書????名 | X射線結(jié)構(gòu)分析 | 作????者 | 祁景玉 |
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類????別 | 圖書>科學(xué)與自然>物理學(xué) | 出版社 | 同濟大學(xué)出版社 |
出版時間 | 2003年04月01日 | 頁????數(shù) | 176 頁 |
開????本 | 16 開 | 裝????幀 | 平裝開 |
ISBN | 9787560825830 | 版????次 | 1 |
第一章X射線及其物理基礎(chǔ)
第一節(jié)X射線的產(chǎn)生及其特點
第二節(jié)X射線的性質(zhì)
第二章x射線衍射的運動學(xué)理論(I)
第一節(jié)X射線衍射的方向
第二節(jié)倒易點陣
第三節(jié)X射線衍射的強度
第三章X射線衍射的運動學(xué)理論(Ⅱ)
第一節(jié)X射線衍射強度的通用公式
第二節(jié)吸收對衍射強度的影響
第三節(jié)溫度因子
第四節(jié)粉末法累積強度公式及強度計算實例
第四章X射線衍射分析的方法
第一節(jié)一般的X射線衍射分析法
第二節(jié)衍射儀法
第三節(jié)測定過程
第五章x射線物相分析
第一節(jié)定性分析
第二節(jié)定量分析
第三節(jié)相平衡圖的測定
第四節(jié)結(jié)晶度的測定
第五節(jié)擇優(yōu)取向的測定
第六節(jié)晶體粒度大小及表面積的測定
第六章x射線的小角度散射
第一節(jié)X射線小角度散射原理
第二節(jié)X射線小角度散射實驗
第三節(jié)X射線小角度散射方法的應(yīng)用
第七章點陣常數(shù)的精確洲定
第一節(jié)粉末衍射線的指標(biāo)化
第二節(jié)點陣常數(shù)測定中誤差的來源
第三節(jié)點陣常數(shù)的精確測定法
第八章亞晶粒大小和顯微畸變的測定
第一節(jié)衍射線的寬化
第二節(jié)K和K雙重線的分離
第三節(jié)近似函數(shù)類型的選擇
第四節(jié)幾何寬化效應(yīng)的分離
第五節(jié)“顯微畸變”和亞晶粒細化兩種效應(yīng)的分離
第九章x射線應(yīng)力測定
第一節(jié)X射線應(yīng)力測定的基本原理
第二節(jié)宏觀應(yīng)力測定方法
第三節(jié)X射線宏觀應(yīng)力測定中的一些問題
第四節(jié)亞晶尺寸和微觀應(yīng)力的測定
第十章X射線在材料結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用
第一節(jié)水泥及混凝土材料的結(jié)構(gòu)分析
第二節(jié)陶瓷材料的結(jié)構(gòu)分析
第三節(jié)高分子聚合物的結(jié)構(gòu)分析
第四節(jié)粘土礦物的結(jié)構(gòu)分析
第五節(jié)天然礦物的結(jié)構(gòu)分析
第六節(jié)珠寶玉石的鑒定及結(jié)構(gòu)分析
第七節(jié)滲碳鋼中各物相含量的XRD分析
第八節(jié)植物藥材中草酸鈣結(jié)晶的結(jié)構(gòu)分析
第九節(jié)XRD分析在其他方面的應(yīng)用
參考文獻
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隨著計算機技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用,以X射線源強度和衍射儀器分辨率的提高,用多晶法進行較復(fù)雜化合物晶體結(jié)構(gòu)測定成為可能,并取得了很大進展??捎枚嗑Хy定的結(jié)構(gòu)數(shù)目已超過400個,并以每年50個左右的速度增加。結(jié)構(gòu)測定方法也已有很多報道,主要有最大熵法,Monte carlo法,模型構(gòu)造法,能量最小法和單晶法,其中用單晶法從多晶數(shù)據(jù)直接求解結(jié)構(gòu)是應(yīng)用最廣泛的方法,從復(fù)雜的氧化物到有機化合物的晶體結(jié)構(gòu)測定都獲得了成功。例如,同時用X光同步輻射和中子衍射收集的衍射數(shù)據(jù),測定了復(fù)雜氧化物L(fēng)a3Ti5Al15O37的晶體結(jié)構(gòu)。該化合物屬單斜晶系,空間群為Cc,每個晶胞中含有60個獨立原子,原子結(jié)構(gòu)參數(shù)有178個。用多晶衍射數(shù)據(jù)進行結(jié)構(gòu)分析的一般步驟是:
