電路板故障檢測(cè)儀?技術(shù)指標(biāo)

1.操作系統(tǒng):支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。

2.通訊接口:主流的USB接口。

3.數(shù)字測(cè)試通道: 40通道。

4.數(shù)字通道電平范圍:5V邏輯電平通道。

5.模擬測(cè)試通道: 80路(雙屬性通道)。

6.總線隔離專用數(shù)字通道: 8通道。

7.后驅(qū)動(dòng)電流: ≥200 mA。

8.數(shù)字通道測(cè)試速度: (1~45 Ktv/S)8檔可選。

9.在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種。

10.數(shù)字器件的閾值電平: TTL、CMOS5 緊/松調(diào)節(jié);自定義調(diào)節(jié)。

11.程控外供電源(自動(dòng)控制、自保護(hù)作用): 5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。

12.電源加電延遲時(shí)間:(0.5~7)秒 6檔可選。

13.測(cè)試探棒: 2組8個(gè)測(cè)試口。

14.模擬信號(hào)掃描電壓幅度: ±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。

15.VI分辨率: 8~128點(diǎn)/周期。

16.輸出阻抗匹配: 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。

17.模擬通道最大測(cè)試頻率: 1KHZ。

18.脈沖發(fā)生器脈沖幅度: ±1V~±28V。

19.電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值: 25Ω±5Ω。

20.腳踏開(kāi)關(guān):支持。

21.參數(shù)測(cè)試模塊:支持。

1. 數(shù)字邏輯器件性能(直流參數(shù))測(cè)試:

維修實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，有些器件原有作用尚能實(shí)現(xiàn)，但參數(shù)卻發(fā)生了變化，元件性能表現(xiàn)的很不穩(wěn)定，設(shè)備或電路板仍然不能正常工作，為此天惠公司開(kāi)發(fā)了針對(duì)集成電路直流參數(shù)的測(cè)試作用，支持對(duì)數(shù)字集成電路的輸入漏電流和輸出驅(qū)動(dòng)電流等直流參數(shù)測(cè)試。如輸入漏電流(Iih,IiL,Vih,ViL);輸出驅(qū)動(dòng)電流(IOL，IOh，VOL，VOh)。

2. 數(shù)字邏輯器件在/離線作用測(cè)試:

能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線作用測(cè)試;測(cè)試器件庫(kù)龐大，僅邏輯數(shù)字器件就1 萬(wàn)多種;

測(cè)試范圍廣:TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、俄羅斯器件、西門(mén)子器件庫(kù)。

3.ASA(VI)模擬特征分析測(cè)試:

ASA測(cè)試通過(guò)比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測(cè)故障，可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn)。ASA測(cè)試不涉及器件作用，無(wú)論何種元器件，模擬的、數(shù)字的、作用已知的、作用未知的都能檢測(cè);ASA測(cè)試是逐管腳進(jìn)行的，基本上不受器件封裝限制，任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試。 ASA測(cè)試無(wú)需給電路板加電，

使用較為安全。

4.單/多端口VI曲線分析比較測(cè)試:

對(duì)器件采取單端口或多端口的VI曲線測(cè)試方式;單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地提取一遍阻抗特性曲線，而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。

5.ASA 曲線雙棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試:

使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試;當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，此種方法最有效。

6.ASA 曲線測(cè)試智能提醒作用:

當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí)，如果超差，儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音，引起使用者注意，該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于萬(wàn)用表Beep的效果，提高了檢測(cè)效率，也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度。

7.ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào):

當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí)，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度和測(cè)試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線;該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率。

8.可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù):

可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;大大提高了測(cè)試的靈活性。

9.ASA 曲線故障快速定位/查找作用:

當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí)，測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找作用選項(xiàng)，使用戶觀察曲線更方便、直觀。

10. 對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別:

增強(qiáng)了對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別的判斷水平，降低了誤判率，進(jìn)一步提高了測(cè)試準(zhǔn)確度。

11. VI曲線參數(shù)值量化作用:

即從被測(cè)電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測(cè)試值并保存,且能夠用寫(xiě)字板或OFFICE工具軟件直接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。

12. 求取平均曲線的測(cè)試作用:

用戶可以先測(cè)試多個(gè)器件,得到多個(gè)曲線文件,然后利用該作用把多個(gè)曲線文件平均成一個(gè)曲線文件,作為以后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。

13.VI曲線雙板直接對(duì)比測(cè)試:

使用雙路測(cè)試夾對(duì)兩塊相同電路板(一塊好板和一塊壞板)上的相應(yīng)IC同時(shí)進(jìn)行VI曲線提取、存儲(chǔ)和比較測(cè)試，測(cè)試效率極高。

