué)反應(yīng)熱力學(xué)、動(dòng)力學(xué)、反應(yīng)機(jī)理、中間產(chǎn)物及最終產(chǎn)物數(shù)據(jù)的分析方法??捎糜谘芯拷ㄖ牧霞訜嶂苽溥^程中的脫水、分解、化學(xué)反應(yīng)等規(guī)律。
熱機(jī)械分析法(TMA) 通過測量試樣在溫度變化過程中的膨脹、收縮、軟化、延伸變形規(guī)律,定量描述材料結(jié)構(gòu)變化的分析方法。
電熱分析法(ETA) 通過測量試樣在溫度變化過程中電導(dǎo)率等電氣性能的變化規(guī)律,研究材料結(jié)構(gòu)的分析方法。廣泛用于聚合物結(jié)構(gòu)研究、表面氣體吸附、水分和增塑劑含量及聚合物系統(tǒng)中痕量雜質(zhì)的研究。
測定多孔材料孔徑大小、孔隙體積及其孔徑分布的技術(shù)。常用的孔結(jié)構(gòu)測定方法有水銀壓入法、氣體吸附法和顯微鏡觀測法等。①水銀壓入法,可測定試樣中直徑為 50埃至750微米的孔徑分布。常用的水銀測孔儀有高壓和低壓兩種,可根據(jù)試樣孔徑分布情況選用。壓力為 300兆帕的高壓測孔儀適于測50埃至11微米的孔。壓力為0.15兆帕的低壓測孔儀適于測11~750微米的孔。②氣體吸附法,適于測定直徑小于600埃的孔。③利用光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡,可直接觀察孔隙的形狀和分布狀況。2100433B
設(shè)備條件一定和冶煉鋼種確定時(shí),澆注工藝是十分重要的。澆注工藝中最重要的兩個(gè)工藝參數(shù)就是澆注溫度與澆注速度。它決定鋼錠的表面質(zhì)量,如冒口的收縮、氣體逸出與夾雜物的上浮、鋼的偏 析、疏松、縮孔等質(zhì)量問題。對(duì)于澆注溫度的確定,一般采用如下公式:
T澆注=T溶點(diǎn) T過熱
式中T澆注——鋼種的液相線溫度;T溶點(diǎn)——包括根據(jù)鋼種決定的澆注最小過熱量。因澆注方法和錠型等因素,要求增減的溫度以及整個(gè)澆注過程中鋼液的溫度下降值;T過熱——開澆時(shí)鋼液溫度。
一些高合金模具鋼的澆注,一般都采用低溫快注的原則,以減少鋼中的偏析和疏松,出鋼溫度控制在高于鋼的熔點(diǎn)80℃~100℃,根據(jù)鋼種、錠型和鋼包的大小而定。澆注速度是與澆注溫度密不可分的,通常用 “高溫慢注”與“低溫快注”,必須根據(jù)注溫調(diào)節(jié)注速。如注速過快,相當(dāng)于提高了澆注溫度,因?yàn)橥粫r(shí)間內(nèi)帶入鋼錠模內(nèi)的熱量增加,整個(gè)鋼錠的凝固 時(shí)間延長,成分偏析嚴(yán)重,夾雜物增加,氣體也不易排出,還可能出現(xiàn)翻皮缺陷。另外,在模具鋼的澆注過程中,一定要注意補(bǔ)縮。至于補(bǔ)縮的時(shí)間與錠型、鋼種等有關(guān)系。
正層型 長汀縣丁屋嶺-黃連實(shí)測剖面。福建省重工業(yè)局,1970,1∶20萬長汀幅區(qū)調(diào)報(bào)告。
本組下部為黑色及灰綠色的千枚巖、變質(zhì)粉砂巖、細(xì)砂巖, 間夾薄層硅質(zhì)巖及含長石石英砂巖;上部主要為灰綠色中薄層變質(zhì)細(xì)砂巖夾千枚巖及薄層硅質(zhì)巖,細(xì)砂巖中偶含鈣質(zhì),硅質(zhì)巖頂?shù)壮R娏讐K巖條帶。與上覆黃連組和下伏丁屋嶺組均為整合接觸。本組厚1082m。
Leiominuscula minuta,Lophominuscula cf. Prima,Margominuscula antiqua 等。