目前被普遍認識的是RCC電路對元件、布線、生產(chǎn)工藝要求很高。使用劣質元件、水準不高的布板、變壓器繞制不恰當都可能導致RCC電路無法工作,或在正常工作一段時間后失效。常見失效模式包括但不限于:
RCC最常見也最典型的失效現(xiàn)象是主開關管燒毀。大部分此類故障是由變壓器基極線圈漏感導致的。 變壓器基極線圈的漏感和基極串聯(lián)的電阻形成LR低通濾波電路,對電流信號有延遲作用,導致在集電極電壓上升時,基極電流減小的正反饋出現(xiàn)延遲。而這樣的延遲對于絕大部分雙極型開關管是致命的,它導致晶體管越出安全工作區(qū),以及發(fā)熱量過大,最終導致不可逆的二次擊穿。
此類故障較少出現(xiàn)在使用功率MOSFET制作的RCC上,因為功率MOSFET的安全工作區(qū)遠大于雙極型晶體管。并且功率MOSFET為電壓控制型,開通/關斷閾值范圍窄,MOSFET較為不易出現(xiàn)同時承受大電流和高電壓的情況,即使偶爾出現(xiàn)也不會發(fā)生不可逆的失效。 曾經(jīng)有一批基于MOSFET的RCC電源常常因開關管損壞而失效,經(jīng)查證,是因為廠家技術考慮不周,機械模仿110V地區(qū)產(chǎn)品,在220V交流線路(整流后電壓高達311V)上,使用了耐壓500V的MOSFET(型號是IRF840)。
另一常見的問題是輸出電壓明顯超過設計輸出電壓,導致負載過熱、燒毀。特別是當負載為鋰離子電池時,輸出過高電壓極端危險,可能導致電池內部氣體液體泄漏甚至爆炸。 原因一是變壓器繞組間不完全耦合,存在漏感,導致互調整率差。在變換器處于輕載狀態(tài),占空比小的時候,此問題更加嚴重。二是和集成芯片中包含的運算放大器(放大倍數(shù)高達數(shù)百倍、數(shù)千倍)相比,電壓環(huán)路開環(huán)增益太小,精確穩(wěn)壓困難。
并且這兩個缺點幾乎是不可能同時妥善解決的。解決二次擊穿問題要求基極線圈和主線圈近繞以保持耦合良好,而解決輸出電壓不穩(wěn)的問題要求次級線圈和基極線圈近繞,又要求初次級之間數(shù)千伏的電氣隔離。在有限繞線位置的變壓器骨架下,要達到這兩個矛盾的目的,是十分困難的。 2100433B
RCC由一個主開關晶體管、一個變壓器和一些電阻、電容、二極管組成,并不包含集成芯片。不包含集成芯片,使得RCC的成本較采用集成芯片的電源電路為低。但隨著集成電路芯片的降價(如今一個芯片的價格僅為人民幣0.5元左右),RCC的成本優(yōu)勢已經(jīng)非常弱。
傳統(tǒng)的RCC一般采用功率三極管(BJT)作為開關管。較新的設計采用了金屬-氧化物-半導體場效應管(MOSFET),以實現(xiàn)更低功耗以及準諧振等功能。
RCC的變壓器由三個或以上的繞組組成,包含輸入側的一個主輸入繞組,一個反饋繞組以及輸出側的一個或多個輸出繞組。和所有的反激變換器一樣,這個變壓器需要承受大的直流偏磁。
輔助電路需要二極管、電阻、電容等,實現(xiàn)電流限制、電壓限制等功能。
RCC的功率部分如同普通的反激變換器一樣操作。信號和控制部分原理如下:
1.當加入輸入電壓Vin(電阻RG連接Tr1的基極),電流Ib流過Rb,Tr1導通,此Ib為啟動電流。Tr1的collector電流Ic波形一般從0開始。
2. Tr1一旦進入ON狀態(tài),transformer的P1線圈已加入輸入電壓Vin,因此P2線圈形成的電壓為Tr1提供了基極電流,使得Tr1可以保持導通。
3. Tr1的集電極電流成斜坡狀上升,直到電流為βIb,此時基極電流無法維持Tr1晶體管飽和導通,晶體管集電極--發(fā)射極之間的電壓上升。而這里的電壓上升使得變壓器Np上的輸入電壓下降,更導致Ib下降。于是形成了正反饋,使得Tr1最終關閉。
4. Tr1關閉后如同其他反激變換器一樣,儲存在變壓器內部的能量流到次級電容里,為負載供電。在變壓器內部能量未釋放完時,基極一直被次級反射來的負電壓下拉,晶體管保持關閉。變壓器內部能量釋放完畢后,電路工作狀態(tài)轉入第1步,形成周期性循環(huán)。
5.如果在集電極有較大電流時使用其他方法導致基極電流不足,也可以觸發(fā)正反饋機制關斷晶體管Tr1。這一特點常用于實現(xiàn)電流限制和穩(wěn)壓。(即在電流或電壓過大時減小占空比或禁止晶體管開通)
