用立式光學(xué)比較儀測量零件,一般是按比較測量的方法進(jìn)行的,即先將量塊組放在儀器的測頭與工作臺面之間,以量塊尺寸L調(diào)整儀器的指示表到達(dá)零位,再將工件放在測頭與工作臺面之間,從指示表上讀出指針對零位的偏移量,即工件高度對量塊尺寸的差值ΔL,則被測工件的高度為X=L ΔL。
圖1 立式光學(xué)比較儀
1-底座 2-立柱 3-橫臂升降螺母 4、11、12-緊固螺釘 5-橫臂 6-直角光管 7-上下偏差調(diào)整螺釘 8-目鏡
9-反光鏡 10-零調(diào)螺釘面 13-偏心手輪 14-測頭 15-撥叉 16-工作臺 17-調(diào)整螺釘
你好,這一個(gè)是可以重復(fù)進(jìn)行測試的這樣可以設(shè)置就行了
實(shí)際就是透鏡成像的原理,只不過光學(xué)投影儀和放大鏡、望遠(yuǎn)鏡、顯微鏡使用的場合不同,光學(xué)結(jié)構(gòu)不同,因此成像情況也有所差別
利用高頻調(diào)制的光線在待測距離上往返產(chǎn)生的相位移推算出光束度越時(shí)間△t,從而根據(jù)D=C△t/2得到距離D。
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評分: 4.4
1 幾何光學(xué)測量硬盤振動模型 摘 要 本文通過理論分析和與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的對比 , 研究了通過幾何光學(xué)測量硬盤振動問題 , 并求出了硬盤盤面的局部表面方程,分析了不同分辨率對局部表面方程的影響,較好的 解釋了硬盤振動的規(guī)律。 首先研究不考慮盤片中心的上下振動的情形 . 針對問題做出了幾何模型 , 利用所給 數(shù)據(jù) ,并參照查閱資料, 最終求出考慮盤片中心上下振動情況下的結(jié)果, 并對求解結(jié)果采 用代數(shù)檢驗(yàn)符合要求 , 提出模型的改進(jìn)方向。 對于問題一 , 查閱了硬盤的工作原理和內(nèi)部結(jié)構(gòu),從幾何上進(jìn)行理論分析,討論了 一條和多條光線對模型測量的影響,通過分析光路、成本、技術(shù)等因素得出結(jié)論采用兩 束光線的方案為最優(yōu)。 對于問題二 , 首先建立了不考慮盤片中心的上下振動的理想模型,通過幾何關(guān)系和 數(shù)學(xué)定理 ,順利求出了盤片局部表面方程的參數(shù) a、b,并得到 c=0;其次在前面計(jì)算基礎(chǔ) 上建立了考慮盤片
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評分: 4.8
不確定度對檢測工作的質(zhì)量控制有很大的幫助,尤其是檢測值處于標(biāo)準(zhǔn)的臨界值時(shí),計(jì)算不確定度一方面能檢查檢測工作是否存在差錯(cuò),另一方面也能減輕檢測人員和檢測機(jī)構(gòu)的風(fēng)險(xiǎn),更利于檢測結(jié)論的判定。
利用光學(xué)測微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式 3種。
①立式光學(xué)比較儀:又稱立式光學(xué)計(jì),圖3[光學(xué)測微儀的光學(xué)系統(tǒng)]為光學(xué)測微儀的光學(xué)系統(tǒng)。它是按自準(zhǔn)直原理(見自準(zhǔn)直儀)設(shè)計(jì)的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設(shè)置。當(dāng)測桿上下移動時(shí),平面反射鏡繞支點(diǎn)轉(zhuǎn)動一個(gè)很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經(jīng)直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發(fā)生偏移。偏移量的大小與測桿移動距離成比例。光學(xué)測微儀的分度值為 1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學(xué)計(jì)適宜在計(jì)量室使用,測量范圍為0~180毫米,常用于檢定量塊和光滑量規(guī)以及測量工件的外徑、厚度。
②臥式光學(xué)比較儀:又稱臥式光學(xué)計(jì),其工作原理與立式光學(xué)計(jì)相同,測量范圍為0~500毫米,適用于在計(jì)量室測量較大的或在立式光學(xué)計(jì)上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測孔附件測量孔徑。
③影屏式光學(xué)比較儀:又稱投影光學(xué)計(jì),其光學(xué)系統(tǒng)與立式光學(xué)計(jì)相似,但刻度尺影像經(jīng)投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學(xué)系統(tǒng)采用多次反射以增大光學(xué)杠桿的放大比。此外,還有用光波干涉法測量的接觸式干涉比較儀,其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。
利用光學(xué)測微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式 3種。
①立式光學(xué)比較儀:又稱立式光學(xué)計(jì),圖3[光學(xué)測微儀的光學(xué)系統(tǒng)]為光學(xué)測微儀的光學(xué)系統(tǒng)。它是按自準(zhǔn)直原理(見自準(zhǔn)直儀)設(shè)計(jì)的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設(shè)置。當(dāng)測桿上下移動時(shí),平面反射鏡繞支點(diǎn)轉(zhuǎn)動一個(gè)很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經(jīng)直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發(fā)生偏移。偏移量的大小與測桿移動距離成比例。光學(xué)測微儀的分度值為 1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學(xué)計(jì)適宜在計(jì)量室使用,測量范圍為0~180毫米,常用于檢定量塊和光滑量規(guī)以及測量工件的外徑、厚度。
②臥式光學(xué)比較儀:又稱臥式光學(xué)計(jì),其工作原理與立式光學(xué)計(jì)相同,測量范圍為0~500毫米,適用于在計(jì)量室測量較大的或在立式光學(xué)計(jì)上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測孔附件測量孔徑。
③影屏式光學(xué)比較儀:又稱投影光學(xué)計(jì),其光學(xué)系統(tǒng)與立式光學(xué)計(jì)相似,但刻度尺影像經(jīng)投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學(xué)系統(tǒng)采用多次反射以增大光學(xué)杠桿的放大比。此外,還有用光波干涉法測量的接觸式干涉比較儀,其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。
常用電感式或電容式測微儀(見長度傳感器)作為放大、指示部件。圖4 [數(shù)字顯示電感式比較儀]是數(shù)字顯示的電感式比較儀,其分辨率有1微米、0.1微米和0.01微米等幾好種。2100433B