SUSS MicroTec Lithography GmbH。
用于紫外曝光進(jìn)行微納米尺寸器件加工。
引引 序號(hào) 項(xiàng)目 指標(biāo) 普通 環(huán)保用 1 厚度 mm 0.2~4 2 寬度 m 2.5~8 3 拉伸強(qiáng)度(縱橫)MPa ≥17 ≥25 4 斷裂伸長(zhǎng)率(縱橫)% ≥...
1、鋼筋55-60kg/m2左右,混凝土0.4m3/m2左右;2、50kg/m2左右,混凝土0.6m3/m2左右3、鋼筋55-60kg/m2左右,混凝土0.55m3/m2左右4、鋼筋120kg/m2左...
套完價(jià),在工程設(shè)置中輸入相應(yīng)的建筑面積,這樣才會(huì)相應(yīng)的指標(biāo)。
格式:pdf
大?。?span id="4pgrfoi" class="single-tag-height">1.4MB
頁(yè)數(shù): 1頁(yè)
評(píng)分: 4.5
紫外線曝光機(jī)是印制板制造工藝中的重要設(shè)備,燈源是影響印制板曝光質(zhì)量的主要因素。提供一種曝光機(jī)燈源系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案,包括燈源的調(diào)光電路選擇、三菱PLC擴(kuò)展模塊模的使用、以及控制燈箱抽風(fēng)風(fēng)扇的PLC程序。
格式:pdf
大?。?span id="ty59lyy" class="single-tag-height">1.4MB
頁(yè)數(shù): 3頁(yè)
評(píng)分: 4.7
紫外線曝光機(jī)是印制板制造工藝中的重要設(shè)備,燈源是影響印制板曝光質(zhì)量的主要因素。本文提供一種曝光機(jī)燈源系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案,包括燈源的調(diào)光電路選擇、三菱PLC擴(kuò)展模塊模的使用、以及控制燈箱抽風(fēng)風(fēng)扇的PLC程序。
小型臺(tái)式無(wú)掩膜光刻機(jī)Microwriter ML3,通過(guò)激光直寫在光刻膠上直接曝光制作所需要的圖案,而無(wú)需掩膜版,專為實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)開發(fā),適用于各種實(shí)驗(yàn)室桌面。
掩膜版有兩種:一種是在涂有普通乳膠的照相干版上,依據(jù)掩模原圖,用照相方法制成的;另一種是在鍍有一薄層金屬(通常為鉻)的玻璃版上,用光刻法在金屬層上刻蝕出所需圖形而制成的。為了使每塊硅片能同時(shí)制作幾十至幾千個(gè)管芯或電路,掩模版上相應(yīng)有幾十至幾千個(gè)規(guī)則地重復(fù)排列的同一圖形。每個(gè)圖形之間具有一定的間隔,以便制好管芯或電路后進(jìn)行劃片分割。制作一種平面晶體管或集成電路,需要有一組(幾塊至十幾塊)可以相互精確套刻的掩模版。對(duì)掩版的基夲求是:精度高、套刻準(zhǔn)、反差強(qiáng)和酎磨損。
接觸式曝光指掩膜板直接與光刻膠層接觸。曝光出來(lái)的圖形與掩膜板上的圖形分辨率相當(dāng),設(shè)備簡(jiǎn)單。接觸式,根據(jù)施加力量的方式不同又分為:軟接觸,硬接觸和真空接觸。接觸的越緊密,分辨率越高,當(dāng)然接觸的越緊密,掩膜和材料的損傷就越大。
(1)軟接觸:把基片通過(guò)托盤吸附?。愃朴趧蚰z機(jī)的基片放置方式),掩膜蓋在基片上面;
(2)硬接觸:將基片通過(guò)一個(gè)氣壓(氮?dú)猓?,往上頂,使之與掩膜接觸;
(3)真空接觸:在掩膜和基片中間抽氣,使之更加好的貼合(想一想把被子抽真空放置的方式)
其缺點(diǎn)為:光刻膠污染掩膜板;掩膜板的磨損,容易損壞,壽命很低(只能使用5~25次);容易累積缺陷;上個(gè)世紀(jì)七十年代的工業(yè)水準(zhǔn),已經(jīng)逐漸被接近式曝光方式所淘汰了,國(guó)產(chǎn)光刻機(jī)均為接觸式曝光,國(guó)產(chǎn)光刻機(jī)的開發(fā)機(jī)構(gòu)無(wú)法提供工藝要求更高的非接觸式曝光的產(chǎn)品化。
接近式曝光指掩膜板與光刻膠基底層保留一個(gè)微小的縫隙(Gap),Gap大約為0~200μm??梢杂行П苊馀c光刻膠直接接觸而引起的掩膜板損傷,使掩膜和光刻膠基底能耐久使用;掩模壽命長(zhǎng)(可提高10 倍以上),圖形缺陷少。接近式在現(xiàn)代光刻工藝中應(yīng)用最為廣泛。
投影式曝光指在掩膜板與光刻膠之間使用光學(xué)系統(tǒng)聚集光實(shí)現(xiàn)曝光。一般掩膜板的尺寸會(huì)以需要轉(zhuǎn)移圖形的4倍制作。優(yōu)點(diǎn):提高了分辨率;掩膜板的制作更加容易;掩膜板上的缺陷影響減小。
投影式曝光分為:
(1)掃描投影曝光(Scanning Project Printing)。70年代末~80年代初,〉1μm工藝;掩膜板1:1,全尺寸。
(2)步進(jìn)重復(fù)投影曝光(Stepping-repeating Project Printing或稱作Stepper)。80年代末~90年代,0.35μm(I line)~0.25μm(DUV)。掩膜板縮小比例(4:1),曝光區(qū)域(Exposure Field)22×22mm(一次曝光所能覆蓋的區(qū)域)。增加了棱鏡系統(tǒng)的制作難度。
(3)掃描步進(jìn)投影曝光(Scanning-Stepping Project Printing)。90年代末~至今,用于≤0.18μm工藝。采用6英寸的掩膜板按照4:1的比例曝光,曝光區(qū)域(Exposure Field)26×33mm。優(yōu)點(diǎn):增大了每次曝光的視場(chǎng);提供硅片表面不平整的補(bǔ)償;提高整個(gè)硅片的尺寸均勻性。但是,同時(shí)因?yàn)樾枰聪蜻\(yùn)動(dòng),增加了機(jī)械系統(tǒng)的精度要求。2100433B