用控制圖監(jiān)控和識(shí)別生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量狀態(tài),就是根據(jù)圖中樣本點(diǎn)的和變化趨勢(shì)對(duì)過(guò)程質(zhì)量進(jìn)行分析和判斷。生產(chǎn)過(guò)程質(zhì)量狀態(tài)分受控狀態(tài)和失控狀態(tài)。受控狀態(tài)符合兩個(gè)要求:樣本點(diǎn)全部處在控制界限內(nèi);樣本點(diǎn)的控制界限內(nèi)無(wú)異常排列。在使用控制圖對(duì)過(guò)程質(zhì)量進(jìn)行分析和判斷時(shí),為了便于操作,需要對(duì)上述要求作進(jìn)一步細(xì)分和量化。
在受控狀態(tài)下,生產(chǎn)過(guò)程只受偶然性因素的影響,呈現(xiàn)正常波動(dòng)。其表現(xiàn)為:
①所有樣本數(shù)據(jù)點(diǎn)都在控制界限內(nèi);
②位于中心線兩側(cè)的數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)據(jù)大致相同;
③越靠近中心線,樣本點(diǎn)越多,在中心線上、下各一倍標(biāo)準(zhǔn)差范舊內(nèi)的數(shù)據(jù)點(diǎn)約占2/3,靠近控制限邊界的樣本點(diǎn)很少;
④樣本點(diǎn)在控制界限內(nèi)的散布是獨(dú)立隨機(jī)的,無(wú)明顯規(guī)律或傾向。
考慮到受控狀態(tài)下仍可能有樣本點(diǎn)出界的小概率出現(xiàn),為了減小錯(cuò)判的風(fēng)險(xiǎn),規(guī)定下列情況仍屬過(guò)程處于受控狀態(tài):①連續(xù)25個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)都在控制界限內(nèi);②連續(xù)35個(gè)數(shù)引點(diǎn)中僅有一個(gè)出界;③連續(xù)100個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)中至多有兩個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)出界。 2100433B
(1)確定監(jiān)控對(duì)象。
(2)收集數(shù)據(jù),通常收集25個(gè)子組及以上,每個(gè)子組5個(gè)樣本。
(3)計(jì)算每個(gè)子組的均值和標(biāo)準(zhǔn)差。
(4)計(jì)算所有子組均值的均值和標(biāo)準(zhǔn)差的均值了。
(5)計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差控制圖的上下控制限及中心線的值,并作圖。判斷過(guò)程是否穩(wěn)定,只有當(dāng)過(guò)程穩(wěn)定,即標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中沒(méi)有異常點(diǎn),均值控制圖才有意義。
(6)計(jì)算均值控制圖的上下控制限及中心線的值,并作圖。
均值-標(biāo)準(zhǔn)差圖是一種常用的計(jì)量值數(shù)據(jù)控制圖,由均值(X)圖和標(biāo)準(zhǔn)差(S)圖共同組成。與X-R圖相對(duì)應(yīng),X圖主要用來(lái)判斷生產(chǎn)過(guò)程的均值是否穩(wěn)定;S圖用來(lái)判斷生產(chǎn)過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差的穩(wěn)定程度。依照習(xí)慣把X圖列在上方,而把S圖列在下方。一般來(lái)說(shuō),組中樣本量大于5時(shí),應(yīng)采用X-S圖。
請(qǐng)問(wèn)SPC中的控制用控制圖和分析用控制圖有什么區(qū)別?
分析用控制圖和控制用控制圖區(qū)別主要有5個(gè)方面:1、制作時(shí)機(jī)不同:初始過(guò)程研究時(shí)用分析用控制圖;日常過(guò)程控制用控制用控制圖。2、使用者不同:管理者用分析用控制圖;操作者用控制用控制圖。3、方式不同:分析...
標(biāo)準(zhǔn)差和標(biāo)準(zhǔn)誤差的區(qū)別
標(biāo)準(zhǔn)誤差用來(lái)衡量抽樣誤差。標(biāo)準(zhǔn)誤越小,表明樣本統(tǒng)計(jì)量與總體參數(shù)的值越接近,樣本對(duì)總體越有代表性,用樣本統(tǒng)計(jì)量推斷總體參數(shù)的可靠度越大。因此,標(biāo)準(zhǔn)誤是統(tǒng)計(jì)推斷可靠性的指標(biāo)。1,標(biāo)準(zhǔn)誤差一般用來(lái)判定該組測(cè)...
