俄歇電子能量特性

俄歇電子具有特征性能量，其能量與釋放俄歇電子的原子中的電子轉(zhuǎn)移有關(guān)。俄歇電子的釋放是釋放特征性x射線的替代形式。俄歇電子的能量EA可由下面式子得出：

E_A=E_1-E₂-E_3，

其中，E₁為具有內(nèi)殼層空位的原子能量，E₂為具有外殼層空缺的原子能量，E₃為（俄歇）電子的結(jié)合能。

俄歇電子譜 是俄歇電子信號(hào) N(E)隨其動(dòng)能 E的分布。有兩種表達(dá)方式，分別為直接譜和微分譜。

俄歇電子直接譜 N(E)～ E

對(duì)于直接譜而言，此時(shí)俄歇電子信號(hào) N(E)以背景之上的俄歇電子峰的高度或俄歇峰所覆蓋的面積表示。譜圖保留了豐富的化學(xué)信息，隨著弱信號(hào)測(cè)量技術(shù)的進(jìn)步和高能量分辨俄歇電子譜儀的應(yīng)用，此種測(cè)量方式日益受到重視。

俄歇電子微分譜 dN(E)/dE ～ E

在微分譜中，dN(E)/dE 為俄歇電子信號(hào)對(duì)能量的一次微分，此時(shí)俄歇電子信號(hào)強(qiáng)度以微分譜的正、負(fù)峰的峰與峰的高度差表示，常稱為峰-峰值。

俄歇電子在樣品內(nèi)產(chǎn)生，攜帶有樣品原子的特征信息， 在逸出表面之前，若和樣品原子發(fā)生了各種非彈性散射過程(包括單電子激發(fā)和電離，等離子激發(fā), 聲子激發(fā)等)而改變了原有動(dòng)能值，則其攜帶的信息將丟失。由此，只有那些在逸出表面前未發(fā)生非彈性碰撞的電子才是有意義的 。

由于常用的俄歇電子的能量均在 2keV 以下,因此大致上只有在表面 2nm 深度范圍內(nèi)發(fā)射的俄歇電子才能不改變?cè)瓟y帶的信息而逸出體外。這就是俄歇譜儀之所以表面靈敏的原因。值得指出的是，以上討論也適用其它過程產(chǎn)生的電子，如 X 光電子譜儀的情況。

當(dāng)一束單色能量的電子束入射某樣品時(shí)，則從該樣品發(fā)射出具有不同能量的出射電子。出射電子按其能量分布的曲線有如下特征：在入射電子能量處有一尖銳的峰稱彈性反射峰。在0 ～ 50eV 處有一寬峰 ,它是由入射電子經(jīng)多次非彈性散射的二次電子組成。在上述兩者之間存在著十分微弱的，疊加于背景信號(hào)上的小峰，其中包含有俄歇電子的信號(hào)。俄歇電子的發(fā)射過程是一種激發(fā)態(tài)電離原子的非輻射的退激發(fā)過程。對(duì)固體樣品而言，俄歇電子發(fā)射過程如下（如圖1），當(dāng)有外來(lái)輻射、即入射電子束(大多數(shù)實(shí)用情況)或 X 射線(個(gè)別情況)作用樣品時(shí),一個(gè)電子從原子內(nèi)殼層軌道(K)出射(電離)，其留下的空位立即被較外殼層(L₁)的電子填充 , 在此過程中多余的能量可以通過發(fā)射特征 X 射線釋放(熒光過程)，或交給另一殼層軌道(L₂,₃₎上的電子 ,使其從原子出射 。此即為俄歇躍遷過程，其出射的電子稱俄歇電子。

因?yàn)槎硇娮拥哪芰?E_K 是由相應(yīng)的三個(gè)能級(jí)的電子結(jié)合能決定的, 而后者是代表元素原子種類特征，因此原則上測(cè)得 E_K 即可判定元素之種類，關(guān)鍵是要測(cè)出俄歇電子N(E)隨能量(E)的分布，即N(E)～ E 曲線, 或稱為俄歇譜。俄歇譜可以由一個(gè)或多個(gè)俄歇峰組成, 每個(gè)俄歇峰對(duì)應(yīng)每一個(gè)特定的俄歇躍遷過程 。用以測(cè)錄俄歇譜的設(shè)備為俄歇(電子)譜儀。在實(shí)際工作中 , 以測(cè)錄的俄歇譜和標(biāo)準(zhǔn)手冊(cè)提供的圖譜，通過一定的方法，以判定原子的種類和濃度。

