對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試。
Max UPH: 8500pcs。
駐波比測(cè)試;故障定位;電纜損耗測(cè)試;射頻功率測(cè)試;目前全球主要生產(chǎn)廠家:天津德力Deviser、日本安立
DEH系統(tǒng)主要功能: 汽輪機(jī)轉(zhuǎn)速控制;自動(dòng)同期控制;負(fù)荷控制;參與一次調(diào)頻;機(jī)、爐協(xié)調(diào)控制;快速減負(fù)荷;主汽壓控制;單閥控制、多閥解耦控制;閥門試驗(yàn);輪機(jī)程控啟動(dòng);OPC控制;甩負(fù)荷及失磁工況控制;...
一、 LED 的結(jié)構(gòu)及發(fā)光原理50 年前人們已經(jīng)了解半導(dǎo)體材料可產(chǎn)生光線的基本知識(shí),第一個(gè)商用二極管產(chǎn)生于 1960 年。 LED 是英文 light emitting diode (發(fā)光二極管)的縮...
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設(shè)計(jì)了一種轉(zhuǎn)塔式測(cè)試分選機(jī),用于極小型半導(dǎo)體器件的測(cè)試、打標(biāo)、分選和編帶。此設(shè)備處理速度快,檢測(cè)分選效率高,對(duì)半導(dǎo)體器件損傷小,可以大規(guī)模用于極小型半導(dǎo)體器件的測(cè)試分選。
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電梯主要功能測(cè)試記錄表 序 號(hào) 項(xiàng)目 規(guī)范要求 結(jié)果 備注 1 基站啟用、關(guān)閉開關(guān) 專用鑰匙,運(yùn)行、停止轉(zhuǎn)換靈活 2 工作狀態(tài)選擇開關(guān) 操縱盤上司機(jī)、自動(dòng)、檢修鑰匙開關(guān), 可靠 3 轎內(nèi)照明、通風(fēng)開關(guān) 功能正確、靈活可靠、標(biāo)志清晰 4 轎內(nèi)應(yīng)急照明 自動(dòng)充電,電源故障時(shí)自動(dòng)接通, 大于 1W1h 5 本層廳外開門 按電梯停在某層的呼梯按鈕,應(yīng)開門 6 自動(dòng)定向 按先入為主的原則,自動(dòng)確定運(yùn)行方向 7 轎內(nèi)指令記憶 有多個(gè)選層指令時(shí),電梯應(yīng)順序逐一停 靠 8 呼梯記憶、順向截停 記憶廳外全部呼梯信號(hào),按順序??繎?yīng) 答 9 自動(dòng)換向 全部順向指令完成后,自動(dòng)應(yīng)答反向指 令 10 轎內(nèi)選層信號(hào)優(yōu)先 完成最后指令在關(guān)閉前,轎內(nèi)優(yōu)先登記 定向 11 自動(dòng)關(guān)門待客 完成全部指令后, 電梯自動(dòng)關(guān)門,時(shí)間 4—10s 12 提早關(guān)門 按關(guān)門按鈕,門不經(jīng)延時(shí)立即關(guān)門 13 開門按鈕開門 在電梯未起動(dòng)前,
1.測(cè)試模擬集成電路、數(shù)字集成電路以及數(shù)?;旌霞呻娐?。
2.測(cè)試IC器件的直流、交流及動(dòng)態(tài)參數(shù)。
3.可提供多達(dá)64管腳的模擬IC測(cè)試和32管腳的數(shù)字IC測(cè)試能力。
按集成電路分類:數(shù)字集成電路測(cè)試儀和模擬集成電路測(cè)試儀
按功能分類:集成電路功能測(cè)試儀和集成電路參數(shù)測(cè)試儀
按形式分類:便攜式集成電路測(cè)試儀和臺(tái)式集成電路測(cè)試儀
01
集成電路基礎(chǔ)
了解集成電路發(fā)展現(xiàn)狀和重要意義,明確集成電路測(cè)試在集成電路中的作用。
課時(shí)
1.1 集成電路的重要意義;1.2 集成電路發(fā)展現(xiàn)狀;1.3 集成電路測(cè)試的重要性;1.4 集成電路制造的基本操作
02
可測(cè)試性度量
掌握集成電路可測(cè)試性度量SCOAP規(guī)則及應(yīng)用方法。
課時(shí)
2.1 SCOAP組合可控性計(jì)算規(guī)則;2.2 SCOAP組合可控性計(jì)算例子;2.3 SCOAP時(shí)序可控性計(jì)算規(guī)則;2.4 SCOAP時(shí)序可控性計(jì)算例子
03
自動(dòng)測(cè)試生成
掌握自動(dòng)測(cè)試生成算法在集成電路測(cè)試中的作用及基本的自動(dòng)測(cè)試生成算法規(guī)則。
課時(shí)
3.1 布爾差分法;3.2 自動(dòng)測(cè)試生成基礎(chǔ);3.3 D算法
04
故障模擬
掌握集成電路測(cè)試中故障模擬的概念及基本故障模擬方法。
課時(shí)
4.1 串行故障模擬;4.2 并行故障模擬;
05
邏輯模擬
掌握集成電路測(cè)試中邏輯模擬的概念及基本邏輯模擬方法。
課時(shí)
5.1 仿真模型;5.2 編譯代碼邏輯仿真;5.3 事件驅(qū)動(dòng)邏輯仿真
06
數(shù)字電路測(cè)試實(shí)驗(yàn)
用數(shù)字電路中經(jīng)典模塊做實(shí)例,說(shuō)明電路測(cè)試過(guò)程。
課時(shí)
6.1 實(shí)例1 分頻計(jì)數(shù)模塊測(cè)試與驗(yàn)證;6.2 實(shí)例2 交通燈控制模塊測(cè)試與驗(yàn)證