中文名 | X射線光電譜儀 | 產(chǎn)????地 | 德國(guó) |
---|---|---|---|
學(xué)科領(lǐng)域 | 材料科學(xué) | 啟用日期 | 2016年4月27日 |
所屬類別 | 分析儀器 > X射線儀器 > X射線熒光光譜儀 |
本X射線光電子能譜儀測(cè)試系統(tǒng)為帶有多種功能的綜合性光電子能譜分析平臺(tái)。該系統(tǒng)可在極高真空下,通過(guò)配備的X射線光源以及紫外光源,在樣品表面激發(fā)光電子,再通過(guò)高精度探測(cè)器捕獲分析,得到相應(yīng)的光電子能譜??捎糜谀繕?biāo)樣品的元素組成分析、表面化學(xué)狀態(tài)分析、表面原子電子狀態(tài)分析。通過(guò)系統(tǒng)搭載的Ar離子濺射系統(tǒng),可對(duì)樣品表面下一定深度處進(jìn)行分析。此外本系統(tǒng)還搭載了高真空電子束加熱裝置,可對(duì)樣品做原位退火分析。為化學(xué)、材料方面的研究提供了可靠的測(cè)試手段。 2100433B
主工作室:規(guī)定真空度(烘烤除氣后)≤5×10-10mbar,極限真空度(烘烤除氣后)1.54×10-10mbar;進(jìn)樣室:規(guī)定真空度(烘烤除氣后)≤5×10-8mbar,極限真空度(烘烤除氣后)3.00×10-8mbar;探測(cè)器參數(shù):有效測(cè)量半徑150mm,工作距離40mm,最大光電子計(jì)數(shù)率>10Mcps,光電子動(dòng)能量程范圍0~3500eV,能量通過(guò)范圍1~660 eV.。
x射線熒光和x射線衍射的區(qū)別在于前者是對(duì)材料進(jìn)行成份分析的儀器,而后者則主要是對(duì)材料進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)分析以便確定其物理性狀的設(shè)備。
X射線衍射儀(XRD)是礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器,用于對(duì)結(jié)晶物質(zhì)的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過(guò)測(cè)定二次熒光的能量來(lái)分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構(gòu)造與使用對(duì)象不同,XR...
分析元素的話 美國(guó)熱電,德國(guó)斯派克,日本島津、精工;中國(guó)天瑞、納優(yōu)科技;國(guó)內(nèi)的便宜國(guó)外的貴,其實(shí)測(cè)量結(jié)果沒(méi)差多少測(cè)鍍層的話 fisher和牛津的是最好的
格式:pdf
大?。?span id="8vmpjcn" class="single-tag-height">868KB
頁(yè)數(shù): 5頁(yè)
評(píng)分: 4.3
介紹了用于陽(yáng)加速器上Z箍縮內(nèi)爆實(shí)驗(yàn)診斷的Dante譜儀的結(jié)構(gòu)和通道配置,詳細(xì)討論了X射線二極管、掠入射平面反射鏡和濾片等主要元器件的標(biāo)定結(jié)果,分析了標(biāo)定結(jié)果與理論計(jì)算發(fā)生偏差的原因,給出了噴氣Z箍縮等離子體輻射的測(cè)量結(jié)果,X光輻射功率30~40 GW,能量約0.8 kJ,并與閃爍體光電管測(cè)量結(jié)果進(jìn)行了比較,差異約20%。
格式:pdf
大?。?span id="wx45n04" class="single-tag-height">868KB
頁(yè)數(shù): 3頁(yè)
評(píng)分: 4.8
采用中性鹽霧試驗(yàn)比較了酸性氯化鉀鍍鋅層經(jīng)3種不同鈍化劑鈍化處理后所得鈍化膜的耐蝕性,采用X射線光電子能譜研究了不同鈍化膜的厚度及組成。結(jié)果表明,SpectraMATETM 25彩色鈍化所得鈍化膜的耐蝕性最好,可以經(jīng)受336 h以上的中性鹽霧試驗(yàn),TRI-V121鈍化膜的耐蝕性次之,TRI-V120鈍化膜最差。TRI-V120和TRI-V121藍(lán)白鈍化所得鈍化膜的主要組成為Cr2O3,厚度均為200 nm左右,但后者的Cr含量較高,因此具有較高的耐蝕性;經(jīng)SpectraMATETM 25彩色鈍化所得鈍化膜的組成為Cr(OH)3和Cr2O3,厚度約為800 nm,膜層厚是其具有高耐蝕性的主要原因。
