能譜儀性能指標

探頭:一般為Si(Li)鋰硅半導體探頭

探測面積:幾平方毫米

分辨率(MnKa):~133eV

探測元素范圍:Be4~U92

各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點來進行成分分析的。

當X射線光子進入檢測器后，在Si(Li)晶體內(nèi)激發(fā)出一定數(shù)目的電子空穴對。產(chǎn)生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的(在低溫下平均為3.8ev)，而由一個X射線光子造成的空穴對的數(shù)目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經(jīng)過前置放大器轉(zhuǎn)換成電流脈沖，電流脈沖的高度取決于N的大小。電流脈沖經(jīng)過主放大器轉(zhuǎn)換成電壓脈沖進入多道脈沖高度分析器，脈沖高度分析器按高度把脈沖分類進行計數(shù)，這樣就可以描出一張X射線按能量大小分布的圖譜。

1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析;

2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分的鑒定;

3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如:金屬化膜表面鍍層的檢測;

4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域;

5、進行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。

1.低本底多道γ能譜儀硬件部分操作簡單、使用方便，譜儀探頭高壓、放大器的放大倍數(shù)、ADC的上下閾值、零點等所有參數(shù)的設置均通過計算機程控完成，克服了手工調(diào)節(jié)的模糊性和可重復性差的缺點。達到了美國同類產(chǎn)品的水平。

2.低本底多道γ能譜儀產(chǎn)品所有配套軟件均工作在WIN/98/Me/NT/2000/XP環(huán)境下，軟件使用簡單方便，所有操作均可通過鼠標完成。譜獲取仿真控制軟件可自動測量自動保存，建材專用譜分析軟件使用時只需輸入樣品重量一個參數(shù)，系統(tǒng)即可自動計算出樣品中226Ra、232Th、40K等核素的比活度及內(nèi)照射系數(shù)Ira和外照射系數(shù)Iγ，并打印出核素分析報告，用戶可由此判斷建筑主體材料的使用范圍及裝修材料的裝等級。

3.低本底多道γ能譜儀空氣中氡濃度計算軟件自動對環(huán)境濕度氡衰變進行修正，分析計算時用戶只要輸入基本的采集測量參數(shù)，可自動計算出空氣中的氡濃度(Bq/m3)。

4.低本底多道γ能譜儀無損檢測采用專用軟件，操作簡單方便，系統(tǒng)可直接給出樣品中226Ra、232Th、40K等核素的比活度及內(nèi)照射系數(shù)Ira和外照射系數(shù)Iγ，并打印出核素分析報告，用戶可由此簡單分析建筑主體材料的使用范圍及裝修材料的等級。