書????名 | 面向人工智能的超小貼裝器件可靠性設(shè)計(jì) | 作????者 | 趙志桓 |
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類????別 | 圖書>計(jì)算機(jī)/網(wǎng)絡(luò)>人工智能>深度學(xué)習(xí)與神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) | 出版社 | 化學(xué)工業(yè)出版社 |
出版時(shí)間 | 2020年01月 | 定????價(jià) | ¥78.00 |
開????本 | 16 開 | 裝????幀 | 平裝 |
ISBN | 9787122353283 |
《面向人工智能的超小貼裝器件可靠性設(shè)計(jì) 》內(nèi)容包括2CK6642UB芯片磷擴(kuò)散摻雜、2CK6642UB芯片硼擴(kuò)散摻雜、芯片與CLCC-3(UB)金屬陶瓷管殼焊接工藝、 微小CLCC-3(UB)金屬陶瓷器件封帽焊接、微小2CK6642UB型開關(guān)二極管器件可靠性試驗(yàn)?!睹嫦蛉斯ぶ悄艿某≠N裝器件可靠性設(shè)計(jì)》可供半導(dǎo)體、微電子、芯片的研究、制造、應(yīng)用人員參考。
第1章概述/001
1.1超小CLCC(UB)金屬陶瓷管殼003
1.1.1超小CLCC-3(UB)金屬陶瓷基片技術(shù)研究進(jìn)展006
1.1.2超小CLCC-3(UB)金屬陶瓷研究現(xiàn)狀007
1.2開關(guān)二極管芯片008
1.2.1開關(guān)二極管晶體硅的摻雜008
1.2.2開關(guān)二極管國內(nèi)外研究現(xiàn)狀012
1.2.3中國現(xiàn)有開關(guān)二極管制造技術(shù)012
1.3超小CLCC(UB)金屬陶瓷器件封裝013
1.3.1電子封裝技術(shù)國內(nèi)外研究現(xiàn)狀013
1.3.2金基合金焊料015
1.4主要研究內(nèi)容019
第2章試驗(yàn)材料與研究方法/022
2.12CK6642UB芯片制備與分析022
2.1.1試驗(yàn)材料022
2.1.2試驗(yàn)方法022
2.1.3測試方法029
2.2超小CLCC-3(UB)金屬陶瓷器件芯片焊接與分析031
2.2.1試驗(yàn)材料031
2.2.2試驗(yàn)方法031
2.2.3測試方法033
2.3超小CLCC-3(UB)金屬陶瓷器件封帽焊接與分析035
2.3.1試驗(yàn)材料035
2.3.2試驗(yàn)方法035
2.3.3測試方法036
2.4超小2CK6642UB型開關(guān)二極管器件可靠性考核037
2.4.1參照標(biāo)準(zhǔn)037
2.4.2可靠性考核038
第3章2CK6642UB芯片磷擴(kuò)散及分析/040
3.1溫度對磷擴(kuò)散均勻性影響的仿真模擬041
3.1.1建立幾何模型041
3.1.2建立有限元網(wǎng)格044
3.1.3求解器求解045
3.1.4均勻性分析049
3.2混合氣體配比對磷擴(kuò)散均勻性影響的仿真模擬052
3.2.1求解器求解052
3.2.2均勻性分析053
3.3石英舟位置對磷擴(kuò)散影響均勻性的仿真模擬056
3.3.1建立幾何模型056
3.3.2求解器求解057
3.3.3均勻性分析058
3.4高溫液態(tài)源磷擴(kuò)散試驗(yàn)061
3.4.1溫度對磷擴(kuò)散均勻性的影響061
3.4.2混合氣體配比對磷擴(kuò)散均勻性的影響062
3.4.3石英舟位置對磷擴(kuò)散均勻性的影響064
3.5小結(jié)065
第4章2CK6642UB芯片硼擴(kuò)散及分析/066