(1)樣品準(zhǔn)備和衍射數(shù)據(jù)收集;
(2)衍射數(shù)據(jù)的指標(biāo)化和可能空間群的確定;
(3)結(jié)構(gòu)振幅提??;
(4)結(jié)構(gòu)解析:
(5)結(jié)構(gòu)擴展和結(jié)構(gòu)修正。
若在數(shù)據(jù)庫中沒有檢索到樣品的衍射圖譜,則該樣品可能為新化合物。使用直接法或帕特森方法測定晶體結(jié)構(gòu),一般需要的獨立衍射峰數(shù)目為晶胞內(nèi)獨立原子個數(shù)為7-10倍,或待修正結(jié)構(gòu)參數(shù)的3-5倍。這對單晶數(shù)據(jù)是容易滿足的。然而通常的粉末衍射圖譜是將三維空間的衍射數(shù)據(jù)投影到一維空間上,使得d值相近或完全相同,但結(jié)構(gòu)振幅值相差很大的衍射峰重疊在一起,這樣提取的結(jié)構(gòu)振幅的誤差較大。提取結(jié)構(gòu)振幅較成熟的方法有兩種,Pawley方法和Le Bail方法。這兩種方法都是采用峰形擬合的方法,在晶體結(jié)構(gòu)未知的情況下,使各個可能的衍射峰疊加與實驗觀察結(jié)果一致,以達到重疊峰分離的目的。兩者的主要差別是Pawley方法是單峰擬合,而Le Bail方法是全譜擬合。用多晶數(shù)據(jù)求解結(jié)構(gòu)就好像用較差的單晶數(shù)據(jù)求解結(jié)構(gòu)一樣。多晶求解結(jié)構(gòu)獲得成功的原因在于從多晶衍射數(shù)據(jù)中提取的大的歸一化結(jié)構(gòu)振幅值相對較準(zhǔn)確,擴展相角所用的,以及正、負四重積關(guān)系式可以得到近似滿足;另一個原因是雖然數(shù)據(jù)誤差較大,但這些誤差是隨機分布,結(jié)果是使得ρ(r)值的背底提高,將一些輕原子埋在背底中,而那些重原子因為具有較強的散射能力,則仍可辨認。一般用多晶數(shù)據(jù)求解結(jié)構(gòu)只能確定不對稱晶胞中部分獨立原子,不可能全部確定所有的原子位置,剩余的原子位置通過傅里葉和差值傅里葉合成確定。這是用多晶衍射數(shù)據(jù)求解結(jié)構(gòu)的一個特點。根據(jù)上述單晶結(jié)構(gòu)分析方法得到的晶胞中部分原子的位置(初步相角)和從分離重疊峰后所得到的各衍射線的結(jié)構(gòu)振幅的絕對值。
一般氣體滲氮后白層約為 20、30微米,有的高達50微米。而白層通常具有較大的脆性,這限制了滲氮工藝在某些重要機器零件上的應(yīng)用。
對于白層產(chǎn)生脆性的原因和機理,有人認為是由于白層中出現(xiàn)
各種材料在同一快速滲氮條件,表面白層經(jīng)逐層X射線結(jié)構(gòu)衍射從圖譜可以看出。同一種材料經(jīng)不同工藝滲氮后,表面相差不多。不同鋼種在相同工藝條件下,滲氮后白層厚度及相組成不一樣,這是合金元素的作用。材料的化學(xué)成分不僅對白層的硬度,脆性影響極大,而且對白層的形成速度和相組成的影響也很大。
在白層中,合金元素或以彌散的合金氮化物相存在;或置換氮化鐵中的鐵原子以固熔方式存在。大多數(shù)研究者所進行的X射線結(jié)構(gòu)分析尚未發(fā)現(xiàn)合金氮化物相,試驗分析也未發(fā)現(xiàn)。因而可以認為在白層中,合金元素主要是固熔在鐵的氮化物相中。而合金氮化物相即便存在,其量也很少。 2100433B
第一章至第五章重點闡述X射線衍射的基本理論,第六章至第十章主要介紹X射線衍射的研究方法和實際應(yīng)用。書中各章節(jié)既相互關(guān)聯(lián),又自成體系,內(nèi)容由淺人深、簡捷明了、便于自學(xué)。書中引述了近些年來國內(nèi)外最新的研究成果及有關(guān)數(shù)據(jù)資料,并附有必要的圖表和計算公式。
X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大,用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由...
結(jié)構(gòu)分析(structural analysis) 是對指定結(jié)構(gòu)在承受預(yù)計荷載及發(fā)生外部變化(例如,支座移動及溫度變化)所進行的預(yù)計分析
伽瑪射線與X射線探傷除了傳感器的區(qū)別外,最大的區(qū)別就是放射源:一個是采用放射性物質(zhì)作放射源,一個是X射線發(fā)生器為放射源;一個是只要暴露就有射線輻射出來,而另一個設(shè)備不通電工作就完全沒有輻射危險;所以,...