你發(fā)生問(wèn)題的本質(zhì)在于真空是在不斷變化的,在臨界點(diǎn)的時(shí)候也是不穩(wěn)定的。你可以試一下在控制部分加上延時(shí)。就是真空開關(guān)后連接延時(shí)繼電器去控制KM。
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本文介紹了如何采用控制圖對(duì)負(fù)偏差指標(biāo)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析,判斷負(fù)偏差是否處于受控狀態(tài),并在此基礎(chǔ)上通過(guò)采取一系列管理措施,達(dá)到保證產(chǎn)品外形尺寸、改進(jìn)成品質(zhì)量、提高負(fù)偏差率的目的,最大限度地發(fā)揮負(fù)偏差帶來(lái)的經(jīng)濟(jì)效益。
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工程質(zhì)量總控制圖 施工質(zhì)量保證體系 工程質(zhì)量目標(biāo) 施工質(zhì)量管理體系 階段性質(zhì)量控 制措施 各施工要素的 質(zhì)量控制 開始 QC 小 組活動(dòng) 施工質(zhì)量 控制體系 施工質(zhì)量的 控制措施 全面質(zhì)量 管理 施 工 質(zhì) 量 管 理 組 成 施 工 質(zhì) 量 管 理 職 責(zé) 施 工 質(zhì) 量 管 理 體 系 事 前 控 制 事 中 控 制 事 后 控 制 成 品 保 護(hù) 事 前 控 制 事 前 控 制 事 前 控 制 事 前 控 制 事 前 控 制 編制相應(yīng)作業(yè)指導(dǎo)書
標(biāo)準(zhǔn)差與標(biāo)準(zhǔn)誤差都是數(shù)理統(tǒng)計(jì)學(xué)的內(nèi)容,兩者不但在字面上比較相近,而且兩者都是表示距離某一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)值或中間值的離散程度,即都表示變異程度,但是兩者是有著較大的區(qū)別的。
首先要從統(tǒng)計(jì)抽樣的方面說(shuō)起?,F(xiàn)實(shí)生活或者調(diào)查研究中,我們常常無(wú)法對(duì)某類欲進(jìn)行調(diào)查的目標(biāo)群體的所有成員都加以施測(cè),而只能夠在所有成員(即樣本)中抽取一些成員出來(lái)進(jìn)行調(diào)查,然后利用統(tǒng)計(jì)原理和方法對(duì)所得數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,分析出來(lái)的數(shù)據(jù)結(jié)果就是樣本的結(jié)果,然后用樣本結(jié)果推斷總體的情況。一個(gè)總體可以抽取出多個(gè)樣本,所抽取的樣本越多,其樣本均值就越接近總體數(shù)據(jù)的平均值。
標(biāo)準(zhǔn)差表示的就是樣本數(shù)據(jù)的離散程度。標(biāo)準(zhǔn)差就是樣本平均數(shù)方差的開平方,標(biāo)準(zhǔn)差通常是相對(duì)于樣本數(shù)據(jù)的平均值而定的,通常用M±SD來(lái)表示,表示樣本某個(gè)數(shù)據(jù)觀察值相距平均值有多遠(yuǎn)。從這里可以看到,標(biāo)準(zhǔn)差受到極值的影響。標(biāo)準(zhǔn)差越小,表明數(shù)據(jù)越聚集;標(biāo)準(zhǔn)差越大,表明數(shù)據(jù)越離散。標(biāo)準(zhǔn)差的大小因測(cè)驗(yàn)而定,如果一個(gè)測(cè)驗(yàn)是學(xué)術(shù)測(cè)驗(yàn),標(biāo)準(zhǔn)差大,表示學(xué)生分?jǐn)?shù)的離散程度大,更能夠測(cè)量出學(xué)生的學(xué)業(yè)水平;如果一個(gè)測(cè)驗(yàn)測(cè)量的是某種心理品質(zhì),標(biāo)準(zhǔn)差小,表明所編寫的題目是同質(zhì)的,這時(shí)候的標(biāo)準(zhǔn)差小的更好。標(biāo)準(zhǔn)差與正態(tài)分布有密切聯(lián)系:在正態(tài)分布中,1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差等于正態(tài)分布下曲線的68.26%的面積,1.96個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差等于95%的面積。這在測(cè)驗(yàn)分?jǐn)?shù)等值上有重要作用。
標(biāo)準(zhǔn)誤差表示的是抽樣的誤差。因?yàn)閺囊粋€(gè)總體中可以抽取出無(wú)數(shù)多種樣本,每一個(gè)樣本的數(shù)據(jù)都是對(duì)總體的數(shù)據(jù)的估計(jì)。標(biāo)準(zhǔn)誤差代表的就是當(dāng)前的樣本對(duì)總體數(shù)據(jù)的估計(jì),標(biāo)準(zhǔn)誤差代表的就是樣本均數(shù)與總體均數(shù)的相對(duì)誤差。標(biāo)準(zhǔn)誤差是由樣本的標(biāo)準(zhǔn)差除以樣本容量的開平方來(lái)計(jì)算的。從這里可以看到,標(biāo)準(zhǔn)誤差更大的是受到樣本容量的影響。樣本容量越大,標(biāo)準(zhǔn)誤差越小,那么抽樣誤差就越小,就表明所抽取的樣本能夠較好地代表總體。
