中文名 | 15-探針臺(tái) | 產(chǎn)????地 | 中國(guó)臺(tái)灣 |
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學(xué)科領(lǐng)域 | 機(jī)械工程 | 啟用日期 | 2018年12月28日 |
所屬類別 | 分析儀器 > 電子光學(xué)儀器 > 電子探針 |
真空吸附;X-Y分辨率優(yōu)于 /-1um 載物臺(tái)平整度5um 可控制樣品室氣氛及屏蔽光磁 機(jī)臺(tái)配有真空模塊,具有氣體環(huán)境操作功能,支持升級(jí)高低溫模塊。
顯微鏡系統(tǒng):1、氣動(dòng)移動(dòng)支架 2、移動(dòng)范圍:50mm*50nm2、探針臺(tái):1、可加載真空/磁性吸附探針座 2、卡盤(pán)平整度:<5μm。
INGUN探針,測(cè)試針,用于測(cè)試PCBA的一種探針。表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。目前國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠家有:ECT,INGUN, QA ,IDI、Semiprobe 探針的材...
測(cè)試探針,K-50-QG 無(wú)線路由器測(cè)試,是應(yīng)用于電子測(cè)試中測(cè)試PCBA的一種測(cè)試連接電子元件。
將赴吳興登樂(lè)游原一絕(杜牧)
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頁(yè)數(shù): 2頁(yè)
評(píng)分: 4.5
第 1 頁(yè),共 2 頁(yè) (工日) (kg) (kg) (度) (m3) (t) (kg) (kg) 48.76元 6.51元 3元 0.96元 0.211元 1.148元 25.64元 4.27元 1 單斗挖掘機(jī) 液壓 1m3 431.28 2 69 304.52 735.8 201.76 2 裝載機(jī) 1.0m3 118.7 2 48 241.52 360.22 153.04 3 推土機(jī) 74Kw 231.93 2 53 256.52 488.45 164.64 4 蛙式夯實(shí)機(jī) 2.8KW 6.68 2 16 112.88 119.56 41.68 5 風(fēng)鎬(鏟) 手持式 8.12 310 65.41 73.53 6 雙膠輪車(chē) 4.91 0 4.91 7 砂漿拌和機(jī) 18.17 1 34 81.4 99.57 20.84 8 振搗器 插入式 2.2kw 12.73 10 9.6 22.3
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頁(yè)數(shù): 1頁(yè)
評(píng)分: 4.4
特殊腳手架驗(yàn)收單 施工單位 工程名稱 架子名稱 搭設(shè)班組 驗(yàn)收部位 驗(yàn) 收 內(nèi) 容 驗(yàn)收項(xiàng)目 驗(yàn)收意見(jiàn) 驗(yàn)收項(xiàng)目 驗(yàn)收意見(jiàn) 驗(yàn)收要求: 1 .特殊腳手架必須有設(shè)計(jì)方案、安全技術(shù)措施及負(fù)荷計(jì)算書(shū)。 2.特殊架子組裝或搭設(shè)完畢后, ,由技術(shù)負(fù)責(zé)人組織方案制定人、架子班負(fù)責(zé)人、安全部門(mén),根據(jù) 實(shí)際情況進(jìn)行逐層逐段或一次性驗(yàn)收,并簽署驗(yàn)收意見(jiàn)。 3.驗(yàn)收合格后的腳手架方可使用。 4.驗(yàn)收合格后的特殊腳手架未經(jīng)安全部門(mén)同意,任何人不得擅自改動(dòng)。 驗(yàn)收結(jié)論: 搭設(shè)班組 責(zé)任工程師 方案制定人 技術(shù)負(fù)責(zé)人 安全部門(mén) /人員 驗(yàn)收日期 注:本表由技術(shù)部門(mén) / 人員負(fù)責(zé)填寫(xiě),項(xiàng)目經(jīng)理審批。
探針臺(tái)分類
探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)
從功能上來(lái)區(qū)分有:溫控探針臺(tái),真空探針臺(tái)(超低溫探針臺(tái)),RF探針臺(tái),LCD平板探針臺(tái),霍爾效應(yīng)探針臺(tái),表面電阻率探針臺(tái)
經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型
根據(jù)客戶需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)
X-Y移動(dòng)行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)
chuck Z軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離
顯微鏡:金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)
顯微鏡移動(dòng)方式:立柱環(huán)繞型、移動(dòng)平臺(tái)型、龍門(mén)結(jié)構(gòu)型(可選)
探針座:有0.7um、2um、10um精度可選,磁性吸附帶磁力開(kāi)關(guān)
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:晶圓廠、研究所、高校等
半自動(dòng)型
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm
可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:8寸/6寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
電動(dòng)型
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不銹鋼或鍍金)
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程300mm x 300mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm,微調(diào)精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)8~12顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2“x2”x2“
材質(zhì):花崗巖臺(tái)面 不銹鋼
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:12寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
LCD半自動(dòng)探針臺(tái)
機(jī)械手臂取放片
電動(dòng)、鍵入坐標(biāo)尋位置
量測(cè)尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
LCD手動(dòng)探針臺(tái)
白熾燈或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量測(cè)分析
機(jī)臺(tái)尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
PCB量測(cè)探針臺(tái)(TDR)
高頻測(cè)試探頭GSG / GS / SG
頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
機(jī)臺(tái)尺寸同LCD 探針臺(tái)
太陽(yáng)能產(chǎn)業(yè)探針臺(tái)(Solar Cell 量測(cè)系統(tǒng))
量測(cè)軟體:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太陽(yáng)光模擬器
探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)
從功能上來(lái)區(qū)分有:溫控探針臺(tái),真空探針臺(tái)(超低溫探針臺(tái)),RF探針臺(tái),LCD平板探針臺(tái),霍爾效應(yīng)探針臺(tái),表面電阻率探針臺(tái)
根據(jù)客戶需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)
X-Y移動(dòng)行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)
chuck Z軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離
顯微鏡:金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)
顯微鏡移動(dòng)方式:立柱環(huán)繞型、移動(dòng)平臺(tái)型、龍門(mén)結(jié)構(gòu)型(可選)
探針座:有0.7um、2um、10um精度可選,磁性吸附帶磁力開(kāi)關(guān)
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:晶圓廠、研究所、高校等
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm
可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:8寸/6寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不銹鋼或鍍金)
X,Y電動(dòng)移動(dòng)行程300mm x 300mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm,微調(diào)精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)8~12顆
顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"
材質(zhì):花崗巖臺(tái)面+不銹鋼
可搭配Probe card測(cè)試
適用領(lǐng)域:12寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品
機(jī)械手臂取放片
電動(dòng)、鍵入坐標(biāo)尋位置
量測(cè)尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
白熾燈或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量測(cè)分析
機(jī)臺(tái)尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
高頻測(cè)試探頭GSG / GS / SG
頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
機(jī)臺(tái)尺寸同LCD 探針臺(tái)
量測(cè)軟體:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太陽(yáng)光模擬器
主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)?(IC和MEMS)以及光電行業(yè)的測(cè)試。主要使用在電子,機(jī)電,化工,材料特性研究所,及光電系所,納米機(jī)械,航空電子等,其目的在于保證質(zhì)量及器件的可造性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
雙面探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)
雙面探針臺(tái) 從功能上來(lái)區(qū)分有:高溫探針臺(tái),低溫探針臺(tái),RF探針臺(tái),LCD平板探針臺(tái),霍爾效應(yīng)探針臺(tái),表面電阻率探針臺(tái)