4.12CK6642UB芯片參數(shù)設(shè)計(jì)067
4.1.12CK6642UB芯片縱向參數(shù)設(shè)計(jì)068
4.1.22CK6642UB芯片橫向參數(shù)設(shè)計(jì)070
4.1.3擴(kuò)散總周長設(shè)計(jì)070
4.1.4板圖設(shè)計(jì)070
4.22CK6642UB芯片硼擴(kuò)散仿真模擬072
4.2.1求解器求解072
4.2.2均勻性分析073
4.32CK6642UB芯片硼擴(kuò)散075
4.4硼摻雜硅片特性076
4.4.1硅片摻雜特性曲線076
4.4.2硅片方塊電阻080
4.5擴(kuò)散層微觀組織結(jié)構(gòu)081
4.6小結(jié)084
第5章2CK6642UB芯片焊接及分析/086
5.1正交試驗(yàn)設(shè)計(jì)與初步分析087
5.1.1芯片焊接接頭剪切強(qiáng)度088
5.1.2芯片焊接接頭X射線檢測089
5.1.3芯片焊接接頭截面形貌089
5.2焊接溫度對芯片焊接接頭的影響091
5.2.1芯片焊接接頭表面及截面形貌092
5.2.2芯片焊接接頭物相組成093
5.2.3芯片焊接接頭微觀組織結(jié)構(gòu)096
5.3焊片與芯片面積比對芯片焊接接頭的影響100
5.3.1芯片焊接接頭表面及截面形貌101
5.3.2芯片焊接接頭物相組成102
5.3.3芯片焊接接頭微觀組織結(jié)構(gòu)102
5.4小結(jié)106
第6章2CK6642UB封帽焊接及分析/107
6.1正交試驗(yàn)設(shè)計(jì)與初步分析108
6.1.1封帽焊接水汽含量109
6.1.2封帽焊接樣品X射線檢測110
6.1.3封帽焊接接頭截面形貌110
6.2焊接溫度對封帽焊接接頭的影響113
6.2.1封帽焊接接頭表面及截面形貌113
6.2.2封帽焊接接頭物相組成115
6.2.3封帽焊接接頭微觀組織結(jié)構(gòu)120
6.3超小CLCC-3(UB)封帽焊接檢驗(yàn)126
6.3.1超小CLCC-3(UB)封帽焊接氣密性檢驗(yàn)126
6.3.2超小CLCC-3(UB)封帽焊接內(nèi)部水汽含量檢測128
6.4小結(jié)129
第7章2CK6642UB型硅開關(guān)二極管的可靠性考核/131
7.1功能性能分析132
7.1.1測試覆蓋性分析132
7.1.2測試結(jié)果及產(chǎn)品對比135
7.2極限試驗(yàn)147
7.2.1步進(jìn)功率極限試驗(yàn)147
7.2.2耐反向電壓能力試驗(yàn)148
7.2.3交變溫度應(yīng)力極限試驗(yàn)148
7.2.4熱沖擊極限試驗(yàn)148
7.2.5隨機(jī)掃頻振動(dòng)極限試驗(yàn)149
7.3壽命考核強(qiáng)化試驗(yàn)149
7.4失效情況150
7.5小結(jié)150
參考文獻(xiàn)/152 2100433B
《面向人工智能的超小貼裝器件可靠性設(shè)計(jì) 》討論了微小CLCC-3(UB)金屬陶瓷器件研究中一些基本的科學(xué)問題,為微小CLCC-3(UB)金屬陶瓷的生產(chǎn)制備及微小體積表面貼裝元器件在航空航天、電子領(lǐng)域的應(yīng)用奠定基礎(chǔ)。
高低溫,恒溫恒濕,溫度沖擊,鹽霧,老化,跌落,振動(dòng),沖擊,IP等級等,
地震作為一種主要的災(zāi)害,造成城市功能的癱瘓和人民生命財(cái)產(chǎn)的損失。城市道路交通系統(tǒng)是城市抗震系統(tǒng)的重要組成部分,它既是物資運(yùn)輸?shù)耐ǖ?,又是震時(shí)人員疏散、派遣營救人員的通道,是生死攸關(guān)的抗震救災(zāi)生命線。隨...
