開短路測試

開短路測試應(yīng)用非常的廣泛，例如：測試PCB板，測試IC邦定線，測試IC的封裝，測試線材，測試FPC，測試薄膜開關(guān)，測試連接器等等，不同的應(yīng)用又有比較特別的需求，例如，測試PCB板是不僅要測試開短路，還要測試漏電，測薄膜開關(guān)還要測試連線的電阻值；對于線材測試儀，比較精密的線材根據(jù)要求，有些也要測試漏電與阻值及其他的要求，由于這些測試不僅要測試開短路，還要測試其他的參數(shù)，因此都有專用的儀器，如ICT，薄膜開關(guān)測試儀，線材測試儀等。

如果沒有特別的指出，所謂的開短路測試，都是指測試邦定線的開短路測試，IC的開短路測試，例如“開短路測試儀”指的就是測試邦定/IC開短路的儀器，當(dāng)然所處的行業(yè)不同，在不同的行業(yè)中，說開短路測試就是指的這個行業(yè)的產(chǎn)品的開短路測試，如果是一間PCB廠，說要進(jìn)行開短路測試，指的就是測試PCB的線路的開短路，不能理解成測試測試IC的開短路了！

開短路測試，主要是用于測試電子器件的連接情況，顧名思義，開短路測試就是測試開路與短路，具體點(diǎn)說就是測試一個電子器件應(yīng)該連接的地方是否連接，如果沒有連接上就是開路，如果不應(yīng)該連接的地方連接了就是短路。

1. 開漏和開集的原理類似，在許多應(yīng)用中我們利用開集電路代替開漏電路。例如，某輸入Pin要求由開漏電路驅(qū)動。則我們常見的驅(qū)動方式是利用一個三極管組成開集電路來驅(qū)動它，即方便又節(jié)省成本。如圖3。

2. 上拉電阻R pull-up的阻值決定了邏輯電平轉(zhuǎn)換的沿的速度。阻值越大，速度越低功耗越小。反之亦然。

需要補(bǔ)充的是，開漏和開集都可以作為驅(qū)動輸出控制的開關(guān)，但是開漏電路在關(guān)閉輸出的情況下會耗電，Vcc經(jīng)上拉電阻過漏極到地，上拉電阻大小影響開關(guān)響應(yīng)及驅(qū)動能力，如果上拉過小勢必會導(dǎo)致在漏極導(dǎo)通的情況下的電力消耗。圖2所示的開集輸出電路，有同樣的耗電問題。不過集電極驅(qū)動輸出還有一種接法，可以解決耗電問題，使用PNP的三極管，發(fā)射極接電源，集電極接輸出，基極加一個電阻接開關(guān)控制。當(dāng)然在有些耗電不是問題的情況下開漏也是一個好的選擇，很多處理器的i/o口都帶有開漏功能，這樣，就可以節(jié)約一個三極管。2100433B

開漏電路概念中提到的“漏”就是指MOS FET的漏極。

同理，開集電路中的“集”就是指三極管的集電極。

開漏電路就是指以MOS FET的漏極為輸出的電路。

一般的用法是會在漏極外部的電路添加上拉電阻。

完整的開漏電路應(yīng)該由開漏器件和開漏上拉電阻組成。

根開，指相鄰或?qū)牵▽歉_）主角鋼基準(zhǔn)線的距離。

1、根開的意思有電桿和鐵塔兩種：電桿根開是指雙桿（三聯(lián)桿）在平面上的桿與桿中心間距；鐵塔根開是指塔腿與塔腿的之間距離。

2、呼高是指桿塔上的最下層導(dǎo)線懸掛點(diǎn)到桿塔腳地面點(diǎn)的垂直距離。3、輸電線路鐵塔根開是鐵塔的兩個基礎(chǔ)間的距離，通常是角鋼與角鋼的距離或地角螺栓間的距離。對角根開為兩對角基礎(chǔ)間的距離。

一般情況，基礎(chǔ)根開=鐵塔根開 基準(zhǔn)線距×2，即：通常情況下基礎(chǔ)根開大于鐵塔根開。