探傷室定義

用某種特定射線檢查工件缺損的測試室。

《建筑學(xué)名詞》第二版。 2100433B

探傷基本原理

超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進入另一截面時，在界面邊緣發(fā)生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時就分別發(fā)生反射波來，在螢光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。

探傷優(yōu)缺點

超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高，對人體無害等優(yōu)點；缺點是對工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗的檢驗人員才能辨別缺陷種類、對缺陷沒有直觀性；超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗。

探傷主要特性

1、超聲波在介質(zhì)中傳播時，在不同質(zhì)界面上具有反射的特性，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長時，則超聲波在缺陷上反射回來，探傷儀可將反射波顯示出來；如缺陷的尺寸甚至小于波長時，聲波將繞過射線而不能反射；

2、波聲的方向性好，頻率越高，方向性越好，以很窄的波束向介質(zhì)中輻射，易于確定缺陷的位置。

3、超聲波的傳播能量大，如頻率為1MHZ（100萬赫茲）的超聲波所傳播的能量，相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波的100萬倍。

探傷缺陷分類

在焊縫超聲波探傷中一般把焊縫中的缺陷 分成三類：點狀缺陷、線狀缺陷、面狀缺陷。

在分類中把長度小于10mm的缺陷叫做點狀缺陷；一般不測長，小于10mm的缺陷按5mm計。把長度大于10mm的缺陷叫線狀缺陷。把長度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面狀缺陷。

探傷穿透能力

X射線穿透物質(zhì)的能力大小和射線本身的波長有關(guān)，波長越短（管電壓越高），其穿透能力越大，稱之為“硬”；反之則稱為“軟”。

探傷消失的原因

1、近表表大缺陷；2、吸收性缺陷；3、傾斜大缺陷；4、氧化皮與鋼板結(jié)合不好。

探傷主要因素

1、顯影時間；2、顯影液溫度；3、顯影液的搖動；4、配方類型；5、老化程度。

探傷使用

一、超聲波探傷儀組成部分：主要有電路同步電路、發(fā)電路、接收電路、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成。

二、超聲波探頭的主要作用

1、探頭是一個電聲換能器，并能將返回來的聲波轉(zhuǎn)換成電脈沖；

2、控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度，當(dāng)改變探 頭入射 角或改變超聲波的擴散角時，可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質(zhì)內(nèi)部或改變聲波的指向性，提高分辨率；

3、實現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換；

4、控制工作頻率；適用于不同的工作條件。

三、超聲波試塊的作用

超聲波試塊的作用是校驗儀器和探頭的性能，確定探傷起始靈敏度，校準(zhǔn)掃描線性。

超聲波探傷儀同步信號發(fā)生器的作用

同步電路產(chǎn)生同步脈沖信號，用以觸發(fā)儀器各部分電路同時協(xié)調(diào)工作，它主要控制同步發(fā)射和同步掃描二部分電路。

四、超聲波探傷中，超聲波在介質(zhì)中傳播時引起衰減的原因

1、超聲波的擴散傳播距離增加，波束截面愈來愈大，單位面積上的能量減少。

2、材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收；二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。

加強超波探傷合錄和報告工作

任何工件經(jīng)過超聲波探傷后，都必須出據(jù)檢驗報告以作為該工作質(zhì)量好壞的憑證，一份正確的探傷報告，除建立可靠的探測方法和結(jié)果外，很大程度上取決于原始記錄和最后出據(jù)的探傷報告是非常重要的，如果我們檢查了工件不作記錄也不出報告，那么探傷檢查就毫無意義。

五、用超聲波對餅形大鍛件探傷，用底波調(diào)節(jié)探傷起始靈敏度對工作底面的要求

1、底面必須平行于探傷面；

2、底面必須平整并且有一定的光潔度。

六、CSK－ⅡA試塊的主要作用

1、校驗靈敏度；2、校準(zhǔn)掃描線性。

七、影響照相靈敏度的主要因素

1、X光機的焦點大小；2、透照參數(shù)選擇的合理性，主要參數(shù)有管電壓、管電流、曝光時間和焦距大小；3、增感方式；4、選用膠片的合理性；5、暗室處理條件；6、散射的遮擋等。