基本的RCC電路天然有著限制峰值電流的特征。由于基極電阻的限流作用,基極電流無法超過Vin/Np*Nb/Rb,從而讓集電極電流在超過βIb時觸發(fā)正反饋關斷機制。 實際應用中,這種限流是不準確的,因為晶體管的β離散性很大(同種型號晶體管β可以相差4倍),并且輸入電壓Vin不固定。實際采取的大多是電流檢測電阻 NPN晶體管對基極分流的方法。圖1中的R3是電流檢測電阻,當它上面的電壓加上1N4148的導通壓降(約0.8V)超過8050的導通電壓時,8050導通,拉出基極電流,使得基極欠流,觸發(fā)正反饋機制從而關斷。
RCC的穩(wěn)壓是通過基極繞組的反激電壓實現(xiàn)的。當晶體管關斷,基極繞組異名端反接的的電容C2充電。C2的電壓和C3的電壓成比例Nb/Ns。當C2的電壓超過了穩(wěn)壓管D8的齊納電壓,C2就流出電流,把基極電壓拉低,阻止或減緩晶體管導通,從而間接控制了C3上的輸出電壓。
RCC由一個主開關晶體管、一個變壓器和一些電阻、電容、二極管組成,并不包含集成芯片。不包含集成芯片,使得RCC的成本較采用集成芯片的電源電路為低。但隨著集成電路芯片的降價(如今一個芯片的價格僅為人民幣0.5元左右),RCC的成本優(yōu)勢已經(jīng)非常弱。
傳統(tǒng)的RCC一般采用功率三極管(BJT)作為開關管。較新的設計采用了金屬-氧化物-半導體場效應管(MOSFET),以實現(xiàn)更低功耗以及準諧振等功能。
RCC的變壓器由三個或以上的繞組組成,包含輸入側的一個主輸入繞組,一個反饋繞組以及輸出側的一個或多個輸出繞組。和所有的反激變換器一樣,這個變壓器需要承受大的直流偏磁。
輔助電路需要二極管、電阻、電容等,實現(xiàn)電流限制、電壓限制等功能。
RCC的功率部分如同普通的反激變換器一樣操作。信號和控制部分原理如下:
1.當加入輸入電壓Vin(電阻RG連接Tr1的基極),電流Ib流過Rb,Tr1導通,此Ib為啟動電流。Tr1的collector電流Ic波形如圖,一般從0開始。
2. Tr1一旦進入ON狀態(tài),transformer的P1線圈已加入輸入電壓Vin,因此P2線圈形成的電壓為Tr1提供了基極電流,使得Tr1可以保持導通。
3. Tr1的集電極電流成斜坡狀上升,直到電流為βIb,此時基極電流無法維持Tr1晶體管飽和導通,晶體管集電極--發(fā)射極之間的電壓上升。而這里的電壓上升使得變壓器Np上的輸入電壓下降,更導致Ib下降。于是形成了正反饋,使得Tr1最終關閉。
4. Tr1關閉后如同其他反激變換器一樣,儲存在變壓器內部的能量流到次級電容里,為負載供電。在變壓器內部能量未釋放完時,基極一直被次級反射來的負電壓下拉,晶體管保持關閉。變壓器內部能量釋放完畢后,電路工作狀態(tài)轉入第1步,形成周期性循環(huán)。
5.如果在集電極有較大電流時使用其他方法導致基極電流不足,也可以觸發(fā)正反饋機制關斷晶體管Tr1。這一特點常用于實現(xiàn)電流限制和穩(wěn)壓。(即在電流或電壓過大時減小占空比或禁止晶體管開通)
基本的RCC電路天然有著限制峰值電流的特征。由于基極電阻的限流作用,基極電流無法超過Vin/Np*Nb/Rb,從而讓集電極電流在超過βIb時觸發(fā)正反饋關斷機制。 實際應用中,這種限流是不準確的,因為晶體管的β離散性很大(同種型號晶體管β可以相差4倍),并且輸入電壓Vin不固定。實際采取的大多是電流檢測電阻+NPN晶體管對基極分流的方法。圖中的R3是電流檢測電阻,當它上面的電壓加上1N4148的導通壓降(約0.8V)超過8050的導通電壓時,8050導通,拉出基極電流,使得基極欠流,觸發(fā)正反饋機制從而關斷。
RCC的穩(wěn)壓是通過基極繞組的反激電壓實現(xiàn)的。當晶體管關斷,基極繞組異名端反接的的電容C2充電。C2的電壓和C3的電壓成比例Nb/Ns。當C2的電壓超過了穩(wěn)壓管D8的齊納電壓,C2就流出電流,把基極電壓拉低,阻止或減緩晶體管導通,從而間接控制了C3上的輸出電壓。
是否為非正版駒。 “你好,我的是盜---版的。才買100多塊錢,請問有什么方法可以改善么?”非正版總會有這個或那個問題,是沒有辦法解決的。
正版的廣聯(lián)達軟件為何也出現(xiàn)不穩(wěn)定性?如:突然不能匯總計算
答:這個比較正常,隨便哪個正版的都保證不了程序一直都是穩(wěn)定的~~~ 你可以關閉軟件,重新打開再匯總試試看~~ 如果還是不行,那么你可以復制一份工程到另一個盤符,然后刪除掉非彩色部分的文件,重新打開匯總...