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趙志桓,副教授,山東農(nóng)業(yè)工程學(xué)院機(jī)械電子工程學(xué)院教授委員會(huì)副主任委員、智能感知與控制系統(tǒng)課程群負(fù)責(zé)人、教育部“信盈達(dá)CDIO協(xié)同創(chuàng)新實(shí)踐平臺”實(shí)驗(yàn)中心主任,青島路博環(huán)保技術(shù)公司聯(lián)合研發(fā)中心主任,山東材料學(xué)會(huì)常務(wù)理事。
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引言 近年來,隨著手持式電子產(chǎn)品不斷朝著輕薄短小、多功能和智能化的方向發(fā)展,微間距技術(shù)FPT(FinePitchTechnology)器件和撓性電路板FPC(FlexiblePrintedCircuit)的應(yīng)用越來越廣泛,而鋼-撓性接合板(Rigid—FlexPCB)是PCB和FPC的混合變形,為表述方便下面把它們統(tǒng)稱為FPC。
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系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)
焊接和脫焊表面貼裝元器件的電子學(xué)
這些說明將幫助您熟悉焊接表面貼裝元件的最初困難。在完成之后,您將能夠使用間距為0.5mm的引腳焊接元件。
深圳銘華航電是專業(yè)smt貼片加工為您介紹焊接和脫焊表面貼裝元器件的電子學(xué)
工具和用品
1. x1烙鐵(數(shù)字或模擬)
2.帶有可用焊盤的PCB(印刷電路板)
3. SMD(表面貼裝器件)與可用焊盤相匹配
4.焊料(推薦水溶性,松香核心可接受)
5.脫焊編織
6.焊劑w /涂藥器
7.鑷子
8.摩擦酒精(松香芯焊料)或
9.水(用于水溶性焊料)
10.防靜電布
步驟1:準(zhǔn)備PCB
1.檢查以確保PCB的焊盤尺寸與SMD上的引腳對齊
2.清潔PCB上的任何灰塵或碎片。
3.現(xiàn)在打開烙鐵,溫度設(shè)置在600-700度之間。
警告:加熱到這些溫度時(shí),如果觸摸烙鐵頭,會(huì)被燙傷。
步驟2:使用鑷子定位組件
將元件的引腳與電路板上的焊盤對齊。由于大多數(shù)表面貼裝元件在兩側(cè)都有相同數(shù)量的引腳,因此每次放置新元件時(shí)都必須找到“引腳1”。
第三步:解決一個(gè)角落
1.保持一只手,用鑷子將組件固定到位。
到目前為止,烙鐵應(yīng)該是熱的。在尖端獲得一個(gè)小到中等尺寸的焊點(diǎn)。
3.選擇組件上的任何角落銷釘
4。觸摸并將烙鐵固定在與該銷釘相關(guān)聯(lián)的襯墊上。
5.如果你正確地做了這個(gè),焊料應(yīng)該從電路板上的焊盤轉(zhuǎn)移到元件引腳上,不管你是否連接了多余的引腳,這個(gè)問題都會(huì)被固定下來。
步驟4:通量
焊接助焊劑的目的有兩個(gè):防止焊料成珠,幫助焊料從烙鐵流向電路板。 Flux將被用在這個(gè)電路板上,以限制橋接連接的數(shù)量,并且通常使工作更容易。
1.這種物質(zhì)是混亂的,所以一定要使用一個(gè)涂藥器。 (牙簽,刷子等)在這種情況下,我使用了一個(gè)金屬尖端。
2.在涂藥器上獲得大量的助焊劑。
3.將助焊劑涂抹在上一步中固定元件另一側(cè)的引腳上。
步驟5:焊接
1.一手拿起烙鐵,一手拿起烙鐵,如下圖所示。
2.使用烙鐵加熱焊盤,而不是元件上的引腳。
3.當(dāng)引腳過熱時(shí),將焊盤放置在焊盤和引腳之間。熱量會(huì)使焊料熔化,助焊劑將使其流動(dòng)到需要的地方。
4.根據(jù)需要多次重復(fù)此操作。
步驟6:加熱吸錫芯以固定粘性