俄歇現(xiàn)象 于1925 年由 P .Auger 發(fā)現(xiàn)。 28 年以后，J .J .Lander 指出電子激發(fā)的俄歇電子可以用于檢測(cè)表面雜質(zhì)，但是要從噪聲中檢測(cè)出十分微弱的俄歇電子信號(hào)，當(dāng)時(shí)技術(shù)上尚無(wú)法實(shí)現(xiàn) 。

1968年，L.A .Harris 提出了一種“相敏檢測(cè)” 方法 ， 大大改善了信噪比，使俄歇信號(hào)的檢測(cè)成為可能。以后隨著能量分析器的完善 , 使俄歇譜儀達(dá)到了可以實(shí)用的階段 。

1970 年通過掃描細(xì)聚焦電子束, 實(shí)現(xiàn)了表面組分的兩維分布的分析(所得圖像稱俄歇圖)，出現(xiàn)了所謂的掃描俄歇微探針。

1972 年 ，R .W .Palmberg利用離子濺射，將表面逐層剝離，獲得了元素的深度分析，實(shí)現(xiàn)了三維分析。至此，俄歇譜儀的基本格局已經(jīng)確定，開始被廣泛使用。

俄歇電子 是由于原子中的電子被激發(fā)而產(chǎn)生的次級(jí)電子。當(dāng)原子內(nèi)殼層的電子被激發(fā)形成一個(gè)空洞時(shí)，電子從外殼層躍遷到內(nèi)殼層的空洞并釋放出能量；雖然能量有時(shí)以光子的形式被釋放出來(lái)；這種能量可以被轉(zhuǎn)移到另一個(gè)電子，導(dǎo)致其從原子激發(fā)出來(lái)。這個(gè)被激發(fā)的電子就是俄歇電子。這個(gè)過程被稱為俄歇效應(yīng)，以發(fā)現(xiàn)此過程的法國(guó)物理學(xué)家P.V.俄歇命名。

俄歇電子能譜儀，是根據(jù)分析俄歇電子的基本特性所得到材料有關(guān)表層化學(xué)成分的定性或定量信息的儀器。主要應(yīng)用于表層輕微元素分析。今年來(lái)，由于超高真空（

界面研究的一個(gè)基本方面，是探討界面原子和化學(xué)態(tài)和電子態(tài)。它包括不同元素原子間的成鍵狀況和局域電子態(tài)，在各種電子能譜中，只有俄歇電子譜因其俄歇電子出射過程的高度局域性而可以得到界面各個(gè)深度剖面的上述信息。我們發(fā)展了俄歇電子譜的譜峰數(shù)據(jù)處理和分析技術(shù)，并輔以因子分析（Factor analysis）法，得到了半導(dǎo)體元素原子間成鍵信息和價(jià)電荷轉(zhuǎn)移量，此項(xiàng)研究結(jié)果有推廣普遍意義，以GaAs/Si為例 ，發(fā)現(xiàn)界面處Si 有兩種化學(xué)態(tài)。一部份Si原子與As原子鍵合，并有0.3個(gè)P電子轉(zhuǎn)移至As原子上，它的局域電子態(tài)密度幅值明顯下降。而其他Si原子則保持純?cè)豐i-Si鍵 。Ga不與Si成鍵。上述研究為美國(guó)寫稿人評(píng)述為新結(jié)果。多個(gè)國(guó)家來(lái)函索文。

當(dāng)X射線或γ射線輻照到物體上時(shí),由于光子能量很高，能穿入物體，使原子內(nèi)殼層上的束縛電子發(fā)射出來(lái)，于是，在內(nèi)殼層上出現(xiàn)空位，而原子外殼層上的電子可能躍遷到這空位上。一定的內(nèi)原子殼空位可以引起許多個(gè)俄歇電子躍遷。躍遷時(shí)釋放的能量將以輻射的形式向外發(fā)射。這種現(xiàn)象是1925年P(guān). -V.俄歇所發(fā)現(xiàn)的，因而稱為俄歇效應(yīng)。躍遷的電子名為俄歇電子。俄歇效應(yīng)是研究核子過程（如捕捉過程與內(nèi)轉(zhuǎn)換過程）的重要手段，同時(shí)從俄歇電子的能量與強(qiáng)度，可以求出原子或分子中的過渡幾率。反之，由已知能量的俄歇光譜線，可以校準(zhǔn)轉(zhuǎn)換電子的能量。