光纖檢測(cè)主要目的是保證系統(tǒng)連接的質(zhì)量,減少故障因素以及故障時(shí)找出光纖的故障點(diǎn)。
主要分為人工簡(jiǎn)易測(cè)量和精密儀器測(cè)量。
1、光纖系統(tǒng)的測(cè)試指標(biāo)
光纖線(xiàn)路的測(cè)試只要求測(cè)試一項(xiàng)結(jié)果──衰減:
· 衰減量<1.5dB,(1300nm)
· 衰減量<2.5dB,(850nm)
2、測(cè)試項(xiàng)目
· 連通性測(cè)試
· 全程衰減及SC連接頭衰減測(cè)試
3、具體測(cè)試方法
· 多模光纖水平子系統(tǒng)需要測(cè)試端的參數(shù);
沿一個(gè)方向在波長(zhǎng)850nm或1300nm處測(cè)試衰耗值
· 多模光纖主干系統(tǒng)需要測(cè)試的參數(shù);
沿一個(gè)方向在波長(zhǎng)850nm及1300nm處測(cè)試衰耗值
由于不同方向的測(cè)試的數(shù)值之差,一般會(huì)很小,而且多半由測(cè)試儀器的精度或測(cè)試手法而引起,所以單方向測(cè)試已足夠。而水平子系統(tǒng)的距離標(biāo)準(zhǔn)極限很短(90米),所以其在不同波長(zhǎng)處測(cè)試值的差別不大,因而單波長(zhǎng)測(cè)試已足夠)。
為符合TIA/EIA528-14A關(guān)于"多模光纖的安裝及光功率損耗的測(cè)試"等要求,光纖測(cè)試采用FTK200型測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試,對(duì)于光纖系統(tǒng),測(cè)試指標(biāo)可由以下公式計(jì)算得出:
全程鏈路衰耗值=光纜的衰耗值 耦合器光纖連接頭損耗
注:耦合連接具體依據(jù)其連接插頭型號(hào)有多種方式,相關(guān)的一些測(cè)試指標(biāo)如下:
50um多模光纖系統(tǒng)
多模光纖 |
連接頭 |
|||
信號(hào)波長(zhǎng) |
最大衰減dB/km |
最大容量MHz/km |
類(lèi)型 |
最大衰減dB |
850nm |
3.50 |
1500 |
多模LC/LC連接頭 |
0.39 |
1300nm |
1.50 |
500 |
多模LC/LC連接頭 |
0.39 |
50um多模光纖損耗公式:
光纖線(xiàn)纜的損耗=光纖線(xiàn)纜長(zhǎng)度(km)×(3.50dB/km在850nm處或1.50dB/km在1300nm處)
耦合器的衰耗(ST或SC連接器)=(連接器的數(shù)目×0.39dB) 0.42dB
跳線(xiàn)(網(wǎng)線(xiàn)跳線(xiàn)與光纖跳線(xiàn))不計(jì)測(cè)試費(fèi)用。網(wǎng)線(xiàn)與光纖(從弱電箱至網(wǎng)絡(luò)插座),必須計(jì)算測(cè)試費(fèi)用。
光纖的測(cè)試有很多測(cè)試項(xiàng)目,不知道你要問(wèn)的是測(cè)試哪個(gè)項(xiàng)目,一般在工程中測(cè)試主要關(guān)心的就是光纖的衰減和長(zhǎng)度。單模光纖和多模光纖是不同的,主要是光纖的幾何尺寸的差異決定了他們有不同的傳輸光導(dǎo)。在應(yīng)用上,單模...
(是工作在1.55pm波段的,如果在此波段也能實(shí)現(xiàn)零色散,就更有利于應(yīng)用1.55Pm波段的長(zhǎng)距離傳輸。于是,巧妙地利用光纖材料中的石英材料色散與纖芯結(jié)構(gòu)色散的合成抵消特性,就可使原在1.3Pm段的零色...
