1.什么是探針臺
探針臺是一種輔助執(zhí)行機構(gòu),測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動器件,找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕,控制前部探針(射頻或直流探針),精準(zhǔn)扎到被測點,從而使其訊號線與外部測試機導(dǎo)通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。
2探針臺應(yīng)用
手動探針臺廣泛應(yīng)用于,科研單位研發(fā)測試、院校教學(xué)操作、企業(yè)實驗室芯片失效分析等領(lǐng)域。一般使用于研發(fā)測試階段 ,批量不是很大的情況,大批量的重復(fù)測試推薦使用探卡。
主要功能:搭配外接測試測半導(dǎo)體參數(shù)測試儀、示波器、網(wǎng)分等測試源表,量測半導(dǎo)體器件IV CV脈沖/動態(tài)IV等參數(shù)。
用途:以往如果需要測試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能(如電流、電壓、阻抗等)或工作狀態(tài),測試人員一般會采用表筆去點測。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,對于精密微?。{米級)的微電子器件(如IC、wafer、Chip、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector),表筆點到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應(yīng)運而生,利用高精度微探針將被測原件的內(nèi)部訊號引導(dǎo)出來,便于其電性測試設(shè)備(不屬于本機器)對此測試、分析。
探針臺執(zhí)行機構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成.在探針座有X-Y-Z三向調(diào)節(jié)旋鈕,控制固定在針座上的探針桿做三向移動,移動范圍12mm,移動精度可以達(dá)到0.7微米。這樣可以把探針很好的點到待測點上(說明探針是耗材,一般客戶自己準(zhǔn)備),探針探測到的信號可以通過探針桿上的電纜傳輸?shù)脚c其連接的測試機上,從而得到電性能的參數(shù)。對于重復(fù)測試同種器件,多個點位的推薦使用探針臺安裝探卡進(jìn)行測試。
3、工作環(huán)境
探針臺應(yīng)放在堅固穩(wěn)定的臺面上,如地基有震動的情況,需要配置主動防震裝置,避免在高溫、潮濕、激烈震動、陽光直接照射和灰塵較多的環(huán)境下使用。使用最佳溫度范圍為5℃~40℃,最佳濕度是40%到85%,空氣中之濕度若低于30%以下,可靠濕度控制器予以控制,使維持50%~60%之范圍。使用時門窗盡可能關(guān)閉,使室內(nèi)達(dá)到除濕效果。
使用電源:220V,50Hz
INGUN探針,測試針,用于測試PCBA的一種探針。表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。目前國外比較有名的生產(chǎn)廠家有:ECT,INGUN, QA ,IDI、Semiprobe 探針的材...
卸貨平臺(也叫裝卸貨平臺、卸貨碼頭或貨臺、貨臺高度調(diào)節(jié)板等)。它是企業(yè)整個設(shè)施流程的重要組成部分。裝卸貨平臺是物料在設(shè)施流通程序的起點和終點。平臺是在裝卸貨作業(yè)中,用以連接貨臺與貨車車尾空隙的銜接橋梁...
燭臺 照明器具之一,指帶有尖釘或空穴以托住一支蠟燭的無飾或帶飾的器具,也可以指燭臺上的蠟燭,有些容器同樣能夠起到燭臺的作用,比如像放飄蠟的玻璃器皿,點蠟熏精油的小香爐,經(jīng)過處理的竹筒等等。 歷史發(fā)展 ...