經(jīng)過100多年的飛速發(fā)展,X射線結(jié)構(gòu)分析已成為研究材料晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成與宏觀性能之間相互關(guān)系的主要探測手段之一。它不僅被列為巖礦、材料等專業(yè)本科生和研究生的必修課程,而且在物理、化學(xué)、地質(zhì)、機械、環(huán)境等專業(yè)也被推薦為重要的選修課。在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制領(lǐng)域中,X射線結(jié)構(gòu)分析的應(yīng)用日益廣泛深入。鑒于學(xué)生及科技工作者學(xué)習(xí)X射線結(jié)構(gòu)分析的根本目的在于解決具體的實際問題,而不只是僅僅了解和掌握它的基本理論,為此本書加強了研究方法和相關(guān)專業(yè)實際應(yīng)用方面知識的傳授。書中引證了近些年來國內(nèi)外最新的研究成果和相關(guān)資料,并附有必要的圖表、說明和計算公式,以期方便廣大讀者的學(xué)習(xí)和使用。
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評分: 4.7
0 1 工件名稱 板厚(mm) 焊接方法 膠片類型 有效透照長度 技術(shù)等級 合格級別 透照方式 焦距 管電流 曝光時間 4.具體的檢測結(jié)果見《 X射線底片評定表》。 5.檢測示意及編號示意見《無損檢測部位示意圖》。 1.檢測總體情況: 2.檢測結(jié)果: 3.一次檢測合格率。 管電壓 年 月 日 檢測結(jié)果說明: 檢測標(biāo)準(zhǔn) 增感方式 材料 儀器型號 鋼結(jié)構(gòu)焊縫 X射線檢測報告 工程名稱 1
X射線管在醫(yī)學(xué)上用于診斷和治療,在工業(yè)技術(shù)方面用于材料的無損檢測、結(jié)構(gòu)分析、光譜分析和底片曝光等。X射線對人體有害,使用時須采取有效防護措施。
物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法,但是X射線衍射是最有效的、應(yīng)用最廣泛的手段,而且X射線衍射是人類用來研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的第一種方法。X射線衍射的應(yīng)用范圍非常廣泛,現(xiàn)已滲透到物理、化學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)以及各種工程技術(shù)科學(xué)中,成為一種重要的實驗方法和結(jié)構(gòu)分析手段,具有無損試樣的優(yōu)點。
X射線是一種波長很短(約為20~0.06埃)的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用高能電子束轟擊金屬“靶”材產(chǎn)生X射線,它具有與靶中元素相對應(yīng)的特定波長,稱為特征(或標(biāo)識)X射線??紤]到X射線的波長和晶體內(nèi)部原子面間的距離相近,1912年德國物理學(xué)家勞厄(M.von Laue)提出一個重要的科學(xué)預(yù)見:晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即當(dāng)一束 X射線通過晶體時將發(fā)生衍射,衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析在照相底片上得到的衍射花樣,便可確定晶體結(jié)構(gòu)。這一預(yù)見隨即為實驗所驗證。
X射線儀,是一種用來產(chǎn)生X射線的設(shè)備。
X射線儀可以分為工業(yè)用X射線儀和醫(yī)用X射線儀。工業(yè)用X射線儀可以按照產(chǎn)生射線的強度分硬射線機和軟射線機。用于理化檢測的衍射分析儀等屬于軟射線,而用于大,厚材料的檢測的是硬射線。硬射線的產(chǎn)生可以用高壓電的辦法,如100Kv 或300Kv的電壓加到x射線管字上,產(chǎn)生的射線可以穿透5--50mm的鋼板。而用電子加速器的辦法可以產(chǎn)生穿透100mm以上的鋼板的射線。使用高壓電辦法的機器可分為,便攜式,和移動式(固定式)。
X射線儀原理、構(gòu)造及發(fā)現(xiàn):1895年德國物理學(xué)家倫琴在研究陰極射線管中氣體放電現(xiàn)象時,用一只嵌有兩個金屬電極(一個叫做陽極,一個叫做陰極)的密封玻璃管,在電極兩端加上幾萬伏的高壓電,用抽氣機從玻璃管內(nèi)抽出空氣。為了遮住高壓放電時的光線(一種弧光)外泄,在玻璃管外面套上一層黑色紙板。他在暗室中進行這項實驗時,偶然發(fā)現(xiàn)距離玻璃管兩米遠的地方,一塊用鉑氰化鋇溶液浸洗過的紙板發(fā)出明亮的熒光。再進一步試驗,用紙板、木板、衣服及厚約兩千頁的書,都遮擋不住這種熒光。更令人驚奇的是,當(dāng)用手去拿這塊發(fā)熒光的紙板時,競在紙板上看到了手骨的影像。當(dāng)時倫琴認定:這是一種人眼看不見、但能穿透物體的射線。因無法解釋它的原理,不明它的性質(zhì),故借用了數(shù)學(xué)中代表未知數(shù)的"X"作為代號,稱為"X"射線(或稱X射線或簡稱X線)。這就是X射線的發(fā)現(xiàn)與名稱的由來。工業(yè)射線機正是使用了這種特性,利用高壓變壓器加在兩個金屬電極上的高壓產(chǎn)生射線。X射線儀用于航天,石油建設(shè),天然氣管道,鍋爐,壓力容器等無損探傷中不可缺少的設(shè)備。