一個(gè)正態(tài)分布的總體,抽取n個(gè)作為樣本,可以得到樣本平均值,用樣本均值估計(jì)總體均值需要考慮樣本均值的方差或標(biāo)準(zhǔn)差(也就是標(biāo)準(zhǔn)誤差)
標(biāo)準(zhǔn)差(Standard Deviation),在概率統(tǒng)計(jì)中最常使用作為統(tǒng)計(jì)分布程度(statistical dispersion)上的測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)差定義是總體各單位標(biāo)準(zhǔn)值與其平均數(shù)離差平方的算術(shù)平均數(shù)的平方根。它反映組內(nèi)個(gè)體間的離散程度。測(cè)量到分布程度的結(jié)果,原則上具有兩種性質(zhì):
為非負(fù)數(shù)值,與測(cè)量資料具有相同單位。一個(gè)總量的標(biāo)準(zhǔn)差或一個(gè)隨機(jī)變量的標(biāo)準(zhǔn)差,及一個(gè)子集合樣品數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)差之間,有所差別。
簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),標(biāo)準(zhǔn)差是一組數(shù)據(jù)平均值分散程度的一種度量。一個(gè)較大的標(biāo)準(zhǔn)差,代表大部分?jǐn)?shù)值和其平均值之間差異較大;一個(gè)較小的標(biāo)準(zhǔn)差,代表這些數(shù)值較接近平均值。
例如,兩組數(shù)的集合{0,5,9,14}和{5,6,8,9}其平均值都是7,但第二個(gè)集合具有較小的標(biāo)準(zhǔn)差。
標(biāo)準(zhǔn)差可以當(dāng)作不確定性的一種測(cè)量。例如在物理科學(xué)中,做重復(fù)性測(cè)量時(shí),測(cè)量數(shù)值集合的標(biāo)準(zhǔn)差代表這些測(cè)量的精確度。當(dāng)要決定測(cè)量值是否符合預(yù)測(cè)值,測(cè)量值的標(biāo)準(zhǔn)差占有決定性重要角色:如果測(cè)量平均值與預(yù)測(cè)值相差太遠(yuǎn)(同時(shí)與標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)值做比較),則認(rèn)為測(cè)量值與預(yù)測(cè)值互相矛盾。這很容易理解,因?yàn)槿绻麥y(cè)量值都落在一定數(shù)值范圍之外,可以合理推論預(yù)測(cè)值是否正確。
標(biāo)準(zhǔn)差應(yīng)用于投資上,可作為量度回報(bào)穩(wěn)定性的指標(biāo)。標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)值越大,代表回報(bào)遠(yuǎn)離過(guò)去平均數(shù)值,回報(bào)較不穩(wěn)定故風(fēng)險(xiǎn)越高。相反,標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)值越小,代表回報(bào)較為穩(wěn)定,風(fēng)險(xiǎn)亦較小。
例如,A、B兩組各有6位學(xué)生參加同一次語(yǔ)文測(cè)驗(yàn),A組的分?jǐn)?shù)為95、85、75、65、55、45,B組的分?jǐn)?shù)為73、72、71、69、68、67。這兩組的平均數(shù)都是70,但A組的標(biāo)準(zhǔn)差約為17.08分,B組的標(biāo)準(zhǔn)差約為2.16分,說(shuō)明A組學(xué)生之間的差距要比B組學(xué)生之間的差距大得多。
如是總體(即估算總體方差),根號(hào)內(nèi)除以n(對(duì)應(yīng)excel函數(shù):STDEV.P);
如是抽樣(即估算樣本方差),根號(hào)內(nèi)除以(n-1)(對(duì)應(yīng)excel函數(shù):STDEV.S);
因?yàn)槲覀兇罅拷佑|的是樣本,所以普遍使用根號(hào)內(nèi)除以(n-1)。
Excel中有STDEV.S、STDEV.P;STDEVA,STDEVPA四個(gè)函數(shù),分別表示樣本標(biāo)準(zhǔn)差、總體標(biāo)準(zhǔn)差;包含邏輯值運(yùn)算的樣本標(biāo)準(zhǔn)差、包含邏輯值運(yùn)算的總體標(biāo)準(zhǔn)差(excel用的是“標(biāo)準(zhǔn)偏差”字樣)。
在計(jì)算方法上的差異是:樣本標(biāo)準(zhǔn)差^2=樣本方差*(數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)-1);總體標(biāo)準(zhǔn)差^2=總體方差*數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)。
函數(shù)的excel分解:
⑴stdev()函數(shù)可以分解為(假設(shè)樣本數(shù)據(jù)為A1:E10這樣一個(gè)矩陣):
stdev(A1:E10)=sqrt(DEVSQ(A1:E10)/(COUNT(A1:E10)-1))
⑵stdevp()函數(shù)可以分解為(假設(shè)總體數(shù)據(jù)為A1:E10這樣一個(gè)矩陣):
stdevp(A1:E10)=sqrt(DEVSQ(A1:E10)/(COUNT(A1:E10)))
同樣的道理stdeva()與stdevpa()也有同樣的分解方法。