組構(gòu)要素面狀組構(gòu)要素

面狀組構(gòu)要素包括小型的面理，例如形體或顆粒和顆粒集合體結(jié)晶的取向，也包括各種不連續(xù)面，如顆粒邊界、雙晶面和晶體內(nèi)的位錯(cuò)。

巖體的組構(gòu)是巖體內(nèi)部所有構(gòu)造要素的幾何排列，可視為巖石的構(gòu)造“結(jié)構(gòu)”。通常只將較小尺度內(nèi)（手標(biāo)本或微觀大?。┧^察到的構(gòu)造要素視為組構(gòu)，而不是大型構(gòu)造。因而組構(gòu)的研究實(shí)際上包括晶粒的構(gòu)造分析。

組構(gòu)由許多組構(gòu)要素（fabric element）組成，每一組構(gòu)要素又由一組相同類型的幾何要素組成，這些要素不是面狀就是線狀的。

線狀組構(gòu)要素包括小型的線理、巖漿巖的流線構(gòu)造等。

組構(gòu)要素通常形成面狀或線狀取向，但可能有隨機(jī)取向的組構(gòu)要素組成的“隨機(jī)組構(gòu)”，由形體取向的物體（顆?；蝾w粒集合體）構(gòu)成的組構(gòu)，稱為形組（Shape fabric）。

巖石的組構(gòu)和面理、線理完全一樣，都反映了應(yīng)變的幾何特征，同時(shí)反映了巖石通過(guò)改變顆粒網(wǎng)的形態(tài)、類型和取向以適應(yīng)變形。 2100433B

1902年B.桑德?tīng)枌ⅰ敖M構(gòu)”術(shù)語(yǔ)引入地質(zhì)學(xué)中，用于描述巖石中幾何性和物理性組構(gòu)要素的內(nèi)部幾何組態(tài)。

巖組學(xué)中，組構(gòu)一詞泛指巖石的組成要素，包括組成巖石的礦物及其晶格的質(zhì)點(diǎn)、鮞粒、礦物的集合體（如礫石）等，以及各種類型的線理、面理，也包括巖石的物理性質(zhì)。在某一特定域內(nèi)，巖石的組分在統(tǒng)計(jì)上遍及整個(gè)巖石體，其排列方式形成某種組構(gòu)。在這種意義上，巖石的組成要素又稱組構(gòu)要素。所有的組構(gòu)要素在某一規(guī)模上可以視為構(gòu)造不連續(xù)面和不連續(xù)線。組構(gòu)要素有兩種類型：結(jié)晶學(xué)組構(gòu)要素（礦物的晶面、晶棱、光率體主軸）和非結(jié)晶學(xué)組構(gòu)要素（集合體中可見(jiàn)的構(gòu)造不連續(xù)面和不連續(xù)線）。因此，組構(gòu)是指面和線在三度空間的無(wú)限排列。組構(gòu)分為幾何組構(gòu)和由幾何組構(gòu)所控制的物理組構(gòu)。在統(tǒng)計(jì)上，組構(gòu)具有類似于單晶體晶格構(gòu)造的幾何性質(zhì)、對(duì)稱性、無(wú)限延伸性、透入性以及統(tǒng)計(jì)均勻性。由所有組構(gòu)要素的空間排列而成的組構(gòu)稱為全組構(gòu)。由一種組構(gòu)要素而顯示的組構(gòu)稱為亞組構(gòu)。在特定的巖石中，亞組構(gòu)能代表該巖石的組構(gòu)特征。

在巖組學(xué)中，引用單晶體點(diǎn)陣對(duì)稱性來(lái)描述和劃分組構(gòu)的幾何特征。組構(gòu)的對(duì)稱性取決于亞組構(gòu)的對(duì)稱性和組構(gòu)要素自身的對(duì)稱性。在巖石亞組構(gòu)中出現(xiàn)下列 5種對(duì)稱型（見(jiàn)上圖）:

①球?qū)ΨQ：由組構(gòu)要素的隨機(jī)定向而形成的對(duì)稱性，類似于球體所具有的對(duì)稱要素,為均質(zhì)亞組構(gòu)（圖a）。

②軸對(duì)稱：具有圓柱體或旋轉(zhuǎn)橢球體所具有的對(duì)稱要素：一個(gè)無(wú)限次的對(duì)稱軸，并是無(wú)限多個(gè)對(duì)稱面的交線，與其垂直的面也是一個(gè)對(duì)稱面。在垂直于這個(gè)無(wú)限次對(duì)稱軸的各個(gè)方向上，亞組構(gòu)相同（圖b）。

③斜方對(duì)稱：具有三軸橢球體所具有的對(duì)稱要素：三個(gè)互相垂直的對(duì)稱面（ab、bc、ac）和三個(gè)與其垂直的二次對(duì)稱軸（圖c）。

