礦石品位工業(yè)經(jīng)濟(jì)意義

原礦品位的高低表示原礦的富貧程度，精礦品位的高低則反映某種回收成分，選入精礦中的富貧程度。礦石的最低工業(yè)品位和邊界品位是重要的礦石工業(yè)指標(biāo)，隨國家經(jīng)濟(jì)政策、科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步、礦床地質(zhì)條件及礦石需求程度而變化。最低工業(yè)品位是獨(dú)立開采礦段有益組分平均含量的最低指標(biāo)。邊界品位是單個試樣有益組分含量的最低指標(biāo)，據(jù)此劃分礦石和廢石的界限。邊界品位和最低工業(yè)品位是圈定和計算表內(nèi)工業(yè)礦量（等于和大于最低工業(yè)品位的礦段為表內(nèi)工業(yè)礦量）的主要指標(biāo)。

礦石一般分為貧礦石、普通礦石和富礦石，有時僅分為貧礦石和富礦石。礦石的概念是相對的，隨著人類對新礦物原料要求的不斷增長和工藝技術(shù)條件的不斷改進(jìn)，以前無用的礦物也可成為礦石礦物。

確定礦與非礦的主要標(biāo)準(zhǔn)是對礦石品位的要求。礦石中有用成分(元素或礦物)重量和礦石重量之比稱為礦石品位，金、鉑等貴金屬礦石用克/噸表示，其他礦石常用百分?jǐn)?shù)表示。有些金屬礦石品位是以其中的氧化物(如三氧化鎢、五氧化二釩、二氧化鈦等)的重量百分比表示。如某鐵礦石鐵的品位為45%，意思就是這種鐵礦石中含鐵45%。

入選品位指進(jìn)入選冶工藝的礦石中某有用組分的平均品位，要高于最低工業(yè)品位。入選品位通常是變化的，它隨著礦段和礦體的不同而變化。

邊界品位又稱邊際品位，是固體礦產(chǎn)礦體圈定時的一項品質(zhì)指標(biāo)。指在資源儲量估算總?cè)ΧǖV體時，對單個礦樣中有用組分含量的最低要求，以作為區(qū)分礦石與圍巖的一個最低品位界限。

全稱最低工業(yè)可采品位或最低平均可采品位；有些礦種的實(shí)例將其簡稱為工業(yè)品位。最低工業(yè)品位可理解為工業(yè)上能夠利用的礦體或塊段中某有用組分的最低平均品位。比如金礦石的工業(yè)品位為一般為0.3~0.5克/噸，就是說如果礦石中的金含量達(dá)到0.3~0.5克/噸，這礦石就可以被采選，就會產(chǎn)生利潤。隨著選冶技術(shù)的發(fā)展或者礦產(chǎn)品價格的提高，礦石的最低工業(yè)品位是會降低的。

礦石中金屬元素或有用組分的含量。它的表示方法不同,大多數(shù)金屬礦石，如鐵、銅、鉛、鋅等礦石，是以其中金屬元素含量的重量百分比表示；有些金屬礦石品位是以其中的氧化物（如三氧化鎢、五氧化二釩等）的重量百分比表示；大多數(shù)非金屬礦物原料是以其中有用礦物或化合物的重量百分比表示，如鉀鹽、明礬石等；有些非金屬礦物則取決于礦物本身的物理、化學(xué)特性，如水晶及寶石類；貴金屬礦石以克/噸表示；原生金剛石礦石以克拉/噸或毫克/噸表示（1克拉=0.2克）；砂礦以克/立方米或千克/立方米表示。在礦產(chǎn)勘查中，常用的邊界品位是劃分礦與非礦界線的最低品位。工業(yè)品位是指在當(dāng)前能供開采利用礦段或礦體的最低平均品位，又稱最低工業(yè)品位。達(dá)此品位才能計算工業(yè)儲量。對不同礦種的礦石工業(yè)品位要求是不同的，礦種雖同，但礦石類型不一，工業(yè)品位要求也有差別。對礦石的工業(yè)品位要求是隨經(jīng)濟(jì)技術(shù)進(jìn)步而改變的，一般來說，工業(yè)品位取決于以下因素：礦床規(guī)模、開采條件、礦石綜合利用的可能性、礦石的工藝條件等。

便攜式礦石品位快速檢測儀簡介

便攜式礦石元素分析儀可以很準(zhǔn)確的分析出礦石中的元素的種類以及各種元素的含量，分析的范圍以化學(xué)元素周期表為參照，從硅（SI）到鈾（U）之間的所有元素。便攜式礦石元素分析儀操作簡單，測試方便，不受地理條件的限制，能夠?qū)崿F(xiàn)現(xiàn)場檢測，現(xiàn)場既能得出所需數(shù)據(jù)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)勘測，野外探礦，礦石采選等等。

便攜式礦石品位快速檢測儀原理

礦石元素分析儀是一種x射線熒光光譜儀器，即XRF。在試驗中當(dāng)我們用X射線照射試樣時，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。兩種類型的X射線熒光光譜儀都需要用X射線管作為激發(fā)光源。便攜式礦石品位快速檢測儀是一種能量色散的光譜儀。

能量色散譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點(diǎn)，將其分開并檢測，不必使用分光晶體，而是依靠半導(dǎo)體探測器來完成。這種半導(dǎo)體探測器有鋰漂移硅探測器，鋰漂移鍺探測器，高能鍺探測器等。X光子射到探測器后形成一定數(shù)量的電子-空穴對，電子-空穴對在電場作用下形成電脈沖，脈沖幅度與X光子的能量成正比。在一段時間內(nèi)，來自試樣的熒光X射線依次被半導(dǎo)體探測器檢測，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖，經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器（通常要1000道以上）。按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計脈沖數(shù)，脈沖幅度可以用X光子的能量標(biāo)度，從而得到計數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖。其形狀與波譜類似，只是橫坐標(biāo)是光子的能量。

能量色散的最大優(yōu)點(diǎn)是可以同時測定樣品中幾乎所有的元素。因此，分析速度快。另一方面，由于能譜儀對X射線的總檢測效率比波譜高，因此可以使用小功率X光管激發(fā)熒光X射線。另外，能譜儀沒有光譜儀那么復(fù)雜的機(jī)械機(jī)構(gòu)，因而工作穩(wěn)定，儀器體積也小。

便攜式礦石品位快速檢測儀分析元素范圍

Si硅 P磷 S硫 Cl氯 Ar氬 K鉀 Ca鈣 Sc鈧 Ti鈦 V釩 Cr鉻 Mn錳 Fe鐵 Co鈷 Ni鎳 Cu銅 Zn鋅 Ga鎵 Ge鍺 As砷 Se硒 Br溴 Kr氪 Rb銣 Sr鍶 Y釔 Zr鋯 Nb鈮 Mo鉬 Tc锝 Ru釕 Rh銠 Pd鈀 Ag銀 Cd鎘 In銦 Sn錫 Sb銻 Te碲 I碘 Xe氙 Cs銫 Ba鋇 57～71 La～Lu鑭系 La鑭 Ce鈰 Pr鐠 Nd釹 Sm釤 Eu銪 Gd釓 Tb鋱 Dy鏑 Ho鈥 Er鉺 Tm銩 Yb鐿 Lu镥 Hf鉿 Ta鉭 W鎢 Re錸 Os鋨 Ir銥 Pt鉑 Au金 Hg汞 Tl鉈 Pb鉛 Bi鉍 Po釙 At砹 Rn氡 Fr鈁 Ra鐳 Ac錒 Th釷 Pa鏷 U鈾