中文名 | 薄層[色譜]掃描儀 | 外文名 | thin layer [chromatography] scanner |
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所屬學(xué)科 | 計(jì)量學(xué) | 公布時(shí)間 | 2015年 |
《計(jì)量學(xué)名詞》第一版。 2100433B
對(duì)薄層色譜分離后的化合物斑點(diǎn)進(jìn)行掃描測(cè)量和記錄的儀器。由光源、單色器、可掃描移動(dòng)的樣品臺(tái)及檢測(cè)系統(tǒng)組成。
基本原理 色譜法的基本原理是利用混合物中各組分在某一物質(zhì)中的吸附或溶解性能的不同,或和其它親和作用性能的差異,使混合物的溶液流經(jīng)該種物質(zhì),進(jìn)行反復(fù)的吸附或分配等作用,從而將各組份分開。薄層色譜是一種...
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應(yīng)用薄層掃描儀-雙溶劑溶解提取法鑒別藍(lán)黑鋼筆墨水字跡的書寫時(shí)間,為解決文件檢驗(yàn)中鑒定藍(lán)黑鋼筆墨水字跡的書寫時(shí)間這個(gè)難題提供了弱-強(qiáng)雙溶劑的選定、取樣方法、溶解方法、溶解時(shí)間、點(diǎn)樣方法以及薄層掃描的條件,可以量化地確定藍(lán)黑鋼筆墨水的相對(duì)書寫時(shí)間。實(shí)驗(yàn)隨機(jī)選用了8種藍(lán)黑墨水樣品進(jìn)行相對(duì)書寫時(shí)間的鑒定,得到了良好的鑒別結(jié)果。
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北京展杰興業(yè)科技有限公司 TEL :010-58765566 FAX :010-58765726 日本東京精工( TOKYO SEIKO ) 筒體掃描儀說(shuō)明 一、產(chǎn)品說(shuō)明 二、安裝方案及其注意事項(xiàng) 三、水泥廠筒體掃描儀安裝附圖 北京展杰興業(yè)科技有限公司 2009.2.27 北京展杰興業(yè)科技有限公司 TEL :010-58765566 FAX :010-58765726 一、筒體掃描儀產(chǎn)品說(shuō)明 1、簡(jiǎn)介: 本系統(tǒng)是由日本東京精工 (TOKYO SEIKO )制造,可以持續(xù)監(jiān)視水泥工業(yè)中旋轉(zhuǎn)筒體表面的溫 度分布。 基于先進(jìn)的光學(xué)和電子學(xué)工藝結(jié)合, 系統(tǒng)能快速發(fā)現(xiàn)筒體表面異常溫度以及窯爐燃燒、 窯內(nèi)耐火 材料脫落等狀況, 并提供快速的報(bào)警功能。 測(cè)量得到的溫度數(shù)據(jù)和筒體旋轉(zhuǎn)情況可以被輸送并保存到計(jì) 算機(jī)。3D、2D 圖像和各種數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)處理后顯示在顯示器上。 本系統(tǒng)最多連接六個(gè)鏡頭,
薄層色譜掃描儀是對(duì)薄層色譜進(jìn)行定量檢測(cè)分析的儀器,當(dāng)前市場(chǎng)上有兩類薄層色譜掃描儀:
是一種全波長(zhǎng)掃描儀,提供波長(zhǎng)200-800nm范圍的可選波長(zhǎng),通過(guò)檢測(cè)樣品對(duì)光的吸收強(qiáng)弱確定物質(zhì)含量。該掃描儀也能檢測(cè)254nm或365nm紫外照射產(chǎn)生的熒光強(qiáng)度,從而進(jìn)行特異性檢測(cè)。
傳統(tǒng)掃描儀的掃描方式分為:單光束掃描、雙光束掃描和雙波長(zhǎng)掃描。
單光束掃描:采用單一光束(即單一波長(zhǎng)掃描),其結(jié)果就是上圖中一特定波長(zhǎng)條件下的單條曲線。儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,但是基線不穩(wěn),實(shí)際中很少使用。
雙光束掃描:采用同一波長(zhǎng)的兩個(gè)光束同步掃描,一個(gè)光束掃描樣品展開通道,另一個(gè)光束掃描樣品通道旁邊的空白區(qū)域,這樣就可扣除空白吸收,部分消除薄層板展開方向鋪板不均勻產(chǎn)生的誤差。但是無(wú)法消除垂至于展開方向鋪板不均勻產(chǎn)生的誤差。