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提出了一種基于高速外設(shè)互聯(lián)組件總線(xiàn)的光纖檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)方案,介紹了系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu),對(duì)系統(tǒng)軟/硬件設(shè)計(jì)的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了探討,研究了現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列內(nèi)嵌的高速外設(shè)互聯(lián)組件硬核,Windows下WDM驅(qū)動(dòng)程序的開(kāi)發(fā)和Win32應(yīng)用程序的設(shè)計(jì)。軟硬件合理結(jié)合,較好地滿(mǎn)足了系統(tǒng)對(duì)外接口的要求。在雷達(dá)系統(tǒng)實(shí)際應(yīng)用中效果顯著,極大地提高了系統(tǒng)的調(diào)試效率。
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隨著國(guó)家工業(yè)的迅速發(fā)展,在工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中,常常需要測(cè)量液體液位,并逐步體現(xiàn)在與人們?nèi)粘I钕⑾⑾嚓P(guān)的環(huán)節(jié)?,F(xiàn)有水箱液位控制系統(tǒng)大都結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,功能單一,抗干擾能力差,靈敏性能較為薄弱。相對(duì)而言,光纖調(diào)制檢測(cè)技術(shù)就體現(xiàn)出靈敏性能較強(qiáng)、動(dòng)態(tài)領(lǐng)域區(qū)間較寬、不易被電磁所影響、安全可靠都能夠優(yōu)勢(shì)特征,尤其是在那些輻射較強(qiáng)、易腐蝕的條件下,這一技術(shù)的應(yīng)用最為有效。正是這一原因,讓它受到了越來(lái)越多的重視。本
光纖檢測(cè)的主要目的是保證系統(tǒng)連接的質(zhì)量,減少故障因素以及故障時(shí)找出光纖的故障點(diǎn)。檢測(cè)方法很多,主要分為人工簡(jiǎn)易測(cè)量和精密儀器測(cè)量。
1.人工簡(jiǎn)易測(cè)量
這種方法一般用于快速檢測(cè)光纖的通斷和施工時(shí)用來(lái)分辨所做的光纖。它是用一個(gè)簡(jiǎn)易光源從光纖的一端打入可見(jiàn)光,從另一端觀察哪一根發(fā)光來(lái)實(shí)現(xiàn)。這種方法雖然簡(jiǎn)便,但它不能定量測(cè)量光纖的衰減和光纖的斷點(diǎn)。
2.精密儀器測(cè)量
使用光功率計(jì)或光時(shí)域反射圖示儀(OTDR)對(duì)光纖進(jìn)行定量測(cè)量,可測(cè)出光纖的衰減和接頭的衰減,甚至可測(cè)出光纖的斷點(diǎn)位置。這種測(cè)量可用來(lái)定量分析光纖網(wǎng)絡(luò)出現(xiàn)故障的原因和對(duì)光纖網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品進(jìn)行評(píng)價(jià)。
圖1A、1B是《灌注樁基礎(chǔ)分布式光纖傳感檢測(cè)方法與系統(tǒng)》傳感光纖封裝示意圖,圖1A是側(cè)視圖,圖1B是截面圖;
圖2是《灌注樁基礎(chǔ)分布式光纖傳感檢測(cè)方法與系統(tǒng)》基于分布式光纖檢測(cè)技術(shù)的灌注樁檢測(cè)系統(tǒng);
圖3是《灌注樁基礎(chǔ)分布式光纖傳感檢測(cè)方法與系統(tǒng)》分布式樁身變分布圖。
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內(nèi)容介紹
《現(xiàn)代無(wú)損檢測(cè)技術(shù)(西安交通大學(xué)研究生創(chuàng)新教育系列教材)》編著者沈玉娣等。
《現(xiàn)代無(wú)損檢測(cè)技術(shù)(西安交通大學(xué)研究生創(chuàng)新教育系列教材)》內(nèi)容提要:本書(shū)詳細(xì)闡述了超聲、射線(xiàn)、渦流、磁粉、滲透、聲發(fā)射、工業(yè)CT、紅外、激光全息、電子錯(cuò)位散斑、微波、振動(dòng)與噪聲、泄漏、目視檢測(cè)技術(shù)的檢測(cè)原理,檢測(cè)方法,特點(diǎn)和應(yīng)用范圍,同時(shí)介紹了中子照相檢測(cè)、電子舌和電子鼻檢測(cè)、光纖檢測(cè)等無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)。
本書(shū)可作為大專(zhuān)院校研究生、本科生的參考教材,也可作為相關(guān)專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員的參考用書(shū)。
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