④單斜對(duì)稱：僅有一個(gè)對(duì)稱面(ac)和一個(gè)與其垂直的二次對(duì)稱軸（圖d）。

⑤三斜對(duì)稱：沒(méi)有對(duì)稱面，只有對(duì)稱心（圖e）。這種亞組構(gòu)不能借助對(duì)稱面或?qū)ΨQ軸來(lái)描述。如果巖組圖的形態(tài)與上述某一種對(duì)稱型相差約10度，則在這種對(duì)稱型之前冠以“似”字，如似球?qū)ΨQ、似斜方對(duì)稱等。

全組構(gòu)的對(duì)稱性不能高于它的任何一個(gè)亞組構(gòu)的對(duì)稱性。全組構(gòu)的對(duì)稱型也有上述5種。

組構(gòu)研究背景

巖石組構(gòu)是構(gòu)造地質(zhì)學(xué)研究的一項(xiàng)重要基礎(chǔ)工作 。組構(gòu)譯自德文Gefǜge，又稱為織構(gòu)(多用于冶金學(xué)和材料學(xué))，是指一種集合體內(nèi)部的幾何形態(tài)和物理性質(zhì)的數(shù)據(jù)在三維空間的分布規(guī)律。對(duì)于天然巖石，組構(gòu)包含結(jié)構(gòu)、構(gòu)造和優(yōu)選方位三個(gè)方面的內(nèi)容，涉及礦物結(jié)晶程度、形狀、大小、相互關(guān)系和排布情況。研究巖石組構(gòu)的學(xué)科稱為巖石組構(gòu)學(xué)(簡(jiǎn)稱巖組學(xué))、構(gòu)造巖石學(xué)或者顯微構(gòu)造分析。巖組學(xué)的興起始于變質(zhì)巖形變的研究，其基本概念是Becker GF在1893年提出來(lái)的。1930年Sander B在奧地利學(xué)派實(shí)踐工作基礎(chǔ)上發(fā)表專著《Gefǜgekundeder Gesteine》(巖石的組構(gòu)學(xué))，標(biāo)志著巖組學(xué)以一門獨(dú)立分支學(xué)科出現(xiàn)。

巖組學(xué)的主要任務(wù)是借助光學(xué)顯微鏡、費(fèi)氏臺(tái)、X射線衍射儀、中子衍射儀、掃描電鏡和透射電鏡等技術(shù)手段，揭示構(gòu)造巖的顯微組構(gòu)特征，借以探討與巖石形成和變形相關(guān)的一些宏觀構(gòu)造應(yīng)變規(guī)律、應(yīng)力狀態(tài)、運(yùn)動(dòng)方式和形成機(jī)制等構(gòu)造信息。厘米到埃(angstrom)尺度的巖相學(xué)觀測(cè)是巖組學(xué)研究的主要內(nèi)容之一，涉及巖石中礦物相的組成及其內(nèi)部成分變化，礦物相的大小、形態(tài)和空間分布，礦物顆粒的結(jié)晶學(xué)方位及其內(nèi)部變化，顆粒或者亞顆粒邊界的幾何形態(tài)及其結(jié)構(gòu)，三聯(lián)點(diǎn)的幾何形態(tài)及其結(jié)構(gòu)等。這些微觀尺度的測(cè)量數(shù)據(jù)也是地球科學(xué)研究的基礎(chǔ)和支撐。巖組學(xué)研究的另一個(gè)重要方面是描述巖石中礦物的優(yōu)選方位特征，并闡述其形成機(jī)制和構(gòu)造環(huán)境。礦物有兩種優(yōu)選取向：形態(tài)優(yōu)選方位，描述具有各向異性顆粒形態(tài)的取向分布特征；結(jié)晶學(xué)優(yōu)選方位指的是礦物晶格的取向特征。變形或者定向生長(zhǎng)造成巖石中礦物的定向性排列，并引起物理性質(zhì)的各向異性，例如地球中地震波分裂。對(duì)材料結(jié)構(gòu)的解釋也依賴于對(duì)其內(nèi)部礦物取向特征的定量描述。

組構(gòu)巖石組構(gòu)研究的最新技術(shù) —電子背散射衍射

電子背散射衍射(EBSD)系統(tǒng)通常安裝在掃描電鏡(SEM)上。該技術(shù)通過(guò)采集樣品在高能電子束轟擊下產(chǎn)生的電子背散射衍射圖像，并將之與數(shù)據(jù)庫(kù)中不同晶體的EBSP模擬結(jié)果進(jìn)行匹配，從而反演出樣品中晶體的相分布特征及其三維取向關(guān)系等顯微構(gòu)造信息。測(cè)量數(shù)據(jù)的空間分辨率優(yōu)于1 μm，裝配在場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡上的EBSD可為10 nm左右；角度分辨率可達(dá)到 0.5°～1°。理論上，EBSD可以對(duì)所有對(duì)稱晶系的晶體進(jìn)行顯微構(gòu)造分析。EBSD技術(shù)的開(kāi)發(fā)和研制拓展了掃描電鏡的應(yīng)用范圍，使其不僅能對(duì)材料進(jìn)行形貌觀察和成分分析，而且能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)、晶粒取向等晶體學(xué)特征分析和未知礦物相的鑒定。