基坑的穩(wěn)定性主要內容包括:基坑邊坡整體穩(wěn)定性、支護結構抗滑移穩(wěn)定性、支護結構抗傾覆穩(wěn)定性、基坑底土體抗隆起穩(wěn)定性、基坑底土體抗?jié)B流穩(wěn)定性及基坑底土體抗突涌穩(wěn)定性,具體工程視具體情況確定。參考資料:百度...
目前被普遍認識的是RCC電路對元件、布線、生產(chǎn)工藝要求很高。使用劣質元件、水準不高的布板、變壓器繞制不恰當都可能導致RCC電路無法工作,或在正常工作一段時間后失效。常見失效模式包括但不限于:
RCC最常見也最典型的失效現(xiàn)象是主開關管燒毀。大部分此類故障是由變壓器基極線圈漏感導致的。 變壓器基極線圈的漏感和基極串聯(lián)的電阻形成LR低通濾波電路,對電流信號有延遲作用,導致在集電極電壓上升時,基極電流減小的正反饋出現(xiàn)延遲。而這樣的延遲對于絕大部分雙極型開關管是致命的,它導致晶體管越出安全工作區(qū),以及發(fā)熱量過大,最終導致不可逆的二次擊穿。
此類故障較少出現(xiàn)在使用功率MOSFET制作的RCC上,因為功率MOSFET的安全工作區(qū)遠大于雙極型晶體管。并且功率MOSFET為電壓控制型,開通/關斷閾值范圍窄,MOSFET較為不易出現(xiàn)同時承受大電流和高電壓的情況,即使偶爾出現(xiàn)也不會發(fā)生不可逆的失效。 曾經(jīng)有一批基于MOSFET的RCC電源常常因開關管損壞而失效,經(jīng)查證,是因為廠家技術考慮不周,機械模仿110V地區(qū)產(chǎn)品,在220V交流線路(整流后電壓高達311V)上,使用了耐壓500V的MOSFET(型號是IRF840)。
另一常見的問題是輸出電壓明顯超過設計輸出電壓,導致負載過熱、燒毀。特別是當負載為鋰離子電池時,輸出過高電壓極端危險,可能導致電池內部氣體液體泄漏甚至爆炸。 原因一是變壓器繞組間不完全耦合,存在漏感,導致互調整率差。在變換器處于輕載狀態(tài),占空比小的時候,此問題更加嚴重。二是和集成芯片中包含的運算放大器(放大倍數(shù)高達數(shù)百倍、數(shù)千倍)相比,電壓環(huán)路開環(huán)增益太小,精確穩(wěn)壓困難。
并且這兩個缺點幾乎是不可能同時妥善解決的。解決二次擊穿問題要求基極線圈和主線圈近繞以保持耦合良好,而解決輸出電壓不穩(wěn)的問題要求次級線圈和基極線圈近繞,又要求初次級之間數(shù)千伏的電氣隔離。在有限繞線位置的變壓器骨架下,要達到這兩個矛盾的目的,是十分困難的。
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評分: 4.8
熒光燈條紋不穩(wěn)定性的實驗研究 低氣壓輝光放電中的條紋不穩(wěn)定性現(xiàn)象最早于 19 世紀 30 年代由麥克爾 ·法拉第( Michael Faraday ) 首先發(fā)現(xiàn)。此后,相關的研究工作在國際上一直處于比較熱門的行列。 1968 年,佩克雷克( Pekarek ) 總結了前人對稀有氣體中的條紋不穩(wěn)定性的研究,給出了條紋不穩(wěn)定性的色散關系曲線。隨著研究的不斷 深入,電子動力學在條紋不穩(wěn)定性的研究中扮演了越來越重要的角色。岑?。?Tsendin )利用非局域場近 似和“黑墻假設 ”,求得了電子的玻爾茲曼方程( Boltzmann Equation )的一個解析解,該解析解是空間 的周期函數(shù)。他提出,高能電子的非局域性是造成放電出現(xiàn)條紋不穩(wěn)定性的原因。格魯伯夫斯基 (Golubovskii )深化了岑丁的研究,并通過理論以及實驗手段,進一步對稀有氣體中的條紋不穩(wěn)定性的 成因進行了研究。 2006 年
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評分: 4.5
當考慮自陡效應時,從光纖耦合器的耦合模方程出發(fā),用偶奇超模對其進行了重寫。討論了當輸入條件使奇偶超模的其中之一被單獨激發(fā)時光纖耦合器中的自陡效應對調制不穩(wěn)定性的影響。結果表明:在光纖耦合器中不論是正常色散區(qū)還是反常色散區(qū),當輸入功率一定時,隨著自陡參數(shù)的增大,調制不穩(wěn)定性增益譜較多地顯示出了強度變弱和寬度變窄,最終導致光纖耦合器的超模發(fā)生畸變。