14.三端器件測(cè)試:

完成對(duì)三端分立元件的動(dòng)態(tài)測(cè)試作用，如三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、繼電器等元件測(cè)試。

15.ASA 曲線多種排列/顯示方式:

可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點(diǎn)或“畫(huà)線”來(lái)顯示曲線，單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小。

16.電容、電感定量測(cè)試:

可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測(cè)試電容的容量及漏電阻，并展現(xiàn)出電容在充放電過(guò)程中不同的阻值的過(guò)程;能夠測(cè)試出電感的電感量及串聯(lián)電阻;

17. 電路板圖象建庫(kù)測(cè)試:

通過(guò)數(shù)碼相機(jī)或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計(jì)算機(jī)內(nèi),在屏幕上就可以對(duì)該板上各個(gè)集成電路芯片進(jìn)行編號(hào),以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對(duì)每一個(gè)器件同時(shí)進(jìn)行邏輯作用在線測(cè)試及VI曲線掃描測(cè)試,從而建立起整板的測(cè)試庫(kù),當(dāng)需要維修時(shí),只需將該板從計(jì)算機(jī)軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對(duì)其進(jìn)行故障診斷,適用于批量電路板的維修。

18.數(shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試:

能夠提取11種復(fù)雜的電路在線狀態(tài)，如開(kāi)路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài)，對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng)。

19.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離作用:

用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373、74LS245、等)，可提供8路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。

20.IC型號(hào)識(shí)別:

針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。

21. LSI大規(guī)模集成電路在線作用及狀態(tài)分析測(cè)試:

可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行作用及狀態(tài)分析測(cè)試。

22.讀寫(xiě)存儲(chǔ)器作用測(cè)試:

直接檢測(cè)存儲(chǔ)器SRAM / DRAM芯片的好壞，該測(cè)試無(wú)需事先學(xué)習(xí)，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，可采用在線、離線測(cè)試方式。

23.只讀存儲(chǔ)器作用測(cè)試:

可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試;測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。

24.元器件循環(huán)測(cè)試作用:

該作用可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。

25.數(shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)作用:

閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門(mén)檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。通過(guò)調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。

26.加電延遲可選作用:

當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此作用。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。

27.測(cè)試夾接觸檢查作用:

主要解決當(dāng)測(cè)試夾和被測(cè)器件接觸不良(如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等)時(shí)，造成的測(cè)試誤判。

28.運(yùn)算放大器在線作用測(cè)試:

使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明專利，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。

29. 電壓比較器測(cè)試:

模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異，通過(guò)本測(cè)試儀可以很容易測(cè)試。

30.光電耦合器在線作用測(cè)試:

由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高;有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù)，

達(dá)500多種。

31.光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試:

可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)(如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等)進(jìn)行測(cè)試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率;

32.UDT自定義測(cè)試平臺(tái):

把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào)，然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)，類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。

33. UDT下AD、DA類器件作用測(cè)試:

用戶通過(guò)UDT控制聰能測(cè)試儀，向被測(cè)試器件(AD/DA)或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào)，從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)，通過(guò)比較相同激勵(lì)信號(hào)下，器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)和預(yù)期(標(biāo)準(zhǔn))響應(yīng)信號(hào)的符合程度，實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。

34. AFT電路故障追蹤:

AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào)，并且能把測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng)，關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中――建立用戶自己的電路板測(cè)試庫(kù)，用于對(duì)故障板的測(cè)試;也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上，直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。

35.電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:

使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系，測(cè)試時(shí)無(wú)須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開(kāi)路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。

36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試:

可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小以及均勻程度，直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū):截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選，尤其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。

37.填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù):

以填表的方式定義模擬器件的各管腳狀態(tài):如:正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。

38.以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù):

采用HNDDL語(yǔ)言，自適應(yīng)技術(shù)完善;把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。

39.元器件速查手冊(cè)(電子詞典):

元件庫(kù)容量近四萬(wàn)種，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。

40.維修日記:

供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能。

41.后臺(tái)操作記錄:

測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息。

電路板故障檢測(cè)儀廣泛的應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域的自控、數(shù)控、儀器儀表中的電路板維修。尤其在進(jìn)口大型自動(dòng)化設(shè)備的電子電路板的維修中，起到了其它維修檢測(cè)儀器無(wú)法替代的作用，為使用單位創(chuàng)造了很好的經(jīng)濟(jì)效益。

聰能電路板故障檢測(cè)儀通用于各種電路板維修;是維修電路板最有效的測(cè)試工具;