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評分: 4.3
作品名稱 手動液壓起吊機 1.學(xué)校名稱 華中科技大學(xué)文華學(xué)院 參賽者: 姓名 院 系 專 業(yè) 年級 指導(dǎo)教師: 姓名 院 系 職稱 2.聯(lián)系人: 姓名 通訊地址 電話 電子郵箱 手動液壓起吊機 設(shè)計者: 指導(dǎo)老師: (華中科技大學(xué)文華學(xué)院機械與電氣工程學(xué)部 湖北 .武漢) 作品內(nèi)容簡介 本作品是一款組裝式手動液壓起吊機,主要由底座、支架、吊桿、手動液壓動力設(shè)備、 鋼絲繩和三爪抓盤組成。 整套裝置由螺釘和銷釘連接, 方便拆裝,各部件均由整體構(gòu)成, 結(jié) 構(gòu)簡單,零部件個數(shù)少。 支架由大小套筒組成, 套筒間裝有推力軸承, 使外筒可以以軸心作 360 度轉(zhuǎn)動, 故事連 接在其上的吊桿、鋼絲繩和三爪抓盤以軸心作 360 度轉(zhuǎn)動。 三爪抓盤由三根鋼絲繩同時均衡受力, 當(dāng)三爪抓盤抓住物體后向上起吊時, 三根鋼絲繩 同時對三爪抓盤的三只爪授力, 使三爪同時受到向盤軸心的力, 將物體抓緊。 此原理使得三 爪
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評分: 4.6
4.2.2 帶壓可伸縮探針拆裝 可伸縮型探針在監(jiān)測點工藝參數(shù)同時滿足溫度< 70℃、壓力< 0.5MPa的條件時可不 借助帶壓拆裝裝置進(jìn)行探針的拆裝。當(dāng)監(jiān)測點工藝參數(shù)中存在溫度≥ 70℃或壓力≥ 0.5MPa的任一情況時, 均必需借助帶壓拆裝裝置進(jìn)行探針的伸縮以保證作業(yè)安全。 探針 拆裝一般要兩人配合操作;可伸縮型探針包括低溫伸縮電感、電阻和電化學(xué)探針。 探針拆裝操作步驟 ⑴可伸縮型探針在監(jiān)測點工藝參數(shù)滿足溫度 >70℃、壓力 >0.5MPa的任一條件時就 必須借助帶壓拆裝裝置進(jìn)行探針的拆裝;拆裝裝置如圖 圖 4-7 低溫低壓拆裝裝置分解圖 ⑵將已組裝好探針的密封填料函安裝到監(jiān)測點接出裝置的閥門上 ,見圖 4-8; 1 圖 4-8 可帶壓拆裝型探針安裝示意圖 ⑶把拆裝裝置前端滑塊內(nèi)螺紋與探針尾部航空插頭外螺紋相連接, 再旋轉(zhuǎn)伸縮裝置 手柄使前端螺栓與填料函卡槽相連接,圖 4-9 和圖
探針臺分類
探針臺從操作上來區(qū)分有:手動,半自動,全自動
從功能上來區(qū)分有:溫控探針臺,真空探針臺(超低溫探針臺),RF探針臺,LCD平板探針臺,霍爾效應(yīng)探針臺,表面電阻率探針臺
經(jīng)濟手動型
根據(jù)客戶需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)
X-Y移動行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)
chuck Z軸方向升降10mm(選項)方便探針與樣品快速分離
顯微鏡:金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)
顯微鏡移動方式:立柱環(huán)繞型、移動平臺型、龍門結(jié)構(gòu)型(可選)
探針座:有0.7um、2um、10um精度可選,磁性吸附帶磁力開關(guān)
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域:晶圓廠、研究所、高校等
半自動型
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y電動移動行程200mm/150mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm
可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2"
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域:8寸/6寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
電動型
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不銹鋼或鍍金)
X,Y電動移動行程300mm x 300mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm,微調(diào)精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)8~12顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
材質(zhì):花崗巖臺面 不銹鋼
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域:12寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
LCD半自動探針臺
機械手臂取放片
電動、鍵入坐標(biāo)尋位置
量測尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
LCD手動探針臺
白熾燈或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量測分析
機臺尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
PCB量測探針臺(TDR)
高頻測試探頭GSG / GS / SG
頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
機臺尺寸同LCD 探針臺
太陽能產(chǎn)業(yè)探針臺(Solar Cell 量測系統(tǒng))
量測軟體:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太陽光模擬器
探針臺從操作上來區(qū)分有:手動,半自動,全自動
從功能上來區(qū)分有:溫控探針臺,真空探針臺(超低溫探針臺),RF探針臺,LCD平板探針臺,霍爾效應(yīng)探針臺,表面電阻率探針臺
根據(jù)客戶需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)
X-Y移動行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)
chuck Z軸方向升降10mm(選項)方便探針與樣品快速分離
顯微鏡:金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)
顯微鏡移動方式:立柱環(huán)繞型、移動平臺型、龍門結(jié)構(gòu)型(可選)
探針座:有0.7um、2um、10um精度可選,磁性吸附帶磁力開關(guān)
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域:晶圓廠、研究所、高校等
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y電動移動行程200mm/150mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm
可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2"
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域:8寸/6寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不銹鋼或鍍金)
X,Y電動移動行程300mm x 300mm
chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm,微調(diào)精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)8~12顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2"
材質(zhì):花崗巖臺面+不銹鋼
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域:12寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
機械手臂取放片
電動、鍵入坐標(biāo)尋位置
量測尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
白熾燈或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量測分析
機臺尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
高頻測試探頭GSG / GS / SG
頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
機臺尺寸同LCD 探針臺
量測軟體:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太陽光模擬器
主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)?(IC和MEMS)以及光電行業(yè)的測試。主要使用在電子,機電,化工,材料特性研究所,及光電系所,納米機械,航空電子等,其目的在于保證質(zhì)量及器件的可造性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。
雙面探針臺從操作上來區(qū)分有:手動,半自動,全自動
雙面探針臺 從功能上來區(qū)分有:高溫探針臺,低溫探針臺,RF探針臺,LCD平板探針臺,霍爾效應(yīng)探針臺,表面電阻率探針臺