接觸電效應(yīng)在一些物理過程中起著重要作用。例如半導(dǎo)體與金屬接觸時所產(chǎn)生的接觸電位差(或稱肖脫基電位差)將在半導(dǎo)體表面附近形成一個阻擋層。E0為位于材料外表面電子的位能;Eσ為導(dǎo)帶底部的能級;EV為價帶頂部的能級;分別為半導(dǎo)體和金屬的費(fèi)密能級,兩種材料的逸出功之差是eV。接觸時電子將從半導(dǎo)體流向金屬,導(dǎo)致半導(dǎo)體中電子能級下降(相對金屬),但由于N型半導(dǎo)體中自由電子的密度比金屬小得多,半導(dǎo)體所能荷帶的正電荷密度很有限,從而能級的下降將是逐漸的,正電荷分布在半導(dǎo)體表面的一個有限厚度(10-7~10-8米)的層內(nèi)。這一層由于自由電子密度降到很?。ê谋M層)而具有很高電阻。它對電流成為一個阻擋層。當(dāng)外電壓加在這種半導(dǎo)體-金屬結(jié)上時,阻擋層的厚度發(fā)生變化,若N型半導(dǎo)體是在負(fù)電位,則阻擋層厚度將減小,反之阻擋層厚度將增加。這樣,電流的大小就同電壓的方向有關(guān),從而顯示出整流作用。類似地,當(dāng)N型半導(dǎo)體與P型半導(dǎo)體接觸時,接觸電效應(yīng)亦將在接觸面兩側(cè)附近形成一個勢壘區(qū),這就是通常所謂的半導(dǎo)體的PN結(jié) 。2100433B
兩塊金屬中逸出功大的一個具有較低的電位。此電位差即接觸電位差。用光電效應(yīng)法與熱電發(fā)射法分別測出的一些金屬的逸出功的值。利用此表即可求出其中任二種金屬間的接觸電位差以及哪一金屬具有較低電勢。
值得注意的是,金屬A、B所帶的電荷都分布在其表面上,金屬內(nèi)的電子密度不變,在兩金屬接觸面上正負(fù)電荷形成一偶電層。兩塊金屬的接觸電位差實質(zhì)上就是這偶電層產(chǎn)生的 。
在物體中形成電流的必要條件是要存在導(dǎo)電載流子。金屬的導(dǎo)電載流子是自由電子,電解質(zhì)溶液的導(dǎo)電載流子是正、負(fù)離子,半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電載流子是電子與空穴,氣體中的導(dǎo)電載流子是帶電離子。接觸時,不同物體間載流子的運(yùn)動、相互作用會發(fā)生變化,形成各種效應(yīng)。例如:“金屬-金屬”接觸的一個重要效應(yīng)就是熱電偶效應(yīng),可以用來測量溫度;MOS接觸效應(yīng)可被用作電荷耦合器件(CCD),利用大規(guī)模集成技術(shù)將感光器件和控制邏輯電路同經(jīng)離子注入、高摻雜或交疊柵等改善CCD性能的微細(xì)加工過的CCD集成在一起,構(gòu)成攝像的固體器件,廣泛地用作圖像的固態(tài)傳感器等 。
由于接觸電阻非常小,普通的三用表肯定不行. 接觸電阻是非線性電阻,和通過的電流有關(guān).因此測量起來比較復(fù)雜.測量需要用到四線電阻測量技術(shù):兩條線輸出一個已知的電流,兩條線用來測量接觸電阻上的壓降,一些高...
接觸電阻:觸點(diǎn)有四種工作狀態(tài),即:閉合狀態(tài)、斷開過程、斷開狀態(tài)、閉合過程。 在理想情況下,觸點(diǎn)閉合時其接觸電阻為零;觸點(diǎn)斷開時接 觸電阻為無窮大;在閉合過程中接觸電阻瞬時由無窮大變?yōu)榱悖?在斷開過程中...