雙波長(zhǎng)掃描:兩個(gè)不同波長(zhǎng)的光束交替掃描樣品展開的通道區(qū)域,波長(zhǎng)選擇時(shí),一個(gè)波長(zhǎng)為樣品最大吸收位置,另一是吸收極小值位置。如上圖所示,如檢測(cè)目標(biāo)為3(則最大吸收峰為290nm,極小值可選200nm、260nm或325nm)。這種方法可基本消除鋪板不均產(chǎn)生的誤差,因此掃描基線很穩(wěn)定。
以上各種掃描方式中,根據(jù)光源大小(掃描精度)不同可分為直線掃描和鋸齒掃描。
直線掃描:用可以覆蓋樣品展開通道的寬光束一次性掃完整個(gè)展開通道,即在展開方向上(圖中橫坐標(biāo)),每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)只是一個(gè)掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)。
鋸齒掃描:采用點(diǎn)狀光源,光點(diǎn)尺寸小于通道寬度,因此在展開方向移動(dòng)到任何一點(diǎn)時(shí),光源都要逐點(diǎn)沿樣品通道方向掃描,即形成"之"形(或鋸齒形掃描)。這樣,在展開方向上每一點(diǎn)的數(shù)據(jù)都是多個(gè)點(diǎn)掃描結(jié)果的累加值。鋸齒掃描的精度相對(duì)直線掃描明顯提高。
當(dāng)前,在定量分析中,薄層掃描多采用雙波長(zhǎng)鋸齒掃描。
分析誤差
薄層分析的誤差包括三個(gè)方面:點(diǎn)樣誤差、展開誤差、定位誤差和檢測(cè)誤差。
采用自動(dòng)點(diǎn)樣器,誤差可控制在0.5%,熟練的分析人員用毛細(xì)管點(diǎn)樣,誤差小于1.0%,若用微量進(jìn)樣器,誤差會(huì)大一些。
展開誤差來(lái)自鋪板的均勻性和樣品展開效果,若采用預(yù)制的高效薄層板,誤差會(huì)明顯降低,采用雙波長(zhǎng)鋸齒掃描,也能有效降低展開誤差。
定位誤差值斑點(diǎn)的位置和大小判定,擴(kuò)散、脫尾等易產(chǎn)生定位誤差。檢測(cè)誤差來(lái)自光源的穩(wěn)定性、光檢測(cè)器的穩(wěn)定性以及樣品對(duì)光吸收(或熒光產(chǎn)生)的線性度等方面。為減少這些誤差,需要非常精密的機(jī)電系統(tǒng),這也直接導(dǎo)致產(chǎn)品高昂的價(jià)格。
通常情況下,薄層掃描分析的誤差在3%以下。
薄層數(shù)碼成像分析技術(shù)是利用數(shù)碼成像設(shè)備獲得薄層板上各點(diǎn)的光強(qiáng)度信息,之后對(duì)獲得圖像進(jìn)行分析的薄層分析技術(shù)。數(shù)碼成像設(shè)備包括兩種:照相機(jī)和掃描儀(由于數(shù)碼掃描儀采用逐行成像技術(shù),為便于區(qū)分傳統(tǒng)薄層掃描儀的逐點(diǎn)掃描,將數(shù)碼掃描儀稱為逐行掃描儀)。
和傳統(tǒng)薄層掃描一樣,照相機(jī)或逐行掃描儀都具有光檢測(cè)系統(tǒng),它們都是將光量線性轉(zhuǎn)化為電信號(hào)的元件。不同的是,照相機(jī)和逐行掃描儀可進(jìn)一步將電信號(hào)轉(zhuǎn)換成電腦圖像,圖像中單個(gè)點(diǎn)(像素)的顏色深淺反映了光的強(qiáng)弱。
因此,薄層數(shù)碼成像更接近人眼觀察檢測(cè),結(jié)果更直觀,因此非常適合鑒別,特別是中藥指紋圖譜的識(shí)別。
數(shù)碼成像儀不僅能完成普通白光照射下的成像分析,再裝配254nm或365nm紫外燈后,也可以檢測(cè)特異熒光,特異熒光檢測(cè)。
1.離心薄層色譜儀 2.棒狀薄層色譜儀 3.手動(dòng)薄層色譜儀 4.雙波長(zhǎng)薄層色譜掃描儀 5.全自動(dòng)薄層色譜儀 6.旋轉(zhuǎn)薄層色譜儀 7.全波長(zhǎng)薄層色譜儀 8.全能型薄層色譜儀 9.二極管陣列薄層色譜掃描儀 10.加壓薄層色譜儀 11.暗箱式薄層色譜攝影儀
薄層色譜,分離后的物質(zhì)通過(guò)直接觀察,或者染色處理后觀察,或者在紫外燈照射下觀察。其中紫外照射熒光觀察是最常用的方法。
但是薄層色譜法具有操作簡(jiǎn)單、快速,設(shè)備投資小、檢測(cè)運(yùn)行成本低等特點(diǎn),在各領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。