Zeta電位分析儀

Zeta電位分析儀可測(cè)定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位

可測(cè)定固體zeta電位

寬粒徑范圍(0.6nm~10μm)，寬濃度范圍(粒徑測(cè)試:0.00001%~40%

可精確測(cè)量各種濃度的懸浮液

用戶友好的軟件

多種樣品池選擇

可選擇一次性樣品池

結(jié)合線性相關(guān)器和對(duì)數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對(duì)各種樣品進(jìn)行表征

Zeta電位分析儀可選擇自動(dòng)滴定裝置控制懸浮液pH值

半導(dǎo)體

研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。

醫(yī)藥和食品行業(yè)

乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品)，蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究(微囊)。

陶瓷和顏料工業(yè)

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無(wú)機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

聚合物和化工領(lǐng)域

乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過(guò)程研究，紙漿添加劑研究。

zeta電位分析儀 NanoPlus是麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀，是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術(shù)來(lái)分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機(jī)，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測(cè)粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

Zeta電位儀是華東師范大學(xué)與上海中晨數(shù)字技術(shù)設(shè)備有限公司合作在94年推出的新一代測(cè)試儀器的改進(jìn)型，新產(chǎn)品由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成，實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對(duì)采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設(shè)計(jì)，與其它同類產(chǎn)品相比，它具有更多的優(yōu)異性能。

Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性?？蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。

對(duì)許多熟悉利用此法進(jìn)行高分子分離的人來(lái)說(shuō)，顆粒電泳也是一個(gè)類似現(xiàn)象。懸浮于介質(zhì)中的顆粒被置于一電場(chǎng)中;如果帶電他們會(huì)在電場(chǎng)產(chǎn)生流動(dòng)，陽(yáng)性顆粒朝負(fù)極流動(dòng)，陰性顆粒朝正極流動(dòng)。然而，顆粒并不是獨(dú)自流動(dòng)，他們周?chē)鷷?huì)攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動(dòng)顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面，而zeta電位正是這一界面的電位。因此zeta電位可以通過(guò)測(cè)量顆粒在已知電場(chǎng)中的流速來(lái)測(cè)定。早期的測(cè)量?jī)x器(Rank微電泳儀)通過(guò)充滿誤差，慢速度的手動(dòng)方法觀察顆粒，并自動(dòng)計(jì)算樣品中zeta電位的分布。大多數(shù)系統(tǒng)在水介質(zhì)中的這一值在±100mV范圍內(nèi)。