兩塊不同的金屬導(dǎo)體A和B相互接觸,由于金屬的費(fèi)米能級不同,相互接觸時發(fā)生電子交換,達(dá)到平衡后, 兩塊金屬中產(chǎn)生接觸電勢差。消除的話,盡量用相同的金屬咯。
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評分: 4.3
本文提出了一種基于ABAQUS的電連接器接觸件插拔力與接觸電阻的有限元仿真分析方法。完成了摩擦系數(shù)、過盈量和線簧數(shù)對插拔特性的影響分析,進(jìn)而應(yīng)用熱電耦合仿真技術(shù)實現(xiàn)了接觸電阻的仿真。所得的結(jié)論可為電連接器接觸件的設(shè)計提供依據(jù),并為接觸件的磨損分析奠定基礎(chǔ)。
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評分: 4.4
本文提出了一種基于ABAQUS的電連接器接觸件插拔力與接觸電阻的有限元仿真分析方法。完成了摩擦系數(shù)、過盈量和線簧數(shù)對插拔特性的影響分析,進(jìn)而應(yīng)用熱電耦合仿真技術(shù)實現(xiàn)了接觸電阻的仿真。所得的結(jié)論可為電連接器接觸件的設(shè)計提供依據(jù),并為接觸件的磨損分析奠定基礎(chǔ)。
接觸電效應(yīng)在一些物理過程中起著重要作用。例如半導(dǎo)體與金屬接觸時所產(chǎn)生的接觸電位差(或稱肖脫基電位差)將在半導(dǎo)體表面附近形成一個阻擋層。E0為位于材料外表面電子的位能;Eσ為導(dǎo)帶底部的能級;EV為價 帶頂部的能級;分別為半導(dǎo)體和金屬的費(fèi)密能級,兩種材料的逸出功之差是eV。接觸時電子將從半導(dǎo)體流向金屬,導(dǎo)致半導(dǎo)體中電子能級下降(相對金屬),但由于N型半導(dǎo)體中自由電子的密度比金屬小得多,半導(dǎo)體所能荷帶的正電荷密度很有限,從而能級的下降將是逐漸的,正電荷分布在半導(dǎo)體表面的一個有限厚度(10-7~10-8米)的層內(nèi)。這一層由于自由電子密度降到很小(耗盡層)而具有很高電阻。它對電流成為一個阻擋層。當(dāng)外電壓加在這種半導(dǎo)體-金屬結(jié)上時,阻擋層的厚度發(fā)生變化,若N型半導(dǎo)體是在負(fù)電位,則阻擋層厚度將減小,反之阻擋層厚度將增加。這樣,電流的大小就同電壓的方向有關(guān),從而顯示出整流作用。類似地,當(dāng)N型半導(dǎo)體與P型半導(dǎo)
體接觸時,接觸電效應(yīng)亦將在接觸面兩側(cè)附近形成一個勢壘區(qū),這就是通常所謂的半導(dǎo)體的PN結(jié)。 2100433B
直接觸電可分為:
單相觸電:指人站在地面或其他接地體上,人體的某一部位觸及一相帶電體所引起的觸電。 其危害程度與電壓高度、電網(wǎng)中性點(diǎn)的接地方式、帶電體對地絕緣等有關(guān)。單相觸電事故占觸電事故的70%以上。
兩相觸電:指人體有兩處同時接觸帶電的任何兩處電源時發(fā)生的觸電。2100433B
這種類型的觸電,觸電者受到的電擊電壓為系統(tǒng)的工作電壓,其危險性較大。
確切的說,應(yīng)該是直接接觸電擊和間接接觸電擊 。
直接接觸電擊:直接接觸電擊是觸及設(shè)備和線路正常運(yùn)行時的帶電體發(fā)生的電擊(如誤觸接線端子發(fā)生的電擊),也稱為正常狀態(tài)下的電擊。
間接接觸電擊:間接接觸電擊是觸及正常狀態(tài)下不帶電,而當(dāng)設(shè)備或線路故障時意外帶電的導(dǎo)體發(fā)生的電擊(如觸及漏電設(shè)備的外殼發(fā)生的電擊),也稱為故障狀態(tài)下的電擊。