在外電場作用下,多子將向PN結移動,結果使空間電荷區(qū)變窄,內電場被削弱,有利于多子的擴散而不利于少子的漂移,擴散運動起主要作用。這個內電場就是二極管導通后的壓降,它是內電場形成的,所以不能變化。
實際上,當電流較大時則要考慮二極管電阻分量的壓降了,目前知道,二極管除了具有PN結,還具有半導體材料的體電阻,封裝綁定線的電阻及引腳的電阻,由于電阻的分壓,隨著電流的增大二極管壓降也會增大,這些電阻分量在幾百mA至幾A的情況下,壓降是很明顯的,可以認為,在小電流時主要由伏安特性決定壓降,而大電流時則主要由體電阻決定壓降。
在環(huán)境溫度升高時,正向特性曲線將左移,反向特性曲線將下移,如圖1:正向電壓特性受溫度影響曲線圖所示。在室溫附近,溫度每升高1℃,正向壓降減小2~2.5mV;溫度每升高10℃,反向電流約增大一倍。
不同的材料對應的正向電壓的值不同,相應的正向電壓的變化特性也不同。
當電源的正極與二極管的正極相連,電源的負極與二極管的負極相連,此時的電壓為正向電壓;當電源的正極與二極管的負極相連,電源的負極與二極管的正極相連,此時的電壓為反向電壓。 二極管是半導體器件,半導體二極管器件的基礎。當PN結兩端加正向電壓(即P側接電源的正極,N側接電源的負極),此時PN結呈現的電阻很低,正向電流大(PN結處于導通狀態(tài))。相當于在兩端加上了正向電壓,它處于導通狀態(tài),電阻很小,此電阻叫正向電阻,只有幾歐姆,如有燈泡和它串聯,燈泡會發(fā)光;當PN結兩端加反向電壓(即P側接電源的負極,N側接電源的正極),此時PN結呈現很高的電阻,反向電流微弱(PN結處于截止狀態(tài)),這就是PN結的單向導電性。當在兩端加上反向電壓時,它處于截止狀態(tài),電阻很大,此電阻叫反向電阻,有幾千歐姆,如有燈泡和它串聯,燈泡不發(fā)光。
LED燈根據顏色不同正向導通電壓也不同,一般是發(fā)的光能量越高(波長越短)正向導通電壓也越高,例如紅外LED一般是1.3V左右而紅色LED則要大于1.5V(一般要2左右才能點亮),紫外LED則更高(一般...
反向電壓。
正向電壓法測量LED燈具的結溫
隨著綠色低碳理念的倡導,具有高效節(jié)能、綠色環(huán)保等優(yōu)點的以LED為光源的燈具(以下簡稱“LED燈具”)在全球范圍內得到迅猛的發(fā)展。LED燈具的壽命無疑是其質量特性的一個重要指標。測量LED結溫的常用方法有紅外熱像儀法、正向壓降法、光譜法以及光熱阻掃描法等等,其中正向壓降法最為常用。根據的是LED正向電壓隨溫度變化的原理。
影響鎂合金表面微弧氧化膜層厚度
用微弧氧化技術,以30g/L的磷酸鈉為電解液,利用系統(tǒng)的XRD手段研究了正向電壓對AZ31鎂合金表面微弧氧化膜層不同厚度的相組成,計算出晶粒尺寸、晶面間距和殘余應力的分布規(guī)律。結果表明:電壓不同膜層中各深度相的衍射峰強度、相組成和結晶度都不同,晶粒尺寸隨電壓增加而變粗,且同一電壓制備的膜層在同一晶向不同厚度的晶粒尺寸不一樣,其值呈至膜層表面距離減小而減小,晶面間距也呈減小趨勢;MgO相組成的涂層殘余應力處于拉應力,其值隨電壓增加而顯著減小。 2100433B
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文章基于LED芯片和LED單燈的工作原理和制程工藝,探討了LED芯片封裝以后正向電壓VF升高和降低的常見原因,并提出了改善措施。對于GaN基雙電極芯片,由于芯片工藝制程或后續(xù)封裝工藝因素,造成芯片表面鍍層(ITO或Ni/Au)與P-GaN外延層之間的結合被破壞,歐姆接觸電阻變大。對于GaAs基單電極芯片,由于封裝材料和工藝因素,導致芯片背金(N-electrode)與銀膠,或銀膠與支架之間的接觸電阻變大,從而LED正向電壓VF升高。LED正向電壓VF降低最常見的原因為芯片PN結被ESD或外界大電流損傷或軟擊穿,反向漏電過大,失去了二極管固有的I-V特性。
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提出了一種通過發(fā)光光譜估計發(fā)光二極管(LED)正向電壓的方法。推導了LED正向電壓與結溫的關系,探討了利用發(fā)光光譜估計結溫的方法,從而建立了發(fā)光光譜和正向電壓的聯系。本文方法不需要直接測量結溫和理想因子等參數,只由發(fā)光光譜就可得到較為準確的LED正向電壓值。實驗結果表明,正向電壓的光譜估計值和實際測量值能夠較好的吻合。
一般情況下,正向電壓1V左右就可以“擊穿”二極管,此時稱為正向擊穿,不過我們稱之為不導通。工作于正向偏置的PN結,當通過的電流過大時,將會使它的功率損耗過大而燒壞,但由于正向偏置的PN結兩端電壓很低(鍺PN結約為0.2V左右,硅PN結約為0.7V左右),故當加在PN結兩端的正向電壓過大時會使PN結發(fā)生擊穿,稱為正向擊穿。而工作于反向偏置的PN結,當反偏電壓過高時,將會使PN結擊穿,如擊穿后又未限制流過它的反向擊穿電流,將會使擊穿成為永久性的、不可逆的擊穿,從而造成其徹底損壞。
《電氣工程名詞》 2100433B
1998年,經全國科學技術名詞審定委員會審定發(fā)布。