中文名 | 比表面測試法 | 類????型 | 方法 |
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領(lǐng)????域 | 科學(xué)研究 | 具體方法 | 動態(tài)色譜法、靜態(tài)容量法等 |
連續(xù)流動法
動態(tài)色譜法是相對于靜態(tài)法而言,整個測試過程是在常壓下進(jìn)行,吸附劑是在處于連續(xù)流動的狀態(tài)下被吸附。連續(xù)流動法是在氣相色譜原理的基礎(chǔ)上發(fā)展而來,由熱導(dǎo)檢測器來測定樣品吸附氣體量的多少。連續(xù)動態(tài)氮吸附是以氮氣為吸附氣,以氦氣或氫氣為載氣,兩種氣體按一定比例混合,使氮氣達(dá)到指定的相對壓力,流經(jīng)樣品顆粒表面。當(dāng)樣品管置于液氮環(huán)境下時,粉體材料對混合氣中的氮氣發(fā)生物理吸附,而載氣不會被吸附,造成混合氣體成分比例變化,從而導(dǎo)致熱導(dǎo)系數(shù)變化,這時就能從熱導(dǎo)檢測器中檢測到信號電壓,即出現(xiàn)吸附峰。吸附飽和后讓樣品重新回到室溫,被吸附的氮氣就會脫附出來,形成與吸附峰相反的脫附峰。吸附峰或脫附峰的面積大小正比于樣品表面吸附的氮氣量的多少,可通過定量氣體來標(biāo)定峰面積所代表的氮氣量。通過測定一系列氮氣分壓P/P0下樣品吸附氮氣量,可繪制出氮等溫吸附或脫附曲線,進(jìn)而求出比表面積。通常利用脫附峰來計算比表面積。
特點:動態(tài)色譜法測試過程操作簡單,消除系統(tǒng)誤差能力強,同時具有可采用直接對比法和BET方法進(jìn)行比表面積理論計算。
容量法
容量法中,測定樣品吸附氣體量多少是利用氣態(tài)方程來計算。在預(yù)抽真空的密閉系統(tǒng)中導(dǎo)入一定量的吸附氣體,通過測定出樣品吸脫附導(dǎo)致的密閉系統(tǒng)中氣體壓力變化,利用氣態(tài)方程P*V/T=nR換算出被吸附氣體摩爾數(shù)變化。
直接對比法
直接對比法比表面積分析測試是利用連續(xù)流動法來測定吸附氣體量,測定過程中需要選用標(biāo)準(zhǔn)樣品(經(jīng)嚴(yán)格標(biāo)定比表面積的穩(wěn)定物質(zhì))。并聯(lián)到與被測樣品完全相同的測試氣路中,通過與被測樣品同時進(jìn)行吸附,分別進(jìn)行脫附,測定出各自的脫附峰。在相同的吸附和脫附條件下,被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的比表面積正比于其峰面積大小。
計算公式如下:
Sx:被測樣品比表面積 S0:標(biāo)準(zhǔn)樣品比表面積,
Ax:被測樣品脫附峰面積 A0:標(biāo)準(zhǔn)樣品脫附峰面積
Wx:被測樣品質(zhì)量 W0:標(biāo)準(zhǔn)樣品質(zhì)量
優(yōu)點:無需實際標(biāo)定吸附氮氣量體積和進(jìn)行復(fù)雜的理論計算即可求得比表面積;測試操作簡單,測試速度快,效率高。
缺點:當(dāng)標(biāo)樣和被測樣品的表面吸附特性相差很大時,如吸附層數(shù)不同,測試結(jié)果誤差會較大。
