中文名 | 數(shù)字X射線攝影機(jī) | 產(chǎn)????地 | 中國 |
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學(xué)科領(lǐng)域 | 化學(xué) | 啟用日期 | 2018年6月21日 |
所屬類別 | 計量儀器 > 電離輻射計量儀器 |
用于診斷水平劑量計的校準(zhǔn)。
10mA~600mA、40kV~150kV。
成像原理都是一樣的,3D攝像機(jī)可以用兩臺攝像機(jī)按照科學(xué)的視覺位置組接而成,近些年又出了專門的3D攝像機(jī),如果說俗點就是多了一組鏡頭,使得在顯示屏幕上呈現(xiàn)出相互重疊的兩組畫面,兩組鏡頭就如同人的兩只眼睛...
你的題目太大了,索尼數(shù)碼攝像機(jī)有民用的和專業(yè)用的,個人一般買小型的家庭用的: 有的有顯示屏和取景器,有的沒有取景器只有顯示屏,。。。。。有光學(xué)變焦和數(shù)字變焦,有光盤存儲,磁帶存儲,也有用固體存儲卡或固...
基本操作不外乎:調(diào)濾色片,調(diào)白平衡,調(diào)光圈,聚焦,拍攝!其實基本功要靠長期的練習(xí),穩(wěn),準(zhǔn),平,勻!這個是絕對需要長期練習(xí)的東西!然后就是技法:比如跟焦,都是需要長期練習(xí)的東西!  ...
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軟X射線攝影檢驗部分經(jīng)濟(jì)林木種子品質(zhì)的研究:Ⅰ.軟X射線攝影條件的…
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X射線儀,是一種用來產(chǎn)生X射線的設(shè)備。
X射線儀可以分為工業(yè)用X射線儀和醫(yī)用X射線儀。工業(yè)用X射線儀可以按照產(chǎn)生射線的強(qiáng)度分硬射線機(jī)和軟射線機(jī)。用于理化檢測的衍射分析儀等屬于軟射線,而用于大,厚材料的檢測的是硬射線。硬射線的產(chǎn)生可以用高壓電的辦法,如100Kv 或300Kv的電壓加到x射線管字上,產(chǎn)生的射線可以穿透5--50mm的鋼板。而用電子加速器的辦法可以產(chǎn)生穿透100mm以上的鋼板的射線。使用高壓電辦法的機(jī)器可分為,便攜式,和移動式(固定式)。
X射線儀原理、構(gòu)造及發(fā)現(xiàn):1895年德國物理學(xué)家倫琴在研究陰極射線管中氣體放電現(xiàn)象時,用一只嵌有兩個金屬電極(一個叫做陽極,一個叫做陰極)的密封玻璃管,在電極兩端加上幾萬伏的高壓電,用抽氣機(jī)從玻璃管內(nèi)抽出空氣。為了遮住高壓放電時的光線(一種弧光)外泄,在玻璃管外面套上一層黑色紙板。他在暗室中進(jìn)行這項實驗時,偶然發(fā)現(xiàn)距離玻璃管兩米遠(yuǎn)的地方,一塊用鉑氰化鋇溶液浸洗過的紙板發(fā)出明亮的熒光。再進(jìn)一步試驗,用紙板、木板、衣服及厚約兩千頁的書,都遮擋不住這種熒光。更令人驚奇的是,當(dāng)用手去拿這塊發(fā)熒光的紙板時,競在紙板上看到了手骨的影像。當(dāng)時倫琴認(rèn)定:這是一種人眼看不見、但能穿透物體的射線。因無法解釋它的原理,不明它的性質(zhì),故借用了數(shù)學(xué)中代表未知數(shù)的"X"作為代號,稱為"X"射線(或稱X射線或簡稱X線)。這就是X射線的發(fā)現(xiàn)與名稱的由來。工業(yè)射線機(jī)正是使用了這種特性,利用高壓變壓器加在兩個金屬電極上的高壓產(chǎn)生射線。X射線儀用于航天,石油建設(shè),天然氣管道,鍋爐,壓力容器等無損探傷中不可缺少的設(shè)備。
怎樣根據(jù)需要去購置合適的,既經(jīng)濟(jì)又實用的X射線探傷機(jī),就必須正確地選擇X射線探傷機(jī)。一般選擇X射線探傷機(jī)都要考慮穿透能力、X射線管焦點大小、被檢工件形狀等。
X射線探傷機(jī)的穿透能力取決于X射線探傷機(jī)的容量,既X射線探傷機(jī)的管電壓,管電壓愈高,X射線愈硬,能量愈大,穿透能力就愈強(qiáng),穿透能力與管電壓平方成正比。另外,在相同的管電壓下,還與被檢驗工件的材質(zhì)的密度等性質(zhì)有關(guān),也就是與被檢驗工件對X射線的衰減能力有關(guān)。對于鋼鐵等重金屬以及較厚的工件,由于其對X射線的衰減能力較強(qiáng),故應(yīng)選擇管電壓較高的X射線探傷機(jī);而對于鋁、鎂等輕金屬和較薄的工件,可以選擇管電壓較低的X射線探傷機(jī)。
對于圓形的工件,如鍋爐簡體或容器上的環(huán)焊縫,應(yīng)首先考慮選擇周向曝光的射線探傷機(jī),以提高工件效率,減輕勞動強(qiáng)度,減少放射線損傷。
對于工件較小,移動方便的,可選用移動式探傷機(jī)(固定式)X射線探傷機(jī),而對工件笨重或高大設(shè)備,移動不方便,可選用攜帶式X射線探傷機(jī)。
X射線探傷機(jī)英文名稱X-ray Flaw Detector
在質(zhì)子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續(xù)本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素,各元素都發(fā)射一組特征X 射線譜,能量相同或相近的譜峰疊加在一起,直觀辨認(rèn)譜峰相當(dāng)困難,需要通過復(fù)雜的數(shù)學(xué)處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬和峰面積。譜的數(shù)學(xué)解法已研究出多種,并已編制成計算機(jī)程序。從解X 射線譜中可得到某一待測元素的特征譜峰的面積(峰計數(shù)),根據(jù)峰面積可計算出該元素的含量。這種直接計算的辦法需要對探測系統(tǒng)標(biāo)定探測效率、確定探頭對靶子所張立體角、測定射到靶子上的質(zhì)子數(shù)等。
在實際分析工作中多采用相對測定法,即將試樣和標(biāo)樣同時分析比較,
設(shè)試樣和標(biāo)樣中待測元素的特征X 射線譜峰計數(shù)為NX 和NS,含量為Wx 和WS則得:
Wx=NxWs/Ns