在完成前一步驟的同時(shí),將會(huì)出現(xiàn)焊橋,這是相當(dāng)普遍的。焊橋可能如下圖所示。
這些步驟也將用于從電路板上移除組件。
1.取下吸錫芯,將其放在要移除的焊料上。
2.用烙鐵輕壓燈芯,確保熱量傳遞到焊料。
警告:請記住,熱量除去焊料,而不是壓力。施加的壓力過大可能會(huì)去除組件上的焊盤或引腳,從而毀壞組件或電路板。
步驟7:焊接
現(xiàn)在已經(jīng)去除了焊料,重復(fù)步驟5的電路板的這一面。
步驟8:修復(fù)任何剩余的焊橋
使用前面步驟中描述的方法刪除更多的網(wǎng)橋。
第9步:用酒精擦拭
如果使用水溶性焊料,則用水替換摩擦酒精。
1.拿起防靜電布,倒入少量酒精。
2.輕輕地清理新焊接的元件周圍,以及存在過量通量的地方。這將給予更專業(yè)的外觀。
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《電子元器件使用可靠性保證》共分11章。第1章主要介紹了元器件使用可靠性保證的目的、相關(guān)概念、工作內(nèi)容及工作流程;第2章主要介紹了元器件的分類、命名和封裝等基礎(chǔ)知識;第3章至第10章是《電子元器件使用可靠性保證》的重點(diǎn)內(nèi)容,系統(tǒng)地論述了元器件使用可靠性保證的工作內(nèi)容、措施及要求,包括元器件的選用控制、采購控制、監(jiān)制驗(yàn)收控制、篩選、破壞性物理分析、失效分析、使用可靠性設(shè)計(jì)、電裝連接、評審與信息管理等方面;第11章介紹了元器件在電路應(yīng)用中的一般要求及各類元器件的可靠使用方法。
是在現(xiàn)有元器件水平的基礎(chǔ)上,從系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)、元器件適用、電路選擇、結(jié)構(gòu)工藝、軟件設(shè)計(jì)以及維修等各方面,盡量采取各種措施以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)既定的可靠性。程控交換機(jī)的可靠性,要在設(shè)計(jì)、制造和管理等方面進(jìn)行研究,才能得到保證。設(shè)計(jì)階段是重要的一環(huán),尤其是軟件的可靠性在很大程度上決定于設(shè)計(jì)。進(jìn)行交換機(jī)的可靠性設(shè)計(jì),判斷所設(shè)計(jì)的交換機(jī)是否能滿足可靠性要求,需要作可靠度預(yù)計(jì)。首先要研究系統(tǒng)可靠性的有關(guān)定量指標(biāo)和指標(biāo)間的關(guān)系,在確定各部件的可靠度(或失效率)之后,根據(jù)交換機(jī)的可靠性結(jié)構(gòu)模型來計(jì)算系統(tǒng)的失效率,進(jìn)而分析部件和系統(tǒng)間的關(guān)系,研究如何在給定的部件可靠度的基礎(chǔ)上提高系統(tǒng)的可靠性。要作出準(zhǔn)確的可靠度預(yù)計(jì),其基礎(chǔ)是要掌握各部件的失效率數(shù)據(jù)。程控?cái)?shù)字交換機(jī)的可靠性不僅受硬件失效的影響,還受軟件差錯(cuò)和人為因素的影響,而軟件差錯(cuò)和人為因素引起的故障不經(jīng)過大量的現(xiàn)場試驗(yàn)是難以預(yù)計(jì)的,這些因素要從硬件失效中分離出來??捎玫姆椒ㄊ前严到y(tǒng)可靠性指標(biāo)的一部分分配給硬件,再用上述可靠度預(yù)計(jì)方法計(jì)算硬件的失效率是否滿足所分配的指標(biāo),以判斷交換機(jī)是否滿足系統(tǒng)可靠性指標(biāo)。硬件失效率占系統(tǒng)失效率的比例根據(jù)對已有程控交換機(jī)進(jìn)行大量統(tǒng)計(jì)調(diào)查的經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)來確定。