直接對比法僅適用于與標(biāo)準(zhǔn)樣品吸附特性相接近的樣品測量,由于BET法具有更可靠的理論依據(jù),國內(nèi)外更普遍認(rèn)可BET法比表面積測定。
BET比表面積測定法
BET理論計算是建立在Brunauer、Emmett和Teller三人從經(jīng)典統(tǒng)計理論推導(dǎo)出的多分子層吸附公式基礎(chǔ)上,即著名的BET方程:
P: 吸附質(zhì)分壓 P0: 吸附劑飽和蒸汽壓
V: 樣品實際吸附量 Vm: 單層飽和吸附量
C:與樣品吸附能力相關(guān)的常數(shù)
由上式可以看出,BET方程建立了單層飽和吸附量Vm與多層吸附量V之間的數(shù)量關(guān)系,為比表面積測定提供了很好的理論基礎(chǔ)。
BET方程是建立在多層吸附的理論基礎(chǔ)之上,與許多物質(zhì)的實際吸附過程更接近,因此測試結(jié)果可靠性更高。實際測試過程中,通常實測3-5組被測樣品在不同氣體分壓下多層吸附量V,以P/P0為X軸, 為Y軸,由BET方程做圖進(jìn)行線性擬合,得到直線的斜率和截距,從而求得Vm值計算出被測樣品比表面積。理論和實踐表明,當(dāng)P/P0取點在0.05-0.35范圍內(nèi)時,BET方程與實際吸附過程相吻合,圖形線性也很好,因此實際測試過程中選點需在此范圍內(nèi)。由于選取了3-5組P/P0進(jìn)行測定,通常我們稱之為多點BET。當(dāng)被測樣品的吸附能力很強,即C值很大時,直線的截距接近于零,可近似認(rèn)為直線通過原點,此時可只測定一組P/P0數(shù)據(jù)與原點相連求出比表面積,我們稱之為單點BET。與多點BET相比,單點BET結(jié)果誤差會大一些。
若采用流動法來進(jìn)行BET測定,測量系統(tǒng)需具備能精確調(diào)節(jié)氣體分壓P/P0的裝置,以實現(xiàn)不同P/P0下吸附量測定。對于每一點P/P0下BET吸脫附過程與直接對比法相近似,不同的是BET法需標(biāo)定樣品實際吸附氣體量的體積大小,而直接對比法則不需要。
特點:BET理論與物質(zhì)實際吸附過程更接近,可測定樣品范圍廣,測試結(jié)果準(zhǔn)確性和可信度高,特別適合科研及生產(chǎn)單位使用。
同時這兩種分類標(biāo)準(zhǔn)又有著一定的聯(lián)系,直接對比法只能采用動態(tài)色譜法來測定吸附氣體量的多少,吸附氣體一般使用的都是氮氣,而BET法既可以采用連續(xù)流動法,也可以采用容量法來測定吸附氣體量。
(1)表面張力法 表面張力測定法適合于離子表面活性劑和非離子表面活性劑臨界膠束濃度的測定,無機離子的存在也不影響測定結(jié)果。在表面活性劑濃度較低時,隨著濃度的增加,溶液的表面張力...
水泥比表面積試驗方法有水泥比表面積測定方法勃氏法: 本方法主要是根據(jù)一定量的空氣通過具有一定空隙率和固定厚度的水泥層時,所受阻力不同而引起流速的變化來測定水泥的比表面積。在一定空隙率的水泥層中,孔隙的...
利用直流四探針法測量半導(dǎo)體的電阻率 一,測試原理: 當(dāng)四根金屬探針排成一條直線,并以一定壓力壓在半導(dǎo)體材料上時,在1,4兩根探針間通過電流I,則2,3探針間產(chǎn)生電位差V(如圖所示). 根據(jù)公式可計算出...