X射線譜儀X射線譜儀和太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器分別安裝在衛(wèi)星頂板和側(cè)板上。其中,X射線譜儀用于探測(cè)月球表面元素受太陽(yáng)X射線或宇宙射線激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線,如Mg、Al或Si元素等。其飛行方向與衛(wèi)星軌道成45度角,正對(duì)月面。太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器正對(duì)太陽(yáng),監(jiān)測(cè)太陽(yáng)活動(dòng),從而得到入射的太陽(yáng)X射線能譜,結(jié)合X射線譜儀,獲得到相關(guān)元素的絕對(duì)豐度。在月表向陽(yáng)面,當(dāng)太陽(yáng)X射線射到月表,發(fā)生光電效應(yīng),產(chǎn)生X射線熒光;這些熒光被X射線譜儀某個(gè)(些)探測(cè)器單元探測(cè)到,經(jīng)過(guò)后級(jí)電子學(xué)系統(tǒng)處理,將所探測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換數(shù)字信號(hào)后,以1024道能譜的方式被記錄, 并經(jīng)1553B總線傳到地面。
太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器采集太陽(yáng)X射線,將所探測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換數(shù)字信號(hào)后,并以1024道能譜的方式被記錄,并經(jīng)1553B總線傳到地面,探測(cè)器單元的硅介質(zhì)與一定能量的X射線熒光產(chǎn)生光電效應(yīng),至少產(chǎn)生一個(gè)電子空穴對(duì),由此產(chǎn)生的電信號(hào)反映月表不同元素或天然放射物質(zhì)發(fā)生的特征X射線能量不一樣,將被觀測(cè)信號(hào)以不同能譜方式記錄,根據(jù)這些能譜,依據(jù)定標(biāo)曲線推算對(duì)應(yīng)的元素。
X射線譜儀太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器
太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器:指向太陽(yáng),監(jiān)測(cè)太陽(yáng)X射線輻射,配合月表X 射線觀測(cè),獲得元素的絕對(duì)豐度分布。
電控箱
電控箱:含數(shù)據(jù)獲取、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)管理及星上軟件,實(shí)現(xiàn)對(duì)所觀測(cè)數(shù)據(jù)的獲取、編采、管理及傳輸?shù)裙δ堋?/p>
X射線譜儀探測(cè)器采用先進(jìn)的Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器技術(shù),具有低功耗、高分辨的特點(diǎn),主要由3臺(tái)單機(jī)組成。
其一是X射線探測(cè)器:由Si-PIN組成的半導(dǎo)體探測(cè)器陣列,包括4路1~10keV的低能探測(cè)器,探測(cè)面積為1cm2,16路10~60keV的高能探測(cè)器,探測(cè)面積為16cm2。在軌觀測(cè)時(shí)探測(cè)器始終對(duì)著月面。
其二是太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器:由于月表元素受激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線與太陽(yáng)X射線的輻射強(qiáng)度有關(guān),所以X射線譜儀系統(tǒng)設(shè)計(jì)了太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器。利用太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器監(jiān)測(cè)太陽(yáng)X射線輻射狀態(tài),獲得射入到月球的太陽(yáng)X射線能譜、流強(qiáng)等信息,為X射線譜儀數(shù)據(jù)處理提供參考依據(jù)。太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器探測(cè)能區(qū)為1~10keV,有效面積為0.25cm2。
位于衛(wèi)星頂部,對(duì)著太陽(yáng),觀測(cè)太陽(yáng)X射線,可配合月表X射線觀測(cè),進(jìn)而獲得元素的絕對(duì)豐度分布。同時(shí)可以利用太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器監(jiān)測(cè)太陽(yáng)活動(dòng),做出太陽(yáng)X射線連續(xù)譜。