八、超聲波探傷選擇探頭K值三條原則

1、聲束掃查到整個焊縫截面；

2、聲束盡量垂直于主要缺陷；

3、有足夠的靈敏度。

九、發(fā)射電路的主要作用

由同步電路輸入的同步脈沖信號，觸發(fā)發(fā)射電路工作，產(chǎn)生高頻電脈沖信號激勵晶片，產(chǎn)生高頻振動，并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波。

十、超聲波探傷中，晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因

晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙，會使超聲波完全反射，造成探傷結(jié)果不準(zhǔn)確和無法探傷。

十一、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的判別缺陷的三種情況

1、無底波只有缺陷的多次反射波。

2、無底波只有多個紊亂的缺陷波。

3、缺陷波和底波同時存在。

十二、JB1150－73標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的距離――波幅曲線的用途

距離――波幅曲線主要用于判定缺陷大小，給驗收標(biāo)準(zhǔn)提供依據(jù)它是由判廢線、定量線、測長線三條曲線組成；

判廢線――判定缺陷的最大允許當(dāng)量；

定量線――判定缺陷的大小、長度的控制線；測長線――探傷起始靈敏度控制線。

超聲場：充滿超聲場能量的空間叫超聲場。

十三、反映超聲場特征的主要參數(shù)

反映超聲場特征的重要物理量有聲強、聲壓聲阻抗、聲束擴散角、近場和遠場區(qū)。

十四、探傷儀最重要的性能指標(biāo)

分辨力、動態(tài)范圍、水平線性、垂直線性、靈敏度、信噪比。

十五、超聲波探傷儀近顯示方式

1、A型顯示示波屏橫坐標(biāo)代表超聲波傳遞播時間（或距離）縱坐標(biāo)代表反射回波的高度；

2、B型顯示示波屏橫坐標(biāo)代表超聲波傳遞播時間（或距離），這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖；

3、C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面，這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度。

十六、超聲波焊縫探傷時為缺陷定位儀器時間掃描線的調(diào)整的方法：

有水平定位儀、垂直定位、聲程定位三種方法。

根據(jù)工作原理的不同，軌條探傷器主要分為X光射線探傷器、超聲波探傷器、磁粉探傷器、滲透探傷器、渦流探傷器、γ射線探傷器等。

探傷基本原理

著色（滲透）探傷的基本原理是利用毛細現(xiàn)象使?jié)B透液滲入缺陷，經(jīng)清洗使表面滲透液去除，而缺陷中的滲透殘留，再利用顯像劑的毛細管作用吸附出缺陷中殘留滲透液而達到檢驗缺陷的目的。

探傷主要因素

1、滲透劑的性能的影響；2、乳化劑的乳化效果的影響；3、顯像劑性能的影響；4、操作方法的影響；5、缺陷本身性質(zhì)的影響。

探傷危害與防護

一定會有傷害，操作時需要穿防護衣，防護手套。距離一般不可以避免的可以操控到的位置盡可能的遠一些好。工業(yè)無損探傷會產(chǎn)生輻射，輻射量大了可能會不育，甚至?xí)掳?

工業(yè)防輻射要做到三點：

（1）距離防護，工作時要遠離輻射源。

（2）時間防護，不要長時間工作。

（3）屏蔽防護，工作區(qū)域要有有效的屏蔽裝置。

探傷其他

1）膠片洗沖程序

顯影、停影、定影、水洗、干燥。

2）斜探頭折射角β的正確值

斜探頭折射角的正確值稱為K值，它等于斜探頭λ射點至反射點的水平距離和相應(yīng)深度的比值。

3）局部無損探傷檢查的焊縫中發(fā)現(xiàn)有不允許的缺陷

應(yīng)在缺陷的延長方向或可疑部位作補充射線探傷。補充檢查后對焊縫質(zhì)量仍然有懷疑對該焊縫應(yīng)全部探傷。

4）干粉法與濕粉法檢驗的主要優(yōu)缺點

干粉法檢驗對近表面缺陷的檢出能力高，特別適于大面積或野外探傷；濕粉法檢驗對表面細小缺陷檢出能力高，特別適于不規(guī)則形狀的小型零件的批量探傷。