集成電路測試分選機(jī)技術(shù)指標(biāo)

設(shè)計了一種轉(zhuǎn)塔式測試分選機(jī),用于極小型半導(dǎo)體器件的測試、打標(biāo)、分選和編帶。此設(shè)備處理速度快,檢測分選效率高,對半導(dǎo)體器件損傷小,可以大規(guī)模用于極小型半導(dǎo)體器件的測試分選。

第一章 集成電路的測試 1.集成電路測試的定義 集成電路測試是對集成電路或模塊進(jìn)行檢測， 通過測量對于集成電路的輸出回應(yīng)和預(yù)期 輸出比較， 以確定或評估集成電路元器件功能和性能的過程， 是驗證設(shè)計、 監(jiān)控生產(chǎn)、 保證 質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用的重要手段。 .2.集成電路測試的基本原理 輸入 X 輸出回應(yīng) Y 被測電路 DUT（Device Under Test）可作為一個已知功能的實體，測試依據(jù)原始輸入 x 和網(wǎng)絡(luò)功能集 F（x），確定原始輸出回應(yīng) y，并分析 y是否表達(dá)了電路網(wǎng)絡(luò)的實際輸出。因 此，測試的基本任務(wù)是生成測試輸入， 而測試系統(tǒng)的基本任務(wù)則是將測試輸人應(yīng)用于被測器 件，并分析其輸出的正確性。 測試過程中， 測試系統(tǒng)首先生成輸入定時波形信號施加到被測 器件的原始輸入管腳， 第二步是從被測器件的原始輸出管腳采樣輸出回應(yīng)， 最后經(jīng)過分析處 理得到測試結(jié)果。 3.集成電路故障與測