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光纖通信測試法( OTDR)的參數(shù)設(shè)置及常 用方法 光纖 通信是以光波作載波以光纖為傳輸媒介的通信方 式。光纖通信由于傳輸距離遠(yuǎn)、信息容量大且通信質(zhì)量高等 特點而成為當(dāng)今信息傳輸?shù)闹饕侄危?“信息高速公路 ”的 基石。光纖測試技術(shù)是光纖應(yīng)用領(lǐng)域中最廣泛、最基本的一 項專門技術(shù)。 OTDR 是光纖測試技術(shù)領(lǐng)域中的主要 儀表 ,它 被廣泛應(yīng)用于光纜線路的維護、 施工之中, 可進(jìn)行光纖長度、 光纖的傳輸衰減、接頭衰減和故障定位等的測量。 OTDR 具 有測試時間短、測試速度快、測試精度高等優(yōu)點。 1 支持 OTDR 技術(shù)的兩個基本公式 OTDR(Optical Time Domain Reflectometer ,光時 域反射儀 )是利用光脈沖在光纖中傳輸時的瑞利散射和菲涅 爾反射所產(chǎn)生的背向散射而制成的高科技、高精密的光電一 體化儀表。半導(dǎo)體光源 (LED 或 LD)在驅(qū)動電路調(diào)制下輸出光
先張測試法是為了提高鋼筋混凝土構(gòu)件的抗裂性能以及避免鋼筋混凝土構(gòu)件過早出現(xiàn)裂縫,而在混凝土構(gòu)件預(yù)制過程中對其預(yù)先施加應(yīng)力以提高構(gòu)件性能的一種方法。通常在澆灌混凝土之前張拉鋼筋的制作方法也稱為先張測試法,它在工程建設(shè)中起著重要作用。
先張測試法生產(chǎn)構(gòu)件可采用長線臺座法,一般臺座長度在50~150m之間,或在鋼模中機組流水法生產(chǎn)構(gòu)件。先張法生產(chǎn)構(gòu)件,涉及到臺座、張拉機具和夾具及先張法張拉工藝,臺座在先張測試法構(gòu)件生產(chǎn)中是主要的承力構(gòu)件,它必須具有足夠的承載能力、剛度和穩(wěn)定性,以免因臺座的變形、傾覆和滑移而引起預(yù)應(yīng)力的損失,以確保先張法生產(chǎn)構(gòu)件的質(zhì)量。2100433B
比表面積定義:每克物質(zhì)中所有顆??偟耐獗缺砻娣e與內(nèi)比表面積之和,國際單位是:m2/g ,比表面積是衡量物質(zhì)特性的重要參量,其大小與顆粒的粒徑、形狀、表面缺陷及孔結(jié)構(gòu)密切相關(guān);同時,比表面積大小對物質(zhì)其它的許多物理及化學(xué)性能會產(chǎn)生很大影響,特別是隨著顆粒粒徑的變小,比表面積成為了衡量物質(zhì)性能的一項非常重要參量,如目前廣泛應(yīng)用的納米材料。比表面積大小性能檢測在許多的行業(yè)應(yīng)用中是必須的,如電池材料,催化劑,橡膠中碳黑補強劑,納米材料,分子篩,活性炭等。一般固體比表面積多在0.1-2000之間。也有一些材料比較特殊。像電池的正極三元材料,比表面只有零點幾。而有些活性炭的比表面可以達(dá)到三四千左右。
固體有一定的幾何外形,借通常的儀器和計算可求得其表面積。但粉末或多孔性物質(zhì)表面積的測定較困難,它們不僅具有不規(guī)則的外表面,還有復(fù)雜的內(nèi)表面。通常稱1g固體所占有的總表面積為該物質(zhì)的比表面積(specific surface area,單位為㎡/g)。比表面測試主要即指測試固體比表面積的方法和過程,固體尤其是多孔固體的比表面測試,無論在科研還是工業(yè)生產(chǎn)中都具有十分重要的意義。
比表面積是衡量物質(zhì)特性的重要參量,其大小與顆粒的粒徑、形狀、表面缺陷及孔結(jié)構(gòu)密切相關(guān);同時,比表面積大小對物質(zhì)其它的許多物理及化學(xué)性能會產(chǎn)生很大影響,特別是隨著顆粒粒徑的變小,比表面積成為了衡量物質(zhì)性能的一項非常重要參量,如目前廣泛應(yīng)用的納米材料。