輕便礦石分析儀

輕便礦石分析儀要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長準確性以及強的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要求能夠進行導數(shù)、去卷積等復雜的數(shù)學計算，能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進行檢索。

輕便礦石X分析儀分析礦石中的元素及含量時。 國外儀器主要適用FP法(基本參數(shù)法)。

國內儀器主要適用經驗系數(shù)法結合基本參數(shù)法和單獨經驗系數(shù)法，針對不同的礦石種類，利用基本參數(shù)法結合經驗系數(shù)法測試礦石成分中的元素含量，測試結果性能遠比簡單適用FP法精度要高出很多，只是曲線制作比較多，對于儀器生產廠家來說，工作量比較大，國內儀器生產廠商中在礦石分析方面比較有優(yōu)勢的是浪聲儀器(Beethor)，主要生產手持式礦石分析儀，在礦石分析方面主要結合基本參數(shù)法和經驗系數(shù)法來制作針對不同礦石種類的各種工作模式，選擇適當?shù)墓ぷ髂Ｊ娇梢缘玫较喈敻叩木取?/p>

巖石是礦物的集合體，是各種地質作用的產物，是構成地殼的物質基礎。礦物是在各種地質作用中形成的天然單質或化合物，通常由像鈣、鎂、鈉、鋁、鋇、鐵、鋅等多種元素組成。通過儀器測試可以得到所含元素及各個元素的含量。有部分礦石因需要提取的礦物量較低(ppm級---百萬分之一，如:5-10ppm金礦)，通過簡單的測試無法準確判定含量的多少，高端輕便礦石分析儀也只能做半定量分析。這就需要高精度的分析手段---原子吸收光譜儀。

輕便礦石分析儀在地質勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、品位鑒定、礦產貿易、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)測等領域有著廣泛的應用。

--分析礦種:

涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等。

--分析樣品:

礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品

-- 分析元素:

可以分析12號元素Mg至92號元素U之間的金屬元素、非金屬元素、貴金屬元素、以及稀有金屬元素等，可根據(jù)實際需要選擇分析元素。

--勘查

多元素現(xiàn)場快速分析，可廣泛應用于普查、詳查的各個過程，追蹤礦化異常，擴展勘查范圍?？纱蟠鬁p少送回實驗室樣品的數(shù)量，從而節(jié)約運輸和分析費用。

--巖芯檢測

快速分析巖芯和和其他鉆探樣品，建立礦山三維圖，分析儲量，可大大提高鉆探現(xiàn)場及時決策效率。

--開采過程控制

礦體邊界圈定，礦脈走向判定，對開采過程進行精確管理和控制，對礦石品位進行隨時檢測。

--品位控制

對精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進行精確快速分析，為礦物貿易、加工以及礦渣、尾礦再利用提供價值判斷依據(jù)。

--環(huán)境分析

快速對礦石周圍環(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進行分析與檢測，評估礦石環(huán)境修復效果。

可分析元素

S,K,Ca,Ba,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pb,Ag,Cd,Sn,Sb,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Cs,Te,U,Th,Hg,Sc，Au，Mg,Al,Si,P,Cl(共43種)

X射線是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在0.1~100keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光是由物質中的組成元素產生的特征輻射。當高能電子束照射樣品(靶材)時，入射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶點粒子的負的加速度會產生寬帶的連續(xù)X射線譜，簡稱為連續(xù)譜和韌致輻射。然后化學元素受到連續(xù)X射線譜的照射，內層電子被激發(fā)，驅逐一個內層電子形成空穴，原子處于不穩(wěn)定狀態(tài)，則外出電子躍遷填補空穴，這時就會釋放出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續(xù)譜，受激發(fā)產生的X射線稱為二次X射線或X射線熒光。通過測量和分析樣品產生的X射線熒光即可獲知樣品中的元素組成，得到物質成分的定性和定量信息。

--現(xiàn)場檢測，快速無損，無需送抵實驗室，大大提高效率。

--分析速度較臺式光譜儀快很多，僅幾秒鐘就可顯示分析結果。

--體積小，重量輕，攜帶方便,不需要水，電及固定場所。

--無消耗品，不產生污染，非專業(yè)人員也可輕易學會使用。