EBSD技術(shù)拓展了掃描電鏡的應(yīng)用范圍，使其不僅能對(duì)材料進(jìn)行形貌觀察和成分分析，而且能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)、晶粒取向等晶體學(xué)特征的分析，實(shí)現(xiàn)諸如礦物相鑒定、變形機(jī)制研究、確定位錯(cuò)滑移系、顯微構(gòu)造定量化、變質(zhì)過(guò)程研究、結(jié)晶學(xué)優(yōu)選方位和約束化學(xué)微量取樣等。這些研究中可以得到量化的結(jié)晶學(xué)方位數(shù)據(jù)，從而

對(duì)顯微構(gòu)造的解釋模型提供更加嚴(yán)格約束，對(duì)于構(gòu)造學(xué)家、巖石學(xué)家和巖相學(xué)家的研究非常重要。

組構(gòu)EBSD在超高壓榴輝巖組構(gòu)分析中的應(yīng)用

20世紀(jì) 80年代以來(lái)，柯石英和微粒金剛石等超高壓礦物在世界各地的造山帶中相繼被發(fā)現(xiàn)，證明榴輝巖等表殼巖石曾經(jīng)俯沖到上地幔深度而后又折返回到地表。超高壓巖石的發(fā)現(xiàn)向傳統(tǒng)地球科學(xué)理論提出了重要挑戰(zhàn)，改變了人們對(duì)巖石變質(zhì)深度和陸內(nèi)碰撞深俯沖的認(rèn)識(shí)。有關(guān)超高壓巖石形成和折返過(guò)程的動(dòng)力學(xué)機(jī)制已成為地學(xué)界

所關(guān)注的科學(xué)難題之一，地質(zhì)學(xué)家建立了多種理論模型 。但是，有關(guān)超高壓榴輝巖形成和變形的物理環(huán)境參數(shù)很難直接獲取，許多模型都涉及其特定流變學(xué)、變形機(jī)制和應(yīng)變速率條件下的偏應(yīng)力等資料的準(zhǔn)確性，并且建立和檢驗(yàn)這些模型還需要研究榴輝巖的變形條件(壓扁、收縮、剪切)以及榴輝巖相主礦物的變形機(jī)制和應(yīng)力大小。因此，超高壓巖體俯沖折返模型的建立在很大程度上依賴于榴輝巖的流變學(xué)研究。流變學(xué)實(shí)驗(yàn)可以在宏觀上定量確定巖石的流變強(qiáng)度和變形機(jī)制，但對(duì)變形機(jī)制的深入了解必須建立在顯微構(gòu)造研究之上。結(jié)晶學(xué)優(yōu)選方位的測(cè)量是顯微組構(gòu)研究的重要方面，它可以提供變形機(jī)制的微觀信息，并確定巖石變形參數(shù)，是流變學(xué)實(shí)驗(yàn)研究的重要補(bǔ)充。同時(shí)，榴輝巖顯微構(gòu)造和組構(gòu)分析提供了詳細(xì)的重建折返路徑的信息，可以提供UHP巖石折返的重要信息，特別是折返機(jī)制、折返運(yùn)動(dòng)學(xué)信息，是對(duì)超高壓變質(zhì)巖體溫壓演化的重要補(bǔ)充。

但是，榴輝巖完整組構(gòu)的測(cè)量還比較缺乏，其原因主要有以下幾個(gè)方面：(1)使用費(fèi)氏臺(tái)測(cè)量綠輝石顯微組構(gòu)的工作量繁重、耗時(shí)，并且容易出錯(cuò)。光學(xué)測(cè)量方法只能確定石英和金紅石的 c 軸，而立方對(duì)稱的石榴石則無(wú)法測(cè)量。 (2)傳統(tǒng)的X射線衍射組構(gòu)測(cè)量?jī)x，由于顆粒太大、多礦物衍射峰值疊加等原因不太實(shí)用。(3)中子衍射儀少，價(jià)格昂貴。電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用為超高壓榴輝巖顯微組構(gòu)的研究提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持，國(guó)內(nèi)外學(xué)者已經(jīng)利用EBSD對(duì)實(shí)驗(yàn)和天然的單斜輝石和石榴石進(jìn)行了大量的顯微組構(gòu)分析，并且獲得了許多的有用信息。