其三是電控箱,內(nèi)含數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)、數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)及軟件等,它負(fù)責(zé)電源供給,在軌觀測(cè)元素信號(hào)的處理、數(shù)據(jù)管理、數(shù)據(jù)傳輸?shù)?,并將信?hào)傳到衛(wèi)星有效載荷的大容量存儲(chǔ)器,通過(guò)衛(wèi)星傳到地面控制中心。
X射線譜儀設(shè)計(jì)有21路探測(cè)器,是此次載荷中探測(cè)器路數(shù)最多的系統(tǒng),為有效預(yù)防多路探測(cè)器之間相互干擾,在硬/軟件設(shè)計(jì)中還專門設(shè)計(jì)了"隔離"探測(cè)器單元功能及對(duì)太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器計(jì)數(shù)率的調(diào)閾指令,以提高探測(cè)器在軌長(zhǎng)期工作的可靠性。
研制者介紹,通過(guò)分析、融合和歸納X射線譜儀探測(cè)器與太陽(yáng)監(jiān)測(cè)器的觀測(cè)結(jié)果,可以繪制各元素的全月球分布圖,發(fā)現(xiàn)月球表面資源富集區(qū),鑒別新的類型,為月球的開(kāi)發(fā)利用提供資源分布的數(shù)據(jù),以及檢驗(yàn)月球形成與演化的模型,為月球演化的深入研究提供重要信息和有用數(shù)據(jù)。
據(jù)了解,X射線譜儀是我國(guó)繞月探測(cè)工程實(shí)現(xiàn)月球資源探測(cè)、研究月球組成預(yù)演化等的重要手段和有效方法之一。"在我國(guó)探月工程分三步走的進(jìn)程中,通過(guò)一期嫦娥一號(hào)衛(wèi)星有效載荷繞月工程在軌觀測(cè),我們將獲得月球表面元素的種類及其含量、分布。有了月表元素分布圖,就能為探月二期工程利用月球車登月后進(jìn)行資源探測(cè)和進(jìn)一步的科考研究提供依據(jù),為研究月球的形成、演化模型和未來(lái)資源開(kāi)發(fā)利用提供更進(jìn)一步的驗(yàn)證信息。"
20世紀(jì)70年代,美國(guó)Apollo-15、Apollo-16從環(huán)月軌道上各發(fā)射了一顆環(huán)月運(yùn)行的科學(xué)衛(wèi)星,衛(wèi)星上就有熒光X射線探測(cè)器,首次在環(huán)月軌道上探測(cè)月表X射線熒光,進(jìn)而研究月表的地質(zhì)化學(xué)組成。2003年,歐空局發(fā)射的SMART-1衛(wèi)星在0.5~10keV能區(qū)探測(cè)了鎂、鋁、硅的絕對(duì)分布;今年9月日本發(fā)射的月亮女神也對(duì)月球元素進(jìn)行了探測(cè)。印度2008年將發(fā)射探月衛(wèi)星, 對(duì)月球低能X射線進(jìn)行探測(cè)。
研制者表示:"總之,20世紀(jì)90年代后,國(guó)際上興起的新一輪探月熱,這不僅因?yàn)樵虑蚴堑厍虻奶烊恍l(wèi)星,更重要的還在于月球?qū)氋F的資源和月球位置的價(jià)值。因?yàn)橥ㄟ^(guò)元素探測(cè),我們可以知道月球上分布著哪些資源,將來(lái)開(kāi)發(fā)月球時(shí)可選擇在資源富集的地區(qū),通過(guò)開(kāi)采月球資源,滿足人類社會(huì)的需求。"因此,對(duì)月球元素探測(cè)是一項(xiàng)很重要的科學(xué)研究。
當(dāng)談到X射線譜儀的應(yīng)用時(shí),研制者介紹,近期一些天文衛(wèi)星上都會(huì)應(yīng)用X射線探測(cè)器。今后,星載探測(cè)器發(fā)展的趨勢(shì)是高性能、低功耗、小體積、輕重量。在探月二期工程中,我們將在一期的研制基礎(chǔ)上,使X射線探測(cè)器設(shè)計(jì)更簡(jiǎn)化、更小巧、更可靠、更高性能,可把它安裝在月球車機(jī)械臂上,在月球上行走,實(shí)現(xiàn)近距離元素探測(cè)。
嫦娥一號(hào)衛(wèi)星探測(cè)工程在國(guó)防科工委月球探測(cè)工程中心、航科集團(tuán)探月衛(wèi)星總體及中科院有效載荷總體部的領(lǐng)導(dǎo)下,用不到4年時(shí)間完成一項(xiàng)復(fù)雜而龐大的工程,開(kāi)創(chuàng)了我國(guó)航天史上研制時(shí)間最短的先例。X射線探測(cè)器作為中科院承制的有效載荷之一、我國(guó)深空X射線探測(cè)能段首例,在研制進(jìn)程中遇到不少困難。